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專利名稱：多火花照相系統(tǒng)中的云紋設(shè)置方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種動(dòng)態(tài)光測(cè)彈性方法及密柵云紋實(shí)驗(yàn)方法。
在現(xiàn)有技術(shù)方面，目前應(yīng)用的多火花照相機(jī)的工作原理是由GRANZ和SCHARDIN首先提出，并將其應(yīng)用于動(dòng)態(tài)光測(cè)彈性儀。這種方法所存在的問題是難以分解復(fù)雜應(yīng)力場(chǎng)的應(yīng)力。而用云紋法來分解應(yīng)力，需要同時(shí)得到平面內(nèi)兩個(gè)方向上的平行云紋或轉(zhuǎn)角云紋，為此，目前是采用在兩個(gè)位置分別粘貼密柵云紋來近似同一點(diǎn)在兩個(gè)方向上的位移，此種作法誤差較大。
本發(fā)明的目的在于利用現(xiàn)有的多火花式照相系統(tǒng)，將試件上的試件柵分別投影在感光底片前的基準(zhǔn)柵上，發(fā)生干涉而得到同一應(yīng)力場(chǎng)在不同方向的云紋干涉圖象，從而最終得到應(yīng)力場(chǎng)和應(yīng)變場(chǎng)的分布。
本發(fā)明是以如下方式實(shí)現(xiàn)的在試件上粘貼或光刻正交柵，根據(jù)感光底片處投影尺寸的變化，選擇合適的基準(zhǔn)柵，將試件上的正交柵分別投影在感光底片前的基準(zhǔn)柵上。選擇十六個(gè)火花放電器中的三個(gè)，預(yù)置在同一時(shí)間放電，由于干涉而分別得到動(dòng)光彈條紋分布，X方向及Y方向的云紋圖。利用上述圖象即可推算出復(fù)雜受力情況下的應(yīng)變場(chǎng)和應(yīng)力場(chǎng)分布。


圖1不透明試件的光路圖;
圖2為透明試件的光路圖。
其中1火花源 2場(chǎng)鏡 3半反射鏡 4不透明試件 5正交柵6場(chǎng)鏡 7鏡頭 8基準(zhǔn)柵 9底片 10偏振片 11 1/4 波片 12正交柵 13透明試件 14 1/4 波片 15偏振片本發(fā)明實(shí)施例在試件上用502膠粘貼2線/毫米的正交柵，使用環(huán)氧樹脂板作為試件，在二張底片前的玻璃上用縫紉機(jī)油粘貼8線/毫米的平行柵作為基準(zhǔn)柵，經(jīng)調(diào)整可以使虛應(yīng)變幾乎為零、三個(gè)火花隙同時(shí)放電，可以同時(shí)得到同一時(shí)刻的應(yīng)力條紋分布、X方向的平行云紋分布與應(yīng)力條紋分布、Y方向的平行云紋分布與應(yīng)力條紋分布，經(jīng)圖象處理和圖象分析，便可以得到復(fù)雜受力條件下的應(yīng)變場(chǎng)、應(yīng)力場(chǎng)。
利用本發(fā)明可以得到光彈材料、非光彈材料及非透明材料的變形場(chǎng)，從而推算應(yīng)力場(chǎng)，根據(jù)不同時(shí)間變形場(chǎng)的分布，可以看出形變、應(yīng)變、應(yīng)力場(chǎng)的變化規(guī)律，這對(duì)于超動(dòng)載應(yīng)變場(chǎng)的量測(cè)與分析都是十分有意義的量測(cè)手段。
權(quán)利要求
1.一種多火花式照相系統(tǒng)中的云紋設(shè)置方法，其特征在于在試件上粘貼或光刻正交柵，底片前分別放置基準(zhǔn)柵，利用投影干涉同時(shí)分別得到不同的云紋圖象。
全文摘要
本發(fā)明涉及動(dòng)態(tài)光測(cè)彈性方法及密柵云紋實(shí)驗(yàn)方法。它利用現(xiàn)有的多火花照相系統(tǒng)，將試件上的正交柵分別投影在感光底片前的基準(zhǔn)棚上，發(fā)生干涉而得到同一應(yīng)力場(chǎng)在不同方向的云紋圖象。用本發(fā)明可以得到光彈、非光彈材料及非透明材料的變形場(chǎng)，根據(jù)不同時(shí)間變形場(chǎng)的分布，可得出變形、應(yīng)變、應(yīng)力場(chǎng)的變化規(guī)律。
文檔編號(hào)G01L1/24GK1063365SQ9110001
公開日1992年8月5日 申請(qǐng)日期1991年1月8日 優(yōu)先權(quán)日1991年1月8日
發(fā)明者高爾新, 史宏 申請(qǐng)人:高爾新