專利名稱:半導體三極管參數(shù)測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實用新型涉及一種半導體三極管參數(shù)測試儀。
背景技術(shù):
在電學實驗的過程中,常常需要對三極管的參數(shù)進行測試。對三極管的測試中,涉及到基極和集電極的電壓測量、反向擊穿電壓測量、反向包和電流測量等參數(shù)的測試過程。三極管發(fā)射極開路,集電結(jié)反向偏置(Uc>Ub),這時,流過集電結(jié)的電流是少子的反向電流,稱為反向飽和電流。實質(zhì)上,就是PN結(jié)的反向飽和電流。由于反向飽和電流極小,測量中容易產(chǎn)生較大的誤差。在現(xiàn)有技術(shù)中,常常采用數(shù)字式萬用表、示波器等設(shè)備手動對三極管進行測試,存在有測試精度低、測量步驟復雜等問題。
實用新型內(nèi)容本實用新型是為避免上述已有技術(shù)中存在的不足之處,提供一種半導體三極管參數(shù)測試儀,以提高三極管的參數(shù)測量精度。本實用新型為解決技術(shù)問題采用以下技術(shù)方案。半導體三極管參數(shù)測試儀,其結(jié)構(gòu)特點是,包括測試電路、采樣電路、單片機和顯示裝置;所述測試電路與被測三極管和采樣電路相連接,用于測試三極管的各種參數(shù)并將所得的參數(shù)值傳送給采樣電路;采樣電路與單片機相連接,用于獲取測試電路所測得的參數(shù)值,并對參數(shù)值進行采樣處理后傳送給單片機;單片機上還連接有所述顯示裝置,所述顯示裝置用于顯示單片機所傳送的三極管參數(shù)。本實用新型的半導體三極管參數(shù)測試儀還具有以下技術(shù)特點。所述顯示裝置為液晶顯示器。所述測試電路包括三極管基極和集電極電壓測量單元、反向擊穿電壓測量單元和反向飽和電流測量單元。與已有技術(shù)相比,本實用新型有益效果體現(xiàn)在:本發(fā)明的半導體三極管參數(shù)測試儀,通過測試電路獲取三極管的各種參數(shù),由采用電路對測試電路獲得的參數(shù)進行信號采樣,采樣后的信號送至單片機處理和計算,然后將獲得的參數(shù)交由顯示裝置顯示,測量簡單快速,顯示直觀,可自動測量,智能化水平高,能精確測量三極管交直流放大系數(shù)、集電極一發(fā)射極反向擊穿電壓和反向飽和電流。系統(tǒng)所用高壓通過倍壓電路獲得。單片機根據(jù)采集所得數(shù)據(jù)進行處理,并通過液晶對各項參數(shù)進行顯示。本實用新型的半導體三極管參數(shù)測試儀,具有可測量精度高、測量方法簡單、智能化程度高等優(yōu)點。
圖1為本實用新型的半導體三極管參數(shù)測試儀的結(jié)構(gòu)框圖。[0013]以下通過具體實施方式
,并結(jié)合附圖對本實用新型作進一步說明。
具體實施方式
參見圖1,半導體三極管參數(shù)測試儀,包括測試電路、采樣電路、單片機和顯示裝置;所述測試電路與被測三極管和采樣電路相連接,用于測試三極管的各種參數(shù)并將所得的參數(shù)值傳送給采樣電路;采樣電路與單片機相連接,用于獲取測試電路所測得的參數(shù)值,并對參數(shù)值進行采樣處理后傳送給單片機;單片機上還連接有所述顯示裝置,所述顯示裝置用于顯示單片機所傳送的三極管參數(shù)。所述顯示裝置為液晶顯示器。所述測試電路包括三極管基極和集電極電壓測量單元、反向擊穿電壓測量單元和反向飽和電流測量單元。本發(fā)明的半導體三極管參數(shù)測試儀,通過測試電路的三極管基極和集電極電壓測量單元對三極管的基極電壓和集電極電壓進行測量,通過反向擊穿電壓測量單元測量三極管的反向擊穿電壓,通過反向飽和電流測量單元獲取三極管的反向包和電流,這些測量單元獲得三極管的參數(shù)后將參數(shù)傳送給采樣電路,由采樣電路采集這些參數(shù),并將這些參數(shù)一一發(fā)送給單片機,由單片機對這些參數(shù)進行處理和計算,從而獲得三極管的其他參數(shù)和特性,如放大系數(shù)、輸入輸出特性曲線等。顯示裝置主要是用來顯示電壓數(shù)值。采用智能型顯示模塊,它具有體積小、功耗低、顯示內(nèi)容豐富、超薄輕巧等優(yōu)點,在袖珍式儀表和低功耗應(yīng)用系統(tǒng)中得到廣泛的應(yīng)用。目前字符型液晶顯示模塊已經(jīng)是單片機應(yīng)用設(shè)計中最常用的信息顯示器件。本設(shè)計中采用的IXD1602液晶顯示器可以顯示兩行,每行16個字符,采用單+5V電源供電,外圍電路配置簡單,價格便宜,具有很高的性價比,且與單片機接口方便。本發(fā)明的半導體三極管參數(shù)測試儀,能精確測量三極管交直流放大系數(shù)、集電極一發(fā)射極反向擊穿電壓和反向飽和電流。系統(tǒng)所用高壓通過倍壓電路獲得。單片機根據(jù)采集所得數(shù)據(jù)進行處理,并通過液晶對各項參數(shù)進行顯示。
權(quán)利要求1.半導體三極管參數(shù)測試儀,其特征是,包括測試電路、采樣電路、單片機和顯示裝置;所述測試電路與被測三極管和采樣電路相連接,用于測試三極管的各種參數(shù)并將所得的參數(shù)值傳送給采樣電路;采樣電路與單片機相連接,用于獲取測試電路所測得的參數(shù)值,并對參數(shù)值進行采樣處理后傳送給單片機;單片機上還連接有所述顯示裝置,所述顯示裝置用于顯示單片機所傳送的三極管參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體三極管參數(shù)測試儀,其特征是,所述顯示裝置為液晶顯示器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體三極管參數(shù)測試儀,其特征是,所述測試電路包括三極管基極和集電極電壓測量單元、反向擊穿電壓測量單元和反向飽和電流測量單元。
專利摘要本實用新型公開了一種半導體三極管參數(shù)測試儀,包括測試電路、采樣電路、單片機和顯示裝置;所述測試電路與被測三極管和采樣電路相連接,用于測試三極管的各種參數(shù)并將所得的參數(shù)值傳送給采樣電路;采樣電路與單片機相連接,用于獲取測試電路所測得的參數(shù)值,并對參數(shù)值進行采樣處理后傳送給單片機;單片機上還連接有所述顯示裝置,所述顯示裝置用于顯示單片機所傳送的三極管參數(shù)。本實用新型的半導體三極管參數(shù)測試儀,具有可測量精度高、測量方法簡單、智能化程度高等優(yōu)點。
文檔編號G01R31/26GK203069744SQ20132009764
公開日2013年7月17日 申請日期2013年3月4日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月4日
發(fā)明者丁健, 汪俊, 張錦 申請人:滁州學院