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專利名稱：彎折測量裝置與導電板件彎折程度測量方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種測量裝置及測量方法,特別是一種彎折測量裝置與板件彎 折的測量方法。豕狡不現(xiàn)有技術在測量一板件彎折的彎折程度時，通常使用夾具加以測量。但是, 用夾具測量會有一定的極限，這時由于夾具很難清楚的讓眼睛分辨微小的尺 寸，許多微小尺寸的測量在大量生產(chǎn)時便無法快速執(zhí)行。所以，霈要有創(chuàng)新的 彎折測量裝置與板件彎折的測量方法來解決上述的問題。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于，提供一種彎折測量裝置與板件彎折的測量方法，以解 決現(xiàn)有夾具測量板件彎折程度時的問題。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提出了一種彎折測量裝置。該彎折測量裝置包 含以下組件一基座，具有一凹槽，且該凹槽具有一平坦側(cè)壁。 一第一導電塊、 —第二導電塊，設置于該凹槽周圍。第一導電塊具有一第一測量面，平行于該 平坦側(cè)壁。第二導電塊具有一第二測量面，平行于該平坦側(cè)壁。第一測量面比 第二測量面距離平坦側(cè)壁更近。一電源電性連接至第一導電塊與該第二導電 塊。一受測導電板件，具有一平坦區(qū)與一彎折區(qū)。 一發(fā)光源電性連接至電源與 受測導電板件。當受測導電板件以平坦區(qū)貼靠平坦側(cè)壁滑行經(jīng)過第一導電塊與 第二導電塊時，通過彎折區(qū)是否觸及第一測量面或第二測量面而使發(fā)光源發(fā) 亮，以判斷彎折區(qū)的彎折程度是否符合需求。本發(fā)明還提出了一種導電板件彎折程度的測量方法。提供一滑行平面。提 供一第一測量面、 一第二測量面，平行于滑行平面，且第一測量面比第二測量 面距離滑行平面更近。提供一電源，電性連接至第一測量面與第二測量面。提 供一發(fā)光源，電性連接至電源。使一受測導電板件以其平坦區(qū)貼靠滑行平面，并使其彎折區(qū)依序經(jīng)過第二測量面與第一測量面，其中，受測導電板件電性連 接至發(fā)光源。當受測導電板件滑行經(jīng)過第二測敏面而發(fā)光源未發(fā)亮，且受測導 電板件滑行經(jīng)過第一測量面而發(fā)光源發(fā)亮時,受測導電板件的彎折區(qū)的彎折程 度介于第一測量面與第二測量面之間。以下結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明進行沐細描述,但不作為對本發(fā)明的 限定。附圉說明

圖1為依照本發(fā)明一實施例的一種彎折測量裝置的俯視圖圖2為依照本發(fā)明--實施例的一種彎折測量裝覽的側(cè)視圖。其中，附圖標記100—彎折測量裝置IO卜基座102—凹槽102a—側(cè)壁104—導電塊馳一測量面106—導電塊106a—測量面108— 螺絲109— 螺絲110— 受測板件 110a—彎折區(qū) UOb—平坦區(qū) 112—電池 114一導線 U5—導線 115a—導電夾 116—導線 U8—發(fā)光源120—方向具體實施方式
本發(fā)明提供了一種彎折測量裝置與板件彎折的測ft方法，利用測狄裝置與 受測板件所形成的電器西路是否能使回路上的發(fā)光源發(fā)亮,從而判斷板件的彎 折程度是否符合霈求。請參照圖1與圖2，其分別為依照本發(fā)明一實施例的--種彎折測壁裝置的 俯視圖與側(cè)視圖。該彎折測量裝置IOO包含一基座101。基座101具有一凹槽 102。凹槽102的其中一平坦側(cè)壁102a作為受測板件110的滑行平面。導電塊 104與導電塊106設置在凹槽102的周圍且通過導線114電性連接至電源112 (如一電池)。導電塊104用嫘絲108鎖固于基座101,并同時闔定導線114。 導電塊106用蟝絲109鎖固于基座101,并fnj時闔定導線U4。導電塊104具 有一測量面！04a,平行于平坦側(cè)壁102a。導電塊！06具有一測罨面106a,平 行于平坦側(cè)壁102a。測量面104a距離平坦側(cè)嗜102a較近；測量面106a距離 平坦側(cè)壁102a較遠。當使用彎折測量裝置100測量受測導電板件UO時，受測導電板件110 以其平坦區(qū)貼靠平坦側(cè)壁沿方向120滑行,使受測導電板件UO的彎折區(qū)U0a 依序經(jīng)過導電塊106與導電塊104。測量面104a與測量面W6a作為彎折區(qū)UOa 的彎折程度的測量范圍。因此，測量面104a與測量面106a距離平坦側(cè)壁102a 的遠近可根據(jù)需測量的范圍作調(diào)整。當使用彎折測量裝置100測量受測導電板件110時，霈要一個電器回路。 該電器回路將發(fā)光源U8 (如一鑄絲燈泡或發(fā)光二極管)用導線116電性連接 至電源U2、用導線115與導電夾115a電性連接至受測導電板件110-當受測 導電板件U0觸及測量面104a或測量面106a時，該電器回路就形成通路，發(fā) 光源118就會發(fā)亮。反之，當受測導電板件U0未觸及測量面104a或測量面 106a時，該電器回路就形成斷路，發(fā)光源118不會發(fā)亮。使用者可通過發(fā)光 源118發(fā)亮與否，來判斷受測導電板件110是否觸及測量面104a或測暈面 106a。測量面m4a與測量面106a之間的距離約可縮小至0.3mm,此時仍可以 正確地通過發(fā)光源118發(fā)亮與否判斷受測導電板件110是否符合規(guī)格。因此， 彎折測量裝置100能夠判斷肉眼不容易判斷的距離。在本實施例中，受測導電板件IIO的彎折區(qū)UOa所霈的彎折程度介于測 量面104a與測量面106a之間。當受測導電板件110的沿方向120滑行經(jīng)過導 電塊106與導電塊104時，彎折區(qū)110a不會觸及測ft面106a,但會觸及測量 面104a。因而，合規(guī)格的受測導電板件110經(jīng)過導-電塊106時，發(fā)光源118 不會發(fā)亮，經(jīng)過導電塊104時，發(fā)光源U8會發(fā)亮。使用者只需觀察發(fā)光源 118是否符合上述的發(fā)亮條件，即可判斷受測導電板件110是否符合規(guī)格。此外，當不合格的受測導電板件U0經(jīng)過3電塊106與導電塊104時，發(fā) 亮情況就會與上述的發(fā)亮情況不同。當受測導電板件110的彎折區(qū)！ 10a的彎 折程度超過測量面106a時，受測導電板件110經(jīng)過導電塊106時，發(fā)光源118 就會發(fā)亮。另一方面，當受測導電板件110的彎折區(qū)的彎折程度不及于 測量面104a時，受測導電板件110經(jīng)過導電塊106與導電塊，04時，發(fā)光源 118均不會發(fā)亮。由上述本發(fā)明較佳實施例可知,應用本發(fā)明的彎折測量裝置與板件彎折的 測量方法,利用測量裝置與受測板件所形成的電器回路是否能使回路上的發(fā)光 源發(fā)亮，使用者可以輕松判斷板件的彎折程度是否符合規(guī)格，而不霈依賴肉眼 進行判斷。當然，本發(fā)明還可有其他多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情 況下，熟悉本領域的技術人員當可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應的改變和變形，但 這些相應的改變和變形都應屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護范圍。
權(quán)利要求
1、一種彎折測量裝置，其特征在于，至少包含一基座，具有一凹槽，且該凹槽具有一平坦側(cè)壁；一第一導電塊、一第二導電塊，均設置于該凹槽周圍，其中該第一導電塊具有一第一測量面，平行于該平坦側(cè)壁，該第二導電塊具有一第二測量面，平行于該平坦側(cè)壁，該第一測量面比該第二測量面距離該平坦側(cè)壁更近；一電源，電性連接至該第一導電塊與該第二導電塊；一受測導電板件，具有一平坦區(qū)與一彎折區(qū)；一發(fā)光源，電性連接至該電源與該受測導電板件，當該受測導電板件以該平坦區(qū)貼靠該平坦側(cè)壁滑行經(jīng)過該第一導電塊與該第二導電塊時，通過該彎折區(qū)是否觸及該第一測量面或該第二測量面而使該發(fā)光源發(fā)亮，以判斷該彎折區(qū)的彎折程度是否符合需求。
2、 如權(quán)利要求1所述的彎折測量裝置，其特征在于，該電源為-*電池。
3、 如權(quán)利要求1所述的彎折測量裝置，其特征在于，該發(fā)光源為---鑄絲 燈泡或發(fā)光二極管。
4、 如權(quán)利要求1所述的彎折測量裝置，其特征在于，還包含一蠊絲，用 以鎖固該第一導電塊于該基座上。
5、 如權(quán)利要求1所述的彎折測量裝置，其特征在于，還包含一蠊絲，用 以鎖固該第二導電塊于該基座上。
6、 一種導電板件彎折程度測量方法，其特征在于，至少包含 提供一滑行平面；提供一第一測量面、一第二測量面，均平行于該滑行平面，該第一導電測 量面比該第二導電測量面距離該滑行平面更近；提供一電源，電性連接至該第一導電測量面與該第二導電測量面； 提供一發(fā)光源，電性連接至該電源；使一受測導電板件以其平坦區(qū)貼靠該滑行平面，并使其彎折區(qū)依序經(jīng)過該 第二測量面與該第一測量面，該受測導電板件電性連接至該發(fā)光源；當該受測導電板件滑行經(jīng)過該第二測量面而該發(fā)光源未發(fā)亮，且該受測導 電板件滑行經(jīng)過該第一測量面而該發(fā)光源發(fā)亮時,該受測導電板件的彎折區(qū)的彎折程度介于該第一測量面與該第二測量面之間。
7、 如權(quán)利要求6所述的導電板件彎折程度測量方法，其特征在于，該電 源為一電池。
8、 如權(quán)利要求6所述的導電板件彎折程度測量方法，其特征在于，該發(fā) 光源為一鎢絲燈泡或發(fā)光二極管。
9、 如權(quán)利要求6所述的導電板件彎折程度測量方法，其特征在于，當該 受測導電板件滑行經(jīng)過該第二測量面而該發(fā)光源發(fā)亮時,該受測導電板件的彎 折區(qū)的彎折程度超過該第二測量面。
10、 如權(quán)利要求6所述的導電板件彎折程度測量方法，其特征在干，當該 受測導電板件滑行經(jīng)過該第二測量面與該第一測量面而該發(fā)光源均未發(fā)亮時， 該受測導電板件的彎折區(qū)的彎折程度不及于該第一測量面。
全文摘要
一種彎折測量裝置，包括一基座，具有一平坦側(cè)壁。第一導電塊，具有一第一測量面，平行于該平坦側(cè)壁。第二導電塊，具有一第二測量面，平行于該平坦側(cè)壁。第一測量面比第二測量面距離平坦側(cè)壁更近。一電源，電性連接至第一導電塊與第二導電塊。一受測導電板件，具有一平坦區(qū)與一彎折區(qū)。發(fā)光源，電性連接至電源與受測導電板件。當受測導電板件以平坦區(qū)貼靠平坦側(cè)壁滑行經(jīng)過第一導電塊與第二導電塊時，通過彎折區(qū)是否觸及第一測量面或第二測量面而使發(fā)光源發(fā)亮，以判斷彎折區(qū)的彎折程度是否符合需求。
文檔編號G01B7/00GK101324419SQ20071011086
公開日2008年12月17日 申請日期2007年6月12日 優(yōu)先權(quán)日2007年6月12日
發(fā)明者蔡宗彬, 黃惟孝 申請人:英業(yè)達股份有限公司