3d高度檢測機構的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種3D高度檢測機構，其特征在于它包括機殼（1），機殼（1）內設置有左右對稱布置的兩個相機組件（2）和兩個相機控制器（3），機殼（1）內還設置有調節固定座（4）、激光發射裝置（5）以及激光功率啟停控制器（6）。該3D高度檢測機構具有能讓高端封裝外觀檢測機的產品的外觀尺寸檢測更穩定更準確的優點。
【專利說明】3D高度檢測機構
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種高端封裝外觀檢測機，尤其涉及一種高端封裝外觀檢測機的 3D高度檢測機構，適用于BGA、QFP、TSOP、QFN等高端封裝形式產品的外觀尺寸檢測(包括錫 球或引腳的高度、長短尺寸、大小尺寸、安裝高度、球(腳）間距、共面性、基板翹曲、印章、膠 體缺損等項目內容)。
【背景技術】
[0002]高端封裝外觀檢測機主要是由許多的機械零件配合氣動組件、伺服電機、步進電 機、各類傳感器、高精度工業相機、激光發射器等組成的機電一體化設備，其程控由工業 PC+軟件BCB 6_0編寫而成。主要是由進料區（Load)、InputC⑶檢測站、3D高度檢測站、 補空盤站（Carrier )、搬運站（Transfer )、翻轉站（FI ipper )、OutputCCD檢測站、分料站 (Sorting)、補盤備用站（Buffer Bin)和廢品站（Bin2, Bin3)組成。
[0003] 傳統的外觀檢測機，需要將產品吸取出Tray盤，再送入檢測站進行檢測，而高端 封裝外觀檢測機不需要將產品取出Tray盤就能夠進行檢測，避免了吸取和放置產品時引 起對產品的錫球或引腳損傷，能夠更準確的對產品進行測量。
[0004] 高端封裝外觀檢測機中3D高度檢測站利用幾何光學的四大基本定律：
[0005] 1、直線傳播定律：在各向同性的均勻介質中，光沿直線傳播(光線是直線）；
[0006] 2、獨立傳播定律：從不同光源發出的光束，以不同的方向通過空間某點時，彼此互 不影響，各光束獨立傳播；
[0007] 3、折射定律：入射光線、反射光線、通過投射點的法線三者位于同一平面，入射角 等于反射角且大小相等符號相反(分居法線兩側）；
【權利要求】
1. 一種3D高度檢測機構，其特征在于它包括機殼（1 )，機殼（1)內設置有左右對稱布置 的兩個相機組件（2)和兩個相機控制器（3)，機殼（1)內還設置有調節固定座（4)、激光發射 裝置（5)以及激光功率啟停控制器（6)。
2. 根據權利要求1所述的一種3D高度檢測機構，其特征在于所述機殼（1)包括上罩殼 (1. 1)、下底板（1. 2)、左擋板（1. 3)、右擋板（1. 4)、前擋板（1. 5)以及后擋板（1. 6)，所述調 節固定座（4)設置于下底板（1.2)上的中央，所述激光發射裝置（5)堅向設置于調節固定座 (4)上，所述激光功率啟停控制器（6)設置于激光發射裝置（5)正上方的上罩殼（1. 1)內，兩 個相機組件（2 )左右對稱布置于激光發射裝置（5 )的左上方以及右上方，兩個相機組件（2 ) 均指向激光發射裝置（5)，兩個相機控制器（3)位于兩個相機組件（2)上方。
3. 根據權利要求1或2所述的一種3D高度檢測機構，其特征在于所述相機組件（2)從 上至下依次包括C⑶高精度相機（2. 1)、光學接圈（2. 2)、光學鏡頭（2. 3)、偏振鏡片（2. 4) 以及濾色片（2. 5)，所述相機控制器（3)內設置有時序及同步信號發生器、垂直驅動器以及 模擬/數字信號處理電路。
【文檔編號】G01B11/02GK204085452SQ201420489844
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年8月28日 優先權日:2014年8月28日
【發明者】馬浩峰, 吳忠其 申請人:江陰新基電子設備有限公司
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