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專利名稱：能夠?qū)y(cè)試對(duì)象精確連接至基底的測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于對(duì)測(cè)試對(duì)象的電特性進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置，所述測(cè)試對(duì)象例如是通常被稱為柔韌印制板(FPC)的柔韌電路板。
背景技術(shù)：
例如，日本專利公開(kāi)出版物(JP-B)H7-19812公開(kāi)了一種測(cè)試具有多個(gè)小節(jié)距設(shè)置的電極的半導(dǎo)體器件或者LCD(液晶顯示器)的測(cè)試裝置。所述測(cè)試裝置包括設(shè)有多個(gè)接觸部分的絕緣膜。所述接觸部分包括多個(gè)形成為探針(probe)的導(dǎo)電線。在開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試操作時(shí)，所述接觸部分與基底的電極接觸以測(cè)試基底的電特性。為了指示基底的電極與絕緣膜的接觸部分之間的相對(duì)定位，絕緣膜設(shè)有標(biāo)記。
在所述節(jié)距在基底的電極處和在絕緣膜的接觸部分處相對(duì)較大的情況下，通過(guò)目視觀測(cè)可以容易并精確地進(jìn)行它們之間的定位。
但是，如果所述節(jié)距非常小，很難使基底的電極和絕緣膜的接觸部分相對(duì)彼此精確定位。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種能夠?qū)y(cè)試對(duì)象精確連接至基底的測(cè)試裝置。
本發(fā)明的另一目的是提供一種能夠簡(jiǎn)便地執(zhí)行測(cè)試操作的測(cè)試裝置。
隨著說(shuō)明的進(jìn)行，本發(fā)明的其他目的將變得更清楚。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供一種對(duì)測(cè)試對(duì)象進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置，所述測(cè)試裝置包括基底、與所述基底相連接的內(nèi)框架、由所述內(nèi)框架保持并電連接至所述基底的連接器、和由所述內(nèi)框架可滑動(dòng)地保持并具有用于接納所述測(cè)試對(duì)象的插入槽的推動(dòng)器，所述推動(dòng)器和內(nèi)框架相互協(xié)作以將所述測(cè)試對(duì)象定位在與所述連接器對(duì)應(yīng)的位置，所述推動(dòng)器移動(dòng)以使所述測(cè)試對(duì)象與所述連接器接觸。


圖1是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的測(cè)試裝置的外觀的透視圖；圖2是圖1所示測(cè)試裝置的放大正視圖；圖3是圖1所示測(cè)試裝置的分解透視圖；圖4A和4B是從不同方向看到的圖1所示測(cè)試裝置中內(nèi)框架和低接觸壓力連接器組合的透視圖；圖5A至5C是用于說(shuō)明圖4A和4B所示低接觸壓力連接器及其制造方法的透視圖；圖6是顯示圖1所示測(cè)試裝置在FPC插入其中之前的截面圖；圖7是圖1所示測(cè)試裝置在FPC插入其中后特征部分的截面圖；圖8是圖1所示測(cè)試裝置在FPC連接其上時(shí)的截面圖；圖9是圖8中特征部分的放大視圖；圖10是根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的測(cè)試裝置的外觀的透視圖；圖11是圖10中測(cè)試裝置的一部分的放大分解透視圖。
具體實(shí)施例方式
首先參照?qǐng)D1至圖3說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試裝置從總體上進(jìn)行說(shuō)明。
圖中所示測(cè)試裝置也被稱為測(cè)試探針并適于對(duì)作為測(cè)試對(duì)象的FPC的電特性進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試裝置或測(cè)試探針11包括也作為支撐件的底蓋12、安裝在底蓋12上的基底13、安裝在基底13上的內(nèi)框架14、沿底蓋12、基底13、內(nèi)框架14在垂直方向上可移動(dòng)的推動(dòng)器15、安裝在基底13和內(nèi)框架14上的底座17、和連接至底座17以圍繞軸19旋轉(zhuǎn)的頂蓋18。
內(nèi)框架14具有彼此隔開(kāi)間隔W的一對(duì)推動(dòng)器導(dǎo)向件14a。例如，考慮到FPC的寬度，間隔W等于15.6mm。
推動(dòng)器15通過(guò)插入至導(dǎo)向孔15b的推動(dòng)器導(dǎo)向件14a的引導(dǎo)而進(jìn)行垂直運(yùn)動(dòng)并且通過(guò)一對(duì)升降螺旋彈簧(lifting coil spring)16推動(dòng)。推動(dòng)器15具有彼此面對(duì)的一對(duì)上和下導(dǎo)向器15c。垂直導(dǎo)向器15c限定形成在與內(nèi)框架14的間隙W對(duì)應(yīng)的位置處的插入槽15a以接納FPC。插入槽15a具有最窄部分，考慮到FPC的厚度，所述最窄部分例如具有等于0.5mm的高度H。
底座17和頂蓋18具有分別用于插入軸19的軸孔17a和18a。軸19通過(guò)軸孔17a和18a插入以使頂蓋18被連接至底座17。具有連接至其上的頂蓋18的底座17通過(guò)利用四個(gè)螺釘21和四個(gè)螺母22與基底13和內(nèi)框架14一起固定至底蓋12。螺釘21插入分別形成在底座17、內(nèi)框架14、基底13和底蓋12中的通孔17d、14d、13a和12a并與螺母22接合。頂蓋18由一對(duì)關(guān)閉螺旋彈簧20沿關(guān)閉方向推壓。
請(qǐng)參看圖4A和4B，將說(shuō)明內(nèi)框架14。
內(nèi)框架14設(shè)有形成在其底表面上的大凸起14b和小凸起14c。通過(guò)利用凸起14b和14c，將在后面說(shuō)明的低接觸壓力連接器2被定位。具體而言，低接觸壓力連接器2包括芯件5，芯件5設(shè)有形成在其相對(duì)側(cè)上的大孔5a和小孔5b。大孔5a和小孔5b分別套在內(nèi)框架14的大凸起14b和小凸起14c上。另外，凸起14b和14c裝配至在基底13中形成在裝配孔13b和13c。因而，低接觸壓力連接器2被可靠地固定在基底13和內(nèi)框架14之間。
請(qǐng)參看圖5A至5C，將說(shuō)明低接觸壓力連接器2及其制造過(guò)程。
首先，制備厚度為幾個(gè)微米的薄膜3。如圖5A所示，在薄膜3的一個(gè)表面上，數(shù)個(gè)導(dǎo)體4通過(guò)濺射、蝕刻或者電鍍而形成圖案。隨后，如圖5B所示，薄膜3被折疊為兩個(gè)，導(dǎo)體4暴露至外部。
另一方面，芯件5由聚酰亞胺等制成。作為芯件5的每個(gè)相對(duì)表面的一部分，形成有硅橡膠等的彈性層6。薄膜3與芯件5結(jié)合從而使被折疊為兩個(gè)的薄膜3把彈性層6和芯件5夾入中間。另外，薄膜3通過(guò)利用雙面膠帶(未示出)固定至彈性層6。因而，完成了圖5所示的低接觸壓力連接器2。
低接觸壓力連接器2具有下面的結(jié)構(gòu)，其中導(dǎo)體4形成在把彈性層6夾在其間的薄膜3的表面上。因此，即使在低接觸壓力的情況下，可以通過(guò)表面接觸或者多點(diǎn)接觸建立電連接。另外，即使某些異物介入，也能夠?qū)崿F(xiàn)電連接。由于所述低接觸壓力，可以防止FPC31或者基底13上的電極被損壞。另外，由于使用薄膜3，低接觸壓力連接器2可以形成為小的外形。
請(qǐng)參看圖6至9，將說(shuō)明通過(guò)利用探針11測(cè)試FPC31的方法。
在圖6中，頂蓋18的操作部分18b由手指沿著箭頭A1所示方向推壓。隨后，頂蓋18圍繞軸19順時(shí)針旋轉(zhuǎn)以壓縮螺旋彈簧20。此時(shí)，推動(dòng)器15由升降螺旋彈簧16向上升起，從而推動(dòng)器15的凸起15d跟隨頂蓋18的接觸部分18c。在此情況下，F(xiàn)PC31沿箭頭A2所示方向水平地插入至推動(dòng)器15的插入槽15a。此時(shí)，內(nèi)框架14和推動(dòng)器15相互協(xié)作以引導(dǎo)FPC31的插入并定位FPC31。因此，不需要目視觀測(cè)來(lái)進(jìn)行定位，從而測(cè)試操作簡(jiǎn)單并且定位更精確。
當(dāng)FPC31插入至推動(dòng)器15的插入槽15a中時(shí)，假設(shè)FPC31如圖7所示相對(duì)于水平方向傾斜角度θ。上和下導(dǎo)向器15c這樣設(shè)計(jì)，即使在這種情況下，F(xiàn)PC31的前端與低接觸壓力連接器2分開(kāi)距離L。具體而言，下導(dǎo)向器15c設(shè)有具有三角形截面的部分，從而即使θ＝大約12°，L≥1mm。采用這種結(jié)構(gòu)，可以防止插入FPC31時(shí)FPC31的前端與低接觸壓力連接器2接觸。因此，低接觸壓力連接器2被損壞的風(fēng)險(xiǎn)降低，從而低接觸壓力連接器2的修復(fù)和更換的頻率降低。
隨后，如圖8所示，手指沿箭頭所示方向從頂蓋18的操作部分18b分開(kāi)。因而，螺旋彈簧20伸長(zhǎng)，從而頂蓋18圍繞軸19逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)。然后，推動(dòng)器15由頂蓋18向下推壓，從而壓縮螺旋彈簧20。如圖9所示，F(xiàn)PC31由推動(dòng)器15的平面擠壓，從而在FPC31底表面上形成的觸點(diǎn)圖案31a通過(guò)低接觸壓力連接器2的導(dǎo)體4與基底13的觸點(diǎn)圖案13b相接觸。因此，F(xiàn)PC31電連接至基底13，從而FPC31的電特性可以得到測(cè)試。
采用上述結(jié)構(gòu)，不需要固定操作(例如焊接)。修復(fù)操作簡(jiǎn)單，并且修復(fù)和更換操作的時(shí)間可以縮短。
下面請(qǐng)參看圖10和11，將說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的測(cè)試裝置。相同部分用相同的附圖標(biāo)記表示并且省略對(duì)其的說(shuō)明。
測(cè)試裝置或者探針11具有形成在底座17的四個(gè)位置和底蓋12的四個(gè)位置的凹陷結(jié)構(gòu)17c和12b，從而能夠裝配至螺釘21或者螺母22。為了將FPC插入至插入槽15a，底蓋12被壓下。
采用上述結(jié)構(gòu)，如果觸點(diǎn)圖案形成在FPC的頂表面，探針11如圖10所示沿垂直方向翻轉(zhuǎn)并且螺釘21和螺母22交換。因此，無(wú)論觸點(diǎn)圖案形成在FPC的頂表面或者底表面，F(xiàn)PC的電特性都能夠很簡(jiǎn)單地得到測(cè)試。
雖然根據(jù)幾個(gè)優(yōu)選實(shí)施例說(shuō)明了本發(fā)明，在不脫離所附權(quán)利要求書(shū)范圍的前提下可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種方式的修改。雖然是以測(cè)試FPC的情況為例進(jìn)行說(shuō)明，但顯然所述測(cè)試裝置還可以測(cè)試不同于FPC的其他測(cè)試對(duì)象。
權(quán)利要求
1.一種對(duì)測(cè)試對(duì)象進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置，所述測(cè)試裝置包括基底；與所述基底相連接的內(nèi)框架；由所述內(nèi)框架保持并電連接至所述基底的連接器；和由所述內(nèi)框架可滑動(dòng)地保持并具有用于接納所述測(cè)試對(duì)象的插入槽的推動(dòng)器，所述推動(dòng)器和內(nèi)框架相互協(xié)作以將所述測(cè)試對(duì)象定位在與所述連接器對(duì)應(yīng)的位置，所述推動(dòng)器移動(dòng)以使所述測(cè)試對(duì)象與所述連接器接觸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，進(jìn)一步包括與所述基底和內(nèi)框架至少之一相連接的底座；由所述底座可旋轉(zhuǎn)地保持并且一端與所述推動(dòng)器接合的操作件；用于沿所述推動(dòng)件的推動(dòng)方向連續(xù)地?cái)D壓所述操作件的第一彈性件；和用于沿與所述推動(dòng)方向相反的方向連續(xù)地?cái)D壓所述推動(dòng)件的第二彈性件。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，進(jìn)一步包括支撐件，所述基底放置在所述支撐件上，所述底座固定至所述支撐件。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置，其中所述內(nèi)框架設(shè)置在所述支撐件和底座之間并固定至所述支撐件。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置，其中所述基底設(shè)置在所述支撐件和底座之間并固定至所述支撐件。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其中所述內(nèi)框架具有一對(duì)推動(dòng)器導(dǎo)向件，所述推動(dòng)器導(dǎo)向件彼此隔開(kāi)并適于引導(dǎo)所述推動(dòng)器的運(yùn)動(dòng)，所述推動(dòng)器導(dǎo)向件與所述插入槽協(xié)作以定位所述測(cè)試對(duì)象。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其中所述連接器包括彈性層；把所述彈性層夾入中間的薄膜；和形成在所述薄膜表面上的導(dǎo)體。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試裝置，其中所述連接器進(jìn)一步包括保持所述彈性層的芯件，所述芯件由所述內(nèi)框架保持。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測(cè)試裝置，其中所述芯件具有孔，所述內(nèi)框架具有通過(guò)所述孔插入的凸起，所述基底具有套在所述凸起上的裝配孔。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試裝置，其中所述底座和支撐件具有可以配合至螺釘或者螺母的凹陷結(jié)構(gòu)。
全文摘要
一種對(duì)測(cè)試對(duì)象進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置，連接器由所述測(cè)試裝置的內(nèi)框架保持并電連接至基底。推動(dòng)器由所述內(nèi)框架可滑動(dòng)地保持。所述推動(dòng)器具有用于接納所述測(cè)試對(duì)象的插入槽。所述推動(dòng)器和內(nèi)框架相互協(xié)作以將所述測(cè)試對(duì)象定位在與所述連接器對(duì)應(yīng)的位置。所述推動(dòng)器移動(dòng)以使所述測(cè)試對(duì)象與所述連接器接觸。
文檔編號(hào)G01R31/00GK1877342SQ20061009456
公開(kāi)日2006年12月13日 申請(qǐng)日期2006年6月9日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月10日
發(fā)明者高橋威 申請(qǐng)人:日本航空電子工業(yè)株式會(huì)社