專利名稱：總場磁力儀測量巖、礦石標本磁參數的平測方法及其裝置的制作方法
技術領域：
本發明屬于地球物理磁法勘查巖、礦石標本磁參數領域，特別涉及一種利用總場磁力儀測量巖、礦石標本磁參數的平測方法及其裝置。
背景技術：
自從我國的地面磁測儀器由自由質子磁力儀替代傳統機械磁稱后，地面磁法勘查的精度得到大幅度的提高。因為質子磁力儀測量的是地磁總場(T)的值，所以用它測定巖 (礦石)標本磁參數的裝置與計算公式也做了相應的改變，在名為《地面高精度磁測技術規范》的附錄C中給出了測量磁參數的計算公式高斯第二位置磁化率
權利要求
1.一種總場磁力儀測量巖、礦石標本磁參數的平測裝置，該裝置包括總場磁力儀 (21)、標本盒(22)、平板(23)和平板架(24)，所述標本盒(22)中裝有巖石標本或礦石標本，所述總場磁力儀(21)包括上探頭(27)、下探頭(25)和探頭支架(26)，其特征在于所述平板(23)通過平板架(24)進行支撐并置于平穩的正常地磁場中，并使位于平板上的與平板長軸相垂直的垂線對準磁北，所述總場磁力儀(21)放置于平板(23)長軸的一側，所述平板(23)上設有滑槽，將內置有標本的標本盒(22)放在平板(23)的滑槽上進行滑動，保持所述總場磁力儀的下探頭(25)中心與標本盒(22)中心等高。
2.如權利要求1所述的總場磁力儀測量巖、礦石標本磁參數的平測裝置，其特征在于 所述總場磁力儀(21)放置于平板長軸中線的西側或東側，且與平板之間留有l_2mm的間距。
3.如權利要求1或2所述的總場磁力儀測量巖、礦石標本磁參數的平測裝置，其特征在于所述標本裝在立方體標本盒(22)內，且標本盒(22)的六個盒面分別用數字1-6標記。
4.一種總場磁力儀測量巖、礦石標本磁參數的平測方法，其特征在于該方法采用的裝置包括具有上、下探頭(27、25)的總場磁力儀(21)、內置有標本的標本盒(22)和通過平板架(24)進行支撐的平板(23)，包括如下步驟A)選擇平穩的地磁正常場，將平板架(24)安置牢固，采用羅盤將平板(23)調平，并使位于平板上的與平板長軸相垂直的垂線對準磁北，將總場磁力儀(21)安放在平板(23)的一側，使總場磁力儀與平板之間留有間距，令總場磁力儀的下探頭(25)中心與標本盒(22) 中心等高，以構成高斯第二位置進行測量；B)由總場磁力儀讀出正常地磁總場Ttl，將內置有標本的標本盒置于平板的滑槽內，滑動標本盒，使總場磁力儀的讀數明顯偏離正常地磁場值Ttl，測量標本盒(22)中心與總場磁力儀的下探頭(25)中心間的距離R ；C)保持標本盒的一面朝上，水平旋轉標本盒(22)，依次使標本盒的四個側面朝南，并通過總場磁力儀分別測得標本所處四方位的4個磁場值；上下倒置標本盒，使其另一面朝上，再次通過總場磁力儀分別測得標本所處四方位的4個磁場值，直至總場磁力儀分別測得標本盒的六面分別朝上且四個側面依次朝南時的24個磁場值為止，通過Tij分別記錄這 24個磁場值；D)測量標本盒(22)的體積V；E)將步驟A中測得的Ttl，步驟B中測得的R，步驟D中測得的V以及步驟C中測得的24 個磁場值分別代入下式得出標本的磁化率K和剩余磁化強度Mr 通過下式(1)得出磁化率K:
5.如權利要求4所述的總場磁力儀測量巖、礦石標本磁參數的平測方法，其特征在于 所述總場磁力儀(21)放置于平板長軸中線的西側或東側，且與平板之間留有l_2mm的間距。
6.如權利要求4或5所述的總場磁力儀測量巖、礦石標本磁參數的平測方法，其特征在于所述標本裝在立方體標本盒(22)內，且標本盒(22)的六個盒面分別用數字1-6標記。
全文摘要
本發明涉及一種總場磁力儀測量巖、礦石標本磁參數的平測方法及其裝置，其采用的平測標本裝置包括總場磁力儀、內置有標本的標本盒、平板和平板架，總場磁力儀包括探頭和探頭支架，將總場磁力儀測得參數代入下式，得到標本磁參數一磁化率K和剩余磁化強度Mr我國《地面高精度磁測技術規程》附錄C中給出了總場磁力儀測量巖、礦石標本磁參數的裝置是斜測裝置。本發明將斜測改為平測，平測裝置不僅可以免去斜測因調斜不準產生的誤差，而且，巖、礦石標本在斜面上不斷翻轉震動會產生傾斜位移，帶來距離偏差的最大誤差。本發明的平測方法及裝置簡單牢靠，可提高巖、礦石標本磁參數測量的精度。
文檔編號G01R33/12GK102221680SQ20111008326
公開日2011年10月19日 申請日期2011年4月2日 優先權日2011年4月2日
發明者徐立忠, 王慶乙, 蔣彬 申請人:中色地科礦產勘查股份有限公司
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