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二極管、三極管的后端檢測方法
【專利摘要】本發明公開了一種二極管、三極管的后端檢測方法，該方法包括一窗測試和二窗測試，一窗測試包括潛在危險測試、無危險測試和關鍵測試；二窗測試包括無危險測試和關鍵測試，關鍵測試主要包含了正向電壓、電流放大倍數、漏電流、正向直流電流以及最大流通電流在內的參數測試。本發明分為兩個測試步驟，測試的準確率增高，測試參數多，檢測范圍大，設有潛在危險測試，對產品的反向擊穿、大飽和電流、大電流開啟測試以及大電流增益進行測試，增加了產品在潛在危險狀態工作的正常率，測試后的產品性能更優，更能排除潛藏的殘次品。
【專利說明】二極管、三極管的后端檢測方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及電子產品封裝測試領域，特別是二極管、三極管的后端檢測方法。
【背景技術】
[0002]原有的二極管、三極管檢測，只是對二極管、三極管的相關參數進行檢測，比如檢測二極管、三極管的正向電壓、正向直流電流、最大流通電流等，這些參數只是二極管使用的參數，檢測后的效果以及檢測的意義不大。若生產后有殘次品，使用這套相關參數檢測的方法是無法對二極管、三極管的合格率作出判定的。而若僅通過這么一套檢測程序后，就讓產品發放到銷售商，這樣的產品不合格率十分高。
[0003]現有的二極管、三極管產品，若要提高其性能，還需要對其做出潛在危險檢測，t匕如反向擊穿檢測、大飽和電流檢測等，經過這些檢測的產品其性能更好，在非常規使用環境下也不易損壞。但這種檢測僅是零星的檢測，沒有規律和系統，根本無法適應大規模生產。

【發明內容】

[0004]本發明的目的在于克服現有技術的不足，提供一種二極管、三極管的后端檢測方法，分為兩個測試步驟，測試的準確率增高，測試參數多，檢測范圍大，設有潛在危險測試，對產品的反向擊穿、大飽和電流、大電流開啟測試以及大電流增益進行測試，增加了產品在潛在危險狀態工作的正常率，測試后的產品性能更優，更能排除潛藏的殘次品。
[0005]本發明的目的是通過以下技術方案來實現的:二極管、三極管的后端檢測方法，它主要用于二極管、三極管封裝測試，保證測試流程的一致性，它包括一窗測試和二窗測試，其中，所述的一窗測試包括以下步驟:
Sll:將待測產品送入一窗測試座內；
S12:待測產品在一窗測試座內進行潛在危險測試，潛在危險測試包括反向擊穿測試、大電流增益測試、大飽和電流測試和大電流開啟測試；
S13:待測產品在一窗測試座內進行無危險的測試，無危險測試包括基本參數初測和QA測試，無危險測試優化大量的測試時間；
S14:待測產品在一窗測試座內進行關鍵測試；
所述的二窗測試包括以下步驟:
521:待測產品在二窗測試座內實現無危險測試，無危險測試包括基本參數初測和QA測試，無危險測試優化大量測試時間；
522:測試產品在二窗測試座內實現關鍵測試；
523:二窗測試完畢后，將測試產品送出二窗測試座。
[0006]所述的關鍵測試包括對以下幾個參數的測試:
A:正向電壓；
B:電流放大倍數；
C:漏電流； D:正向直流電流；
E:最大流通電流。
[0007]本發明具有以下幾個優點:
1、分為一窗測試和二窗測試兩個測試流程，測試的準確率增高，測試參數多，檢測范圍
大；
2、設有潛在危險測試,對產品的反向擊穿、大飽和電流、大電流開啟測試以及大電流增益進行測試，增加了產品在潛在危險狀態工作的正常率；
3、設有關鍵測試部分，對產品的正向電壓、漏電流、正向直流電流、最大流通電流以及電流放大倍數等參數進行檢測，產品性能更優，適應性更好；
4、分為多測試，使二極管、三極管的測試一致性更好，測試后的產品性能更優，排除潛藏的殘次品。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1為本發明的方法步驟流程圖。
【具體實施方式】
[0009]下面結合附圖進一步詳細描述本發明的技術方案，但本發明的保護范圍不局限于以下所述。
[0010]如圖1所示，二極管、三極管的后端檢測方法，它主要用于二極管、三極管封裝測試，保證測試流程的一致性，它包括一窗測試和二窗測試，其中，所述的一窗測試包括以下步驟:
511:將待測產品送入一窗測試座內；
512:待測產品在一窗測試座內進行潛在危險測試，潛在危險測試包括反向擊穿測試、大電流增益測試、大飽和電流測試和大電流開啟測試；
513:待測產品在一窗測試座內進行無危險的測試，無危險測試包括基本參數初測和QA測試，無危險測試優化大量的測試時間，所述的QA測試為質量測試，一窗測試主要是針對產品的功能測試和質量測試；
514:待測產品在一窗測試座內進行關鍵測試；
所述的二窗測試包括以下步驟:
521:待測產品在二窗測試座內實現無危險測試，無危險測試包括基本參數初測和QA測試，無危險測試優化大量測試時間，所述的QA測試為質量測試；
522:測試產品在二窗測試座內實現關鍵測試；
523:二窗測試完畢后，將測試產品送出二窗測試座。
[0011]所述的關鍵測試包括對以下幾個參數的測試:
A:正向電壓；
B:電流放大倍數；
C:漏電流；
D:正向直流電流；
E:最大流通電流。
【權利要求】
1.二極管、三極管的后端檢測方法，它主要用于二極管、三極管封裝測試，保證測試流程的一致性，其特征在于:它包括一窗測試和二窗測試，其中，所述的一窗測試包括以下步驟: 511:將待測產品送入一窗測試座內； 512:待測產品在一窗測試座內進行潛在危險測試，潛在危險測試包括反向擊穿測試、大電流增益測試、大飽和電流測試和大電流開啟測試； 513:待測產品在一窗測試座內進行無危險的測試，無危險測試包括基本參數初測和QA測試，無危險測試優化大量的測試時間； 514:待測產品在一窗測試座內進行關鍵測試； 所述的二窗測試包括以下步驟: 521:待測產品在二窗測試座內實現無危險測試，無危險測試包括基本參數初測和QA測試，無危險測試優化大量測試時間； 522:測試產品在二窗測試座內實現關鍵測試； 523:二窗測試完畢后，將測試產品送出二窗測試座。
2.根據權利要求1所述的二極管、三極管的后端檢測方法，其特征在于:關鍵測試包括對以下幾個參數的測試: A:正向電壓； B:電流放大倍數； C:漏電流； D:正向直流電流； E:最大流通電流。
【文檔編號】G01R31/26GK103760485SQ201410039571
【公開日】2014年4月30日 申請日期:2014年1月27日 優先權日:2014年1月27日
【發明者】李莉, 劉宇, 胡波, 李智軍, 鄒顯紅, 劉俊, 樊增勇, 劉達 申請人:成都先進功率半導體股份有限公司, 樂山無線電股份有限公司