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一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝，包括如下步驟：從待測(cè)樣品上切取預(yù)定長(zhǎng)度的試樣坯料；沿試樣坯料長(zhǎng)度方向或沿垂直于試樣坯料長(zhǎng)度方向的方向?qū)⒃嚇訅罕猓玫皆嚇影氤善罚粚?duì)試樣半成品的分析面用平面砂輪沿同一方向進(jìn)行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到試樣成品；清掃試樣成品的背部的絕緣物，使試樣成品與樣品臺(tái)接觸，從而將光電直讀光譜分析儀的火花臺(tái)激發(fā)口完全覆蓋。本發(fā)明能夠?qū)⒒鸹ㄅ_(tái)激發(fā)口完全覆蓋，不會(huì)導(dǎo)致激發(fā)室漏氣，實(shí)現(xiàn)了光電直讀光譜分析，保證了產(chǎn)品的分析質(zhì)量。
【專利說明】一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及光電直讀光譜儀【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝。

【背景技術(shù)】
[0002]光電直讀光譜分析儀用于定量分析材料成分是否滿足生產(chǎn)要求，是鋼鐵行業(yè)生產(chǎn)過程中重要的質(zhì)量控制手段。直讀光譜分析過程的首要環(huán)節(jié)就是試樣制備，目前試樣制備過程為先截取，然后在對(duì)所取試樣進(jìn)行打磨得到光電直讀光譜分析儀試樣。
[0003]現(xiàn)有的處理方法中，試樣規(guī)格太小不能將光電直讀光譜分析儀火花臺(tái)的激發(fā)口完全覆蓋，會(huì)導(dǎo)致激發(fā)室漏氣，難以實(shí)現(xiàn)光電直讀光譜分析，無法保證產(chǎn)品的分析質(zhì)量。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了解決【背景技術(shù)】中存在的技術(shù)問題，本發(fā)明提出了一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝，通過試樣將激發(fā)口完全覆蓋，保證產(chǎn)品的分析質(zhì)量。
[0005]本發(fā)明提出的一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝，包括如下步驟:
[0006]S1、從待測(cè)樣品上切取預(yù)定長(zhǎng)度的試樣坯料；
[0007]S2、沿試樣坯料長(zhǎng)度方向或沿垂直于試樣坯料長(zhǎng)度方向的方向?qū)⒃嚇訅罕猓玫綄⒐怆娭弊x光譜分析儀的火花臺(tái)激發(fā)口完全覆蓋的試樣半成品；
[0008]S3、對(duì)試樣半成品的分析面用平面砂輪沿同一方向進(jìn)行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到試樣成品；
[0009]S4、清掃試樣成品的背部的絕緣物，使試樣成品與樣品臺(tái)接觸，從而將光電直讀光譜分析儀的火花臺(tái)激發(fā)口完全覆蓋。
[0010]優(yōu)選地，待測(cè)樣品為直徑小于火花臺(tái)激發(fā)口直徑的圓鋼。
[0011]優(yōu)選地，待測(cè)樣品為長(zhǎng)邊和短邊均小于火花臺(tái)激發(fā)口直徑的鋼片。
[0012]優(yōu)選地，試樣半成品為完全覆蓋火花臺(tái)激發(fā)口的圓形試樣或多邊形試樣。
[0013]本發(fā)明提供的一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝，為原始尺寸小于光電直讀光譜分析儀火花臺(tái)的激發(fā)口直徑的圓盤條或鋼片條提供了一種制備光電直讀光譜分析儀用試樣的方法，能夠?qū)⒒鸹ㄅ_(tái)激發(fā)口完全覆蓋，不會(huì)導(dǎo)致激發(fā)室漏氣，實(shí)現(xiàn)了光電直讀光譜分析，保證了產(chǎn)品的分析質(zhì)量。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1為本發(fā)明提出的一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝的工藝流程圖。
[0015]圖2為本發(fā)明提出的一種光電直讀光譜分析儀用矩形試樣的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]圖3為本發(fā)明提出的一種光電直讀光譜分析儀用圓形試樣的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0017]如圖1所示，圖1為本發(fā)明提出的一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝的工藝流程圖。
[0018]參照?qǐng)D1，本發(fā)明提出的一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝，包括:
[0019]S1、從待測(cè)樣品上切取預(yù)定長(zhǎng)度的試樣坯料；
[0020]S2、沿試樣坯料長(zhǎng)度方向或沿垂直于試樣坯料長(zhǎng)度方向的方向?qū)⒃嚇訅罕猓玫綄⒐怆娭弊x光譜分析儀的火花臺(tái)激發(fā)口完全覆蓋的試樣半成品；
[0021]S3、對(duì)試樣半成品的分析面用平面砂輪沿同一方向進(jìn)行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到試樣成品；
[0022]S4、清掃試樣成品的背部的絕緣物，使試樣成品與樣品臺(tái)接觸，從而將光電直讀光譜分析儀的火花臺(tái)激發(fā)口完全覆蓋。
[0023]實(shí)施例1
[0024]如圖2所示，圖2為本發(fā)明提出的一種光電直讀光譜分析儀用矩形試樣的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0025]參照?qǐng)D2，本發(fā)明提出的一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝，包括如下步驟:
[0026]S1、從待測(cè)樣品上切取預(yù)定長(zhǎng)度的試樣坯料，待測(cè)樣品I為長(zhǎng)邊和短邊均小于火花臺(tái)激發(fā)口直徑的鋼片；
[0027]S2、沿試樣坯料長(zhǎng)度方向或沿垂直于試樣坯料長(zhǎng)度方向的方向?qū)⒃嚇訅罕猓玫綄⒐怆娭弊x光譜分析儀的火花臺(tái)激發(fā)口完全覆蓋的多邊形試樣半成品；
[0028]S3、對(duì)試樣半成品的分析面用平面砂輪沿同一方向進(jìn)行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到試樣成品；
[0029]S4、清掃試樣成品的背部的絕緣物，使試樣成品與樣品臺(tái)接觸，從而將光電直讀光譜分析儀的火花臺(tái)激發(fā)口完全覆蓋。
[0030]實(shí)施例2
[0031]如圖3所示，圖3為本發(fā)明提出的一種光電直讀光譜分析儀用矩形試樣的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0032]參照?qǐng)D3，本發(fā)明提出的一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝，包括如下步驟:
[0033]S1、從待測(cè)樣品上切取預(yù)定長(zhǎng)度的試樣坯料，待測(cè)樣品2為直徑小于火花臺(tái)激發(fā)口直徑的圓鋼；
[0034]S2、沿試樣還料長(zhǎng)度方向或沿垂直于試樣還料長(zhǎng)度方向的方向?qū)⒃嚇訅罕?得到將光電直讀光譜分析儀的火花臺(tái)激發(fā)口完全覆蓋的圓形試樣半成品；
[0035]S3、對(duì)試樣半成品的分析面用平面砂輪沿同一方向進(jìn)行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到試樣成品；
[0036]S4、清掃試樣成品的背部的絕緣物，使試樣成品與樣品臺(tái)接觸，從而將光電直讀光譜分析儀的火花臺(tái)激發(fā)口完全覆蓋。
[0037]本發(fā)明采用壓扁的方法將試樣坯料壓成完全覆蓋火花臺(tái)激發(fā)口的試樣半成品，通過采用沖壓模具將試樣坯料壓扁，從待測(cè)樣品上切取預(yù)定長(zhǎng)度的試樣坯料，試樣坯料的體積與沖壓模具型腔的體積相等，沖壓完成后，對(duì)試樣半成品的分析面用平面砂輪沿同一方向進(jìn)行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到試樣成品。試樣成品能夠?qū)⒒鸹ㄅ_(tái)激發(fā)口完全覆蓋，不會(huì)導(dǎo)致激發(fā)室漏氣，實(shí)現(xiàn)了光電直讀光譜分析，保證了產(chǎn)品的分析質(zhì)量。
[0038]以上所述，僅為本發(fā)明較佳的【具體實(shí)施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案及其發(fā)明構(gòu)思加以等同替換或改變，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝，其特征在于，包括如下步驟: 51、從待測(cè)樣品上切取預(yù)定長(zhǎng)度的試樣坯料； 52、沿試樣還料長(zhǎng)度方向或沿垂直于試樣還料長(zhǎng)度方向的方向?qū)⒃嚇訅罕?得到將光電直讀光譜分析儀的火花臺(tái)激發(fā)口完全覆蓋的試樣半成品； 53、對(duì)試樣半成品的分析面用平面砂輪沿同一方向進(jìn)行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到試樣成品； 54、清掃試樣成品的背部的絕緣物，使試樣成品與樣品臺(tái)接觸，從而將光電直讀光譜分析儀的火花臺(tái)激發(fā)口完全覆蓋。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝，其特征在于，待測(cè)樣品為直徑小于火花臺(tái)激發(fā)口直徑的圓鋼。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝，其特征在于，待測(cè)樣品為長(zhǎng)邊和短邊均小于火花臺(tái)激發(fā)口直徑的鋼片。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電直讀光譜分析儀用試樣制備工藝，其特征在于，試樣半成品為完全覆蓋火花臺(tái)激發(fā)口的圓形試樣或多邊形試樣。
【文檔編號(hào)】G01N1/28GK104316376SQ201410571516
【公開日】2015年1月28日 申請(qǐng)日期:2014年10月22日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月22日
【發(fā)明者】陳進(jìn) 申請(qǐng)人:合肥卓越分析儀器有限責(zé)任公司