一種缺陷模擬比對試塊的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種缺陷模擬比對試塊,所述的試塊為鋼制長方體,試塊頂面的右半部分為檢測面,在試塊底面的左半部分開設有朝著檢測面方向傾斜的缺陷槽,所述的缺陷槽相對于試塊底面傾斜的角度為30度,缺陷槽的橫截面為圓形,缺陷槽的槽底為受檢面,所述的受檢面為內凹的球面。本實用新型由于采用了上述技術方案,可以讓超聲波檢測人員在更短時間里積累足夠的實踐經驗,成為一名成熟的檢測人員,便于檢測人員快速掌握判斷鋼鍛件、鋼板或焊縫內的氣孔、夾渣等體積型自然缺陷的位置、形狀、尺寸的方法和估判缺陷類型的能力,大大提高了人才培養的效率。
【專利說明】一種缺陷模擬比對試塊
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及超聲波檢測【技術領域】,特別涉及一種超聲波檢測用缺陷模擬比對試塊。
【背景技術】
[0002]A型脈沖反射式超聲波檢測是一種重要而且常用無損檢測方法,相對于其他常用的無損檢測方法,A型脈沖反射式超聲波檢測對個人的技能素質要求最高,檢測的結果受到個人的技能水平影響最大,同時最難培養的也是合格的A型脈沖反射式超聲波檢測人員。
[0003]A型脈沖反射式超聲波在實際檢測在實際操作過程中,需要對工件的檢測和結論的評定同步完成,這就需要檢測人員具備相當的經驗。在實際A型脈沖反射式超聲波檢測工作中,操作人員經驗的豐富與否決定著檢測質量的高低。A型脈沖反射式超聲波檢測經驗的積累主要是對工件的類型、材質、形狀及工件中可能的缺陷(裂紋、夾渣、氣孔等)引起的超聲波回波感性認識的積累。而這種感性認識,在實際工作中,很難有機會系統的高頻率的接觸到,從而需要漫長的時間對這種感性認識進行積累和加深以提高經驗。
[0004]目前超聲波檢測比對試塊的研究主要是缺陷尺寸當量比對的研究,如專利號為“201120223298.4”的一種超聲波檢測比對試塊。該專利所述試塊為鋼質長方體,在試塊底部等間距鉆有至少5個不同深度的平底孔,平底孔深度由一側向另一側采取規則的梯次排列。當超聲波檢測儀探頭接觸到試塊上某個平底孔后,屏幕上就會顯示出該孔位置的缺陷當量和深度,用此法反映的數據與要測量缺陷的情況比較,就可準確了解檢測元件的缺陷具體深度和缺陷當量。但這類比對試塊無法讓檢測人員對缺陷的典型回波曲線和動態波形包絡線有一個感性的認識。
[0005]另外有些單位搜集報廢構件上的自然缺陷加工成試塊進行研究,但這種情況下試塊內的缺陷位置、形狀、尺寸、類型都很難預先知道,且缺陷搜集難度也很大。
實用新型內容
[0006]本實用新型克服了上述現有技術中存在的不足,提供了一種超聲波檢測用缺陷模擬比對試塊,此試塊可方便于實驗室內研究模擬鋼鍛件、鋼板或焊縫內的氣孔、夾渣等體積型自然缺陷的回波靜態和動態曲波特征,便于檢測人員快速掌握判斷此類工件內缺陷位置、形狀、尺寸的方法和估判缺陷類型的能力,使人才培養的效率大幅提高。
[0007]本實用新型的技術方案是這樣實現的:
[0008]一種缺陷模擬比對試塊,所述的試塊為鋼制長方體,試塊頂面的右半部分為檢測面,在試塊底面的左半部分開設有朝著檢測面方向傾斜的缺陷槽,所述的缺陷槽相對于試塊底面傾斜的角度為30度,缺陷槽的橫截面為圓形,缺陷槽的槽底為受檢面,所述的受檢面為內凹的球面。
[0009]缺陷槽相對于試塊底面傾斜的角度為30度,30度的傾角設計對于目前常用縱波傾斜入射超聲波探頭的入射角度來說可以避免由于缺陷槽的槽壁等非研究界面帶來的大量的草狀雜波。
[0010]采用了上述技術方案的本實用新型的原理及有益效果是:
[0011]本實用新型由于采用了上述技術方案,可以讓超聲波檢測人員在更短時間里積累足夠的實踐經驗,成為一名成熟的檢測人員,便于檢測人員快速掌握判斷鋼鍛件、鋼板或焊縫內的氣孔、夾渣等體積型自然缺陷的位置、形狀、尺寸的方法和估判缺陷類型的能力,大大提高了人才培養的效率;缺陷槽傾斜的角度為30度的設計既可以使試塊的加工制作工藝標準化,又可以使人工槽被檢測面位于有利于實施檢測的方位。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0012]圖1為實施例中本實用新型的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0013]本實用新型的【具體實施方式】如下:
[0014]實施例:一種缺陷模擬比對試塊,如圖1所示,所述的試塊I為鋼制長方體,試塊I頂面的右半部分為檢測面2,超聲波探頭8在檢測面2上移動,在試塊底面4的左半部分開設有朝著檢測面2方向傾斜的缺陷槽3,所述的缺陷槽3相對于試塊底面4傾斜的角度為30度。
[0015]缺陷槽3的橫截面為圓形,缺陷槽3的槽底5為受檢面,所述的受檢面為內凹的球面。
[0016]本實施例主要模擬鋼鍛件、鋼板或焊縫內的氣孔、夾渣等體積型自然缺陷,缺陷槽受檢面的直徑可以根據要求選擇。經超聲檢測回波曲線特征分析,其檢測回波靜態曲線與動態曲線與同類自然缺陷回波特征完全相同。
【權利要求】
1.一種缺陷模擬比對試塊,所述的試塊為鋼制長方體,其特征是:試塊頂面的右半部分為檢測面,在試塊底面的左半部分開設有朝著檢測面方向傾斜的缺陷槽,所述的缺陷槽相對于試塊底面傾斜的角度為30度,缺陷槽的橫截面為圓形,缺陷槽的槽底為受檢面,所述的受檢面為內凹的球面。
【文檔編號】G01N29/30GK203422354SQ201320431127
【公開日】2014年2月5日 申請日期:2013年7月17日 優先權日:2013年7月17日
【發明者】李述亭, 安發順 申請人:浙江方圓金屬材料檢測有限公司