專利名稱：外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種插槽測試方法，尤其涉及一種外部組件互連延伸(PCIX)插槽的測試系統(tǒng)及方法。
技術(shù)背景目前一些新型主板的外部組件互連延伸(PCIX)插槽能夠同時擁有外部組 件互連(PCI)信號和高速外部組件互連(PCI-E)信號，即主板支持普通的外 部組件互連設(shè)備也支持高速外部組件互連設(shè)備。在測試主板的外部組件互連延 伸(PCIX)插槽上的外部組件互連(PCI)信號和高速外部組件互連(PCI-E) 信號時，需在外部組件互連延伸(PCIX)插槽上提供相應(yīng)的接口轉(zhuǎn)向卡，以連 接外部組件互連卡或者高速外部組件互連卡，進(jìn)而引出外部組件互連延伸 (PCIX)插槽的上述兩種信號進(jìn)行測試。但是，在上述外部組件互連延伸插槽的信號測試中，現(xiàn)有技術(shù)不能在一次 測試中同時測試到外部組件互連延伸插槽的全部插針。若想全面測試外部組件 互連延伸插槽的外部組件互連信號和高速外部組件互連信號，則必須先插入外 部組件互連(PCI)接口轉(zhuǎn)向卡及外部組件互連測試卡至外部組件互連延伸 (PCIX)插槽中以進(jìn)行測試，測試完畢后關(guān)機(jī)另換一套高速外部組件互連 (PCIE)接口轉(zhuǎn)向卡及高速外部組件互連測試卡，再重新開機(jī)測試，或者反之。 因此，上述測試方法不僅花費時間和力氣，而且還有可能忽略對某類信號的測 試。此外，在測試外部組件互連(PCI)和高速外部組件互連(PCI-E)的直接 內(nèi)存存取(Direct Memory Access, DMA)的傳輸能力時，以往需要在操作系 統(tǒng)上開辟出兩塊較大的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器以作為測試中介。由于外部組件互 連(PCI)和高速外部組件互連(PCI-E)本身規(guī)范的不同以及操作系統(tǒng)的牽制， 因此連續(xù)實體內(nèi)部存儲器的開辟較為困難。此外，這種測試方法還需要消耗大
量的實體內(nèi)部存儲器資源，且與其它需要占用大量內(nèi)部存儲器資源的測試項之 間存在沖突。為此，目前存在--種通過外部組件互連測試卡內(nèi)建的靜態(tài)內(nèi)存進(jìn)行測試的 方法，較上述現(xiàn)有測試方法，此測試方法可以少開辟一連續(xù)實體內(nèi)部存儲器。 但是，此測試方法受到操作系統(tǒng)的限制，無法分配出與測試卡內(nèi)建內(nèi)部存儲器 相同大小的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器，因此多采用多次搬移的方法進(jìn)行實體內(nèi)部存儲器分配。但是目前測試程序只能分配64k的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器，每次只搬 運64k則無法形成足夠的測試壓力，沒有實現(xiàn)內(nèi)部存儲器所需的一次性直接內(nèi) 存存取，而且浪費時間造成測試效率的降低。由于各測試項對內(nèi)部存儲器的競 爭，長時間的測試會導(dǎo)致無法分配符合要求的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器，進(jìn)而無法 進(jìn)行正常測試。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于在于提供一種外部組件互連延伸插槽的 測試系統(tǒng)及方法，能夠一次測試外部組件互連延伸(PCIX)插槽的全部外部組 件互連(PCI)信號與高速外部組件互連(PCIE)信號，節(jié)省測試時間且增加 測試程序的通用性。本發(fā)明的另一目的在于提供一種外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)及方 法，能夠避免開辟連續(xù)實體內(nèi)部存儲器作為測試中介的瓶頸問題，而且可以實 現(xiàn)真正意義的直接內(nèi)存存取(DMA)壓力測試。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所提供的一種外部組件互連延伸插槽的測試系 統(tǒng)，用以連接于主板上的外部組件互連延伸(PCIX)插槽，可進(jìn)行一外部組件 互連(PCI)測試卡與一高速外部組件互連(PCIE)測試卡的信號測試，其中 此測試系統(tǒng)包含有--接口轉(zhuǎn)換模塊以及一測試模塊；于此，接口轉(zhuǎn)換模塊設(shè) 置有至少一外部組件互連(PCI)插槽與至少一高速外部組件互連(PCIE)插 槽，其中此外部組件互連(PCI)插槽連接有外部組件互連(PCI)測試卡，高 速外部組件互連(PCIE)插槽連接有高速外部組件互連(PCIE)測試卡；并且 接口轉(zhuǎn)換模塊系與主板上的外部組件互連延伸(PCIX)插槽連接，進(jìn)而接口轉(zhuǎn) 換模塊轉(zhuǎn)換外部組件互連(PCI)插槽的接口規(guī)格與高速外部組件互連(PCIE) 插槽的接口規(guī)格為外部組件互連延伸(PCIX)插槽的接口規(guī)格，以由外部組件
互連延伸(PCIX)插槽上引出外部組件互連(PCI)測試卡的信號與高速外部 組件互連(PCIE)測試卡的信號。測試模塊則通過直接內(nèi)存存取(DMA)的傳 輸以一次測試外部組件互連(PCI)測試卡與高速外部組件互連(PCIE)測試 卡的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸功能。依照本發(fā)明的外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)，其中測試模塊系通過外 部組件互連(PCI)測試卡內(nèi)建的一第一靜態(tài)內(nèi)存(SRAM)與高速外部組件互 連(PCIE)測試卡內(nèi)建的-一第二靜態(tài)內(nèi)存(SRAM)，于第一靜態(tài)內(nèi)存與第二靜 態(tài)內(nèi)存之間執(zhí)行直接內(nèi)存存取(DMA)的傳輸測試。或者，接口轉(zhuǎn)換模塊上設(shè) 置有一連續(xù)實體內(nèi)部存儲器，進(jìn)而測試模塊是通過外部組件互連(PCI)測試 卡內(nèi)建的一第一靜態(tài)內(nèi)存(SRAM)或高速外部組件互連(PCIE)測試卡內(nèi)建的 一第二靜態(tài)內(nèi)存(SRAM)，于此第一-靜態(tài)內(nèi)存與接口轉(zhuǎn)換模塊的連續(xù)實體內(nèi)部 存儲器之間或者第二靜態(tài)內(nèi)存與接口轉(zhuǎn)換模塊的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器之間執(zhí) 行直接內(nèi)存存取(DMA)的傳輸測試。此外，本發(fā)明還提供的一種外部組件互連延伸插槽的測試方法，包含以下 步驟設(shè)置至少一外部組件互連(PCI)插槽與至少一高速外部組件互連(PCIE) 插槽于一接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上；通過此接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡轉(zhuǎn)換外部組件互連(PCI) 插槽的接口規(guī)格與高速外部組件互連(PCIE)插槽的接口規(guī)格為一外部組件互 連延伸(PCIX)的接口規(guī)格，進(jìn)而由外部組件互連延伸(PCIX)插槽上引出--外部組件互連(PCI)信號與一高速外部組件互連(PCIE)信號；以及通過直 接內(nèi)存存取(DMA)的傳輸以一次測試此外部組件互連(PCI)信號與此高速外 部組件互連(PCIE)的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸功能。依照本發(fā)明的外部組件互連延伸插槽的測試方法，其中一次測試外部組件 互連(PCI)與高速外部組件互連(PCIE)直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸功能的步 驟，通過外部組件互連(PCI)插槽連接的一外部組件互連(PCI)測試卡內(nèi)建 的 一第--靜態(tài)內(nèi)存(SRAM)，與高速外部組件互連(PCIE)插槽連接的一高速 外部組件互連(PCIE)測試卡內(nèi)建的一第二靜態(tài)內(nèi)存(SRAM)，進(jìn)而在第一靜 態(tài)內(nèi)存與第二靜態(tài)內(nèi)存之間執(zhí)行直接內(nèi)存存取(DMA)的傳輸測試。對于此優(yōu) 選方案，當(dāng)測試該外部組件互連(PCI)的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸功能時， 設(shè)置外部組件互連(PCI)測試卡的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸目的位地址為高 速外部組件互連(PCIE)測試卡的第二靜態(tài)內(nèi)存地址；以及搬運第一靜態(tài)內(nèi)存
的數(shù)據(jù)至該第二靜態(tài)內(nèi)存中；,測試該高速外部組件互連(PCIE)的直接內(nèi)存 存取(DMA)傳輸功能時，設(shè)置高速外部組件互連(PCIE)測試卡的直接內(nèi)存 存取(DMA)傳輸目的位地址為外部組件互連(PCI)測試卡的第一靜態(tài)內(nèi)存地 址；以及搬運第二靜態(tài)內(nèi)存的數(shù)據(jù)至第--靜態(tài)內(nèi)存中。或者，較佳地是于接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上設(shè)置有一連續(xù)實體內(nèi)部存儲器，進(jìn)而 在一次測試外部組件互連(PCI)與髙速外部組件互連(PCIE)的直接內(nèi)存存 取(DMA)傳輸功能的步驟中，通過外部組件互連(PCI)插槽連接的一外部組 件互連(PCI)測試卡內(nèi)建的-第一靜態(tài)內(nèi)存(SRAM)或者高速外部組件互連 (PCIE)插槽連接的一高速外部組件互連(PCIE)測試卡內(nèi)建的一第二靜態(tài)內(nèi) 存(SRAM)，于第一靜態(tài)內(nèi)存與接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器之間或 者第二靜態(tài)內(nèi)存與接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器之間執(zhí)行直接內(nèi)存 存取(DMA)的傳輸測試。本發(fā)明的外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)及方法通過一插槽接口規(guī)格 轉(zhuǎn)換卡，能夠在外部組件互連延伸(PCIX)插槽上弓I出多個外部組件互連(PCI) 插槽與高速外部組件互連(PCIE)插槽，實現(xiàn)外部組件互連(PCI)信號與高 速外部組件互連(PCIE)信號的同時測試，避免插拔測試卡及重啟機(jī)器的麻煩。此外，本發(fā)明利用外部組件互連(PCI)測試卡與高速外部組件互連(PCIE) 測試卡內(nèi)建的兩塊實體內(nèi)部存儲器，或者上述兩種測試卡內(nèi)建的實體內(nèi)部存儲 器分別與接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡內(nèi)部設(shè)置的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器，以執(zhí)行相互之間的 直接內(nèi)存存取(DMA)測試傳輸，進(jìn)而擺脫了需要單獨分配實體內(nèi)部存儲器作 為測試中介的限制，不僅節(jié)省系統(tǒng)資源，避免與其它測試項搶奪內(nèi)部存儲器資 源的問題，還增加了測試的廣度和可靠性。
圖1為本發(fā)明的第一實施例的外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)的系統(tǒng) 方塊圖；圖2為本發(fā)明的第二實施例的外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)的系統(tǒng) 方塊圖；以及圖3、圖4至圖5為本發(fā)明的一實施例的外部組件互連延伸插槽的測試方 法的流程圖。 其中，附圖標(biāo)記12:接口轉(zhuǎn)換模塊14:外部組件互連測試卡16:高速外部組件互連測試卡18:外部組件互連延伸插槽20:測試模塊22:外部組件互連總線24:高速外部組件互連總線步驟101設(shè)置至少一外部組件互連插槽與至少一高速外部組件互連插槽—r---接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上步驟102檢測接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上是否連接有外部組件互連測試卡和高速外部組件互連測試卡？步驟103提示未插入測試卡步驟104通過接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡轉(zhuǎn)換外部組件互連插槽的接口規(guī)格與高 速外部組件互連插槽的接口規(guī)格為一外部組件互連延伸的接口規(guī)格步驟105通過瀏覽外部組件互連的配置空間査找接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上此 外部組件互連測試卡的實體內(nèi)部存儲器地址步驟106通過瀏覽外部組件互連的配置空間査找接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上高 速外部組件互連測試卡的實體內(nèi)部存儲器地址步驟107設(shè)置外部組件互連測試卡的直接內(nèi)存存取傳輸目的位地址為 高速外部組件互連測試卡的實體內(nèi)部存儲器地址步驟108向外部組件互連測試卡的內(nèi)部存儲器中寫入可識別的數(shù)據(jù)步驟109開啟外部組件互連測試卡的直接內(nèi)存存取，以整塊搬運此卡中 的內(nèi)部存儲器內(nèi)容至高速外部組件互連測試卡的內(nèi)部存儲器中步驟IIO讀取高速外部組件互連測試卡的內(nèi)部存儲器的數(shù)據(jù)，并與外部 組件互連測試卡的內(nèi)部存儲器的數(shù)據(jù)對比？步驟lll恢復(fù)外部組件互連測試卡的設(shè)置步驟112設(shè)置高速外部組件互連測試卡的直接內(nèi)存存取傳輸目的位地 址為外部組件互連測試卡的實體內(nèi)部存儲器地址步驟113將高速外部組件互連測試卡的內(nèi)部存儲器數(shù)據(jù)取反寫回
歩驟114開啟高速外部組件互連測試卡的直接內(nèi)存存取傳輸，并整塊搬 運高速外部組件互連測試卡的內(nèi)部存儲器的內(nèi)容至外部組件互連測試卡的體 內(nèi)部存儲器中步驟115讀取外部組件互連測試卡的內(nèi)部存儲器的數(shù)據(jù)，并與高速外部 組件互連測試卡的內(nèi)部存儲器的數(shù)據(jù)對比？ 步驟116恢復(fù)相關(guān)設(shè)置步驟117恢復(fù)高速外部組件互連測試卡的設(shè)置具體實施方式
有關(guān)本發(fā)明的特征與實作，茲配合圖示作最佳實施例詳細(xì)說明如下。如圖1所示，此圖為本發(fā)明的第一實施例的外部組件互連延伸插槽的測試 系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖。如圖所示，本發(fā)明的外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)包 含-接口轉(zhuǎn)換模塊12，其中接口轉(zhuǎn)換模塊12上設(shè)置有至少—外部組件互連 (PCI)插槽與至少一高速外部組件互連(PCIE)插槽，并且此外部組件互連 (PCI)插槽中可連接有--外部組件互連(PCI)測試卡14，高速外部組件互 連(PCIE)插槽可連接有一高速外部組件互連(PCIE)測試卡16。本發(fā)明的外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)還包含一外部組件互連延伸 (PCIX)插槽18，設(shè)置于計算機(jī)主板上，并與接口轉(zhuǎn)換模塊12連接。此外， 外部組件互連延伸(PCIX)插槽18分別與外部組件互連(PCI)總線22及高 速外部組件互連(PCIE)總線24連接，因此外部組件互連延伸插槽18同時擁 有外部組件互連(PCI)信號與高速外部組件互連(PCIE)信號。接口轉(zhuǎn)換模塊12可以將外部組件互連(PCI)插槽的接口規(guī)格與高速外部 組件互連(PCIE)插槽的接口規(guī)格轉(zhuǎn)換為外部組件互連延伸(PCIX)插槽的接 口規(guī)格，因此當(dāng)接口轉(zhuǎn)換模塊12插入至外部組件互連延伸插槽18時，可以從 不同的信號插針獨立地獲取各自所需信號，進(jìn)而使得轉(zhuǎn)換的外部組件互連 (PCI)插槽與高速外部組件互連(PCIE)插槽可同時使用。本發(fā)明的外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)包含一測試模塊20，通過直 接內(nèi)存存取(DMA)的傳輸而--次測試外部組件互連(PCI)測試卡14的信號 與高速外部組件互連(PCIE)測試卡16的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸功能。
因此，在測試外部組件互連延伸插槽時，可以同時在接口轉(zhuǎn)換模塊12的外部 組件互連(PCI)插槽中與高速外部組件互連(PCIE)插槽中分別插有外圍組 件互連測試卡14與高速外部組件互連測試卡16，進(jìn)而在測試過程無需重 啟機(jī)器即能夠完全測試外部組件互連延伸插槽的所有信號插針。另外，由于現(xiàn)有測試方法需要在操作系統(tǒng)上開辟連續(xù)的實體內(nèi)部存儲器作 為測試中介，其中外部組件互連(PCI)需要512K，高速外部組件互連(PCIE) 需要4M，這種現(xiàn)有測試方法不僅由于操作系統(tǒng)限制較難實現(xiàn)，而且還造成內(nèi) 部存儲器的浪費。因此，在此實施例中，本發(fā)明的測試模塊20利用外部組件 互連測試卡14與高速外部組件互連測試卡16的內(nèi)建實體內(nèi)部存儲器，利用各 自的靜態(tài)內(nèi)存(SRAM)進(jìn)行測試，于外部組件互連測試卡14的靜態(tài)內(nèi)存與高 速外部組件互連測試卡16的靜態(tài)內(nèi)存之間執(zhí)行直接內(nèi)存存取(DMA)的傳輸測 試。依照上述實施例，在測試時，需要設(shè)置外部組件互連(PCI)測試卡14 的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸目的位地址為高速外部組件互連(PCIE)測試卡 16的靜態(tài)內(nèi)存地址，或者設(shè)置高速外部組件互連(PCIE)測試卡16的直接內(nèi) 存存取(DMA)傳輸目的位地址為外部組件互連(PCI)測試卡14的靜態(tài)內(nèi)存 地址。因此，如圖中箭頭所示，通過依次整塊搬運各個測試卡的靜態(tài)內(nèi)存的數(shù) 據(jù)辛.對方的靜態(tài)內(nèi)存中，進(jìn)而實現(xiàn)同時測試外部組件互連延伸插槽18的外部 組件互連(PCI)與高速外部組件互連(PCIE)的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸功 能。此外，依照本發(fā)明還可以于接口轉(zhuǎn)換模塊12上設(shè)置有一連續(xù)實體內(nèi)部存 儲器，具體說明請參照圖2，此圖為本發(fā)明的第二實施例的外部組件互連延伸 插槽的測試系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖。在此實施例中，圖2中與圖1相同的編號用以表示相同的組件及功能，因 此這里不再贅述。與圖1不同的是，可以在接口轉(zhuǎn)換模塊12上設(shè)置一連續(xù)實 體內(nèi)部存儲器，因此測試模塊20在執(zhí)行測試時，通過接口轉(zhuǎn)換模塊12上所設(shè) 置的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器與外部組件互連(PCI)測試卡14內(nèi)建的靜態(tài)內(nèi)存， 以按照圖標(biāo)實線箭頭的方向執(zhí)行直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸；或者，通過接口 轉(zhuǎn)換模塊12上的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器與高速外部組件互連(PCIE)測試卡16 內(nèi)建的靜態(tài)內(nèi)存，并按照圖標(biāo)虛線箭頭
進(jìn)而一次測試外部組件互連(PCI)測試卡與高速外部組件互連(PCIE)測試 卡的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸功能。以本發(fā)明的上述方式，能夠?qū)崿F(xiàn)較大內(nèi)存，例如4M的一次搬運，完成真 正意義的直接內(nèi)存存取壓力測試，而不需要系統(tǒng)開辟另外的實體內(nèi)部存儲器， 進(jìn)而擺脫了操作系統(tǒng)的束縛，增加測試項的兼容性，還節(jié)省系統(tǒng)的資源，避免 了與其它測試項，例如內(nèi)存測試搶奪內(nèi)部存儲器資源的問題。需要指出的是，在接口轉(zhuǎn)換模塊12上設(shè)置有至少一外部組件互連(PCI) 插槽與至少--高速外部組件互連(PCIE)插槽的前提下，本發(fā)明的外部組件互 連延伸插槽的測試系統(tǒng)也可以利用現(xiàn)有測試方法通過開辟一塊或兩塊連續(xù)內(nèi) 部存儲器，而實現(xiàn)外部組件互連(PCI)信號與高速外部組件互連(PCIE)信 號的同時測試。如圖3、圖4及圖5所示，為本發(fā)明的一實施例的外部組件互連延伸插槽 的測試方法的流程圖。如圖所示，首先設(shè)置至少一外部組件互連(PCI)插槽與至少一高速外部 組件互連(PCIE)插槽于一接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上(步驟101)。在測試時，可以 先檢測接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上是否連接有外部組件互連測試卡和高速外部組件互 連測試卡(步驟102)，以對測試操作進(jìn)行提示。若沒有連接對應(yīng)測試卡，則 提示操作員未插入測試卡(步驟103)，然后前進(jìn)至步驟116,恢復(fù)相關(guān)設(shè)備 (步驟116)，表示測試失敗。如果檢測到接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上己連接有外部組件互連測試卡和高速外部 組件互連測試卡，則通過接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡對外部組件互連(PCI)插槽的接口 規(guī)格與高速外部組件互連(PCIE)插槽的接口規(guī)格進(jìn)行轉(zhuǎn)換，以得到外部組件 互連延伸(PCIX)的接口規(guī)格。因此，可以于外部組件互連延伸插槽上同時引 出外部組件互連(PCI)信號與高速外部組件互連(PCIE)信號(步驟104)。較佳地，本發(fā)明的外部組件互連延伸插槽的測試方法可通過外部組件互連 測試卡和高速外部組件互連測試卡自身所帶的內(nèi)部存儲器，例如靜態(tài)內(nèi)存 (SRAM)進(jìn)行直接內(nèi)存存取(DMA)測試傳輸。這時，通過瀏覽外部組件互連 的配置空間，以査找接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上的外部組件互連測試卡的實體內(nèi)部存儲 器地址(步驟105),以及査找高速組件互連測試卡的實體內(nèi)部存儲器地址(步 驟106)。 接著，如果首先測試外部組件互連的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸功能，則 設(shè)置外部組件互連測試卡的現(xiàn)場可程序化門陣列(Field Prograjimable Gate Array, FPGA)控制緩存器，將外部組件互連測試卡的直接內(nèi)存存取傳輸目的 位地址設(shè)置為高速外部組件互連測試卡的內(nèi)部存儲器地址(步驟107)，并向 外部組件互連測試卡的內(nèi)部存儲器中寫入可識別的數(shù)據(jù)(步驟108)，例如 0x55AA…。然后開啟外部組件互連測試卡的直接內(nèi)存存取，以整塊搬運此卡的 內(nèi)部存儲器內(nèi)容至高速外部組件互連測試卡至內(nèi)部存儲器中(步驟109)。讀 取高速外部組件互連測試卡的內(nèi)部存儲器的數(shù)據(jù)，并與外部組件互連測試卡的 內(nèi)部存儲器的數(shù)據(jù)對比，以判斷是否相同(步驟IIO)。若不相同，則恢復(fù)相 關(guān)設(shè)置(步驟116)，表示測試失?。环駝t，恢復(fù)外部組件互連測試卡的設(shè)置 (步驟lll)。接下來測試高速外部組件互連的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸功能，則設(shè)置 高速外部組件互連測試卡的現(xiàn)場可程序化門陣列控制緩存器，以設(shè)置高速外部 組件互連測試卡的直接內(nèi)存存取傳輸目的位地址為外部組件互連測試卡的實 體內(nèi)部存儲器地址(歩驟112)。然后，將高速外部組件互連測試卡的內(nèi)部存 儲器數(shù)據(jù)取反寫回(步驟113)。隨之開啟高速外部組件互連測試卡的直接內(nèi) 存存取傳輸，并整塊搬運高速外部組件互連測試卡的內(nèi)部存儲器的內(nèi)容，以傳 輸至外部組件互連測試卡的實體內(nèi)部靜態(tài)內(nèi)存中(步驟114)。然后讀取外部組件互連測試卡的內(nèi)部靜態(tài)內(nèi)存的數(shù)據(jù)，并與高速外部組件 互連測試卡的內(nèi)部靜態(tài)內(nèi)存的數(shù)據(jù)對比，以判斷是否相同(步驟115)。若相 同，則恢復(fù)高速外部組件互連測試卡的設(shè)置(步驟117)，這時即表示外部組 件互連測試卡與高速外部組件互連測試卡通過測試否則，恢復(fù)相關(guān)設(shè)置(步 驟116)，表示對此卡的測試失敗。此外，較佳的是，本發(fā)明的外部組件互連延伸插槽的測試方法還可以于接 口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上設(shè)置有一連續(xù)實體內(nèi)部存儲器，進(jìn)而可通過外部組件互連測試 卡內(nèi)建的內(nèi)部存儲器與接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器，或者高速外部 組件互連測試卡內(nèi)建的內(nèi)部存儲器與接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器， 依次分別執(zhí)行直接內(nèi)存存取(DMA)的傳輸測試，以同時一次地測試外部組件 互連延伸插槽的外部組件互連(PCI)與高速外部組件互連(PCIE)的直接內(nèi) 存存取(DMA)傳輸功能。
這里，與上述實施例的利用外部組件互連擁試卡和高速外部組件互連測試 卡自身所帶的內(nèi)部存儲器執(zhí)行各自測試傳輸不同的是，在利用接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器測試外部組件互連(PCI)的直接內(nèi)存存取(DMA) 功能時，霱要設(shè)置外部組件互連(PCI)測試卡的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸目 的位地址為接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器地址；以及搬運外部組件互 連(PCI)的第一靜態(tài)內(nèi)存的數(shù)據(jù)至接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器中。同樣地，在利用接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器測試高速外部組件 互連(PCIE〉的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸功能時，需要設(shè)置高速外部組件互 連(PCIE)擁試卡的直接內(nèi)存存取(DMA)傳輸目的位地址為接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡 的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器地址以及搬運高速外部組件互連(PCIE)測試卡的第 二靜態(tài)內(nèi)存的數(shù)據(jù)至接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的連續(xù)實體內(nèi)部存儲器中。當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實施例，在不背離本發(fā)明糖神及其實質(zhì)的情 況F，熟悉本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明做出各種相應(yīng)的改變和變 形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)，用以連接于一主板上的一外部組件互連延伸插槽，可進(jìn)行一外部組件互連測試卡與一高速外部組件互連測試卡的信號測試，其特征在于，該測試系統(tǒng)包含有一接口轉(zhuǎn)換模塊，設(shè)置有至少一外部組件互連插槽與至少一高速外部組件互連插槽，以分別連接有該外部組件互連測試卡與該高速外部組件互連測試卡；并且該接口轉(zhuǎn)換模塊與該主板上的該外部組件互連延伸插槽連接，進(jìn)而該接口轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換該外部組件互連插槽的接口規(guī)格與該高速外部組件互連插槽的接口規(guī)格為該外部組件互連延伸插槽的接口規(guī)格，以由該外部組件互連延伸插槽上引出該外部組件互連測試卡的信號與該高速外部組件互連測試卡的信號；以及一測試模塊，通過直接內(nèi)存存取的傳輸以一次測試該外部組件互連測試卡與該高速外部組件互連測試卡的直接內(nèi)存存取傳輸功能。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)，其特征在 于，該測試模塊通過該外部組件互連測試卡內(nèi)建的一第一靜態(tài)內(nèi)存與該高速外 部組件互連測試卡內(nèi)建的一第二靜態(tài)內(nèi)存，在該第一靜態(tài)內(nèi)存與該第二靜態(tài)內(nèi) 存之間執(zhí)行直接內(nèi)存存取的傳輸測試。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)，其特征在 于，該接口轉(zhuǎn)換模塊上設(shè)置有一連續(xù)實體內(nèi)部存儲器，進(jìn)而該測試模塊通過該 外部組件互連測試卡內(nèi)建的一第一靜態(tài)內(nèi)存或該高速外部組件互連測試卡內(nèi) 建的一第二靜態(tài)內(nèi)存，在該第一靜態(tài)內(nèi)存與該接口轉(zhuǎn)換模塊的該連續(xù)實體內(nèi)部 存儲器之間或者該第二靜態(tài)內(nèi)存與該接口轉(zhuǎn)換模塊的該連續(xù)實體內(nèi)部存儲器 之間執(zhí)行直接內(nèi)存存取的傳輸測試。
4. 一種外部組件互連延伸插槽的測試方法，其特征在于，該方法包含以下設(shè)置至少一外部組件互連插槽與至少一高速外部組件互連插槽于一接口 規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上；通過該接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡轉(zhuǎn)換該外部組件互連插槽的接口規(guī)格與該高速外 部組件互連插槽的接口規(guī)格為 一外部組件互連延伸的接口規(guī)格，進(jìn)而由該外部 組件互連延伸插槽上引出-外部組件互連信號與一高速外部組件互連信號；以 及通過直接內(nèi)存存取的傳輸以--次測試該外部組件互連與該高速外部組件 互連的直接內(nèi)存存取傳輸功能。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的外部組件互連延伸插槽的測試方法，其特征在 于，該一次測試該外部組件互連與該高速外部組件互連的直接內(nèi)存存取傳輸功 能的步驟，通過該外部組件互連插槽連接的一外部組件互連測試卡內(nèi)建的--第 —靜態(tài)內(nèi)存，與該高速外部組件互連插槽連接的一高速外部組件互連測試卡內(nèi) 建的一第二靜態(tài)內(nèi)存，進(jìn)而在該第一靜態(tài)內(nèi)存與該第二靜態(tài)內(nèi)存之間執(zhí)行該直 接內(nèi)存存取的傳輸測試。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的外部組件互連延伸插槽的測試方法，其特征在于，當(dāng)測試該外部組件互連的直接內(nèi)存存取傳輸功能時，還包含下列步驟設(shè)置該外部組件互連測試卡的直接內(nèi)存存取傳輸目的位地址為該高速外部組件互連測試卡的第二靜態(tài)內(nèi)存地址；以及搬運該第--靜態(tài)內(nèi)存的數(shù)據(jù)至該第二靜態(tài)內(nèi)存中。
7. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的外部組件互連延伸插槽的測試方法，其特征在 于，當(dāng)測試該高速外部組件互連的直接內(nèi)存存取傳輸功能時，還包含下列步驟:設(shè)置該高速外部組件互連測試卡的直接內(nèi)存存取傳輸目的位地址為該外 部組件互連測試卡的第一靜態(tài)內(nèi)存地址；以及搬運該第二靜態(tài)內(nèi)存的數(shù)據(jù)至該第一靜態(tài)內(nèi)存中。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的外部組件互連延伸插槽的測試方法，其特征在于， 還包含有于該接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上設(shè)置有一連續(xù)實體內(nèi)部存儲器的步驟，進(jìn)而在 該---次測試該外部組件互連與該高速外部組件互連的直接內(nèi)存存取傳輸功能 的步驟中，通過該外部組件互連插槽連接的一外部組件互連測試卡內(nèi)建的一第 一靜態(tài)內(nèi)存或者該高速外部組件互連插槽連接的一高速外部組件互連測試卡 內(nèi)建的一第二靜態(tài)內(nèi)存，在該第--靜態(tài)內(nèi)存與該接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的該連續(xù)實體 內(nèi)部存儲器之間或者該第二靜態(tài)內(nèi)存與該接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的該連續(xù)實體內(nèi)部 存儲器之間執(zhí)行直接內(nèi)存存取的傳輸測試。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的外部組件互連延伸插槽的測試方法，其特征在 于，當(dāng)測試該外部組件互連的直接內(nèi)存存取傳輸功能時，還包含下列步驟 設(shè)置該外部組件互連測試卡的直接內(nèi)存存取傳輸目的位地址為該接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的該連續(xù)實體內(nèi)部存儲器地址；以及搬運該第一靜態(tài)內(nèi)存的數(shù)據(jù)至該接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的該連續(xù)實體內(nèi)部存儲器'r'。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的外部組件互連延伸插槽的測試方法，其特征在 于，當(dāng)測試該髙速外部組件互連的直接內(nèi)存存取傳輸功能時，還包含下列步驟:設(shè)置該高速外部組件互連測試卡的直接內(nèi)存存取傳輸目的位地址為該接 口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的該連續(xù)實體內(nèi)部存儲器地址；以及搬運該第二靜態(tài)內(nèi)存的數(shù)據(jù)至該接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡的該連續(xù)實體內(nèi)部存儲 器中。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種外部組件互連延伸插槽的測試系統(tǒng)及方法，通過設(shè)置至少一外部組件互連插槽與至少一高速外部組件互連插槽于一接口規(guī)格轉(zhuǎn)向卡上，以轉(zhuǎn)換外部組件互連插槽的接口規(guī)格與高速外部組件互連插槽的接口規(guī)格為外部組件互連延伸的接口規(guī)格，進(jìn)而由外部組件互連延伸插槽上引出外部組件互連信號與高速外部組件互連信號。進(jìn)一步地，通過直接內(nèi)存存取傳輸，以一次測試外部組件互連與高速外部組件互連的直接內(nèi)存存取傳輸功能。
文檔編號G01R31/04GK101118268SQ200610099159
公開日2008年2月6日 申請日期2006年7月31日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月31日
發(fā)明者濤 劉, 劉文涵, 段秋月, 陳玄同 申請人:英業(yè)達(dá)股份有限公司
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