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測試裝置及測試方法
【專利摘要】一種測試裝置及測試方法，測試裝置用以執(zhí)行測試程序，以對電路板上的多個元件進行第一測試，以及對電路板進行第二測試。測試裝置包括第一模塊、第二模塊及信號傳輸線。第一模塊包括控制單元、信號產(chǎn)生單元、信號處理單元、信號擴充單元及供電單元。控制單元產(chǎn)生第一控制信號或第二控制信號。信號產(chǎn)生單元產(chǎn)生電流信號或電壓信號。信號處理單元產(chǎn)生數(shù)值信號。信號擴充單元產(chǎn)生第二數(shù)據(jù)信號。供電單元產(chǎn)生工作電壓。第二模塊包括測試地址指定單元及信號隔離單元。測試地址指定單元進行定址。信號隔離單元進行噪聲免疫處理。信號傳輸線連接第一模塊與第二模塊。
【專利說明】
測試裝置及測試方法

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試裝置及測試方法，特別涉及一種可節(jié)省設備、人力、及時間的成本并改善測試的效率的測試裝置及測試方法。

【背景技術】
[0002]這些年來，隨著電子科技的進步，使得印刷電路板堅固耐用、成本低廉且可靠度高。于生產(chǎn)印刷電路板時，雖然一開始需要投入電路布局的成本，但是到后來卻可便宜地且快速地大量生產(chǎn)。
[0003]在電子元件焊接于印刷電路板之后，印刷電路板需要通過檢測，才能出貨。實務上，傳統(tǒng)的內(nèi)部電路測試(Insert Circuit Test, ICT)設備主要檢查單一個元件以及各電路網(wǎng)絡的開、短路情況。亦即，內(nèi)部電路測試包括電阻、電容、電感、及晶體管等元件的測試，可藉由此內(nèi)部電路測試而發(fā)現(xiàn)例如焊錫短路、元件錯置、元件漏裝、管腳翹起、元件虛焊、或是印刷電路板短路與斷路等故障。但是，對于印刷電路板的次模塊(Sub-Assembly，SA)功能測試卻不能涵蓋，例如記憶體程序、運算放大器、電源模塊、及小規(guī)模的集成電路的功能測試等。
[0004]當進行測試驗證時，測試人員必須分別于內(nèi)部電路測試的測試站以及次模塊功能測試的測試站進行分別測試，以涵蓋各電子元件的測試以及印刷電路板的功能測試。然而，此分開的測試站卻造成了設備成本以及人力成本的增加。另一方面，此分開的測試站亦增加了測試所需的時間。
[0005]一般而言，應用于現(xiàn)有技術中的測試平臺，大多不具有整合內(nèi)部電路測試以及次模塊功能測試的測試接口，導致測試人員無法于同一測試平臺進行不同類別的測試驗證，造成設備、人力、及時間成本的增加，亦影響了測試的效率。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于提供一種測試裝置及測試方法，藉以節(jié)省設備、人力、及時間的成本，并改善測試的效率。
[0007]根據(jù)本發(fā)明的一實施例，提供一種測試裝置，用以執(zhí)行一測試程序，以對一電路板上的多個元件進行一第一測試，以及對電路板進行一第二測試。此測試裝置包括一第一模塊、一第二模塊、及一信號傳輸線。第一模塊包括一控制單元、一信號產(chǎn)生單元、一信號處理單元、一信號擴充單元、及一供電單元。控制單元用以接收一指令，并依據(jù)指令，以產(chǎn)生一第一控制信號或一第二控制信號。其特征在于，，指令用以指示測試裝置進行第一測試或第二測試。信號產(chǎn)生單元耦接控制單元，用以接收第一控制信號，并依據(jù)第一控制信號，以產(chǎn)生一電流信號或一電壓信號。信號處理單元耦接控制單元，用以接收電路板所產(chǎn)生的一測量信號，并對測量信號進行一數(shù)值計算，以產(chǎn)生一數(shù)值信號。信號擴充單元耦接控制單元，用以接收電路板所產(chǎn)生的一第一數(shù)據(jù)信號，并對第一數(shù)據(jù)信號進行一信號擴充，以產(chǎn)生一第二數(shù)據(jù)信號。供電單元耦接控制單元，用以接收第二控制信號，并依據(jù)第二控制信號，以產(chǎn)生一工作電壓。第二模塊包括一測試地址指定單元以及一信號隔離單元。測試地址指定單元耦接電路板，用以對多個元件進行一定址，并依據(jù)定址，以回傳測量信號給信號處理單元。信號隔離單元耦接測試地址指定單元，用以對測量信號進行一噪聲免疫處理。信號傳輸線耦接于信號產(chǎn)生單元與信號隔離單元之間，用以連接第一模塊與第二模塊。其特征在于，，當測試裝置進行第二測試時，供電單元產(chǎn)生工作電壓給信號產(chǎn)生單元、信號處理單元、信號擴充單元、測試地址指定單元、及信號隔離單元。
[0008]根據(jù)本發(fā)明的一實施例，還提供一種測試方法，包括以下步驟。連接一測試工具于一測試裝置。配置一電路板于測試工具。啟動測試工具的一第一氣壓缸，以使電路板未接收一工作電壓。于測試裝置上執(zhí)行一測試程序，以對電路板上的多個元件進行一第一測試，并記錄第一測試且關閉第一氣壓缸。啟動測試工具的一第二氣壓缸，以使電路板接收工作電壓。于測試裝置上執(zhí)行測試程序，以對電路板進行一第二測試，并記錄第二測試且關閉第二氣壓缸。顯示第一測試以及第二測試的一測試結(jié)果。
[0009]本發(fā)明所提供的測試裝置及測試方法，藉由控制單元接收進行第一測試的指令，并以測試地址指定單元對電路板上的多個元件進行定址，以使信號處理單元接收來自這些元件所回傳的測量信號，并對測量信號進行數(shù)值計算。或是藉由控制單元接收進行第二測試的指令，并以供電單元產(chǎn)生工作電壓，以使信號擴充單元接收電路板所回傳的第一數(shù)據(jù)信號，并對第一數(shù)據(jù)信號進行信號擴充。如此一來，可有效整合不同類別的測試于同一平臺，并節(jié)省設備、人力、及時間的成本，亦改善了測試的效率。
[0010]以下結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明進行詳細描述，但不作為對本發(fā)明的限定。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1為本發(fā)明的測試裝置的示意圖；
[0012]圖2為本發(fā)明的測試方法的步驟流程圖。
[0013]其特征在于，，附圖標記
[0014]10 測試裝置
[0015]100 第一模塊
[0016]110 控制單元
[0017]120 信號產(chǎn)生單元
[0018]130 信號處理單元
[0019]140 信號擴充單元
[0020]150 供電單元
[0021]200 第二模塊
[0022]210 測試地址指定單元
[0023]220 信號隔離單元
[0024]300 信號傳輸線

【具體實施方式】
[0025]以下在實施方式中詳細敘述本發(fā)明的詳細特征以及優(yōu)點，其內(nèi)容足以使任何熟習相關技藝者了解本發(fā)明的技術內(nèi)容并據(jù)以實施，且根據(jù)本說明書所揭露的內(nèi)容、權(quán)利要求范圍及附圖，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發(fā)明相關的目的及優(yōu)點。以下的實施例進一步詳細說明本發(fā)明的觀點，但非以任何觀點限制本發(fā)明的范疇。
[0026]請參照圖1，其為本發(fā)明的測試裝置的示意圖。本實施例的測試裝置10適于整合測試平臺。亦即，使用者可通過此測試裝置10，以于整合測試平臺同時進行不同類別的測試驗證。其特征在于，，測試裝置10用以執(zhí)行一測試程序，以對一電路板上的多個元件進行一第一測試，以及對電路板進行一第二測試。在本實施例中，第一測試例如可為內(nèi)部電路測試，而第二測試例如可為次模塊功能測試。但本實施例不限于此，第一測試亦可使用其他類似內(nèi)部電路的測試來實施，而第二測試亦可使用其他類似次模塊功能的測試來實施。測試裝置10包括一第一模塊100、一第二模塊200、及一信號傳輸線300。
[0027]第一模塊100包括一控制單元110、一信號產(chǎn)生單元120、一信號處理單元130、一信號擴充單元140、及一供電單元150。控制單元110用以接收一指令，并依據(jù)指令，以產(chǎn)生一第一控制信號或一第二控制信號。其特征在于，，指令用以指示測試裝置10進行第一測試或第二測試。信號產(chǎn)生單元120耦接控制單元110，此信號產(chǎn)生單元120用以接收第一控制信號，并依據(jù)第一控制信號，以產(chǎn)生一電流信號或一電壓信號。信號處理單元130耦接控制單元110，此信號處理單元130用以接收電路板所產(chǎn)生的一測量信號，并對測量信號進行一數(shù)值計算，以產(chǎn)生一數(shù)值信號。在本實施例中，數(shù)值計算例如可為電阻值、電感值、或是電容值的計算。但本實施例不限于此，數(shù)值計算亦可使用其他類似元件的數(shù)值計算來實施。
[0028]信號擴充單元140耦接控制單元110，此信號擴充單元140用以接收電路板所產(chǎn)生的一第一數(shù)據(jù)信號，并對第一數(shù)據(jù)信號進行一信號擴充，以產(chǎn)生一第二數(shù)據(jù)信號。其特征在于，，信號擴充單元140包括一通用輸入輸出(General Purpose Input Output, GP1)連接端口。在本實施例中，第二數(shù)據(jù)信號例如可為內(nèi)部集成電路總線(Inter-1ntegratedCircuit Bus, I2C Bus)信號或序列周邊接口(Serial Peripheral Interface, SPI)信號。但本實施例不限于此，第二數(shù)據(jù)信號亦可使用其他類似的信號來實施。
[0029]供電單元150耦接控制單元110，此供電單元150用以接收第二控制信號，并依據(jù)第二控制信號，以產(chǎn)生一工作電壓。在本實施例中，工作電壓例如可為P12V、P5V、或P3V3。其特征在于，，當前述的測試裝置10進行第二測試時，供電單元150產(chǎn)生此工作電壓給信號產(chǎn)生單元120、信號處理單元130、及信號擴充單元140。
[0030]第二模塊200包括一測試地址指定單元210以及一信號隔離單元220。測試地址指定單元210耦接電路板，用以對電路板上的這些元件進行一定址，并依據(jù)定址，以回傳測量信號給信號處理單元130。信號隔離單元220耦接測試地址指定單元210，此信號隔離單元220用以對測量信號進行一噪聲免疫處理，以使測量信號可避免受到噪聲的干擾。
[0031]信號傳輸線300耦接于信號產(chǎn)生單元120與信號隔離單元220之間，用以連接第一模塊100與第二模塊200。在本實施例中，信號傳輸線300例如可為尼爾-康塞曼卡口(Bayonet Neill-Concelman, BNC)同軸電纜線。但本實施例不限于此,信號傳輸線300亦可使用其他類似的傳輸線來實施。
[0032]舉例來說，當測試裝置10進行第一測試時，控制單元110接收例如進行第一測試的指令，以產(chǎn)生第一控制信號給信號產(chǎn)生單元120，使得信號產(chǎn)生單元120產(chǎn)生電流信號或電壓信號給電路板上的各個元件。同時，測試地址指定單元210會對電路板上的各個元件進行定址。據(jù)此，各個元件會接收電流信號或電壓信號，以產(chǎn)生測量信號給信號處理單元130。并且，信號隔離單元220會對測量信號進行噪聲免疫處理，以避免測量信號受到噪聲的干擾。接著，信號處理單元130會對測量信號進行數(shù)值計算并產(chǎn)生數(shù)值信號。據(jù)此，測試裝置10可完成第一測試的驗證。
[0033]當測試裝置10進行第二測試時，控制單元110接收例如進行第二測試的指令，以產(chǎn)生第二控制信號給供電單元150，使得供電單元150產(chǎn)生工作電壓給前述的信號產(chǎn)生單元120、信號處理單元130、信號擴充單元140、測試地址指定單元210、及信號隔離單元220。接著，信號擴充單元140會接收電路板所產(chǎn)生的第一數(shù)據(jù)信號，并對第一數(shù)據(jù)信號進行信號擴充，以產(chǎn)生第二數(shù)據(jù)信號給一燒錄器。并且，燒錄器可讀取并儲存第二數(shù)據(jù)信號。據(jù)此，測試裝置10可完成第二測試的驗證。
[0034]進一步來說，本實施例所提供的測試裝置10，藉由以上所述的配置關系，可于整合測試平臺同時進行第一測試以及第二測試的驗證作業(yè)。也就是說，通過本實施例的測試裝置10，可同時進行例如內(nèi)部電路測試以及次模塊功能測試，以進而記錄并顯示內(nèi)部電路測試以及次模塊功能測試的測試結(jié)果。
[0035]藉由以上實施例所述，可將前述的測試裝置10連接至一測試工具，以同時進行第一測試以及第二測試。為了方便說明第一測試以及第二測試是如何同時進行，以下將以一種測試方法來進一步說明。其特征在于，，測試裝置10的相關配置關系，可參考圖1的實施方式，故在此不再贅述。
[0036]請參照圖2，其為本發(fā)明的測試方法的步驟流程圖。在步驟S210中，連接測試工具于前述的測試裝置(例如圖1的測試裝置10)。在步驟S220中，配置電路板于測試工具。在步驟S230中，啟動測試工具的第一氣壓缸，以使電路板未接收工作電壓。在步驟S240中，于測試裝置上執(zhí)行測試程序，以對電路板上的多個元件進行第一測試，并記錄第一測試且關閉第一氣壓缸。
[0037]在步驟S250中，啟動測試工具的第二氣壓缸，以使電路板接收工作電壓。在步驟S260中，于測試裝置上執(zhí)行測試程序，以對電路板進行第二測試，并記錄第二測試且關閉第二氣壓缸。在步驟S270中，顯示第一測試以及第二測試的測試結(jié)果。
[0038]綜上所述，本發(fā)明的實施例所揭露的測試裝置及測試方法，藉由控制單元接收進行第一測試的指令，并以測試地址指定單元對電路板上的多個元件進行定址，以使信號處理單元接收來自這些元件所回傳的測量信號，并對測量信號進行數(shù)值計算。或是藉由控制單元接收進行第二測試的指令，并以供電單元產(chǎn)生工作電壓，以使信號擴充單元接收電路板所回傳的第一數(shù)據(jù)信號，并對第一數(shù)據(jù)信號進行信號擴充。如此一來，可有效整合不同類別的測試于同一平臺，并節(jié)省設備、人力、及時間的成本，亦改善了測試的效率。
[0039]當然，本發(fā)明還可有其他多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟悉本領域的技術人員當可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變形都應屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種測試裝置，用以執(zhí)行一測試程序，以對一電路板上的多個元件進行一第一測試，以及對該電路板進行一第二測試，其特征在于，該測試裝置包括: 一第一模塊，包括: 一控制單元，用以接收一指令，并依據(jù)該指令，以產(chǎn)生一第一控制信號或一第二控制信號，其特征在于，該指令用以指示該測試裝置進行該第一測試或該第二測試； 一信號產(chǎn)生單元，耦接該控制單元，用以接收該第一控制信號，并依據(jù)該第一控制信號，以產(chǎn)生一電流信號或一電壓信號； 一信號處理單元，耦接該控制單元，用以接收該電路板所產(chǎn)生的一測量信號，并對該測量信號進行一數(shù)值計算，以產(chǎn)生一數(shù)值信號； 一信號擴充單元，耦接該控制單元，用以接收該電路板所產(chǎn)生的一第一數(shù)據(jù)信號，并對該第一數(shù)據(jù)信號進行一信號擴充，以產(chǎn)生一第二數(shù)據(jù)信號；以及 一供電單元，耦接該控制單元，用以接收該第二控制信號，并依據(jù)該第二控制信號，以產(chǎn)生一工作電壓； 一第二模塊，包括: 一測試地址指定單元，耦接該電路板，用以對該些元件進行一定址，并依據(jù)該定址，以回傳該測量信號給該信號處理單元；以及 一信號隔離單元，耦接該測試地址指定單元，用以對該測量信號進行一噪聲免疫處理；以及 一信號傳輸線，耦接于該信號產(chǎn)生單元與該信號隔離單元之間，用以連接該第一模塊與該第二模塊； 其特征在于，，當該測試裝置進行該第二測試時，該供電單元產(chǎn)生該工作電壓給該信號產(chǎn)生單元、該信號處理單元、該信號擴充單元、該測試地址指定單元、及該信號隔離單元。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，該第一測試為內(nèi)部電路測試，該第二測試為次模塊功能測試。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，該信號擴充單元包括一通用輸入輸出連接端口。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，該第二數(shù)據(jù)信號為內(nèi)部集成電路總線信號或序列周邊接口信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，該信號傳輸線為尼爾-康塞曼卡口同軸電纜線。
6.—種測試方法,其特征在于,包括: 連接一測試工具于一如權(quán)利要求1所述的測試裝置； 配置一電路板于該測試工具； 啟動該測試工具的一第一氣壓缸，以使該電路板未接收一工作電壓； 于該測試裝置上執(zhí)行一測試程序，以對該電路板上的多個元件進行一第一測試，并記錄該第一測試且關閉該第一氣壓缸； 啟動該測試工具的一第二氣壓缸，以使該電路板接收該工作電壓； 于該測試裝置上執(zhí)行該測試程序，以對該電路板進行一第二測試，并記錄該第二測試且關閉該第二氣壓缸；以及顯示該第一測試以及該第二測試的一測試結(jié)果。
【文檔編號】G01R31/02GK104181451SQ201310192546
【公開日】2014年12月3日 申請日期:2013年5月22日 優(yōu)先權(quán)日:2013年5月22日
【發(fā)明者】陳璉鋒, 朱俊豪 申請人:英業(yè)達科技有限公司, 英業(yè)達股份有限公司