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專利名稱：一種電芯測厚夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電芯測試夾具，尤其是電芯厚度測試夾具。
背景技術(shù)：
在電池電芯的加工過程中，為了滿足客戶用電器的尺寸需要，通常需要對電芯進 行厚度測試。現(xiàn)有的電芯厚度測試是用游標(biāo)卡尺測量，不足之處是 1、人為因素不同的人使用游標(biāo)卡尺的力度不一樣，同一個人每次測量的力度也 不一樣； 2、游標(biāo)卡尺測量電芯是線不是面，而工藝要求是電芯整體厚度是電芯的整體面。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于解決上述缺陷，而提供一種使用方便的電芯測厚夾具。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案 它包括一斜坡平臺，所述斜坡平臺上設(shè)有一電芯下滑通道，在電芯下滑通道的中 下部設(shè)置一離斜面一定高度的擋條，所述擋條的高度與電芯合格高度相等，通過電芯自由 下滑時能否通過該擋條與斜坡之間的間隙判斷電芯厚度是否合格。 優(yōu)選地，所述電芯下滑通道兩側(cè)設(shè)有防止電芯下滑過程中發(fā)生偏移的電芯限位 塊。 由于采用了上述結(jié)構(gòu)，在電芯厚度測試時先將擋條調(diào)整至標(biāo)準(zhǔn)高度，通過電芯自 由下落時能否通過該擋條與斜坡之間的間隙判斷電芯厚度是否合格，如果能通過，則說明 電芯合格，如果電芯被擋條擋住，則表明電芯厚度超過標(biāo)準(zhǔn)厚度。


圖1是本發(fā)明實施例的結(jié)構(gòu)示意圖； 本發(fā)明目的、功能及優(yōu)點將結(jié)合實施例，參照附圖做進一步說明。
具體實施例方式
如圖1所示，它包括包含一斜坡11的斜坡平臺l，所述斜坡平臺1上設(shè)有一電芯下 滑通道2，在電芯下滑通道2的中下部設(shè)置一離斜面一定高度的擋條3，所述擋條3的高度 與電芯合格高度相等，通過電芯4自由下滑時能否通過該擋條3與斜坡11之間的間隙判斷 電芯厚度是否合格。 為了防止電芯下滑過程中發(fā)生偏移，所述電芯下滑通道2兩側(cè)設(shè)有電芯限位塊5，
電芯要發(fā)生偏移時碰到電芯下掛限位塊5擋住，保持在電芯下滑通道2內(nèi)滑行。 以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用
本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)
的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
電芯測厚夾具，其特征在于一種它包括一斜坡平臺，所述斜坡平臺上設(shè)有一電芯下滑通道，在電芯下滑通道的中下部設(shè)置一離斜面一定高度的擋條，所述擋條的高度與電芯合格高度相等，通過電芯自由下滑時能否通過該擋條與斜坡之間的間隙判斷電芯厚度是否合格。
2. 如權(quán)利要求1所述的電芯測厚夾具，其特征在于所述電芯下滑通道兩側(cè)設(shè)有防止 電芯下滑過程中發(fā)生偏移的電芯限位塊。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種電芯測試夾具，尤其是電芯厚度測試夾具。一種它包括一斜坡平臺，所述斜坡平臺上設(shè)有一電芯下滑通道，在電芯下滑通道的中下部設(shè)置一離斜面一定高度的擋條，所述擋條的高度與電芯合格高度相等，通過電芯自由下滑時能否通過該擋條與斜坡之間的間隙判斷電芯厚度是否合格。在電芯厚度測試時先將擋條調(diào)整至標(biāo)準(zhǔn)高度，通過電芯自由下落時能否通過該擋條與斜坡之間的間隙判斷電芯厚度是否合格，如果能通過，則說明電芯合格，如果電芯被擋條擋住，則表明電芯厚度超過標(biāo)準(zhǔn)厚度。
文檔編號G01B5/06GK101706241SQ20091004173
公開日2010年5月12日 申請日期2009年8月7日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月7日
發(fā)明者孔洪強, 李紅競, 陳興榮 申請人:深圳市海太陽實業(yè)有限公司