專利名稱：用于推斷測試結果之間的關系的方法和機器可讀介質的制作方法
技術領域：
本發明涉及用于推斷測試結果之間的關系的方法和機器可讀介質。
背景技術：
諸如安捷倫科技有限公司所提供的93000 SOC(片上系統)系列測試儀這樣的測試儀提供了對復雜電路的快速測試。這種測試儀可以產生大量的有序測試數據，包含在有序測試數據中的測試結果與較少的指示符相關聯，這些指示符指示了何種測試引起特定的某些測試結果或測試結果的集合的創建。因此，用來推斷測試結果之間的關系的簡單方法是有用的。
發明內容
在一個實施例中，公開了一種用于推斷測試結果之間的關系的方法，包括1)從對多個被測器件(DUT)執行測試的測試儀接收有序測試數據，所述有序測試數據包括1)多個DUT標識符，其中所述DUT標識符中的一些跟隨有2)與所標識的DUT相關聯的任何測試結果；2)當接收到DUT標識符之一時，確定是否存在用于所述DUT標識符之一所標識的DUT的數據結構；3)當確定所述數據結構不存在時，創建所述數據結構并且將i)與所述DUT標識符之一相關聯的任何測試結果與ii)所述數據結構相關聯；以及4)當確定所述數據結構存在時，創建子數據結構作為所述數據結構的子，并且將i)與所述DUT標識符之一相關聯的任何測試結果與ii)所述子數據結構相關聯，其中所述子數據結構推論性地指示出與之相關聯的測試結果是再次測試的結果。
在另一個實施例中，公開了多個具有存儲于其上的指令序列的機器可讀介質，當所述指令序列被機器執行時，使所述機器執行先前段落中所述的方法的動作。
其他實施例也被公開。
附圖中圖解了本發明的說明性實施例，其中圖1圖示了用于推斷測試結果之間的關系的示例性方法；圖2圖示了用于實現圖1的方法的示例性系統。
具體實施例方式
如背景技術中所指出，諸如安捷倫科技有限公司所提供的93000 SOC(片上系統)系列測試儀這樣的測試儀可以產生大量的有序測試數據，包含在所述有序測試數據中的測試結果與較少的指示符相關聯，這些指示符指示了何種測試引起特定的某些測試結果或測試結果的集合的創建。因此，用來推斷測試結果之間的關系的簡單方法是有用的。目前為止，圖1圖示了用于推斷測試結果之間的關系的示例性方法100。
方法100首先從對多個被測器件(DUT)執行測試的測試儀接收到有序測試數據。見圖1的塊102。在一些情況下，可從測試儀直接接收有序測試數據，而在其他情況下，可通過諸如硬盤上的文件或存儲器內的數據結構這樣的中間數據存儲裝置來接收有序測試數據。有序測試數據包括1)多個DUT標識符，這些DUT標識符中的一些跟隨有2)與所標識的DUT相關聯的任何測試結果。作為示例，DUT標識符可包括DUT在晶片上的位置，例如DUT的笛卡爾坐標(例如(x，y)坐標)。或者，DUT標識符可能包括字母或字母數字形式的DUT標識符。另外，DUT標識符可包括諸如例如笛卡爾坐標、晶片標識符和批次(lot)標識符等標識符的組合。
當接收到DUT標識符之一時，方法100確定是否存在用于DUT標識符所標識的DUT的數據結構(塊104)。當確定了數據結構不存在時，數據結構被創建，并且與該DUT標識符相關聯的任何測試結果被與新創建的數據結構相關聯(塊106)。然而，當確定了數據結構已經存在時，子數據結構被創建(作為該數據結構的子)，并且與該DUT標識符相關聯的任何測試結果被與該子數據結構相關聯。子數據結構的意外從屬(unexpected dependency)(就是說，從屬于與同一DUT相關聯的父數據結構)推論性地指示出與該子數據結構相關聯的測試結果是再次測試的結果。
識別再次測試結果和將其與初始測試結果相區別的能力的用處在于，若不能區別這些結果，則可能會曲解數據平均值和其他數據解釋。
可選地，當創建子數據結構時，方法100可包括將該子數據結構的“父指針”設置為指向該子的父數據結構(塊110)。類似地，當為DUT創建初始數據結構時，方法100可包括將該數據結構的“父指針”設置為指向DUT的初始數據結構的父(塊112)。可替換地，與父數據結構相關聯的指針可被設置為指向其子。
在一個實施例中，方法100還包括1)確定DUT標識符是否與任何測試結果相關聯；以及2)如果DUT標識符不與任何測試結果相關聯，則省略為所標識的DUT創建初始或子數據結構。
注意，圖1中示出的方法步驟的次序不是關鍵的，并且所述步驟的其他次序，包括所述步驟的并行處理，是可能的。
圖1中示出的方法100可通過存儲在機器可讀介質上的指令序列來實現，該機器可讀介質在被機器執行時使機器執行方法100的動作。所述機器可讀介質可包括例如網絡上單個位置處或分布式的任意數目的固定或可移動介質(例如一個或多個硬盤、隨機訪問存儲器(RAM)、只讀存儲器(ROM)，或光盤)或者它們的混合。所述指令序列將通常包括軟件，但是也可包括固件。
圖2圖示了用于實現方法100(圖1)的示例性系統200的框圖。系統200包括數據添加器216和數據存儲裝置218。數據添加器216接收有序測試數據202，有序測試數據202包括DUT標識符204A、208A、212A和與它們相關聯的測試結果206A、210A、214A。在一個實施例中，可從測試儀直接接收有序測試數據，而在其他情況下，可通過諸如硬盤上的文件或存儲器內的數據結構這樣的中間數據存儲裝置來接收有序測試數據202。
當接收到DUT標識符204A時，數據添加器216可訪問數據存儲裝置218以確定是否存在用于DUT“A”的數據結構。當發現不存在這樣的數據結構時，數據添加器216可隨后創建數據結構220，將DUT標識符204B和測試結果206B與數據結構220相關聯聯，并且將數據結構220的父指針222設置為指向父數據結構232(例如“晶片”數據結構)。
當接收到DUT標識符208A時，數據添加器216可訪問數據存儲裝置218以確定是否存在用于DUT“B”的數據結構。當發現不存在這樣的數據結構時，數據添加器216可隨后創建數據結構224，將DUT標識符208B和測試結果210B與數據結構224相關聯聯，并且將數據結構224的父指針226設置為指向父數據結構232。
當接收到DUT標識符212A時，數據添加器216可訪問數據存儲裝置218以確定是否存在用于DUT“B”的數據結構。當發現數據結構已經存在時，數據添加器216可隨后創建子數據結構228，將DUT標識符212B和測試結果214B與數據結構228相關聯，并且將數據結構228的父指針230設置為指向曾為DUT“B”創建的初始數據結構224。
在一個實施例中，數據結構220、224、228、232中的每一個都是在存儲器中創建的數據對象。然而，數據結構220、224、228、232也可包括數據庫記錄、文件或定制結構(例如“struct”)。
權利要求
1.一種用來推斷測試結果之間的關系的方法，包括從對多個被測器件執行測試的測試儀接收有序測試數據，所述有序測試數據包括1)多個被測器件標識符，其中所述被測器件標識符中的一些跟隨有2)與所標識的被測器件相關聯的任何測試結果；當接收到所述被測器件標識符之一時，確定是否存在用于所述被測器件標識符之一所標識的被測器件的數據結構；當確定所述數據結構不存在時，創建所述數據結構并且將i)與所述被測器件標識符之一相關聯的任何測試結果與ii)所述數據結構相關聯；以及當確定所述數據結構存在時，創建子數據結構作為所述數據結構的子，并且將i)與所述被測器件標識符之一相關聯的任何測試結果與ii)所述子數據結構相關聯，其中所述子數據結構推論性地指示出與所述子數據結構相關聯的測試結果是再次測試的結果。
2.根據權利要求1所述的方法，還包括將所述子數據結構的父指針設置為指向所述數據結構。
3.根據權利要求1所述的方法，還包括將所述數據結構的父指針設置為指向父對象。
4.根據權利要求1所述的方法，還包括，當接收到所述被測器件標識符之一時確定所述被測器件標識符之一是否與任何測試結果相關聯；以及如果所述被測器件標識符之一不與任何測試結果相關聯，則不創建所述數據結構或所述子數據結構。
5.根據權利要求1所述的方法，其中，如果所述數據結構和子數據結構被創建，則被創建為數據對象。
6.根據權利要求1所述的方法，其中，所述被測器件標識符包括晶片上的被測器件的位置。
7.根據權利要求6所述的方法，其中，所述被測器件標識符還包括晶片標識符。
8.根據權利要求1所述的方法，其中從所述測試儀接收所述有序測試數據包括通過中間數據存儲裝置來接收所述有序測試數據。
9.根據權利要求8所述的方法，其中所述數據存儲裝置是文件。
10.根據權利要求1所述的方法，其中，多組再次測試結果被分別與所述數據結構的多個子數據結構相關聯。
11.多個具有存儲于其上的指令序列的機器可讀介質，當所述指令序列被機器執行時，使所述機器執行下列動作從對多個被測器件執行測試的測試儀接收有序測試數據，所述有序測試數據包括1)多個被測器件標識符，其中所述被測器件標識符中的一些跟隨有2)與所標識的被測器件相關聯的任何測試結果；當接收到所述被測器件標識符之一時，確定是否存在用于所述被測器件標識符之一所標識的被測器件的數據結構；當確定所述數據結構不存在時，創建所述數據結構并且將i)與所述被測器件標識符之一相關聯的任何測試結果與ii)所述數據結構相關聯；以及當確定所述數據結構存在時，創建子數據結構作為所述數據結構的子，并且將i)與所述被測器件標識符之一相關聯的任何測試結果與ii)所述子數據結構相關聯，其中所述子數據結構推論性地指示出與所述子數據結構相關聯的測試結果是再次測試的結果。
12.根據權利要求11所述的方法，其中，所述指令序列當被所述機器執行時還使所述機器將所述子數據結構的父指針設置為指向所述數據結構。
13.根據權利要求11所述的方法，其中，所述指令序列當被所述機器執行時還使所述機器將所述數據結構的父指針設置為指向父對象。
14.根據權利要求11所述的方法，其中，所述指令序列當被所述機器執行時還使所述機器當接收到所述被測器件標識符之一時確定所述被測器件標識符之一是否與任何測試結果相關聯；以及如果所述被測器件標識符之一不與任何測試結果相關聯，則不創建所述數據結構或所述子數據結構。
15.根據權利要求11所述的介質，其中，如果所述數據結構和子數據結構被創建，則被創建為數據對象。
16.根據權利要求11所述的介質，其中，所述被測器件標識符包括晶片上的被測器件的位置。
17.根據權利要求16所述的介質，其中，所述被測器件標識符還包括晶片標識符。
18.根據權利要求11所述的介質，其中從所述測試儀接收所述有序測試數據包括通過中間數據存儲裝置來接收所述有序測試數據。
19.根據權利要求18所述的介質，其中所述數據存儲裝置是文件。
20.根據權利要求11所述的介質，其中，所述指令序列當被所述機器執行時還使所述機器將多組再次測試結果分別與所述數據結構的多個子數據結構相關聯。
全文摘要
在一個實施例中，公開了一種用于推斷測試結果之間的關系的方法，包括1)從對多個被測器件執行測試的測試儀接收有序測試數據；2)當接收到DUT標識符時，確定對于所述DUT標識符之一所標識的DUT是否存在數據結構；3)當確定所述數據結構不存在時，創建所述數據結構并且將i)與所述DUT標識符之一相關聯的任何測試結果與ii)所述數據結構相關聯；以及4)當確定所述數據結構存在時，創建子數據結構作為所述數據結構的子，并且將i)與所述DUT標識符之一相關聯的任何測試結果與ii)所述子數據結構相關聯，其中所述子數據結構推論性地指示出與之相關聯的測試結果是再次測試的結果。其他實施例也被公開。
文檔編號G01R31/28GK101025746SQ200710003108
公開日2007年8月29日 申請日期2007年1月31日 優先權日2006年1月31日
發明者克里斯丁·諾爾·卡斯特頓, 卡利·康納利, 伊彥·萊斯曼 申請人:韋瑞吉(新加坡)私人有限公司
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