專利名稱:電磁波隔離裝置及其收容箱的制作方法
技術領域:
本實用新型涉及一種電磁波隔離裝置,特別涉及一種能防止電磁波進入或外泄的電磁波隔離裝置。
背景技術:
隨著電子技術的快速發展,使得我們的生活愈來愈多的依賴于電子產品,如手機、無線存取裝置(wireless access point)等。為了確保電子產品的高質量,在電子產品的生產過程中,測試便成為一個非常重要的環節。通常,電子產品被放在一電磁波隔離箱中來測試其各項性能是否達到標準。但是,并不僅僅測試整個電子產品,還包括測試用于其中的電路板、電子組件等。
請參照圖1,揭示了一種現有電磁波隔離箱,其包括一上蓋70和一底座80。底座80包括四個側壁82和一收容空間84。四個側壁82圍成所述收容空間84。其中一側壁82開設一收容孔86,線纜92可穿越所述收容孔86。欲測試的物品,如電路板90,放入收容空間84中,并通過從收容孔86穿出的線纜92與測試計算機(未圖示)相連,從而可以測試電路板90的各項性能。但是,因線纜92需從收容孔86穿出,在整個測試過程中,電磁波隔離箱外面的大量電磁波會通過收容孔86進入電磁波隔離箱內部,造成隔離度不能達到標準,從而影響電路板90的性能測試,進而影響電路板90的質量。同時,電磁波隔離箱內部的大量電磁波會通過收容孔86泄漏于電磁波隔離箱外部,從而影響其它電子元器件,甚至危害人體健康。
實用新型內容為解決上述現有技術存在的不足,有必要提供一種能防止電磁波進入或外泄的電磁波隔離裝置。
還有必要提供一種收容線纜的收容箱。
一種電磁波隔離裝置,用于在測試電子元器件時隔離電磁波,所述電子元器件與一線纜相連。所述電磁波隔離裝置包括一電磁波隔離箱和一收容箱。電磁波隔離箱包括一底座和一蓋體,蓋體與底座樞接。底座包括一容置空間和一收容孔,電子元器件收容在容置空間中,收容孔與容置空間連通。收容箱包括一下蓋、一上蓋和至少一形成于上蓋和下蓋間的轉折部。下蓋包括一凸塊,上蓋包括一凹陷。凸塊收容于凹陷中。
一種收容箱,用于容置一線纜。收容箱包括一下蓋和一上蓋。下蓋包括一凸塊,上蓋包括一凹陷。凸塊收容于凹陷中。在上蓋和下蓋間形成至少一轉折部。
因電磁波隔離箱的收容孔被收容箱遮蔽,這樣在測試過程中,電磁波隔離箱外部的電磁波不會通過收容孔進入電磁波隔離箱的內部。同時,電磁波隔離箱內部的電磁波也不會通過收容孔泄漏于電磁波隔離箱的外部。
下面參照附圖結合實施例對本實用新型作進一步的描述。
圖1是現有電磁波隔離箱的立體組裝圖。
圖2是本新型實施方式之電磁波隔離裝置的立體組裝圖。
圖3是圖2中收容箱和線纜的立體分解圖。
圖4是圖3中上蓋的立體仰視圖。
圖5是圖3的立體組裝圖。
圖6是圖5中直線VI-VI的剖視圖。
具體實施方式請參照圖2,揭示了本新型實施方式的電磁波隔離裝置,用于在測試電子元器件50時隔離電磁波。電子元器件50與一線纜60相連。所述電磁波隔離裝置包括一電磁波隔離箱10和一收容箱40。電磁波隔離箱10包括一蓋體20和一底座30。
蓋體20大致為方形殼體,其與底座30樞接,從而可以蓋合或開啟。
底座30大致為方形殼體,其與蓋體20樞接。底座30包括一對相對的側壁32、一后壁34、一與后壁34相對的前壁36及一容置空間38,側壁32、后壁34和前壁36共同圍成所述容置空間38。容置空間38用于裝設欲測試的電子元器件50,如電路板、手機等。后壁34開設一收容孔,用于容置收容箱40。由于收容箱40遮蔽所述收容孔,因此圖上未顯示。收容孔與容置空間38及外部空間連通。在其它實施方式中,收容孔的個數可以為兩個,且收容孔的個數可根據實際需要變更。當然,根據實際需要,收容孔也可設置于側壁32或前壁36。
請同時參照圖3至圖6,收容箱40包括一上蓋42和一下蓋44。上蓋42大致為方形,其內表面粘貼吸波材料(圖未示)。上蓋42包括一對相對的第一端部420、一凹陷422及一對相對的第一側部424。第一端部420和第一側部424共同圍成所述凹陷422。凹陷422大致位于上蓋42的中間,其截面形狀大致為梯形。第一端部420的高度大于第一側部424。
下蓋44大致為方形,其內表面粘貼吸波材料(未圖示)。下蓋44包括一對相對的第二端部440、一凸塊442及一對相對的第二側部444,凸塊442對應于上蓋42的凹陷422。第二端部440對應于上蓋42的第一端部420。第二側部444對應上蓋42的第二側部424。第二端部440的高度小于凸塊442的高度,但大于第二側部424的高度。凸塊442大致位于下蓋44的中間,其截面形狀大致為梯形。
線纜60可容置于上蓋42和下蓋44之間。當線纜60容置于收容箱40時,下蓋44的凸塊442和上蓋42的凹陷422配合將線纜60牢固地置于收容箱40中,同時使下蓋44、上蓋42和線纜60之間的接合更緊密。
安裝時,將電子元器件50置于底座30的容置空間38中。使線纜60收容于收容箱40中,再使收容箱40容置于電磁波隔離箱10的底座30的收容孔中,并將線纜60與電子元器件50相連。這樣,線纜60、電子元器件50、收容箱40及電磁波隔離箱10便組裝為一體。
使用時,使裸露在電磁波隔離箱10外的線纜60與測試計算機(未圖示)相連,蓋好蓋體20便可測試電子元器件50。
因電磁波隔離箱10的收容孔被收容箱40遮蔽,這樣在測試過程中,電磁波隔離箱10外部的電磁波不會通過收容孔進入電磁波隔離箱10的內部,從而有效保證了電子元器件50的性能測試。同時,電磁波隔離箱10內部的電磁波也不會通過收容孔泄漏于電磁波隔離箱10的外部。
因收容箱40的凸塊442和凹陷422的截面形狀均為梯形,即在收容箱40內部形成兩個轉折部46。這樣在測試過程中,收容箱40的轉折部46及表面粘貼吸波材料會有效反射與吸收從收容箱40的細小縫隙進入收容箱40的電磁波。從而有效保證了電子元器件50的性能測試的準確性,保證了電子元器件50的質量。
權利要求1.一種電磁波隔離裝置,用于在測試電子元器件時隔離電磁波,所述電子元器件與一線纜相連,所述電磁波隔離裝置包括一電磁波隔離箱,所述電磁波隔離箱包括一底座和一與所述底座樞接的蓋體,所述底座包括一容置空間,所述電子元器件收容在所述容置空間中,其特征在于所述電磁波隔離裝置還包括一收容箱,所述底座包括一收容孔,所述收容孔與所述容置空間連通,所述收容箱容置于所述收容孔中,所述線纜容置于所述收容箱中,所述收容箱包括一下蓋、一上蓋和至少一形成于所述下蓋和所述上蓋間的轉折部,所述下蓋包括一凸塊,所述上蓋包括一凹陷,所述凸塊收容于所述凹陷中。
2.如權利要求1所述的電磁波隔離裝置,其特征在于所述轉折部為兩個。
3.如權利要求1所述的電磁波隔離裝置,其特征在于所述凸塊和所述凹陷的截面形狀均大致為梯形。
4.如權利要求1所述的電磁波隔離裝置,其特征在于所述上蓋包括一對相對的第一端部和一對相對的第一側部,所述第一端部和所述第一側部圍成所述凹陷,所述第一端部的高度大于所述第一側部。
5.如權利要求1所述的電磁波隔離裝置,其特征在于所述下蓋包括一對相對的第二端部和一對相對的第二側部,所述第二端部的高度小于所述凸塊的高度,但大于所述第二側部的高度。
6.如權利要求1所述的電磁波隔離裝置,其特征在于所述上蓋和所述下蓋的內表面分別粘貼吸波材料。
7.如權利要求1所述的電磁波隔離裝置,其特征在于所述底座包括一對相對的側壁、一后壁、一與后壁相對的前壁,所述側壁、所述后壁和所述前壁圍成所述容置空間。
8.如權利要求1所述的電磁波隔離裝置,其特征在于所述收容孔設置于所述后壁或所述前壁或所述側壁。
9.一種收容箱,用于容置一線纜,所述收容箱包括一下蓋和一上蓋,其特征在于蓋下蓋包括一凸塊,所述上蓋包括一凹陷,所述凸塊收容于所述凹陷中,在所述上蓋和所述下蓋間形成至少一轉折部。
10.如權利要求9所述的收容箱,其特征在于所述轉折部為兩個。
11.如權利要求9所述的收容箱,其特征在于所述凸塊和所述凹陷的截面形狀均為梯形。
12.如權利要求9所述的收容箱,其特征在于所述上蓋包括一對相對的第一端部和一對相對的第一側部,所述第一端部和所述第一側部圍成所述凹陷,所述第一端部的高度大于所述第一側部。
13.如權利要求9所述的收容箱,其特征在于所述下蓋包括一對相對的第二端部和一對相對的第二側部,所述第二端部的高度小于所述凸塊的高度,但大于所述第二側部的高度。
14.如權利要求9所述的收容箱,其特征在于其特征在于所述上蓋和所述下蓋的內表面分別粘貼吸波材料。
專利摘要一種電磁波隔離裝置,用于在測試電子元器件時隔離電磁波,所述電子元器件與一線纜相連。所述電磁波隔離裝置包括一電磁波隔離箱和一收容箱。電磁波隔離箱包括一底座和一蓋體,蓋體與底座樞接。底座包括一容置空間和一收容孔,電子元器件收容在容置空間中,收容孔與容置空間連通。收容箱包括一下蓋、一上蓋和至少一形成于上蓋和下蓋間的轉折部。下蓋包括一凸塊,上蓋包括一凹陷。凸塊收容于凹陷中。
文檔編號G01M99/00GK2850219SQ20052011938
公開日2006年12月20日 申請日期2005年11月25日 優先權日2005年11月25日
發明者張秉鈞, 李朝鈐 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司