專利名稱：一種有機電致發光器件的檢測裝置及檢測方法
技術領域：
本發明涉及一種檢測裝置及檢測方法，尤其涉及一種有機電致發光器件的檢測裝置及 檢測方法。
背景技術：
有機電致發光顯示器(OLED)具有自主發光、低電壓直流驅動、全固化、視角寬、顏 色豐富等一系列的優點，具有廣闊的應用前景。
目前OLED器件分光源及點陣兩種，其中光源為全屏點亮型，相當于全屏為一個單像 素；而點陣型主要應用于顯示屏，由多組像素組成。
在OLED的制備過程中，環境中的塵埃和蒸鍍過程中的雜質會進入發光區，由于塵埃 的存在，電極之間會出現短路現象，進而出現不亮點及列連現象，使得產品成為壞品；一 些較小的塵埃即使不能產生短路，也會存在漏電現象，在長期工作后也會成為不亮點。為 了保證屏體的質量，OLED顯示屏的制程完成后，需要對每片顯示屏進行檢測程序、老化 程序。
由于OLED顯示屏是電流驅動性的顯示器件，檢測屏體的方法通常是觀察顯示屏的顯 示效果來檢測，即由掃描方式，觀察每個通過電流的區域是否發光來判斷是否存在缺陷。 然而有些缺陷只有在工作一段時間后才能表現出來，對這類缺陷的檢測更加困難，常常需 要在老化程序和預燒程序完成后才能進行，此時檢測出的缺陷會導致整片顯示屏報廢。
另一種檢測方式是通過檢測電流信號來判斷缺陷是否存在，如中國專利CN1275074號 公開了一種由通過預定大小的電流來檢測OLED顯示屏的方^^。該檢測方式也需要顯示屏 進行工作，因而會消耗大量的能耗。
發明內容
本發明的目的在于提供一種能夠簡單有效判斷屏體優良，同時檢測缺陷像素的有機電致 發光器件的檢測裝置。
本發明的另一 目的在于提供一種使用上述檢測裝置對有機電致發光器件進行檢測的方法。
本發明的目的是通過以下技術方案予以實現的其特征在于，本發明之檢測裝置包括電 容數據采集單元，數據存儲單元，數據比較單元及輸出單元，所述電容數據采集單元及數 據存儲單元的輸出分別連接數據比較單元的輸入端，數據比較單元的輸出端與輸出單元連接。
所述檢測裝置還包括掃描單元。 所述檢測裝置還包括輸入單元。
所述數據存儲單元所存數據為有機電致發光器件的電容標準值。
所述電容標準值包括屏體電容標準值，列電容標準值，行電容標準值及像素電容標準值。 本發明的另一目的是通過以下技術方案予以實現的采用本發明之檢測裝置對有機電致 發光器件進行檢測的步驟包括
1、 利用電容數據采集單元檢測有機電致發光器件電容值；
2、 將檢測到的數據與數據存儲單元中的有機電致發光器件的電容標準值進行比較，并 通過輸出單元輸出比較結果。
本發明的另一目的還可通過以下技術方案予以實現采用本發明之檢測裝置對有機電致 發光器件進行檢測的步驟包括
1、 利用電容數據采集單元檢測有機電致發光器件屏體電容值；
2、 將檢測到的數據與數據存儲單元中的有機電致發光器件的電容標準值進行比較，并 通過輸出單元輸出比較結果；
3、 根據比較結果進行是否存在缺陷判斷，無缺陷進入老化程序，有缺陷進行像素檢測。 所述檢測方法還可在步驟3之后對有缺陷的，記錄缺陷像素位置，進行修復。 本發明基于的原理有機電致發光器件包含第一電極、有機材料層以及與所述第一電極
相對的第二電極，該結構與平行板電容器非常相近。相同結構的有機電致發光器件具有一 定的電容量，且電容量滿足平行板電容計算公式，即C^e eoS/d，其中，C表示電容，e 是介電常數，eo是真空介電常數，S是象素面積，d是兩電極間的面間距。若器件結構中 存在缺陷，例如附著在第一電極表面的塵埃顆粒或有機材料中的雜質等，都會造成介電常 數的變化，進而導致有機電致發光器件電容量的變化。本發明利用有機電致發光器件具有一電容標準值的特性，對其進行電容檢測，將檢測結 果與電容標準值比較，與電容標準值吻合即為無缺陷像素；與電容標準值相比大于或小于 該值，即為需要修復的存在缺陷的像素。本發明之檢測裝置及采用該裝置對像素進行檢測 的方法，簡單而有效，并且檢測時無需器件工作，減小能耗。
圖1為本發明實施例的檢測裝置結構框圖2為采用本發明之檢測裝置對有機電致發光器件進行檢測流程圖。
具體實施例方式
以下結合附圖及實施例對本發明做進一步說明。
參照圖1、 2。本發明之有機電致發光器件檢測裝置包括電容數據采集單元1，數據存儲 單元2，數據比較單元3及輸出單元4。其中，電容數據采集單元l可為電容測量儀，數據存 儲單元2為一數據存儲器，將電容標準值寫入數據存儲器中；數據比較單元3為一比較器， 數據存儲器的輸出為比較器的一端輸入，電容測量儀的輸出為其另一端輸入，在比較器中對 兩個數據進行比較，根據比較器的輸出結果顯示到輸出單元4，即可實時顯示檢測結果。
對有機電致發光顯示屏進行檢測過程如下將有機電致發光器件全行并聯、全列并聯， 使電容測量儀的陽極連接并聯列，陰極連接并聯行，檢測整個屏體的電容值，若符合數據 存儲器中的電容標準值則直接進入老化程序，若不符合數據存儲器中的電容標準值則進行 全行并聯，電容測量儀的陰極連接并聯行，陽極對列引線進行掃描，對每一列的電容與數
據存儲器中存儲的列電容標準值對比，記錄不符合數據存儲單元中電容標準值的列位置Ym;
將電容測量儀的陽極連接不符合數據存儲單元中電容標準值的列引線，陰極對行進行掃描， 對該列每一像素的電容與數據存儲器中存儲的像素電容標準值對比，記錄不符合數據存儲
器中電容標準值的行位置Xn;由Ym、 Xn確定缺陷像素位置，之后進入修復和老化程序。
同理，在檢測完整個屏體之后，如不符合數據存儲器中的電容標準值，需要確定缺陷像 素位置時，也可進行全列并聯，電容測量儀的陽極連接并聯列，陰極對行引線進行掃描， 對每一行的電容與數據存儲器中存儲的行電容標準值對比，記錄不符合數據存儲單元中電 容標準值的行位置Xn;將電容測量儀的陰極連接不符合數據存儲單元中列電容標準值的行 引線，陽極對列進行掃描，對該行每一像素的電容與數據存儲器中存儲的像素電容標準值對比，記錄不符合數據存儲器中電容標準值的列位置Ym; SYm、 Xn確定缺陷像素位置'
之后進入修復和老化程序。 實施例1
本實施例之檢測對象為0.3cmX0.3cm的綠色實驗片，器件結構為陽極(ITO) / (空穴 注入層)HIL/ (空穴傳輸層)HTL/ (發光層)EML/ (電子傳輸層)ETL/ (陰極)LiF/Al，本 實施例所述實驗片整片屏體為一個像素點。
將電容測量儀的陽極連接實驗片的陽極，陰極連接實驗片的陰極，檢測整個屏體的電容 值5.06nF，符合數據存儲器中的電容標準值范圍4.50nF 6.50nF，電流測試結果也表明實驗 片無缺陷。
實施例2
本實施例之檢測對象為0.3cmX0.3cm的綠色實驗片。
將電容測量儀的陽極連接實驗片的陽極，陰極連接實驗片的陰極，檢測整個屏體的電容 值為4.00nF，不符合數據存儲器中的電容標準值范圍4.50nF 6.50nF，測試時發光區亮度低， 在放大鏡中發現顯示區有雜質，進入修復程序后，將缺陷修復，重復前述測試過程，測得實 驗片的電容值為4.64nF，符合數據存儲器中的電容標準值范圍4.50nF 6.50nF，此時發光區 工作正常。
實施例3
本實施例之檢測對象為0.3cmX0.3cm的綠色實驗片。
將電容測量儀的陽極連接實驗片的陽極，陰極連接實驗片的陰極，檢測整個屏體的電容 值190nF，遠遠超出數據存儲器中的電容標準值范圍4.50nF 6.50nF，并且很不穩定，此實 驗片有明顯的短路點，不可修復，屬報廢品。
實施例4
本實施例之檢測對象為發光區面積4.5cmX4.5cm的光源，本實施例所述光源整片屏體為 一個像素點。
將電容測量儀的陽極連接光源的陽極，陰極連接光源的陰極，檢測整個屏體的電容值為 190nF，符合數據存儲器中的電容標準值范圍120nF 260nF，直接進入老化程序。 實施例5本實施例之檢測對象為發光區面積4.5cmX4.5cm的光源。
將電容測量儀的陽極連接光源的陽極，陰極連接光源的陰極，檢測屏體的電容值為 6L7nF，不符合數據存儲器中的電容標準值范圍120nF 260nF，發光區亮度低，且閃爍，顯 微鏡下觀察，顯示區有雜質，進入修復程序，修復后，重復前述測試過程，測得光源的電容 值為132nF，符合數據存儲器中的電容標準值范圍120nF 260nF，可正常工作。
實施例6
本實施例之檢測對象為128X64的點陣屏。
將待檢測的128X64的點陣屏全行并聯、全列并聯，使電容測量儀的陽極連接并聯列， 陰極連接并聯行，檢測整個屏體的電容值為900nF，符合數據存儲器中的電容標準值范圍 800nF 1200nF，直接進入老化程序。
實施例7
本實施例之檢測對象為128X64的點陣屏。
將待檢測的128X64的點陣屏全行并聯、全列并聯，使電容測量儀的陽極連接并聯列， 陰極連接并聯行，檢測整個屏體的電容值為235nF，不符合數據存儲器中的電標準容值范圍 750nF 1300nF，則進行全行并聯，電容測量儀的陰極連接并聯行，陽極對列引線進行掃描， 對每一列的電容與數據存儲器中存儲的列電容標準值對比，當掃描到第17列時，測得該列電 容值為0.55nF，不符合數據存儲器中的列電容標準值范圍60.0nF 100nF，記錄不符合數據 存儲器中列電容標準值的列位置Yn，將電容測量儀的陽極連接第17列的列引線，陰極對行 進行掃描，掃描該列，對該列每一像素的電容與數據存儲器中存儲的像素電容標準值對比， 當掃描到第52行時，測得第17列、第52行該點像素電容值為0.33nF,不符合數據存儲器中 的像素電容標準值范圍2.00nF 4.00nF，繼續掃描，直至掃描完64行，未發現不符合數據存 儲器中像素電容標準值的像素，記錄不符合數據存儲器中像素電容標準值的行位置X52;由 Y17、 乂52確定缺陷像素位置。繼續并聯所有行，從第18列開始掃描，直至掃描完128列，未 發現不符合數據存儲器中列電容標準值的列，之后進入修復和老化程序。雖然以上描述了本發明的最佳實施例，但本發明的技術范圍并不局限于上述討論的范圍。 上述提供的實施例只是僅僅用于進一步在發明內容的基礎上解釋本發明。應該理解的是，本 領域的技術人員可以對上述過程做出多種改進，但是所有的這類改進也都屬于本發明的范圍 內。
權利要求
1.一種有機電致發光器件的檢測裝置，其特征在于，包括電容數據采集單元，數據存儲單元，數據比較單元及輸出單元，所述電容數據采集單元及數據存儲單元的輸出分別連接數據比較單元的輸入端，數據比較單元的輸出端與輸出單元連接。
2. 根據權利要求1所述的有機電致發光器件的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝 置還包括掃描單元及輸入單元。
3. 根據權利要求1或2所述的有機電致發光器件的檢測裝置，其特征在于，所述數 據存儲單元所存數據為有機電致發光器件的電容標準值。
4. 根據權利要求3所述的有機電致發光器件的檢測裝置，其特征在于，所述電容標 準值包括屏體電容標準值，列電容標準值，行電容標準值及像素電容標準值。
5. —種采用如權利要求1 4所述的有機電致發光器件的檢測裝置對有機電致發光 器件進行檢測的方法，其步驟包括A、利用電容數據釆集單元檢測有機電致發光器件電容 值；B、將檢測到的數據與數據存儲單元中的有機電致發光器件的電容標準值進行比較，并 通過輸出單元輸出比較結果。
6. —種釆用如權利要求1 4所述的有機電致發光器件的檢測裝置對有機電致發光 器件進行檢測的方法，其步驟包括A、利用電容數據采集單元檢測有機電致發光器件屏體 電容值；B、將檢測到的數據與數據存儲單元中的有機電致發光器件的電容標準值進行比較， 并通過輸出單元輸出比較結果；C、根據比較結果進行是否存在缺陷判斷，無缺陷進入下一 步程序，有缺陷進行像素檢測。
7. 根據權利要求6所述的檢測方法，其特征在于，所述步驟C后還進行D、記錄缺 陷像素位置，進行修復。
全文摘要
本發明公開了一種有機電致發光器件的檢測裝置及檢測方法，其包括分別連接數據比較單元輸入端的電容數據采集單元、數據存儲單元，及數據比較單元、輸出單元。檢測的步驟包括A.利用電容數據采集單元檢測有機電致發光器件電容值；B.將檢測的數據與數據存儲單元中的有機電致發光器件的電容標準值進行比較，通過輸出單元輸出比較結果。本發明利用有機電致發光器件具有一電容標準值的特性，對其進行電容檢測，將檢測結果與電容標準值比較，與電容標準值吻合即為無缺陷像素；與電容標準值相比大于或小于該值，即為需要修復的存在缺陷的像素。本發明之檢測裝置及采用該裝置對像素進行檢測的方法，簡單而有效，并且檢測時無需器件工作，減小能耗。
文檔編號G01R31/26GK101295005SQ200710022108
公開日2008年10月29日 申請日期2007年4月28日 優先權日2007年4月28日
發明者嵩 劉, 勇 邱, 高裕弟 申請人:昆山維信諾顯示技術有限公司;清華大學;北京維信諾科技有限公司
專業數控銑床產品供應商
20年生產經驗，實力工廠，精工品質，質量有保障
