專利名稱：錯誤覆蓋分析法的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種測試方法，特別是涉及有關一種錯誤覆蓋分析方法。
背景技術：
在集成電路或芯片的制造過程中，不管是在哪一個階段的工藝，對集成 電路或芯片進行電性的測試都是必須的。每一個集成電路不管是在晶片的型 態或是構裝的型態，都必須加以測試以確定其是否為合格品以及確定其電性 特性。隨著集成電路的產量不斷地提高，集成電路的功能亦日趨強大，并且 其結構也日趨復雜，因此高速且精確的測試需求就更加地迫切。
圖1示出了已知錯誤覆蓋分析方法流程示意圖。已知決定測試模塊的方 法，是分別評估每一測試項目的適用性。如圖1所示，當選定評估測試項目
2的適用性時，則依序進4于測試項目1、測試項目3、測試項目4至測試項目 N之后，再進行待評估的測試項目100,亦即此例中的測試項目2的操作。 當進行此測試項目2的操作時，并無異常測試結果，則判定測試項目2的測 試涵蓋范圍已經被其它進行過的測試項目所涵蓋。因而確定此測試項目2對 于此產品的測試并無利用價值。
然而，當依產品的測試項目多且繁雜時，上述已知的分析方法必須重復 操作多次才能一一找出多余的測試項目。由于進行每一次測試操作都必須耗 費許多時間，如此的分析方法必將導致評估測試項目以統合產生一測試模塊 所需的時間的拉長。
發明內容
本發明的目的是提供一種錯誤覆蓋分析方法，以降低決定測試模塊所需 的時間。
本發明的再一目的是提供一種錯誤覆蓋分析方法，以提高測試品質。 本發明提出一種錯誤覆蓋分析方法，適用于分析一產品的多個晶片測試 項目，以決定該產品的一測試模塊。此方法包括依序對該產品的多個測試標的物進4亍所述晶片測試項目，其中，4艮據每一測試項目產生相對應的一測 試涵蓋范圍。于一數據庫中，根據所述晶片測試項目相對應儲存所述測試涵 蓋范圍。根據該數據庫中的每一所述晶片測試項目的相對應所述測試涵蓋范 圍，選擇部4分所述晶片測試項目組成一測試才莫塊，其中該測試才莫塊的 一錯-誤 覆蓋范圍是組成該測試模塊的部份所述晶片測試項目的相對應所述測試涵 蓋范圍的一聯集。
依照本發明的較佳實施例所述的錯誤覆蓋分析方法，其中每一所述測試 涵蓋范圍包括至少所述測試標的物的其中之一 。
依照本發明的較佳實施例所述的錯誤覆蓋分析方法，其中該錯誤覆蓋范 圍包括所有所述測試標的物。
依照本發明的較佳實施例所述的錯誤覆蓋分析方法，其中至少所述測試 涵蓋范圍其中之二彼此互相重迭。
依照本發明的較佳實施例所述的錯誤覆蓋分析方法，其中組成該測試模 塊的部份所述晶片測試項目的數量，不大于原本所述測試項目的總數量。
依照本發明的較佳實施例所述的錯誤覆蓋分析方法，其中決定組成該測 試模塊的部份所述測試項目的參考因子還包括一后段工藝的一錯誤回饋報 告。
依照本發明的較佳實施例所述的錯誤覆蓋分析方法，其中該錯誤回饋報 告至少相對應于所述晶片測試項目其中之一。
本發明還提供一種錯誤覆蓋分析方法，適用于一產品，其中該產品具有
多個測試標的物。此方法包括提供多個測試項目。以每一所述測試項目分 別測試該產品，并相對應產生一測試涵蓋范圍，其中該測試涵蓋范圍至少包 括所述測試標的物其中之一。根據所述測試涵蓋范圍，建立一錯誤覆蓋數據 庫，其中對于每一所述測試項目，紀錄該測試項目可有效測試的所述測試標 的物，而所述有效測試的測試標的物組成該測試涵蓋范圍。分析該錯誤覆蓋 數據庫以決定一測試模塊，其中該測試模塊包括部份所述測試項目，且該測
試模塊的一錯誤覆蓋范圍包括所有所述測試標的物。根據一后段工藝的一錯 誤回饋報告，調整該測試模塊中的所述測試項目的組合。
依照本發明的較佳實施例所述的錯誤覆蓋分析方法，其中每一所述測試 涵蓋范圍包括至少所述測試標的物的其中之一。
依照本發明的較佳實施例所述的錯誤覆蓋分析方法，其中該錯誤覆蓋范圍為組成該測試才莫塊的部^P分所述測試項目的所述測試涵蓋范圍的聯集。
依照本發明的較佳實施例所述的錯誤覆蓋分析方法，其中至少所述測試 涵蓋范圍其中之二彼此互相重迭。
依照本發明的較佳實施例所述的錯誤覆蓋分析方法，其中組成該測試模 塊的部份所述晶片測試項目的數量，不大于原本所述測試項目的總數量。
依照本發明的較佳實施例所述的錯誤覆蓋分析方法，其中該錯誤回饋報 告至少相對應于所述晶片測試項目其中之一 。
本發明的錯誤覆蓋分析方法，可以對單一產品建立一錯誤覆蓋數據庫， 并由此錯誤覆蓋數據庫中剔除不適用或是多余的測試項目而決定一測試模 塊，而此測試模塊還可以依照日后后段工藝的錯誤回饋報告加以修改或是加 入其它未選入的測試項目。因此本發明的錯誤覆蓋分析方法無需一再重復進 行產品的測試以刪選出不適用的測試項目，而可以節省測試模塊產生所需的 時間，并且縮短產品的測試時間，甚至提高產能。
為使本發明的上述和其它目的、特征和優點能更明顯易懂，下文特舉較 佳實施例，并結合附圖詳細說明如下。
圖1示出了已知錯誤覆蓋分析方法流程示意圖。
圖2示出了根據本發明一較佳實施例的一種錯誤覆蓋分析方法流程圖。 圖3示出了根據本發明一較佳實施例的一種錯誤覆蓋分析方法示意圖。
附圖符號說明
100:待評估的測試項目 S201 S211:錯誤覆蓋分析流程步驟 S301:提供測試項目 S303:進行測試 304:測試結果訊息 306:數據庫
具體實施例方式
圖2示出了根據本發明一較佳實施例的一種錯誤覆蓋分析方法流程圖。
圖3示出了根據本發明一較佳實施例的一種^"誤覆蓋分析方法示意圖。請參
照圖2,首先于步驟S201中，提供一產品，且此產品具有數個待測試標的 物，例如M個待測試標的物。之后，于步驟S203中，錯誤覆蓋分析方法提 供數個測試項目，例如是N個晶片測試項目。接著，于步驟S205中，對于 產品依序進4于N個測試項目的測試。之后，于步驟S207中，對于每一測試 項目產生一相對應的測試結果訊息。
也就是如圖3所示，提供N個測試項目(步驟S301)，對于產品進行N 個測試項目的測試(步驟S303),而對于每一個測試項目，分別獲得相對應的 一個測試結果訊息304,此測試結果訊息包含一測試涵蓋范圍。此測試涵蓋 范圍紀錄相對應的測試項目可有效測試的測試標的物。也就是可被此測試項 目有效測試出結果的測試標的物組成此測試項目的測試涵蓋范圍。
之后請同時參照圖2與圖3，于步驟S209中，建立一數據庫(如圖3中 的306)，用來儲存每一測試項目與其相對應的測試涵蓋范圍。例如圖3的數 據庫306中，相對于每一測試項目，列出產品的每一測試標的物對于此測試 項目的反應，亦即此測試項目是否可以有效測試產品的測試標的物。如測試 項目1，對于測試標的物8而言，其測試結果標示為O,表示測試項目l可 以有效測試測試標的物8。相反的，對于測試標的物13而言，其測試結果標 示為X，表示測試項目1無法有效測試測試標的物13。
因此，對于每一個測試項目，此數據庫306將清楚呈現一個晶片測試的 有效測試涵蓋范圍。此有效測試涵蓋范圍包括至少一個測試標的物。也就是 倘若此測試項目并未包含任一測試標的物，則此測試項目對于此產品的測試 并無任何應用價值。此外，每個測試項目的測試涵蓋范圍彼此互相部分重迭。
接著，于步驟S211中，分析數據庫306中所儲存的每一測試項目的相 對應測試涵蓋范圍，以決定產品的一測試模塊。也就是，此測試模塊是由數 個測試項目所組成，且測試模塊的錯誤覆蓋范圍是組成此測試模塊的測試項 目的相對應測試涵蓋范圍的一聯集。此外，組成測試模塊的測試項目的數量 不大于所有測試項目的總量，亦即是N。另外，測試模塊的錯誤覆蓋范圍包 括所有測試標的物。也就是，此測試模塊可以有效的測試產品的所有測試標 的物。
換句話說，在決定測試模塊時，可以剔除具有較小測試涵蓋范圍且測試 涵蓋范圍被其它測試項目的測試涵蓋范圍嚢括的測試項目，因此可以有效減少測試才莫塊中產品的測試項目數量。在不影響測試品質的前提下，降低產品 的測試時間。
上述測試模塊是由產品的測試項目中，經由分析數據庫中的測試范圍而 決定。然而，當晶片工藝階段完成測試步驟之后，進入后段工藝，例如封裝 工藝等，在后段工藝之后也會進行一后段工藝測試步驟，于此后段工藝步驟 將有可能測出在晶片測試階段未發現的錯誤，因此后段工藝測試步驟將產生 一錯誤回饋報告，根據此錯誤回饋報告，可重新調整晶片測試模塊的測試項 目組合。也就是錯誤回饋報告還包括需額外加入測試模塊的測試項目。
綜上所述，利用本發明的錯誤覆蓋分析方法，可以對單一產品建立一錯 誤覆蓋數據庫，并由此錯誤覆蓋數據庫中剔除不適用的測試項目而決定一測 試模塊，而此測試模塊還可以依照日后后段工藝的錯誤回饋報告加以修改或 是加入其它未選入的測試項目。相較于已知的分析方法，本發明的錯誤覆蓋 分析方法無需一再重復進行產品的測試以刪選出不適用的測試項目，因此可 以節省測試模塊產生所需的時間，并且縮短產品的測試時間，甚至提高產能。 另外，本發明的測試模塊可以依實際在線需求隨時改變測試模塊中的測試項 目組成，以提高測試品質，并降低測試所需時間。
雖然本發明已以較佳實施例披露如上，然其并非用以限定本發明，本領 域的技術人員在不脫離本發明的精神和范圍的前提下可作若干的更動與潤 飾，因此本發明的保護范圍以本發明的權利要求為準。
權利要求
1. 一種錯誤覆蓋分析方法，適用于分析一產品的多個晶片測試項目，以決定該產品的一測試模塊，其包括依序對該產品的多個測試標的物進行所述晶片測試項目，其中，根據每一測試項目產生相對應的一測試涵蓋范圍；于一數據庫中，根據所述晶片測試項目相對應儲存所述測試涵蓋范圍；以及根據該數據庫中的每一所述晶片測試項目的相對應所述測試涵蓋范圍，選擇部份所述晶片測試項目組成一測試模塊，其中該測試模塊的一錯誤覆蓋范圍是組成該測試模塊的部份所述晶片測試項目的相對應所述測試涵蓋范圍的一聯集。
2. 如權利要求1所述的錯誤覆蓋分析方法，其中每一所述測試涵蓋范圍 包括至少所述測試標的物的其中之一 。
3. 如權利要求1所述的錯誤覆蓋分析方法，其中該錯誤覆蓋范圍包括所 有所述測試標的物。
4. 如權利要求1所述的錯誤覆蓋分析方法，其中至少所述測試涵蓋范圍 其中之二彼此互相重迭。
5. 如權利要求1所述的錯誤覆蓋分析方法，其中組成該測試模塊的部份 所述晶片測試項目的數量，不大于原本所述測試項目的總數量。
6. 如權利要求1所述的錯誤覆蓋分析方法，其中決定組成該測試模塊的 部份所述測試項目的參考因子還包括一后段工藝的一錯誤回饋報告。
7. 如權利要求6所述的錯誤覆蓋分析方法，其中該錯誤回饋報告至少相 對應于所述晶片測試項目其中之一。
8. —種錯誤覆蓋分析方法，適用于一產品，其中該產品具有多個測試標 的物，其包括提供多個測試項目；以每一所述測試項目分別測試該產品，并相對應產生一測試涵蓋范圍， 其中該測試涵蓋范圍至少包括所述測試標的物其中之一；根據所述測試涵蓋范圍，建立一錯誤覆蓋數據庫，其中對于每一所述測 試項目，紀錄該測試項目可有效測試的所述測試標的物，而所述有效測試的測試標的物組成該測試涵蓋范圍；分析該錯誤覆蓋數據庫以決定一測試模塊，其中該測試模塊包括部份所述測試項目，且該測試模塊的一錯誤覆蓋范圍包括所有所述測試標的物；以及根據一后段工藝的一錯誤回饋報告，調整該測試模塊中的所述測試項目 的組合。
9. 如權利要求8所述的錯誤覆蓋分析方法，其中每一所述測試涵蓋范圍 包括至少所述測試標的物的其中之一 。
10. 如權利要求8所述的錯誤覆蓋分析方法，其中該錯誤覆蓋范圍為組 成該測試模塊的部份所述測試項目的所述測試涵蓋范圍的聯集。
11. 如權利要求8所述的錯誤覆蓋分析方法，其中至少所述測試涵蓋范 圍其中之二彼此互相重迭。
12. 如權利要求8所述的錯誤覆蓋分析方法，其中組成該測試模塊的部 份所述晶片測試項目的數量，不大于原本所述測試項目的總數量。
13. 如權利要求8所述的錯誤覆蓋分析方法，其中該錯誤回饋報告至少 相對應于所述晶片測試項目其中之一。
全文摘要
一種錯誤覆蓋分析方法，適用于分析一產品的多個晶片測試項目，以決定該產品的一測試模塊。此方法包括依序對該產品的多個測試標的物進行所述晶片測試項目，其中，根據每一測試項目產生相對應的一測試涵蓋范圍。于一數據庫中，根據所述晶片測試項目相對應儲存所述測試涵蓋范圍。根據該數據庫中的每一所述晶片測試項目的相對應所述測試涵蓋范圍，選擇部份所述晶片測試項目組成一測試模塊，其中該測試模塊的一錯誤覆蓋范圍是組成該測試模塊的部份所述晶片測試項目的相對應所述測試涵蓋范圍的一聯集。
文檔編號G01R31/00GK101206238SQ200610168648
公開日2008年6月25日 申請日期2006年12月20日 優先權日2006年12月20日
發明者劉東昱, 張延生 申請人:力晶半導體股份有限公司
專業數控銑床產品供應商
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