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β射線法大氣顆粒物監測儀校準裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了β射線法大氣顆粒物監測儀校準裝置，它包括放出β粒子的β源（1）和接收β粒子的探測器（2），在所述β源和探測器之間設有濾紙（3），在所述β源和濾紙之間設有固接膜片（4）的支架（5），所述β源放出的β粒子依次經過膜片和濾紙射入探測器。本實用新型的有益效果是通過設置多個固接有不同厚度膜片的支架來實現對測量儀器的多點校準，測量結果準確；制作簡單，操作方便；膜片的質量穩定。校準時擬合度和精確度高。
【專利說明】β射線法大氣顆粒物監測儀校準裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及校準裝置，尤其涉及β射線法大氣顆粒物監測儀校準裝置。
【背景技術】
[0002]目前對大氣顆粒物的檢測主要使用的是β射線法，依靠射線穿過被測量的富集顆粒時引起變化計算等效濃度，因此必須有一套等效于顆粒物質量的膜片來進行前期儀器校準。質量校準的原理是β射線的吸收定律。原子核在發生β衰變時，放出β粒子，它的穿透能力較強，當它穿過一定厚度的吸收物質時，其強度隨吸收層厚度的增加而逐漸減弱，這種現象稱之為β吸收。當吸收物質的厚度比β粒子的射程小得多時，β粒子在物質中的吸收近似為:
[0003]I=Vtn1...........................(I)
[0004]式中，IO為沒有被物質吸收時的強度；1是β射線穿過物質厚度為t的吸收后的強度；μπι=μ/ρ，稱為質量吸收系數或質量衰減系數,單位為cm2/g ;tm=tp，單位為g/cm2 ； P為吸收物質密度,單位為g/cm3。
實用新型內容
[0005]本實用新型要解決的技術問題是目前沒有專門的用于β射線法大氣顆粒物監測儀校準的裝置，為此提供一種利用β吸收現象的β射線法大氣顆粒物監測儀校準裝置。
[0006]本實用新型的技術方案是:β射線法大氣顆粒物監測儀校準裝置，它包括放出β粒子的β源和接收β粒子的探測器，在所述β源和探測器之間設有濾紙，在所述β源和濾紙之間設有固接膜片的支架，所述β源放出的β粒子依次經過膜片和濾紙射入探測器。
[0007]上述方案中所述膜片由高分子聚合超薄材料制成。
[0008]上述方案中所述濾紙是定量分析濾紙。
[0009]本實用新型的有益效果是通過設置多個固接有不同厚度膜片的支架來實現對測量儀器的多點校準，測量結果準確；制作簡單，操作方便；膜片的質量穩定。校準時擬合度和精確度高。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1是本實用新型中固接膜片的支架示意圖；
[0011]圖2是本實用新型示意圖；
[0012]圖中，1、β源，2、探測器，3、濾紙，4、膜片，5、支架。
【具體實施方式】
[0013]下面結合附圖對本實用新型做進一步說明。
[0014]如圖1、圖2所示，本實用新型包括放出β粒子的β源I和接收β粒子的探測器2，在所述β源和探測器之間設有濾紙3，在所述β源和濾紙之間設有固接膜片4的支架5，所述β源放出的β粒子依次經過膜片和濾紙射入探測器。
[0015]本實用新型中固接有膜片的支架設有多個，可以是3個、4個、5個甚至更多，越多測量結果越精確。各膜片的厚度均不相等，優選是由無色、透明、性能穩定的高分子聚合超薄材料制成。
[0016]濾紙可以是定量分析濾紙，在制造過程中，紙漿經過鹽酸和氫氟酸處理，并經過蒸餾水洗滌，將紙纖維中大部分雜質除去，所以灼燒后殘留灰分很少，對分析結果幾乎不產生影響，適于作精密定量分析。
[0017]本實用新型的工作原理是:利用公式I=Ifumtm，若對濾紙進行測量，則有:
[0018]I1=1e^umtm
[0019]若再插入一單位面積質量為Am的膜片，則有: [0020]I2=10e-μ m (tm + Am)
[0021 ] 綜合上面兩個公式則有:
[0022]
厶》1 = 士 ln4i
μ m I 2
[0023]由上述可知，通過插入膜片前后對I值的測量，儀器計算的Am值與天平對膜片稱出的實際值Ami進行比較是否相一致，若有偏差，則可進行修正。若是單點校準，則只能對其一點進行簡單的修正，不能對整個量程進行修正。所以，只有多點校準才能以儀器的量程進行修正，以提高儀器的測量精度。
[0024]本實用新型操作步驟如下:1、制作N個支架；
[0025]2、準備N片厚度不等的膜片，用高分辨率的電子天平對每片膜片稱重和面積測量，計算出每片膜片的單位面積的質量，并做好質量標識，單位為g/cm2 ；
[0026]3、將支架和膜片一一對應固定連接成一個整體；
[0027]4、對濾紙進行測量，測得Itl值，再分別將N個固接有膜片的支架按標識由小至大放入β源和濾紙之間，分別測得I1至In的值，儀器則根據公式自動計算出Am1至AmN;
[0028]5、根據第2步實際稱得的值與第4步測得的值得出相關性曲線圖，從而對儀器進行K、B修正，達到了校準的目的。
[0029]上面結合附圖對本實用新型進行了示例性描述，顯然本實用新型具體實現并不受上述方式的限制，只要采用了本實用新型的方法構思和技術方案進行的各種非實質性的改進，或未經改進將本實用新型的構思和技術方案直接應用于其它場合的，均在本實用新型的保護范圍之內。
【權利要求】
1.β射線法大氣顆粒物監測儀校準裝置，其特征是它包括放出β粒子的β源(I)和接收β粒子的探測器(2)，在所述β源和探測器之間設有濾紙(3)，在所述β源和濾紙之間設有固接膜片(4)的支架(5)，所述β源放出的β粒子依次經過膜片和濾紙射入探測器。
2.如權利要求1所述的β射線法大氣顆粒物監測儀校準裝置，其特征是所述膜片由高分子聚合超薄材料制成。
3.如權利要求1所述的β射線法大氣顆粒物監測儀校準裝置，其特征是所述濾紙是定量分析濾紙。
【文檔編號】G01N15/06GK203561570SQ201320743231
【公開日】2014年4月23日 申請日期:2013年11月23日 優先權日:2013年11月23日
【發明者】張帥, 潘煥雙, 呂長彬, 周亮, 江瑞平 申請人:安徽藍盾光電子股份有限公司