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專利名稱：射線檢測缺陷高度的試塊塊鏈帶的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一種用于工業(yè)射線探傷時檢測金屬材料焊接結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷高度用的定量分析試塊塊鏈帶。
掌握焊接接頭內(nèi)部缺陷的實際情況，對保證焊接結(jié)構(gòu)的安全使用和操作人員的人身安全是非常重要的。尤其對鍋爐、壓力窗口這類具有潛在爆炸危害的設(shè)備就顯得更為重要，當前，用于檢測金屬材料焊接接頭內(nèi)部缺陷的無損探傷方法有超聲波檢測法和射線照相檢測法，用以檢測內(nèi)部缺陷的長度、高度、缺陷性質(zhì)、分布狀況以及在使用條件下缺陷是否擴展，以此來決定設(shè)備能否安全使用。前一種方法由于采用超聲波波形信號來顯示缺陷，因而缺陷顯示不直觀，定性困難，探傷時記錄困難，不便于存查，且對操作人員的實踐經(jīng)驗依賴性很強，就缺陷高度檢測而言，由于超聲波信號的高度與缺陷的高度并無明顯或簡單的關(guān)系，因此雖有很多超聲檢測方法用以估判缺陷高度，但大部分都非常麻煩，費時或昂貴的，并且絕大多數(shù)方法不同于常規(guī)的超聲檢測法，更重要的是不同操作者使用同一臺儀器檢測同一部位缺陷高度，得出的實際缺陷數(shù)值準確性誤差很大。而射線照相法雖有準確，可靠、直觀及便于存查等特點，但對缺陷高度的定量分析仍難以進行。科研結(jié)果表明，工件內(nèi)的缺陷在高度方向的危害程度大于在長度方向的危害，所以，對缺陷高度的定量分析，是無損檢測的關(guān)鍵。射線探傷對缺陷高度無法進行定量分析的根本原因是，射線源照射到工件表面各部位的射線強度隨射線源與工件表面各點形成的角度和距離的變化而衰減，導(dǎo)致射線在工件表面各點的強度分布不一樣，最終所得的照相底片黑度不一樣，目前雖有采用平行焊縫放置的槽形透度計估判決缺陷高度，但由于上述原因，在遠離槽形透度計的部位就沒有多少參考價值。在有些透照條件下，在槽形透度計等厚點上黑度也不一樣，因此，采用此種方法對比判斷缺陷高度尺寸精度很低，尤其在直徑較小的環(huán)焊縫及球面焊縫透照時精度更低。
本實用新型的目的是提供一種定型系列和活動系列的人造試塊，將其裝入試塊袋鏈帶中，均勻置貼分布在工件平面或曲面焊縫兩側(cè)的對比試塊裝置，該裝置將對比區(qū)間劃小、增加對比點的數(shù)量和范圍，使小區(qū)域內(nèi)的射線照射強度對比誤差盡量縮小，提高小區(qū)域內(nèi)等厚點黑度的一致率，從而簡便直觀和有效地提高射線探傷缺陷高度檢測時定量分析的精度。
本實用新型的目的是如下實現(xiàn)的，用透明的軟質(zhì)材料制作試塊袋、試塊袋鏈帶及試塊鏈蓋，在試塊袋鏈帶的兩端設(shè)有大磁鐵，用于將鏈帶吸附在工件表面定位，中段制有兩個以上供安裝固定試塊用的試塊袋，在試塊鏈蓋的兩端設(shè)有小磁鐵，用于吸附在大磁鐵上防護試塊從袋中脫出，為適應(yīng)不同的缺陷高度、不同的母材和不同厚度的工件、以及方便實際工作現(xiàn)場檢測的需要，用低碳鋼、低碳低合金結(jié)構(gòu)鋼或奧氏體不銹鋼或銅及銅合金或鋁及鋁合金或鈦及鈦合金材料將試塊加工制成定型系列的A型試塊和B型試塊，或加工制成每個臺階和臺階之間為活動系列的A型試塊和B型試塊，兩種系列的A型試塊和B型試塊的臺階高度范圍是A型試塊的第一臺階(7)為0.5～2.0mmA型試塊的第二臺階(8)為1.0～3.5mmA型試塊的第三臺階(9)為1.5～5.0mmA型試塊的第四臺階(10)為2.0～6.5mmA型試塊的第五臺階(11)為2.5～8.0mmB型試塊的第一臺階(12)為0.5～2.0mmB型試塊的第二臺階(13)為2.0～8.0mmB型試塊的第三臺階(14)為1.0～4.0mmB型試塊的第四臺階(15)為1.5～6.0mm本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有的優(yōu)點是，由于定型系列和活動系列的A型試塊或B型試塊呈鏈狀均勻分布在工件焊縫的兩側(cè)，能實現(xiàn)缺陷高度的影相黑度與上下左右的人工試塊影相黑度就近對比分析，確定缺陷高度，減少誤差，克服了射線在工件各點處強度不一致的缺點，提高對比精度，從而提高無損探傷缺陷高度定量分析的精確度，利于正確評估決定使用中的焊接設(shè)備是否需要復(fù)修以及報廢，間接提高設(shè)備的使用效益，降低生產(chǎn)成本。另外，兩種系列的A型試塊或B型試塊可選擇插入整個試塊袋鏈帶中組合使用，磁鐵又可將試塊袋鏈帶吸附緊貼在工件面上需檢測的部位，所以，操作使用靈活方便。
附圖
的圖面說明如下圖一是 射線檢測缺陷高度的試塊塊鏈帶打開的俯視結(jié)構(gòu)示意圖，圖二是A型試塊的結(jié)構(gòu)示意圖，圖三是B型試塊的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中，試塊袋(1)、試塊(2)、試塊袋鏈帶(3)、大磁鐵(4)、小磁鐵(5)、試塊鏈蓋(6)、A型試塊的第一臺階(7)、A型試塊的第二臺階(8)、A型試塊的第三臺階(9)、A型試塊的第四臺階(10)、A型試塊的第五臺階(11)、B型試塊的第一臺階(12)、B型試塊的第二臺階(13)、B型試塊的第三臺階(14)，B型試塊的第四臺階(15)。
結(jié)合附圖，本實用新型的具體實施例是用低碳鋼、低碳低合金結(jié)構(gòu)鋼或奧氏體不銹鋼或銅及銅合金或鋁及鋁合金或鈦及鈦合金材料，采用常規(guī)的機械加工方法制作試塊(2)，其定型系列和每個臺階及臺階之間為活動系列的A型試塊或B型試塊的尺寸是A型試塊的第一臺階(7)為4×3×0.5～2.0mmA型試塊的第二臺階(8)為4×3×1.0～3.5mmA型試塊的第三臺階(9)為4×3×1.5～5.0mmA型試塊的第四臺階(10)為4×3×2.0～6.5mmA型試塊的第五臺階(11)為4×3×2.5～8.0mmB型試塊的第一臺階(12)為4×3×0.5～2.0mmB型試塊的第二臺階(13)為4×3×2.0～8.0mmB型試塊的第三臺階(14)為4×3×1.0～4.0mmB型試塊的第四臺階(15)為4×3×1.5～6.0mm
用透明軟質(zhì)材料制作20×60～405mm的試塊袋鏈帶(3)，距兩端20mm處各設(shè)有大磁鐵(4)，中段制有均勻分布的兩個以上20×5×8mm的試塊袋(1)，用透明軟質(zhì)材料制作20×60～405mm的試塊鏈蓋(6)，在距兩端20mm處各設(shè)有小磁鐵(5)，使用于射線測檢缺陷高度的試塊塊鏈帶即告制作完成投入使用。
使用方法是，根據(jù)對需探傷的焊縫余高，母材的材料和厚度及檢測缺陷的精度要求，選擇相對應(yīng)金屬材料制成的兩種系列的A型試塊或B型試塊，將選中的A型試塊或B型試塊分別插入試塊袋(1)之中，置于焊縫上部的試塊(2)插入試塊袋(1)時，先插入A型試塊的A端或B型試塊的B端，置于焊縫下部的試塊(2)插入試塊袋(1)時，先插入A型試塊的A′端或B型試塊的B′端，將兩個已插裝滿試塊(2)的試塊袋鏈帶(3)通過兩端的大磁鐵(4)將其吸附在被檢測工件焊縫的上部和下部。對檢測無磁性的工件時則用膠布粘其貼在待檢部位，按常規(guī)使用射線拍片工藝進行拍片沖洗，對達到國標規(guī)定的黑度和靈敏度規(guī)定范圍的片進行評片。若為氣孔、未焊透，未熔合及裂紋等，采用與相近試塊的不同臺階在片上的影相黑度進行對比判斷缺陷高度。若為夾渣，則應(yīng)用本試塊塊鏈帶在人工試板上拍片進行對比，解剖，求出夾渣對射線的吸收系數(shù)，在實際對比黑度時乘上該系數(shù)，才是實際的缺陷高度，為進一步提高對比精度，用小光孔數(shù)顯式黑度計測定缺陷高度黑度和試塊黑度直接比較或采用插值法比較，所得的對缺陷高度無損探傷定量分析的精度就能大幅度提高。
權(quán)利要求1.一種用于工業(yè)射線探傷時檢測金屬材料焊接結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷高度用的試塊塊鏈帶，由試塊袋(1)、試塊(2)、試塊鏈蓋(6)及磁鐵等構(gòu)成，其特征在于在試塊袋鏈帶(3)的兩端設(shè)有大磁鐵(4)、中段制有兩個以上供安裝固定試塊(2)用的試塊袋(1)，在試塊鏈蓋(6)的兩端設(shè)有小磁鐵(5)；試塊(2)可制成定型系列的A型試塊和B型試塊，或者制成每個臺階和臺階之間為活動系列的A型試塊和B型試塊，其A型試塊的定型系列和活動系列的臺階高度范圍是A型試塊的第一臺階(7)為0.5～2.0mmA型試塊的第二臺階(8)為1.0～3.5mmA型試塊的第三臺階(9)為1.5～5.0mmA型試塊的第四臺階(10)為2.0～6.5mmA型試塊的第五臺階(11)為2.5～8.0mm其B型試塊的定型系列和活動系列的臺階高度范圍是B型試塊的第一臺階(12)為0.5～2.0mmB型試塊的第二臺階(13)為2.0～8.0mmB型試塊的第三臺階(14)為1.0～4.0mmB型試塊的第四臺階(15)為1.5～6.0mm
2.根據(jù)權(quán)利要求1、所述的試塊袋鏈帶(3)、試塊(2)、試塊袋(1)和試塊鏈蓋(6)，其特征在于試塊(2)采用低碳鋼、低碳低合金結(jié)構(gòu)鋼或奧氏體不銹鋼或銅及銅合金或鋁及鋁合金或鈦及鈦合金材料加工制成，試塊袋鏈帶(3)、試塊鏈蓋(6)和試塊袋(1)均采用透明軟質(zhì)材料制作而成。
專利摘要一種用于射線無損探傷檢測金屬材料焊接結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷高度定量分析的試塊塊鏈帶，鏈帶兩端設(shè)有大磁鐵，將其吸附在需檢測工件的部位，中部制有均勻分布的兩個以上的試塊袋，袋中裝入定型系列或活動系列的試塊，整個試塊塊鏈帶可緊貼在平面工件或曲面工件或球面工件焊縫的上下兩側(cè)，劃小對比區(qū)間，增加對比點，縮小射線照射誤差，本試塊塊鏈帶具有制造簡單，成本低，使用靈活方便，利用現(xiàn)有設(shè)備就能大幅度提高射線探傷缺陷高度檢測定量分析的精度。
文檔編號G01N23/00GK2099974SQ9121961
公開日1992年3月25日 申請日期1991年8月1日 優(yōu)先權(quán)日1991年8月1日
發(fā)明者陶志強 申請人:陶志強