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一種用于轉盤式集成電路測試分選機的測試定位夾具的制作方法
【專利摘要】本發明涉及一種測試定位夾具，具體的說是一種用于轉盤式集成電路測試分選機的測試定位夾具，屬于集成電路測試分選機【技術領域】。其包括測試底座，上測試調整塊上通過螺栓連接擺臂支座，擺臂支座前后兩側對稱位置處分別通過擺臂軸轉動連接一個擺臂，兩個擺臂下端之間連接擺臂拉簧。擺臂上端設有電路板定位夾緊塊，電路板定位夾緊塊通過鎖緊螺釘鎖緊位置。本發明使用方便，測量精度高；具有自動定位、夾緊功能，能夠在真空吸筆帶動集成電路下壓過程中，對集成電路進行自動位置校正及夾緊，提高了產品的質量。
【專利說明】一種用于轉盤式集成電路測試分選機的測試定位夾具
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種測試定位夾具，具體的說是一種用于轉盤式集成電路測試分選機的測試定位夾具，屬于集成電路測試分選機【技術領域】。
【背景技術】
[0002]轉盤式測試分選機的測試定位夾具是一個非常重要的裝置。在轉盤式測試分選機的工作過程中，真空吸筆吸取集成電路移動到測試工位上，吸筆下壓，把集成電路的引腳壓在測試簧片上，進行測試。測試時，引腳與測試簧片的接觸性能好壞直接影響到測試結果。以往，在集成電路體積較大時，引腳間的間距很大，對引腳與測試簧片接觸的位置精度要求不是很高，一般不帶自動定位功能的測試夾具就能滿足測試要求。隨著終端消費電子的便攜化及節省電力等的要求，集成電路的封裝形式向著超小型的方向發展，超小型的集成電路數量迅猛增長，目前已經占到了集成電路市場總量的70%以上，其主要特征表現為:芯片體積小，引腳多且密集，集成功能強大。因此對測試夾具的要求就很高，要求引腳與測試簧片間有很高的位置精度要求，否則就會造成測試接觸不到位，測試良率低下，甚至造成引腳間短路，燒毀電路。

【發明內容】

[0003]本發明的目的在于克服上述不足之處，從而提供一種用于轉盤式集成電路測試分選機的測試定位夾具，具有自動定位、夾緊功能，能夠在真空吸筆帶動集成電路下壓過程中，對集成電路進行自動位置校正及夾緊，提高了產品的質量。
[0004]按照本發明提供的技術方案，一種用于轉盤式集成電路測試分選機的測試定位夾具包括測試底座，測試底座上固定測試調整座，測試調整座上通過螺栓連接下測試調整塊，下測試調整塊上通過測試調整螺絲卡緊連接上測試調整塊，其特征是:上測試調整塊上通過螺栓連接擺臂支座，擺臂支座前后兩側對稱位置處分別通過擺臂軸轉動連接一個擺臂，兩個擺臂下端之間連接擺臂拉簧。擺臂上端設有電路板定位夾緊塊，電路板定位夾緊塊通過鎖緊螺釘鎖緊位置。上測試調整塊上通過螺栓連接兩個金手指固定組件，兩個金手指固定組件沿著擺臂支座左右兩側對稱分布。擺臂支座內中心位置設有移動軸直線軸承，移動軸直線軸承內滑動安裝移動軸，移動軸下端為球頭，球頭兩側緊貼擺臂的內端面。移動軸上端通過螺紋連接電路板墊塊基座，電路板墊塊基座上端連接電路板墊塊，電路板墊塊上端設有將電路板壓緊在電路板墊塊上的真空吸筆。所述擺臂支座和電路板墊塊基座之間設有壓縮彈簧。
[0005]進一步的，擺臂軸和擺臂之間設有擺臂軸軸承，擺臂軸軸承外側設有防止擺臂軸軸承脫落的E型扣環。
[0006]進一步的，金手指固定組件包括金手指固定塊，金手指固定塊上通過螺栓連接金手指固定片。
[0007]進一步的，直線軸承上端設有防止移動軸脫落的C型扣環。[0008]進一步的，擺臂支座和電路板墊塊基座之間設有導向裝置，導向裝置包括兩個安裝在電路板墊塊基座內的導向軸直線軸承，每個導向軸直線軸承內滑動安裝一個導向軸，導向軸下端連接擺臂支座。
[0009]本發明與已有技術相比具有以下優點:
本發明結構簡單、緊湊、合理，使用方便，測量精度高；具有自動定位、夾緊功能，能夠在真空吸筆帶動集成電路下壓過程中，對集成電路進行自動位置校正及夾緊，提高了產品的質量。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1為本發明主視圖。
[0011]圖2為本發明爆炸圖。
[0012]圖3為本發明側視圖。
[0013]附圖標記說明:1-測試底座、2-測試調整座、3-下測試調整塊、4-上測試調整塊、5-擺臂支座、6-擺臂、7-擺臂拉簧、8-測試調整螺絲、9-金手指固定片、10-金手指固定塊、11-擺臂軸、12-擺臂軸軸承、13-E型扣環、14-電路板定位夾緊塊、15-真空吸筆、16-電路板墊塊、17-導向軸、18-導向軸直線軸承、19-電路板墊塊基座、20-移動軸、21-C型扣環、22-壓縮彈簧、23-移動軸直線軸承。
【具體實施方式】
[0014]下面本發明將結合附圖中的實施例作進一步描述:
如圖f 3所示，本發明主要包括測試底座I,測試底座I上固定測試調整座2，測試調整座2上通過螺栓連接下測試調整塊3，下測試調整塊3上通過測試調整螺絲8卡緊連接上測試調整塊4。
[0015]上測試調整塊4上通過螺栓連接擺臂支座5，擺臂支座5前后兩側對稱位置處分別通過擺臂軸11轉動連接一個擺臂6，兩個擺臂6下端之間連接擺臂拉簧7。擺臂軸11和擺臂6之間設有擺臂軸軸承12，擺臂軸軸承12外側設有防止擺臂軸軸承12脫落的E型扣環13。擺臂6上端設有電路板定位夾緊塊14，電路板定位夾緊塊14通過鎖緊螺釘鎖緊位置。
[0016]上測試調整塊4上通過螺栓連接兩個金手指固定組件，兩個金手指固定組件沿著擺臂支座5左右兩側對稱分布。所述金手指固定組件包括金手指固定塊10，金手指固定塊10上通過螺栓連接金手指固定片9，手指固定塊10和金手指固定片9之間夾緊測試金手指。
[0017]擺臂支座5內中心位置設有移動軸直線軸承23，直線軸承23上端設有防止移動軸20脫落的C型扣環21。移動軸直線軸承23內滑動安裝移動軸20，移動軸20下端為球頭，球頭兩側緊貼擺臂6的內端面。移動軸20上端通過螺紋連接電路板墊塊基座19，電路板墊塊基座19上端連接電路板墊塊16，電路板墊塊16上端設有將電路板壓緊在電路板墊塊16上的真空吸筆15。所述擺臂支座5和電路板墊塊基座19之間設有壓縮彈簧22。
[0018]所述擺臂支座5和電路板墊塊基座19之間設有導向裝置，導向裝置包括兩個安裝在電路板墊塊基座19內的導向軸直線軸承18，每個導向軸直線軸承18內滑動安裝一個導向軸17，導向軸17下端連接擺臂支座5。[0019]本發明的工作原理是:工作時，真空吸筆吸住集成電路下壓，直至把電路壓在電路板墊塊上，然后繼續下壓，使得電路板墊塊基座克服壓縮彈簧的回彈力，連同移動軸一起沿導向軸導向方向運動，導向軸限制電路板墊塊基座不能回轉。移動軸下端的球頭推動兩個接觸的擺臂，帶動兩個擺臂繞擺臂軸轉動，使得兩個擺臂上端的電路板定位夾緊塊做相對運動的夾緊動作。由于是對稱運動，使得電路引腳相對于金手指的簧片即使有偏移，也會由于電路定位塊做的相向對稱動作，而校正到位置對齊。電路板定位夾緊塊首先是活動的，在真空吸筆吸住集成電路，連帶電路板墊塊、電路板墊塊基座一起下壓，直至集成電路引腳與測試金手指在同一平面上，然后手動調整集成電路中心與測試金手指中心對齊，這樣集成電路引腳與測試金手指簧片也對齊，一一對應接觸。然后真空吸筆再繼續下壓，保證集成電路引腳與測試金手指簧片有良好的接觸應力，最后調整電路板定位夾緊塊的位置，使得電路板定位夾緊塊輕微觸碰到(或不觸碰到)電路板的兩側邊緣，通過鎖緊螺絲鎖緊電路板定位夾緊塊，從而實現了夾緊定位工作。本發明結構簡單、緊湊、合理，使用方便，測量精度高；具有自動定位、夾緊功能，能夠在真空吸筆帶動集成電路下壓過程中，對集成電路進行自動位置校正及夾緊，提高了產品的質量。
【權利要求】
1.一種用于轉盤式集成電路測試分選機的測試定位夾具，包括測試底座(1)，測試底座(1)上固定測試調整座(2)，測試調整座(2)上通過螺栓連接下測試調整塊(3)，下測試調整塊(3)上通過測試調整螺絲(8)卡緊連接上測試調整塊(4)，其特征是:上測試調整塊(4)上通過螺栓連接擺臂支座(5)，擺臂支座(5)前后兩側對稱位置處分別通過擺臂軸(11)轉動連接一個擺臂(6)，兩個擺臂(6)下端之間連接擺臂拉簧(7);擺臂(6)上端設有電路板定位夾緊塊(14)，電路板定位夾緊塊(14)通過鎖緊螺釘鎖緊位置；上測試調整塊(4)上通過螺栓連接兩個金手指固定組件，兩個金手指固定組件沿著擺臂支座(5)左右兩側對稱分布；擺臂支座(5)內中心位置設有移動軸直線軸承(23)，移動軸直線軸承(23)內滑動安裝移動軸(20)，移動軸(20)下端為球頭，球頭兩側緊貼擺臂(6)的內端面；移動軸(20)上端通過螺紋連接電路板墊炔基座(19)，電路板墊炔基座(19)上端連接電路板墊塊(16)，電路板墊塊(16)上端設有將電路板壓緊在電路板墊塊(16)上的真空吸筆(15);所述擺臂支座(5)和電路板墊炔基座(19)之間設有壓縮彈簧(22)。
2.如權利要求1所述的一種用于轉盤式集成電路測試分選機的測試定位夾具，其特征是:所述擺臂軸(11)和擺臂(6)之間設有擺臂軸軸承(12)，擺臂軸軸承(12)外側設有防止擺臂軸軸承(12)脫落的E型扣環(13)。
3.如權利要求1所述的一種用于轉盤式集成電路測試分選機的測試定位夾具，其特征是:所述金手指固定組件包括金手指固定塊(10)，金手指固定塊(10)上通過螺栓連接金手指固定片(9)。
4.如權利要求1所述的一種用于轉盤式集成電路測試分選機的測試定位夾具，其特征是:所述直線軸承(23)上端設有防止移動軸(20)脫落的C型扣環(21)。
5.如權利要求1所述的一種用于轉盤式集成電路測試分選機的測試定位夾具，其特征是:所述擺臂支座(5)和電路板墊炔基座(19)之間設有導向裝置，導向裝置包括兩個安裝在電路板墊炔基座(19)內的導向軸直線軸承(18)，每個導向軸直線軸承(18)內滑動安裝一個導向軸(17)，導向軸(17)下端連接`擺臂支座(5)。
【文檔編號】G01R1/04GK103675364SQ201310737015
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年12月27日 優先權日:2013年12月27日
【發明者】蘆俊, 陳侖 申請人:無錫華普微電子有限公司