一種pcb飛針測試固定裝置和pcb飛針測試裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型提供一種PCB飛針測試固定裝置和PCB飛針測試裝置,所述PCB飛針測試固定裝置包括:固定板和開設在所述固定板一表面上的用于固定待測試PCB的固定槽。通過本實用新型提供的PCB飛針測試固定裝置和PCB飛針測試裝置,在固定板上開設固定待測試PCB的固定槽,在進行飛針測試之前,將所述待測試PCB固定在固定槽中,使任意尺寸的PCB都可以進行飛針測試,突破了現有飛針測試臺對PCB尺寸的限制。
【專利說明】
【技術領域】
[0001] 本實用新型涉及印制電路領域,特別涉及一種PCB飛針測試固定裝置和PCB飛針 測試裝置。 -種PCB飛針測試固定裝置和PCB飛針測試裝置
【背景技術】
[0002] 現有技術中,通常采用飛針測試的方式對PCB的引腳進行接觸并進行電氣測試, 使用夾具先固定PCB,然后利用飛針測試臺對PCB進行測試。
[0003] 現有技術的不足之處在于:飛針測試臺對PCB的尺寸要求較高,對較薄以及尺寸 較小的PCB不能進行飛針測試。在PCB的板厚< 0. 3mm時,會因為厚度太薄而使PCB被夾具 夾壞,即使PCB通過測試也影響了 PCB功能;而在PCB的長寬< 75*75mm時,由于尺寸太小, PCB的邊緣被夾具夾了很大的部分,使有的測試孔與夾具的距離很近,這會導致飛針容易與 夾具相撞,造成斷針和晃板,從而影響飛針測試的結果;若測試的是包括多個小尺寸PCB的 整個panel,那么位于中間部分的小尺寸PCB不會有飛針軸撞到夾具的情況,但是這樣的操 作難度較大,而且不容易識別位于panel邊上有問題的PCB,現有的PCB制作廠商采用先測 試后成型的方法來對小尺寸PCB進行飛針測試,但因此導致成型后好壞混板,大大增加了 生產成本。 實用新型內容
[0004] 為克服上述缺陷,本實用新型實施例提供一種PCB飛針測試固定裝置和PCB飛針 測試裝置。
[0005] 第一方面,本實用新型提供一種PCB飛針測試固定裝置,包括:固定板和開設在所 述固定板一表面上的用于固定待測試PCB的固定槽。
[0006] 優選地,所述待測試PCB的厚度小于0. 5mm時,所述固定板的厚度為0. 5_。
[0007] 優選地,所述待測試PCB的厚度大于等于0. 5mm時,所述固定板的厚度等于所述待 測試PCB的厚度。
[0008] 優選地,所述待測試PCB的長小于等于75mm時,所述固定板的長為80mm。
[0009] 優選地,所述待測試PCB的邊長為大于75mm的A時,所述固定板的對應邊長為 (A+10) mm。
[0010] 優選地,所述待測試PCB的厚度小于0. 5mm時,所述固定槽的深度為0. 5mm減去所 述待測試PCB的厚度。
[0011] 優選地,所述待測試PCB的厚度大于0. 5mm時,所述固定槽的深度為所述待測試 PCB的厚度減去0. 5mm。
[0012] 優選地,所述待測試PCB的厚度等于0. 5mm時,所述固定槽的深度為0. 05mm。
[0013] 第二方面,本實用新型實施例提供一種PCB飛針測試裝置,包括所述PCB飛針測試 固定裝置,用來固定所述待測試PCB。
[0014] 本實用新型實施例提供的一種PCB飛針測試固定裝置和PCB飛針測試裝置,通過 在固定板上開設固定待測試PCB的固定槽,在進行飛針測試之前,將所述待測試PCB固定在 固定槽中,使任意尺寸的PCB都可以進行飛針測試,突破了現有飛針測試臺對PCB尺寸的限 制;而將較薄以及尺寸較小的PCB固定在固定槽中進行飛針測試時,使較薄的PCB在飛針測 試時不易被損壞而影響使用功能,而且使尺寸較小的PCB的邊緣不會再被夾具夾持,從而 順利的完成飛針測試,使飛針測試的準確率大大提高;再者,使PCB制作廠商采用先測試后 成型的方法來對小尺寸PCB進行飛針測試時,避免了好壞混板情況的發生,能夠更好的控 制PCB的生產成本。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0015] 圖1表示本實用新型中PCB飛針測試固定裝置的實施例的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0016] PCB飛針測試固定裝置的實施例的結構示意圖如圖1所示,所示裝置包括:
[0017] 固定板2和開設在所述固定板一表面上的用于固定待測試PCB1的固定槽。
[0018] 通過在固定板上開設固定待測試PCB的固定槽,在進行飛針測試之前,將所述待 測試PCB固定在固定槽中,使任意尺寸的PCB都可以進行飛針測試,突破了現有飛針測試臺 對PCB尺寸的限制。
[0019] 所述PCB飛針測試固定裝置的尺寸規格如下:
[0020] 所述待測試PCB的厚度小于0. 5mm時,所述固定板的厚度為0. 5mm。
[0021] 所述待測試PCB的厚度大于等于0.5mm時,所述固定板的厚度等于所述待測試PCB 的厚度。
[0022] 所述待測試PCB的長小于等于75mm時,所述固定板的長為80mm。
[0023] 所述待測試PCB的邊長為大于75mm的A時,所述固定板的對應邊長為(A+10)mm。
[0024] 所述待測試PCB的厚度a小于0. 5mm時,所述固定槽的深度b為0. 5mm減去所述 待測試PCB的厚度a。
[0025] 所述待測試PCB的厚度a大于0. 5mm時,所述固定槽的深度b為所述待測試PCB 的厚度a減去0. 5mm。
[0026] 所述待測試PCB的厚度a等于0. 5mm時,所述固定槽的深度b為0. 05_。
[0027] 例如,待測試PCB的板厚為1. 0mm,尺寸為:75mm*75mm,相應的所述PCB飛針測試 固定裝置的固定板的厚度為1. 〇_,尺寸為:80mm*80mm ;所述固定槽的深度為0. 5_。
[0028] 通過上面的設置的所述PCB飛針測試固定裝置的尺寸,可將較薄以及尺寸較小的 PCB固定在固定槽中進行飛針測試,使較薄的PCB在飛針測試時不易被損壞而影響使用功 能,而且使尺寸較小的PCB的邊緣不會再被夾具夾持,從而順利的完成飛針測試,使飛針測 試的準確率大大提高;再者,使PCB制作廠商采用先測試后成型的方法來對小尺寸PCB進行 飛針測試時,避免了好壞混板情況的發生,能夠更好的控制PCB的生產成本。
[0029] 本實用新型實施例提供一種PCB飛針測試裝置,包括所述PCB飛針測試固定裝置, 用來固定所述待測試PCB。
[0030] 所述PCB飛針測試裝置的測試流程如下:
[0031] 將PCB飛針測試固定裝置固定在飛針機臺上;
[0032] 將待測試PCB嵌入所述PCB飛針測試固定裝置的固定槽中;
[0033] 對PCB進行飛針測試;
[0034] 在飛針測試完成后,將PCB從所述PCB飛針測試固定裝置的固定槽中取出。
[0035] 進一步地,所述PCB飛針測試固定裝置使用控深銑夾板流程制作。
[0036] PCB嵌入所述PCB飛針測試固定裝置的固定槽的"深度"遠遠小于被夾具夾住的板 邊的"深度",因而使PCB邊緣的待測孔,距離夾具更遠,所以在飛針測試時能避免飛針軸撞 到夾具的問題。
[0037] 通過以上的描述,本實用新型實施例提供的PCB飛針測試固定裝置和PCB飛針測 試裝置,通過在固定板上開設固定待測試PCB的固定槽,在進行飛針測試之前,將所述待測 試PCB固定在固定槽中,使任意尺寸的PCB都可以進行飛針測試,突破了現有飛針測試臺對 PCB尺寸的限制;而將較薄以及尺寸較小的PCB固定在固定槽中進行飛針測試時,使較薄的 PCB在飛針測試時不易被損壞而影響使用功能,而且使尺寸較小的PCB的邊緣不會再被夾 具夾持,從而順利的完成飛針測試,使飛針測試的準確率大大提高;再者,使PCB制作廠商 采用先測試后成型的方法來對小尺寸PCB進行飛針測試時,避免了好壞混板情況的發生, 能夠更好的控制PCB的生產成本。
[0038] 最后應說明的是:以上各實施例僅用以說明本實用新型的技術方案,而非對其限 制;盡管參照前述各實施例對本實用新型進行了詳細的說明,本領域的普通技術人員應當 理解:其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改,或者對其中部分或者全部 技術特征進行等同替換;而這些修改或者替換,并不使相應技術方案的本質脫離本實用新 型各實施例技術方案的范圍。
【權利要求】
1. 一種PCB飛針測試固定裝置,其特征在于,包括:固定板和開設在所述固定板一表面 上的用于固定待測試PCB的固定槽; 其中,所述待測試PCB的邊長小于等于75mm時,所述固定板的對應邊長為80mm。
2. 根據權利要求1所述的PCB飛針測試固定裝置,其特征在于, 所述待測試PCB的厚度小于0. 5mm時,所述固定板的厚度為0. 5mm。
3. 根據權利要求1所述的PCB飛針測試固定裝置,其特征在于, 所述待測試PCB的厚度大于等于0. 5mm時,所述固定板的厚度等于所述待測試PCB的 厚度。
4. 根據權利要求1所述的PCB飛針測試固定裝置,其特征在于, 所述待測試PCB的邊長為大于75mm的A時,所述固定板的對應邊長為(A+10)mm。
5. 根據權利要求1?4任一所述的PCB飛針測試固定裝置,其特征在于, 所述待測試PCB的厚度小于0. 5mm時,所述固定槽的深度為0. 5mm減去所述待測試PCB 的厚度。
6. 根據權利要求1?4任一所述的PCB飛針測試固定裝置,其特征在于, 所述待測試PCB的厚度大于0. 5mm時,所述固定槽的深度為所述待測試PCB的厚度減 去 0· 5mm〇
7. 根據權利要求1?4任一所述的PCB飛針測試固定裝置,其特征在于, 所述待測試PCB的厚度等于0. 5mm時,所述固定槽的深度為0. 05mm。
8. -種PCB飛針測試裝置,其特征在于,包括根據權利要求1?7任一所述PCB飛針測 試固定裝置,用來固定所述待測試PCB。
【文檔編號】G01R1/04GK203894258SQ201320645877
【公開日】2014年10月22日 申請日期:2013年10月18日 優先權日:2013年10月18日
【發明者】方志玲 申請人:北大方正集團有限公司, 重慶方正高密電子有限公司, 方正信息產業控股有限公司