專利名稱：電路基板的測量方法及裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種電路基板的測量方法及裝置，特別是關于一種可測量高密 度電路基板的線路或導電貫孔的微小阻值的測量方法及裝置。
背景技術：
由于科技的進步使得電子產品能夠越來越小，而功能卻越來越多，而電子 產品需使用電路基板來承載電子組件及其連接線路，目前最高密度的電路基板
莫過于使用在中央處理器(CPU)的球門陣列(Ball Grid Array, BGA)封裝技術 的電路基板，該種BGA封裝技術的好處是在同樣尺寸面積下的電路基板，可連 接的引腳數高達300支接腳以上的高密度封裝IC。
又由于目前電子產品的工作電壓相當低，如新式CPU的工作電壓約在1. 3V 左右，在如此低電壓的高密度電路基板上，其線路或導電貫孔的微阻值大小就 非常重要，若線路阻值過大，或導電貫孔發生微破孔，都會影響電子組件的正 常動作，因此電路板裸板的微阻值測量是目前各IC廠商在封裝制程前或電路基 板廠商出貨前皆必須要測量的。
電路基板有單面式、雙面式或多層式，且電路基板有分為硬式基板或軟式 基板兩種，而其制程又可分印刷式及壓合式兩種，不論那一種電路基板其上皆 會設有導電線路以連接電子組件，而在雙面式或多層式電路基板上會設導電貫 孔以連接的每一層的導電線路，為降低阻值會在其導電線路或導電貫孔上鍍 金、鍍銀或鍍銅，如銀膠貫孔，目前針對電路基板導電線路或導電貫孔(以下 簡稱待測物)的微小阻值測量有二種方式，第一種是二線式測量法，第二種是 四線式測量法。
首先請先參閱圖l所示，為二線式測量的電路連接示意圖，主要利用二支 探針電氣接觸在待測物(DUT)的兩端，再施加電壓V以測量電流值A,即可測量 該待測物的阻值R。^V/A，然而在這種二線式測量法中，若是探針或測量儀器 導線的阻值(r,、 r2)與該待測物阻值(R,)越接近時，其實際測量阻值(U的誤差會越大，亦即R腦^V/A二r,+r2+R附，故而僅能測量歐姆級(Q)的電路基板， 亦即無法測量鍍金、鍍銀或鍍銅，如銀膠貫孔的電路基板。
再參閱圖2所示，為四線式測量的電路連接示意圖，該四線式測量是為測 量毫歐姆級(mQ )的電路基板，主要是利用四支探針分別電氣接觸在待測物 (DUT)的兩端(每端各二支)，該四支探針可將其定義為S+、 M+、 S-及M-各探針 及導線的阻值為(n、 r2、 r^及rj，此時分別在M+及M-兩端施加電壓V，而在 S+及S-兩端測量電流值A，由于V的內阻為高阻抗，故流經該電壓V的電流L+及 Im>0，所以測量電壓(V隨)—待測物電壓(V,)，所以實際測量阻值(R,)二V/A二 待測物阻值(R,)，而不會受到rt+r2及i^+r^的影響。
然而該種四線式測量必需在每一待測物的兩端各接觸二支探針，共四支探 針，而某些高密度電路基板上的線路或導電貫孔相當細小(如BGA的導電貫孔約 在0.50mm)，而最細的探針約為0. 7mm，根本無法采用四線式測量法，又需考 慮基板偏移及兩探針的間距，故測點邊緣尚需留0.5mm至0.7mm為宜，否則會 因電路基板的偏移而伸入貫孔中， 一不小心即會有折斷探針，況且該種最細探 針的單價相當昂貴，若測量點多時根本不敷成本，更別提使用鍍金或鍍銀的探 針了。
上述不論是二線式或四線式測量，現有探針式的測量方式并不能測量軟式 電路基板，且在使用探針測量電路基板之前，必須先針對待測電路基板制作測 量治具，并需規劃設計該測量治具每一探針的精確位置，才能搭配測試儀器來 測量，故通常會針對各種不同線路的電路基板制作不同的測量治具，而每一測 量治具上皆布滿數百甚至數千支的探針，亦因此廠商在測量電路基板上的最大 成本即在于探針，以及測量治具的制作。
于是，本案發明人即為解決上述現有測量高密度電路基板所具有不便與缺 失，乃特潛心研究并配合學理的運用，提出一種不使用探針及測量治具的電路 基板測量方法及適合任一電路基本的測量裝置，可達成使用四線式測量法，測 量兩面式或多層式電路基板的阻值的目的。
發明內容
本發明所要解決的技術問題在于，提供一種全新的電路基板測量方法及萬 用的測量裝置，以解決高密度電路基板無法使用四線式測量的問題，亦可測量軟式、硬式等任何種類的電路基板，完全不需針對不同電路基板制作治具，且 因不使用探針，故亦無探針昂貴及探針損耗的問題，可大幅降低測量成本。
為了實現上述的目的，本發明提供一種電路基板測量方法，該電路基板上 布設有多個導電線路，每一導電線路電性連接至少一導電貫孔，該方法首先提 供一密布多個平行直導電條的第一測量板，覆貼于該電路基板的一面，使該導 電貫孔或該導電線路電性接觸于該直導電條；再提供一密布多個平行橫導電條 的第二測量板，覆貼于該電路基板的另一面，使該導電貫孔或該導電線路電性 接觸于該橫導電條；接著選擇任一直導電條與任一橫導電條、任二直導電條或 任二橫導電條；最后測量任一該直導電條與任一該橫導電條間、任二該直導電 條間或任二該橫導電條間的電壓、電流、電阻等電性物理值，為一種全新的電 路基板測量方式，可達成兼容于目前所有測試儀器的功效。
為了實現上述的目的，本發明又提供一種二線式電路基板小阻值測量方 法，該電路基板上布設有多個導電線路，每一導電線路電性連接至少一導電貫 孔，該方法首先提供一密布多個平行直導電條的第一測量板，覆貼于該電路基 板的一面，使該導電貫孔或該導電線路電性接觸該直導電條；再提供一密布多 個平行橫導電條的第二測量板，覆貼于該電路基板的另一面，使該導電貫孔或 該導電線路電性接觸該橫導電條；然后選擇任一直導電條與任一橫導電條、任 二直導電條或任二橫導電條；接著提供一測量電壓于該直導電條與該橫導電條 間、二該直導電條間或二該橫導電條間；最后測量流經該直導電條或該橫導電 條的電流值，即得待測該導電貫孔或導電線路的小阻值，以取代傳統探針及測 試治具，達成降低成本的功效。
為了實現上述的目的，本發明又提供一種四線式電路基板微阻值測量方 法，該電路基板上布設有多個導電線路，每一導電線路電性連接至少一導電貫 孔，該方法首先提供一密布多個平行直導電條的第一測量板，覆貼于該電路基 板的一面，使該導電貫孔或該導電線路電性接觸該直導電條；再提供一密布多 個平行橫導電條的第二測量板，覆貼于該電路基板的另一面，使該導電貫孔或 導電線路電性接觸該橫導電條；接著提供一測量電壓于任一該直導電條與任一 該橫導電條間、任二該直導電條間或任二該橫導電條間所電性連接的該導電貫 子或該導電線路；最后測量流經該該直導電條或該橫導電條的電流值，即得待 測的該導電貫孔或該導電線路的微阻值，以達成使用在任何高密度電路基板皆可作四線式測量的功效。
為了實現上述的目的，本發明又提供一種電路基板測量裝置，該電路基板 上布設有多個導電線路，每一導電線路電性連接至少一導電貫孔，該測量裝置 包括 一第一測量板，其上密布有多個相互平行的直導電條，可覆貼于該電路 基板的一面，使該導電貫孔或該導電線路電性接觸至少一該直導電條； 一第二 測量板，其上密布有多個相互平行的橫導電條，可覆貼于該電路基板的另一面，
使該導電貫孔或該導電線路電性接觸至少一該橫導電條；至少一選擇開關電連 接至所有該直導電條及該橫導電條； 一測量單元電連接至該選擇開關，藉由該 選擇開關選擇測量任一該直導電條與任一該橫導電條間、任二該直導電條間或 任二該橫導電條間的電性物理值，以達成不需使用探針即能測量電路基板的導 電線路或導電貫孔的功效。
本發明具有以下有益的效果本發明提供了一種全新的電路基板測量方
式，完全取代探針及測試治具的測量裝置，但又能兼容于現有的測試儀器上， 且可測試任何類型的電路基板，完全不需針對不同電路基板制作治具，且因不 使用探針，故亦無探針昂貴及探針損耗的問題，可大幅降低測量成本。
為使能更進一步了解本發明的特征及技術內容，請參閱以下有關本發明的 詳細說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對本發明加以限制。
圖1為二線式測量的電路連接示意圖2為四線式測量的電路連接示意圖3為本發明的硬件架構示意圖4為本發明的使用狀態剖面示意圖5為本發明測量電路基板的流程示意圖6為本發明二線式測量雙面電路基板的等效示意圖7為本發明二線式測量單面電路基板的等效示意圖8為本發明四線式測量雙面電路基板的等效示意圖；及
圖9為本發明四線式測量單面電路基板的等效示意圖。
其中，附圖標記
測量裝置 1<formula>formula see original document page 12</formula>
具體實施例方式
為了使貴審查委員能更進一步了解本發明為達成預定目的所采取的技術、 手段及功效，請參閱以下有關本發明的詳細說明與附圖，相信本發明的目的、 特征與特點，當可由此得一深入且具體的了解，然而所附圖式僅提供參考與說 明用，并非用來對本發明加以限制者。
請參閱圖3所示，為本發明電路基板測量裝置的硬件架構示意圖，圖4 為本發明的使用狀態剖面示意圖，圖5本發明測量電路基板的流程示意圖。本 發明為一種完全不同于傳統探針式的電路基板測量裝置1，而所測量的電路基 板2可以為硬式或軟式的電路基板，亦可為單面、雙面或多層電路基板，該電 路基板2具有一第一板面21及一第二板面22，其上布設有多個導電線路23， 每一導電線路23皆電性連接有至少一導電貫孔24或者至少一電性焊點25， 該導電貫孔24貫穿該電路基板2 ，用以電性連接該第一板面21、第二板面22 或內層板面的導電線路23，如銀膠貫孔，而該電性焊點25則可電性焊接至一 電子組件的一接腳。本發明的測量裝置l由一第一測量板ll、 一第二測量板12、至少一選擇 開關13及一測量單元14所組成。其中該第一測量板11上密布有多個相互平
行的直導電條lll，可覆貼于該電路基板2的第一板面21，使該導電貫孔24、 該導電線路23或該電性焊點25可電性接觸于至少一該直導電條111(200)， 而該第二測量板12上亦同樣密布有多個相互平行的橫導電條121，可覆貼于 該電路基板2的第二板面22，使該導電貫孔24、該導電線路23或該電性焊點 25可電性接觸于至少一該橫導電條121(202)。
該第一測量板11與該第二測量板12可以為一可撓性不導電材質，如軟性 橡膠片，使其可完全覆貼于該電路基板2上，而其上方所密布的該直導電條 111或該橫導電條121的寬度可以為0. OlmnTl. 7ran之間任一規格，兩相鄰該直 導電條間或兩相鄰該橫導電條間的間距可以為0. lmm 2. 54 mm之間任一規格， 完全視所要測量電路基板2的大小或導電線路、導電貫孔或電性焊的密度而 定。
其中該選擇開關13電連接至所有該直導電條111或所有該橫導電條121, 可以選擇任一直導電條111(204)及任一橫導電條121(206)作為測量的端點， 或者任二直導電條111或任二橫導電條作為測量的端點。而該測量單元14電 連接至該選擇開關13，可以為一電壓源及一測量電表，亦可以一測試儀器， 藉由該選擇開關13的選擇，使該電壓源供應一測量電壓V(208)于任一直導電 條與任一橫導電條間、任二直導電條間或任二橫導電條間，以該測量電表測量 任一直導電條與任一橫導電條間、任二直導電條間或任二橫導電條間的電壓 值、電流值或電阻值等電性物理值(210)。
當該第一測量板11與該第二測量板12貼覆于該電路基板2時，如圖4， 可使該直導電條111電性接觸如標號241的導電貫孔或標號231的導電線路， 亦可使該橫導電條121電性接觸于如標號242的導電貫孔或232的導電線路， 該241的導電貫孔與231的導電線路、242的導電貫孔及232的導電線路皆相 互電連性連接者，故可藉其電性連接的關系，而測量導電貫孔或導電線路上的 微阻值。
如圖6所示即為本發明二線式測量雙面基板的等效示意圖。而該選擇開關 13可以由一第一選擇開關131、 一第二選擇開關132、 一第三選擇開關133及 一第四選擇開關134所組成，該第一選擇開關131或該第三選擇開關133可選擇電連接至任一直導電條111，而該第二選擇開關132或第四選開關則選擇電 連接至任一橫導電條121，如此即可形成二線式測量的二個測量端點。
由該測量單元14提供一電壓源141至第一或第三選擇開關131、 133所選 擇到的任一該直導電條111，以及第二或第四選擇開關132、 134所選擇到的 該橫導電條121上，以供應該直導電條111與該橫導電121條間一測量電壓V, 使能測量流經該直導電條111與該橫導電條121間的電流值A，即可得知該直 導電條111與該橫導電條121所電性連接的導電線路23、導電貫孔24或電性 焊點的阻值R。
請參閱圖7所示，為本發明二線式測量單面基板的等效示意圖。由圖所示 該實施例可藉由該第一或第三選擇開關131、 133以及第二或第四選擇開關 132、 134來選擇該第一測量板11上任二條的該直導電條Ul或任二條的該橫 導電條121，而所選擇的任二直導電條111或任二條的該橫導電條121皆電性 接觸同一電性連接的導電貫孔24或導電線路23,如此即形成二線式測量的二 個測量端點。
而如圖8所示，即為本發明四線式測量雙面基板的等效示意圖，該四線式 測量經由該第一選擇開關131及該第三選擇開關132所選擇到的任一該直導電 條111，以及由該第二選擇開關133及第四選擇開關134所選擇到的任一該橫 導電條121，由該測量單元14提供一電壓源141，供應該第二選擇開關132 與該第三選擇開關133間一測量電壓V，使能測量流經該第一選擇開關131與 該第四選擇開關134間的電流值A，即可得知所擇的該直導電條111與該橫導 電條121所電性連接的導電線路23、導電貫孔24或電性焊點的阻值R。
又如圖9所示，為本發明四線式測量單面基板的等效示意圖。由圖所示該 實施例可藉由該第一及第三選擇開關131、 133來選擇任一條該直導電條111 或任一條該121，以及第二及第四選擇開關132、 134來選擇另一條該直導電 條111或另一條的該橫導電條121，而所選擇的二直導電條111或橫導電條121 皆電性接觸同一電性連接的導電貫孔24或導電線路23，如此即形成四線式測 量的四個測量端點。
當然，本發明還可有其它多種實施例，在不背離本發明精神及其實質的情 況下，熟悉本領域的普通技術人員當可根據本發明做出各種相應的改變和變 形，但這些相應的改變和變形都應屬于本發明所附的權利要求的保護范圍。
權利要求
1.一種電路基板測量方法，該電路基板具有一第一板面及一第二板面，其上布設有多個導電線路，每一導電線路電性連接至少一導電貫孔貫穿該電路基板，其特征在于，該方法至少包括下列步驟提供一密布多個平行直導電條的第一測量板，覆貼于該第一板面，使該導電貫孔或該導電線路電性接觸至少一該直導電條；提供一密布多個平行橫導電條的第二測量板，覆貼于該第二板面，使該導電貫孔或該導電線路電性接觸至少一該橫導電條；及測量任一該直導電條與任一該橫導電條間、任二該直導電條間或任二該橫導電條間，所電性連接的該導電貫孔或該導電線路的電性物理值。
2. 根據權利要求1所述的電路基板測量方法，其特征在于，該導電線路可 電性連接至少一 電性焊點，可電性接觸該直導電條或該橫導電條。
3. 根據權利要求2所述的電路基板測量方法，其特征在于，該電性焊點 可電性焊接一 電子組件的 一接腳。
4. 根據權利要求1所述的電路基板測量方法，其特征在于，該電路基板 可為一硬式或軟式的電路基板。
5. 根據權利要求l所述的電路基板測量方法，其特征在于，該電路基板 可為一多層電路基板。
6. 根據權利要求1所述的電路基板測量方法，其特征在于，該第一測量 板與該第二測量板為一可撓性不導電材質，使可完全覆貼于該電路基板。
7. 根據權利要求l所述的電路基板測量方法，其特征在于，該直導電條 或該橫導電條的寬度可為0. 7mm。
8. 根據權利要求1所述的電路基板測量方法，其特征在于，該直導電條 或該橫導電條間的間距可為0. 1 2. 54mm。
9. 根據權利要求1所述的電路基板測量方法，其特征在于，該電性物理 值為電壓值、電流值或電阻值。
10. 根據權利要求l所述的電路基板測量方法，其特征在于，該測量電性 物理值的步驟前更包括下列步驟選擇任一該直導電條與任一該橫導電條、任二該直導電條或任二該橫導電條。
11. 根據權利要求io所述的電路基板測量方法，其特征在于，選擇該直導電條或該橫導電條的步驟，使用至少一選擇開關。
12. 根據權利要求11所述的電路基板測量方法，其特征在于，該選擇開 關更電連接至一 電壓源及一測量電表，該電壓源供應該直導電條或該橫導電條 所電性連接的待測導電貫孔或導電線路一測量電壓，該測量電表測量該導電貫 孔或該導電線路的電壓值、電流值或電阻值。
13. 根據權利要求l所述的電路基板測量方法，其特征在于，該選擇開關更電連接至一測試儀器，用以測量該導電貫孔或該導電線路的電壓值、電流值 或電阻值。
14. 一種二線式電路基板小阻值測量方法，該電路基板具有一第一板面及 一第二板面，其上布設有多個導電線路，每一導電線路電性連接至少一導電貫孔貫穿該電路基板，其特征在于，該方法至少包括下列步驟提供一密布多個平行直導電條的第一測量板，覆貼于該第一板面，使該導 電貫孔或該導電線路電性接觸至少一該直導電條；提供一密布多個平行橫導電條的第二測量板，覆貼于該第二板面，使該導 電貫孔或該導電線路電性接觸至少一該橫導電條；提供一測量電壓于任一該直導電條與任一該橫導電條間、任二該直導電條 間或任二該橫導電條間，所電性連接的該導電貫孔或該導電線路；及測量流經該直導電條或該橫導電條的電流值，即得待測的該導電貫孔或該 導電線路的小阻值。
15. 根據權利要求14所述的二線式電路基板小阻值測量方法，其特征在 于，該導電線路可電性連接至少一電性焊點，可電性接觸該直導電條或該橫導 電條。
16. 根據權利要求15所述的二線式電路基板小阻值測量方法，其特征在 于，該電性焊點可電性焊接一電子組件的一接腳。
17. 根據權利要求14所述的二線式電路基板小阻值測量方法，其特征在 于，該電路基板可為一硬式或軟式的電路基板。
18. 根據權利要求14所述的二線式電路基板小阻值測量方法，其特征在 于，該電路基板可為一多層電路基板。
19. 根據權利要求14所述的二線式電路基板小阻值測量方法，其特征在 于，該第一測量板與該第二測量板為一可撓性不導電材質，使可完全覆貼于該 電路基板。
20. 根據權利要求14所述的二線式電路基板小阻值測量方法，其特征在 于，該直導電條或該橫導電條的寬度可為O. 1 1.7ram。
21. 根據權利要求14所述的二線式電路基板小阻值測量方法，其特征在 于，該直導電條或該橫導電條間的間距可為0. 1 2. 54mm。
22. 根據權利要求14所述的二線式電路基板小阻值測量方法，其特征在 于，該提供一電壓源的步驟前更包括下列步驟-選擇任一該直導電條與任一該橫導電條、任二該直導電條或任二該橫導電條。
23. 根據權利要求22所述的二線式電路基板小阻值測量方法，其特征在 于，選擇任一該直導電條系使用一第一選擇開關或一第三選擇開關，而選擇任 一該橫導電條使用一第二選擇開關或一第四選擇開關。
24. 根據權利要求23所述的二線式電路基板小阻值測量方法，其特征在 于，該第一及該第二選擇開關間，或該第三及第四選擇開關間更電連接一電壓 源及一測量電表，用以測量任一該直導電條與任一該橫導電條間、任二該直導 電條間或任二該橫導電條間的小阻值。
25. 根據權利要求23所述的二線式電路基板小阻值測量方法，其特征在 于，該第一選擇開關、該第二選擇開關、該第三選擇開關及該第四選擇開關皆 電連接至一測試儀器，用以測量該導電線路及導電貫孔的小阻值。
26. —種四線式電路基板微阻值測量方法，該電路基板具有一第一板面及 一第二板面，其上布設有多個導電線路，每一導電線路電性連接至少一導電貫 孔，貫穿該電路基板，其特征在于，該方法至少包括下列步驟提供一密布多個平行直導電條的第一測量板，覆貼于該第一板面，使該導 電貫孔或該導電線路電性接觸至少一該直導電條；提供一密布多個平行橫導電條的第二測量板，覆貼于該第二板面，使該導 電貫孔或該導電線路電性接觸至少一該橫導電條；提供一測量電壓于任一該直導電條與任一該橫導電條間、任二該直導電條 間或任二該橫導電條間，所電性連接的該導電貫子或該導電線路；及測量流經該直導電條或該橫導電條的電流值，即得待測的該導電貫孔或導 電線路的微阻值。
27. 根據權利要求26所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在 于，該導電線路可電性連接至少一電性焊點，可電性接觸該直導電條或該橫導 電條。
28. 根據權利要求27所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在于，該電性焊點可電性焊接一電子組件的一接腳。
29. 根據權利要求27所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在于，該電路基板可為一硬式或軟式的電路基板。
30. 根據權利要求26所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在 于，該電路基板可為一多層電路基板。
31. 根據權利要求26所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在 于，該第一測量板與該第二測量板為一可撓性不導電材質，使可完全覆貼于該 電路基板。
32. 根據權利要求26所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在 于，該直導電條或該橫導電條的寬度可為O.廣1.7mm。
33. 根據權利要求26所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在 于，該直導電條或該橫導電條間的間距可為0. 1 2. 54mm。
34. 根據權利要求26所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在 于，該提供一電壓源的步驟前更包括下列步驟選擇任一該直導電條與任一該橫導電條、任二該直導電條或任二該橫導電條。
35. 根據權利要求34所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在 于，選擇任一該直導電條使用一第一選擇開關及一第三選擇開關，而選擇任一 該橫導電條使用一第二選擇幵關及一第四選擇開關。
36. 根據權利要求35所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在于，該第二選擇開關及該第三選擇開關間電連接一電壓源，而該第一選擇開關 及該第四選擇開關間電連接一測量電表，用以測量任一該直導電條與任一該橫 導電條間的微阻值。
37. 根據權利要求34所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在于，選擇任二該直導電條或任二該橫導電條分別使用一第一選擇開關及一第三 選擇開關，以及一第二選擇開關及一第四選擇開關。
38. 根據權利要求37所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在 于，該第二選擇開關及該第三選擇開關間電連接一電壓源，而該第一選擇開關 及該第四選擇開關間電連接一測量電表，用以測量任二該直導電條間或任二該 橫導電條間的微阻值。
39. 根據權利要求34所述的四線式電路基板微阻值測量方法，其特征在 于，該第一選擇幵關、該第二選擇開關、該第三選擇開關及該第四選擇開關皆 電連接至一測試儀器，用以測量該導電貫孔或該導電線路的微阻值。
40. —種電路基板測量裝置，該電路基板具有一第一板面及一第二板面， 其上布設有多個導電線路，每一導電線路電性連接至少一導電貫孔，貫穿該電 路基板，其特征在于，該測量裝置包括一第一測量板，其上密布有多個相互平行的直導電條，可覆貼于該電路基 板的第一板面，使該導電貫孔或該導電線路電性接觸至少一該直導電條；一第二測量板，其上密布有多個相互平行的橫導電條，可覆貼于該電路基 板的第二板面，使該導電貫孔或該導電線路電性接觸至少一該橫導電條；至少一選擇開關，電連接至所有該直導電條及所有該橫導電條；及一測量單元，電連接至該選擇開關，藉由該選擇開關選擇測量任一該直導 電條與任一該橫導電條間、任二該直導電條間或任二該橫導電條間的電性物理 值。
41. 根據權利要求40所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該電路基板 的導電線路可電性連接至少一電性焊點，可電性接觸該直導電條或該橫導電 條。
42. 根據權利要求41所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該電性焊點可電性焊接至一電子組件的一接腳。
43. 根據權利要求40所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該電路基板可為一硬式或軟式的電路基板。
44. 根據權利要求40所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該電路基板可為一多層電路基板。
45. 根據權利要求40所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該第一測量板與該第二測量板為一可撓性不導電材質，使可完全覆貼于該電路基板。
46. 根據權利要求40所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該直導電 條或該橫導電條的寬度可為0. 01 1. 7ram。
47. 根據權利要求40所述的電路基板測量裝置，其特征在于，兩相鄰該 直導電條間的間距可為0. 1 2. 54mm。
48. 根據權利要求40所述的電路基板測量裝置，其特征在于，兩相鄰該 橫導電條間的間距可為0. 1 2. 54mm。
49. 根據權利要求40所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該選擇開 關包括一第一選擇開關、 一第二選擇開關、 一第三選擇開關及一第四選擇開關。
50. 根據權利要求49所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該第一或 該第三選擇開關電連接至任一該直導電條，及該第二或該第四選擇開關電連接 至任一該橫導電條，用以作為二線式測量。
51. 根據權利要求49所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該第一或 該第三選擇開關，以及該第二或第四選擇開關分別電連接至任二該直導電條間 或任二該橫導電條間，用以作為二線式測量。
52. 根據權利要求49所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該第一及 該第三選擇開關電連接至任一該直導電條，以及該第二及該第四選擇開關電連 接至任一該橫導電條，用以作為四線式測量。
53. 根據權利要求49所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該第一及 該第三選擇開關，以及該第二及該第四選擇開關分別電連接至任二該直導電條 或任二該橫導電條，用以作為四線式測量。
54. 根據權利要求40所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該測量單 元所測量的電性物理值為電壓值、電流值或電阻值。
55. 根據權利要求40所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該測量單 元可提供一電壓源，以供應任一該直導電條與該橫導電條間、任二該直導電條 間或任二該橫導電條間一測量電壓，使能測量流經該導電貫孔或該導電線路的 電流值或電阻值。
56. 根據權利要求40所述的電路基板測量裝置，其特征在于，該測量單 元為一測試儀器，用以測量該導電貫孔或該導電線路的電流値或電阻値。
全文摘要
一種電路基板測量方法及裝置，可使用在二線式或四線式測量上，所測量的電路基板上布設有多個導電線路及導電貫孔，本發明提供一密布多個平行直導電條的第一測量板，覆貼于該電路基板的一面，使該導電貫孔或該導電線路能電性接觸于該直導電條，再提供一密布多個平行橫導電條的第二測量板，覆貼于該電路基板的另一面，使該導電貫孔或該導電線路能電性接觸于該橫導電條，接著測量任一直導電條及任一橫導電條間、任二直導電條間或任二橫導電條間的電壓、電流、電阻等電性物理值，因此本發明是一種全新測量方式，完全不同于探針式的測量方式。
文檔編號G01R1/00GK101285863SQ20071009585
公開日2008年10月15日 申請日期2007年4月10日 優先權日2007年4月10日
發明者周德昌 申請人:系新科技股份有限公司
專業數控銑床產品供應商
20年生產經驗，實力工廠，精工品質，質量有保障
