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散裝材料的拓?fù)浯_定的制作方法
【專利摘要】提供了一種用于確定散裝材料的拓?fù)涞臏y量設(shè)備和方法。為了確定散裝材料表面的拓?fù)洌谔炀€的不同主輻射方向中檢測一系列的回波曲線。接著，針對回波曲線中的每個(gè)距離單元，所有回波曲線的最大值被確定，并且根據(jù)其坐標(biāo)繪制其距離從而獲得所述散裝材料表面的拓?fù)涞亩S或三維圖像。
【專利說明】散裝材料的拓?fù)浯_定
[0001]相關(guān)申請的交叉引用
[0002]本申請主張于2013年5月17日提交的歐洲專利申請N0.13168357.5的權(quán)利，其公開內(nèi)容通過引用合并到本文中。

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0003]本發(fā)明涉及料位測量。更具體地，本發(fā)明涉及一種用于確定散裝材料(bulkmaterial)的拓?fù)涞臏y量設(shè)備、所述測量設(shè)備在確定散裝材料的體積流中的應(yīng)用、所述測量設(shè)備在確定散裝材料的質(zhì)量中的應(yīng)用、一種用于確定散裝材料的拓?fù)涞姆椒ā⒁环N程序單元以及一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。

【背景技術(shù)】
[0004]在容器中存儲(chǔ)的或者位于傳送帶上的散裝材料通常具有不規(guī)則的凹凸不平的表面。特別地，可能形成大塊頂峰或空心槽。
[0005]在此情況下，如果僅確定距填充材料表面上的單個(gè)點(diǎn)的距離，則料位測量設(shè)備經(jīng)常不準(zhǔn)確地確定料位。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的是改進(jìn)對存儲(chǔ)在容器中的散裝貨物的料位確定，或者改進(jìn)對在傳送帶上的散裝貨物的質(zhì)量流的確定。
[0007]通過獨(dú)立權(quán)利要求的技術(shù)特征而實(shí)現(xiàn)該目的。可以根據(jù)剩余的權(quán)利要求或者下述描述而獲得對本發(fā)明的開發(fā)。
[0008]本發(fā)明的第一方面涉及一種用于確定散裝材料的測量設(shè)備，該測量設(shè)備包括天線裝置、回波曲線生成單元、定位裝置和評估單元。
[0009]所述天線裝置被配置成在該天線裝置的主輻射方向中發(fā)射傳輸信號并且接收至少在所述散裝材料的表面上反射的傳輸信號。該被反射的且然后由所述天線裝置接收的傳輸信號也可以稱為接收信號。
[0010]是回波曲線生成單元被配置成根據(jù)被反射的且然后由所述天線裝置接收的傳輸信號而生成回波曲線。在此背景中，所述回波曲線反映(即對應(yīng))該被反射的傳輸信號在所述測量設(shè)備的距離測量范圍內(nèi)的信號強(qiáng)度或幅度。換言之，所述回波曲線反映了所接收的被反射傳輸信號的幅度取決于從由天線對傳輸信號的發(fā)射到對傳輸信號的接收的相應(yīng)信號部分所覆蓋的路徑長度。
[0011]這種類型的回波曲線通常具有從所述傳輸信號在填充材料表面上反射而產(chǎn)生的最大值(峰值)。也可以有回波曲線中的另外的最大值，其源自容器等中的干擾點(diǎn)上的反射。
[0012]所述測量設(shè)備或者至少其天線可以由定位裝置控制的，以使之能夠通過定位裝置改變所述天線裝置的主輻射方向，從而使之能夠以不同的主輻射方向而生成一系列的回波曲線。特別地，可以提供單個(gè)的以機(jī)械方式或電子方式“樞轉(zhuǎn)”的天線。在機(jī)械定位天線的情況下，不需要天線陣。在電子定位天線的情況下，例如將個(gè)體天線的陣列進(jìn)行組合以形成整體輻射裝置。
[0013]接著能夠通過所述評估單元來確定所述散裝材料表面的拓?fù)洹Ｔ诖吮尘跋拢錾⒀b材料的或所述散裝材料表面的“拓?fù)洹币庵副砻孑喞此錾⒀b材料表面的表面級數(shù)。能夠沿著在表面上進(jìn)行一維掃描(在此情況下所確定的表面輪廓是穿過所述散裝材料的表面的平坦的豎直剖面)或者通過與上述在表面上進(jìn)行一維掃描相反地在表面上進(jìn)行二維掃描的線來確定該表面級數(shù)。在此情況下，所述散裝材料表面的拓?fù)湟蚨匀S來被確定。
[0014]在此，為了以三維或者二維來確定所述散裝材料表面的拓?fù)洌鲈u估單元至少執(zhí)行以下步驟:
[0015]首先，建立第一距離單元，其是所述回波曲線中的特定距離間隔，即該回波曲線中的特定部分。在下一步中，在該一系列回波曲線中的每個(gè)回波曲線中分析該距離單元(即該特定部分)，這因而使之能夠通過與所述第一距離單元內(nèi)的剩余回波曲線進(jìn)行比較來確定具有最大信號強(qiáng)度的回波曲線。由于每個(gè)回波曲線實(shí)際上已經(jīng)在特定的主輻射方向中被接收，因此能夠通過對所述主輻射方向進(jìn)行定向來明確地地識(shí)別每個(gè)回波曲線。還確定了所述距離單元中的最大信號強(qiáng)度的值以及可選地其準(zhǔn)確位置。
[0016]在下文中，這種測量點(diǎn)的坐標(biāo)意指表征生成相應(yīng)的回波曲線處的初級輻射方向的角(即，在傳輸信號被所述散裝材料的表面反射并且由天線接收以用于生成回波曲線之前，所述天線發(fā)射傳輸信號的主輻射方向)和所述回波曲線中的最大信號強(qiáng)度的位置(“定位”)。信號強(qiáng)度的值意指所述回波曲線在最大信號強(qiáng)度位置處的幅度。這個(gè)“定位”相當(dāng)于與最大信號強(qiáng)度對應(yīng)的距離。
[0017]接下來，可以針對所述回波曲線的另外的距離單元來執(zhí)行上述公開的步驟。
[0018]因此，有可能將所述回波曲線細(xì)分成連續(xù)布置的多個(gè)距離單元，或者至少將該回波曲線的特定部分細(xì)分成多個(gè)距離單元，以針對其執(zhí)行上述公開的步驟。
[0019]換言之，多個(gè)回波曲線均以不同的角(即，以所述天線裝置的不同主輻射方向)而被接收。能夠通過適當(dāng)?shù)卣{(diào)節(jié)所述天線裝置和/或反射器來以機(jī)械的方式提供所述天線裝置的主輻射方向，其中所述反射器在從天線到散裝材料表面的路徑上反射傳輸信號。還由有可能以電子的方式調(diào)節(jié)主輻射方向，例如通過通過相應(yīng)致動(dòng)的天線陣。
[0020]在接收了一系列的回波曲線之后，定義所述回波曲線的第一距離單元，接著針對每個(gè)回波曲線而確定該回波曲線在該距離單元中的最大值。接下來，確定各種回波曲線的哪個(gè)最大值是最大的最大值，并且確定其坐標(biāo)和值。接下來針對另外的距離單元執(zhí)行這些步驟。取決于天線的主輻射方向是沿著空間中的一個(gè)方向還是兩個(gè)方向改變，能夠據(jù)此計(jì)算所述散裝材料表面的剖面線表示或者三維表示。
[0021]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述評估單元生成矩陣，該矩陣包含與針對每個(gè)距離單元的信號強(qiáng)度的最大的最大值對應(yīng)的位置及其坐標(biāo)(距離和主輻射方向)。
[0022]在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，所述評估單元利用在上述公開的步驟中獲得的數(shù)據(jù)來確定位于容器中的散裝材料的料位和/或散裝材料的體積。
[0023]在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，所述定位裝置被配置成以二維改變所述天線裝置的主輻射方向。
[0024]在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，所述定位裝置被配置成在機(jī)械調(diào)節(jié)裝置的輔助下改變所述天線裝置的主輻射方向，其中借助于該機(jī)械調(diào)節(jié)設(shè)備能夠機(jī)械地調(diào)節(jié)所述天線裝置的定向。
[0025]在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，所述定位裝置包括用于改變所述天線裝置的主輻射方向的反射器和用于改變所述反射器的位置并因此改變所述天線裝置的主輻射方向的機(jī)械調(diào)節(jié)裝置。
[0026]還可以假設(shè)天線定向和反射器二者能夠利用所述定位裝置來被調(diào)節(jié)。
[0027]在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，所述測量設(shè)備被配置成料位測量設(shè)備。特別地，所述測量設(shè)備可以配置成脈沖雷達(dá)裝置或FMCW(調(diào)頻連續(xù)波)料位測量設(shè)備。
[0028]本發(fā)明的另一個(gè)方面指定了為確定位于傳送帶上的散裝材料的體積流而對上文以及下文中公開的測量設(shè)備的使用。
[0029]本發(fā)明的另一個(gè)方面指定了為確定散裝材料的質(zhì)量而對上文以及下文中公開的測量設(shè)備的使用。
[0030]本發(fā)明的另一個(gè)方面指定了一種用于確定散裝材料的拓?fù)涞姆椒ǎ渲校谒鎏炀€裝置的主輻射方向中發(fā)射傳輸信號，并且由所述天線裝置接收至少在所述散裝材料的表面上被反射的傳輸信號。接下來，根據(jù)被反射且然后由所述天線裝置接收的傳輸信號而生成回波曲線，該回波曲線反映了被反射的傳輸信號在所述測量設(shè)備的距離測量范圍內(nèi)的信號強(qiáng)度。接下來，改變所述天線裝置的主輻射方向，以使得能夠在不同的主輻射方向中生成另外的回波曲線。
[0031]接下來，確定所述散裝材料的拓?fù)洌瑸榇_定所述拓?fù)渲辽賵?zhí)行以下步驟:
[0032]a)建立第一距離單元，其是特定距離間隔；
[0033]b)通過與其余回波曲線相比來確定一系列回波曲線中的具有在第一距離單元內(nèi)的最大信號強(qiáng)度的回波曲線；
[0034]c)確定最大信號強(qiáng)度的值和坐標(biāo)，其是沿其生成該回波曲線的與最大信號強(qiáng)度對應(yīng)的主輻射方向以及與最大信號強(qiáng)度對應(yīng)的距離；以及
[0035]d)針對另外的距離單元重復(fù)地執(zhí)行步驟(a)至步驟(C)。
[0036]在這點(diǎn)上，應(yīng)當(dāng)指出，所公開的測量設(shè)備可以被配置成執(zhí)行在上文以及下文中所公開的所有方法步驟。
[0037]本發(fā)明的另一個(gè)方面指定了一種程序單元，該程序單元當(dāng)在測量設(shè)備的處理器上被執(zhí)行時(shí)指示該測量設(shè)備執(zhí)行在上文以及下文中公開的步驟。
[0038]本發(fā)明的另一個(gè)方面指定了一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，在其上存儲(chǔ)了程序單元，該程序單元當(dāng)在測量設(shè)備的處理器上被執(zhí)行時(shí)指示該測量設(shè)備執(zhí)行在上文以及下文中公開的步驟。
[0039]該程序單元可以是存儲(chǔ)在測量設(shè)備的處理器上的軟件的一部分。本發(fā)明還涉及一種程序單元，該程序單元通過更新的方式指示現(xiàn)有程序適用本發(fā)明。
[0040]在下文中，將參照附圖描述本發(fā)明的實(shí)施例。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0041]圖1示出了用于測量料位的料位測量設(shè)備以及由該裝置生成的回波曲線；
[0042]圖2示出了料位測量設(shè)備及其方向特性和由該裝置生成的回波曲線；
[0043]圖3a、圖3b、圖3c和圖3d示出了在不同的主輻射方向中生成回波曲線；
[0044]圖4示出了在不同的主輻射方向中接收回波曲線；
[0045]圖5是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的方法的流程圖；
[0046]圖6示出了在不同的主輻射方向中所檢測的各種回波曲線以及第一距離單元；
[0047]圖7示出了根據(jù)主輻射方向的角度的距離單元中的圖6的回波曲線的最大值；
[0048]圖8示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的最大值；
[0049]圖9示出了在不同的主輻射方向中生成的另外的距離單元的最大值；
[0050]圖10示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的從圖9獲得的最大值；
[0051]圖11示出了在不同的主輻射方向中檢測的回波曲線；
[0052]圖12是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的方法的流程圖；
[0053]圖13示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的測量布置；
[0054]圖14示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的另外的測量布置。

【具體實(shí)施方式】
[0055]附圖是示意性的并且不是按比例縮放的。
[0056]在下面對附圖的描述中，在不同的附圖中使用相似的附圖標(biāo)記表示相似或類似的元素。然而，相似或類似的元素也可能使用不同的附圖標(biāo)記表示。
[0057]本發(fā)明特別是應(yīng)用于料位測量設(shè)備的領(lǐng)域，但是也可以應(yīng)用于物體監(jiān)測領(lǐng)域或質(zhì)量流確定領(lǐng)域。擴(kuò)展用于僅確定距填充材料表面上的特定點(diǎn)的距離以使之能夠確定表面拓?fù)涞牧衔粶y量方法，可以被看作是本發(fā)明的核心方面。尤其是在散裝材料應(yīng)用中，不論拓?fù)鋽?shù)據(jù)在進(jìn)一步的計(jì)算步驟中如何被評估，基本上都能夠獲得更好的測量結(jié)果作為結(jié)果(所設(shè)想的選項(xiàng):傳送帶上的體積流測量、容器中的質(zhì)量確定等)。
[0058]圖1示出了散裝材料應(yīng)用中的料位測量的典型情形。常規(guī)的料位測量設(shè)備101通過收發(fā)器單元102而朝向待測量的介質(zhì)發(fā)射信號103。信號103在填充材料表面上的各個(gè)點(diǎn)104和105處被反射，并且在相應(yīng)的傳送時(shí)間后再次到達(dá)料位測量設(shè)備101，其中該信號在該料位測量設(shè)備101處以適當(dāng)?shù)姆绞奖唤邮詹⑶彝ǔ１晦D(zhuǎn)換成回波曲線108。回波曲線108在距離dll06和距離d2107之間具有很寬的回波。該很寬的回波也被稱為回波帶。它源自于傳輸信號103在待測量散裝材料的表面上的若干個(gè)單獨(dú)反射的疊加。
[0059]圖2示出了來自料位測量設(shè)備101的信號查看方向(主輻射方向)的多個(gè)回波的外觀。根據(jù)料位測量設(shè)備101的構(gòu)造，尤其是根據(jù)雙工器102的幾何形狀，傳感器針對空間中的不同方向具有可變的敏感性，并且該敏感性是由也在圖2中示出的方向特性201表示的。信號的圖形顯示的不完全聚焦意味著在測量中除了主輻射方向中出現(xiàn)的反射器R2202以外還檢測在反射器R2202側(cè)面的反射器R1203。根據(jù)回波曲線204，能夠清楚地識(shí)別反射器202，203的兩個(gè)回波205，206。然而，反射器R1203的回波206明顯具有更小的幅度。除了在料位測量設(shè)備與反射器之間的更大距離以及信號在料位測量設(shè)備與反射器之間的路徑上的隨之增加的自由空間衰減之外，其主要原因還在于與反射器R2202相比而言在反射器R1203的方向中的更差的發(fā)送接收特性201。
[0060]圖3首先在二維平面中示出了用于執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的方法的的測量序列。根據(jù)本發(fā)明的料位測量設(shè)備301通過適當(dāng)?shù)臋C(jī)械構(gòu)造而在可調(diào)節(jié)的方向中朝向反射器R1203和R2202。
[0061]料位測量設(shè)備301可以在主輻射方向的角度處開始其測量周期。在傳感器的所指示的定向處，反射器R1203的回波302以最大幅度而被反映，這是因?yàn)槠鋵?shí)際上以傳感器301的主福射方向而被定位。基于傳感器的當(dāng)前定向，反射器R2202位于主福射方向的側(cè)面，并且這解釋了其具有小得多的回波303。
[0062]在下一步中，料位測量設(shè)備301向前旋轉(zhuǎn)一個(gè)可能是預(yù)定的角度為9= φ?-φι.由于該新的主輻射方向，反射器Rl和R2的回波(304，305)現(xiàn)在以基本相同的幅度而被檢測。
[0063]隨之以和進(jìn)行進(jìn)一步的校準(zhǔn)步驟，由于因此在該最后一步中達(dá)到了測量的檢測范圍的末尾。能夠清楚地看出，所檢測的回波306、307、308和309的最大幅度強(qiáng)烈地取決于關(guān)聯(lián)的反射器202，203的位置以及料位測量設(shè)備301的當(dāng)前定向。
[0064]現(xiàn)在，圖4示出了過渡到散裝材料堆的連續(xù)分布的反射平面401。為了清晰起見，最初以二維配置示出根據(jù)本發(fā)明的方法。
[0065]測量周期的起始點(diǎn)最初是在所述料位測量設(shè)備的雙工器裝置的各個(gè)主輻射方向中檢測若干個(gè)回波曲線402，403，404，405，406，為此，在能預(yù)先確定的模板中經(jīng)過待檢測的角度范圍(在此情況中，爐卿…爐Λ/?λ_=爐■/ )。
[0066]在圖4的示例中，從五個(gè)不同的查看方向(φο,ψ?,爐2，ψ3, ψ4 )即主輻射方向410，411，412，413，414由傳感器測量散裝堆的表面401。被如此檢測的回波曲線402，403，404，405，406最初被存儲(chǔ)在適當(dāng)?shù)拇鎯?chǔ)器中。
[0067]一旦完成回波曲線檢測，根據(jù)本發(fā)明的方法就繼續(xù)進(jìn)行對回波曲線402，403，404，405，406的實(shí)際計(jì)算評估。圖5示出了相關(guān)的流程圖。
[0068]圖6至圖10示出了實(shí)施該方法時(shí)的主要中間結(jié)果。該方法始于步驟S5101。首先在步驟S5102中，結(jié)果矩陣AFinal802被清零。
[0069]該方法在后續(xù)的步驟中的中心思想是在預(yù)先固定的距離單元中評估回波曲線(圖5 ;402，403, 404, 405.406)。因此，在步驟S5103中，將距傳感器最近的距離帶定義為分析區(qū)域(在此情況下:rs = a ；rE = r2)。
[0070]圖6和圖8示出了以此方式定義的距離單元801。接著，在步驟S5201中，形成與這個(gè)距離帶801相關(guān)聯(lián)的最大曲線M ((η)按照如下方式得到最大值曲線701:針對
/ rS:%.每個(gè)角(φ(Κ φ?, φ2，φ3，(p4 )，與回波曲線402，403，404，405，406關(guān)聯(lián)的最大幅度(換言之信號強(qiáng)度)在預(yù)先定義的距離范圍801中被搜索，并且針對最大值曲線701被標(biāo)示為采樣點(diǎn)(702, 703,……)。
[0071]隨后，在步驟S5202中，確定最大值曲線701上的局部最大值。在本情況中，存在局部最大值M1704。通過實(shí)施方法步驟S5203、S5204和S5205，確定局部最大值M1704的極坐標(biāo)。在本情況中，由于測量僅是二維的，因此極坐標(biāo)簡單地是

【權(quán)利要求】
1.一種用于確定散裝材料(1102)的拓?fù)涞臏y量設(shè)備(1300)，包括: 天線裝置(1301)，其用于在該天線裝置的主輻射方向中發(fā)射傳輸信號，并且用于接收至少在所述散裝材料的表面上被反射的傳輸信號； 回波曲線生成單元(1303)，其被配置用于根據(jù)由所述天線裝置接收的所述被反射的傳輸信號來生成回波曲線，所述回波曲線對應(yīng)于所述被反射的傳輸信號在所述測量設(shè)備的距離測量范圍內(nèi)的信號強(qiáng)度； 定位裝置(1307，1308)，其用于改變所述天線裝置的所述主輻射方向(1305)，以使之能夠以不同的主輻射方向生成一系列回波曲線； 評估單元(1304)，其用于確定所述散裝材料的所述拓?fù)洌渲兴鲈u估單元執(zhí)行以下步驟來確定所述拓?fù)? a)建立第一距離單元，所述第一距離單元是回波曲線中的特定部分； b)通過與其余的回波曲線相比來確定所述一系列回波曲線中的具有所述第一距離單元內(nèi)的最大信號強(qiáng)度的回波曲線； c)確定所述最大信號強(qiáng)度的坐標(biāo)以及與該最大信號強(qiáng)度對應(yīng)的距離，其中所述坐標(biāo)是與所述回波曲線對應(yīng)的所述傳輸信號在其中被發(fā)射的所述主輻射方向；以及 d)針對另外的距離單元重復(fù)地執(zhí)行步驟(a)至步驟(C)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量設(shè)備，其中，所述評估單元進(jìn)一步執(zhí)行以下步驟來確定所述拓?fù)? e)創(chuàng)建包括在步驟c)中所確定的所述坐標(biāo)的值的矩陣。
3.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測量設(shè)備，其中，所述評估單元(1304)被配置成執(zhí)行以下步驟: f)利用在步驟a)至步驟d)中所獲得的數(shù)據(jù)來確定料位或散裝材料體積。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測量設(shè)備，其中，所述定位裝置(1307,1308)被配置成在二維中改變所述天線裝置(1301)的所述主輻射方向。
5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測量設(shè)備，其中，為了改變所述天線裝置(1301)的所述主輻射方向，所述定位裝置包括用于設(shè)定所述天線裝置的定向的機(jī)械調(diào)節(jié)裝置(1307，1308)。
6.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測量設(shè)備，其中，所述定位裝置(1307,1308)包括用于改變所述天線裝置(1301)的所述主輻射方向的反射器(1401)以及用于改變所述反射器的位置并因此改變所述天線裝置(1301)的所述主輻射方向的機(jī)械調(diào)節(jié)裝置(1403，1404)。
7.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測量設(shè)備，其中，所述測量設(shè)備被配置成料位測量設(shè)備。
8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測量設(shè)備，其中，所述測量設(shè)備被配置成脈沖雷達(dá)裝置或調(diào)頻連續(xù)波FMCW測量設(shè)備。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的測量設(shè)備在確定位于傳送帶上的散裝材料的體積流中的應(yīng)用。
10.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的測量設(shè)備在確定散裝材料的質(zhì)量中的應(yīng)用。
11.一種用于確定散裝材料(1102)的拓?fù)涞姆椒ǎㄒ韵虏襟E: 在天線裝置的主輻射方向中發(fā)射傳輸信號； 接收至少在所述散裝材料的表面上被反射的傳輸信號； 根據(jù)由所述天線裝置接收的所述被反射的傳輸信號來生成回波曲線，所述回波曲線對應(yīng)于所述被反射的傳輸信號在測量設(shè)備的距離測量范圍內(nèi)的信號強(qiáng)度； 改變所述天線裝置的所述主輻射方向(1305)，以使得能夠以不同的主輻射方向生成一系列回波曲線； 確定所述散裝材料的拓?fù)洌瑘?zhí)行以下步驟來確定所述拓?fù)? a)建立第一距離單元，所述第一距離單元是回波曲線中的特定部分； b)通過與其余的回波曲線相比來確定所述一系列回波曲線中的具有所述第一距離單元內(nèi)的最大信號強(qiáng)度的回波曲線； c)確定所述最大信號強(qiáng)度的坐標(biāo)以及與所述最大信號強(qiáng)度對應(yīng)的距離，其中所述坐標(biāo)是與所述回波曲線對應(yīng)的所述傳輸信號在其中被發(fā)射的所述主輻射方向；以及 d)針對另外的距離單元重復(fù)地執(zhí)行步驟(a)至步驟(C)。
12.—種程序單元，其當(dāng)在測量設(shè)備的處理器上被執(zhí)行時(shí)指示所述測量設(shè)備執(zhí)行以下步驟: 在天線裝置的主輻射方向中發(fā)射傳輸信號； 接收至少在散裝材料的表面上被反射的傳輸信號； 根據(jù)由所述天線裝置接收的所述被反射的傳輸信號來生成回波曲線，所述回波曲線對應(yīng)于所述被反射的傳輸信號在所述測量設(shè)備的距離測量范圍內(nèi)的信號強(qiáng)度； 改變所述天線裝置的所述主輻射方向(1305)，以使得能夠以不同的主輻射方向生成一系列回波曲線； 確定所述散裝材料的拓?fù)洌瑘?zhí)行以下步驟來確定所述拓?fù)? a)建立第一距離單元，所述第一距離單元是回波曲線中的特定部分； b)通過與其余的回波曲線相比來確定所述一系列回波曲線中的具有所述第一距離單元內(nèi)的最大信號強(qiáng)度的回波曲線； c)確定所述最大信號強(qiáng)度的坐標(biāo)以及與所述最大信號強(qiáng)度對應(yīng)的距離，其中所述坐標(biāo)是與所述回波曲線對應(yīng)的所述傳輸信號在其中被發(fā)射的所述主輻射方向；以及 d)針對另外的距離單元重復(fù)地執(zhí)行步驟(a)至步驟(C)。
13.一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有程序單元，該程序單元當(dāng)在測量設(shè)備的處理器上被執(zhí)行時(shí)指示所述測量設(shè)備執(zhí)行以下步驟: 在天線裝置的主輻射方向主發(fā)射傳輸信號； 接收至少在散裝材料的表面上被反射的傳輸信號； 根據(jù)由所述天線裝置接收的所述被反射的傳輸信號來生成回波曲線，所述回波曲線對應(yīng)于所述被反射的傳輸信號在所述測量設(shè)備的距離測量范圍內(nèi)的信號強(qiáng)度； 改變所述天線裝置的主初級輻射方向(1305)，以使得能夠以不同的主輻射方向生成一系列回波曲線； 確定所述散裝材料的拓?fù)洌瑘?zhí)行以下步驟來確定所述拓?fù)? a)建立第一距離單元，所述第一距離單元是回波曲線中的特定部分； b)通過與其余的回波曲線相比來確定所述一系列回波曲線中的具有所述第一距離單元內(nèi)的最大信號強(qiáng)度的回波曲線； C)確定所述最大信號強(qiáng)度的坐標(biāo)以及與所述最大信號強(qiáng)度對應(yīng)的距離，其中所述坐標(biāo)是與所述回波曲線對應(yīng)的所述傳輸信號在其中被發(fā)射的所述主輻射方向；以及 d)針對另外的距離單元重復(fù)地執(zhí)行步驟(a)至步驟(C)。
【文檔編號】G01F23/284GK104165671SQ201410211358
【公開日】2014年11月26日 申請日期:2014年5月19日 優(yōu)先權(quán)日:2013年5月17日
【發(fā)明者】約瑟夫·費(fèi)倫巴赫, 卡爾·格里斯鮑姆, 羅蘭·韋勒 申請人:Vega格里沙貝兩合公司