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一種大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準(zhǔn)波數(shù)定標(biāo)方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準(zhǔn)波數(shù)定標(biāo)方法，該方法包括：利用一波數(shù)與所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的基準(zhǔn)波數(shù)一致的激光器發(fā)射光線；所述激光器的發(fā)射光線經(jīng)由準(zhǔn)直系統(tǒng)后射入所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀中；采集所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的輸出光譜并利用光譜復(fù)原算法實(shí)現(xiàn)對(duì)所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準(zhǔn)波數(shù)的定標(biāo)。本發(fā)明公開的方法可以準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準(zhǔn)波數(shù)的定標(biāo)，該方法復(fù)雜度較低、且可靠易行。
【專利說(shuō)明】一種大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準(zhǔn)波數(shù)定標(biāo)方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及光譜成像儀定標(biāo)【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種大孔徑空間外差干涉光譜成 像儀基準(zhǔn)波數(shù)定標(biāo)方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 干涉光譜成像技術(shù)從調(diào)制方式上來(lái)分可分為時(shí)間調(diào)制、空間調(diào)制和時(shí)空聯(lián)合調(diào)制 三種方式，干涉光譜成像儀的定標(biāo)分為輻射定標(biāo)和光譜定標(biāo)兩種類型，而光譜定標(biāo)又分為 實(shí)驗(yàn)室定標(biāo)和在軌定標(biāo)兩部分。現(xiàn)有的干涉光譜成像儀光譜定標(biāo)一般采用現(xiàn)有的光譜儀對(duì) 已知光譜特征的目標(biāo)進(jìn)行采集、獲取光譜，然后再用研制的儀器對(duì)相同的目標(biāo)進(jìn)行圖像采 集，并通過(guò)特定的數(shù)據(jù)處理方法來(lái)獲得光譜曲線，最后將標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品所獲取的譜線與自行研 制的儀器獲取的譜線進(jìn)行對(duì)比便可以完成對(duì)研制的新儀器的標(biāo)定工作。
[0003] 傳統(tǒng)調(diào)制方式的干涉光譜成像儀的工作波數(shù)范圍均為0?〇 _，因此理論上來(lái)說(shuō) 其光譜定標(biāo)需要從〇波數(shù)開始直至最大工作波數(shù)（σ _)，但是實(shí)際上其波數(shù)范圍還受到探 測(cè)器的響應(yīng)的影響，其最小工作波數(shù)一般由探測(cè)器的響應(yīng)頻率范圍來(lái)確定，因此一般的干 涉光譜成像儀定標(biāo)的波數(shù)范圍為〇 min? 〇max，其最小波數(shù)（〇min)可以通過(guò)查閱探測(cè)器技 術(shù)手冊(cè)來(lái)確定，其最大工作波數(shù)由探測(cè)器譜段范圍和系統(tǒng)的采樣頻率共同決定，采樣定理 要求系統(tǒng)的采樣頻率必須大于等于2倍信號(hào)的最大頻率，對(duì)于干涉儀光譜儀來(lái)說(shuō)可以表示 為：〇 s彡2 · 〇 _，進(jìn)一步可以得到其采樣點(diǎn)數(shù)必須滿足

【權(quán)利要求】
1. 一種大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準(zhǔn)波數(shù)定標(biāo)方法，其特征在于，該方法包 括： 利用一波數(shù)與所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的基準(zhǔn)波數(shù)一致的激光器發(fā)射光 線. 所述激光器的發(fā)射光線經(jīng)由準(zhǔn)直系統(tǒng)后射入所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀 中； 采集所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的輸出光譜并利用光譜復(fù)原算法實(shí)現(xiàn)對(duì)所 述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準(zhǔn)波數(shù)的定標(biāo)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述定標(biāo)方法，其特征在于，所述利用光譜復(fù)原算法實(shí)現(xiàn)對(duì)所述大 孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準(zhǔn)波數(shù)的定標(biāo)包括： 通過(guò)所述光譜復(fù)原算法從所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的輸出光譜中獲得激 光器發(fā)射光線的光譜，并與已知光譜線對(duì)比，確定所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的 實(shí)際最小波數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準(zhǔn)波數(shù)的定標(biāo)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述定標(biāo)方法，其特征在于， 當(dāng)所述激光器的波數(shù)等于所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的基準(zhǔn)波數(shù)時(shí)，所述大 孔徑空間外差干涉光譜成像儀的輸出光譜為近似的直流分量；若不相等，則輸出明暗相間 的干涉條紋。
【文檔編號(hào)】G01J3/45GK104266758SQ201410564597
【公開日】2015年1月7日 申請(qǐng)日期:2014年10月21日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月21日
【發(fā)明者】杜述松, 相里斌, 才啟勝, 張金剛 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院光電研究院