一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器的制造方法
【專利摘要】本實用新型屬于硬盤檢測【技術領域】,具體公開了一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器,包括MCU微控制單元、及于MCU微控制單元連接MCU電源電路模塊、溫度測試模塊、濕度測試模塊、遠端溫度測試模塊和硬盤與服務器通訊互連電路模塊,其中MCU電源電路模塊分別與穩定測試模塊、濕度測試模塊、遠端溫度測試模塊進行供電。本實用新型一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器,1、結構簡單、抗震;2、通過溫度測試模塊、濕度測試模塊對檢測現場溫度、濕度進行監控管理以符合磁電硬盤檢測標準參數,同時通過遠端溫度測試模塊監控上一步驟檢測溫度輔助控制檢測現場溫度,以達到所有檢測項溫度相同,進而提高檢測精準度。同時本實用新型生產成本低、易推廣。
【專利說明】—種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器
【技術領域】
[0001]本實用新型屬于硬盤檢測【技術領域】,具體涉及一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器。
【背景技術】
[0002]當前磁電硬盤行業的工廠測試所用的轉接適配器,都是功能單一的連接器轉換,沒有測試環境評估功能,而磁電硬盤的測試對環境要求相對敏感;從所周知,在工廠生產制程中,對磁盤的測試要評估多達上100項的參數,而其中有近30項測試對環境要求極其敏感,所以測試時,要求各測試站的測試環境盡可能的一致,但對于大批量的生產制程來說,這個環境要求是有相當難度的,所以需要通過對測試環境參數進行測試評估,然后反饋測試系統,以修正測試數據的測試方案,進而完成磁電硬盤測試,提高產品測試的準確性、穩定性及產品合格率。
[0003]基于上述問題,本實用新型提供一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器。實用新型內容
[0004]實用新型目的:本實用新型的目的是針對現有技術的不足,提供一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器,解決現有傳統接口適配器單純的連接功能,提高磁電硬盤檢測過程的穩定性、精準性及便于控制檢測環境、保證上下步驟檢測環境一致。
[0005]技術方案:一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器,包括MCU微控制單元、及于MCU微控制單元連接MCU電源電路模塊、溫度測試模塊、濕度測試模塊、遠端溫度測試模塊和硬盤與服務器通訊互連電路模塊,其中MCU電源電路模塊分別與穩定測試模塊、濕度測試模塊、遠端溫度測試模塊進行供電;所述MCU微控制單元接收本地溫度測試模塊和濕度測試模塊參數并利用與硬盤與服務器通訊互連電路模塊連接的上位機顯示;同時所述MCU微控制單元接收遠端溫度測試模塊的參數并利用與硬盤與服務器通訊互連電路模塊連接的上位機顯示。
[0006]進一步的所述用于超高速磁電硬盤的接口適配器還包括與MCU微控制單元連接的MCU外部輔助電路模塊,其中MCU外部輔助電路模塊與MCU電源電路模塊連接。
[0007]進一步的所述MCU微控制單元為51單片機芯片。
[0008]進一步的所述溫度測試模塊和遠端溫度測試模塊為溫度傳感器或溫度測試儀,濕度測試模塊為濕度傳感器或濕度測試儀。
[0009]進一步的所述溫度測試儀優選杭州奮樂儀器廠生產的型號為FLA5000。
[0010]進一步的所述濕度測試儀優選深圳市恩慈電子有限公司生產的型號為DT-625。
[0011]與現有技術相比,本實用新型的有益效果在于:本實用新型的一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器,1、結構簡單、抗震;2、通過溫度測試模塊、濕度測試模塊對檢測現場溫度、濕度進行監控管理以符合磁電硬盤檢測標準參數,同時通過遠端溫度測試模塊監控上一步驟檢測溫度輔助控制檢測現場溫度,以達到所有檢測項溫度相同,進而提高檢測精準度。同時本實用新型生產成本低、易推廣。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0012]圖1是本實用新型一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器的結構示意圖;
[0013]圖2是本實用新型一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器的數據處理流程圖;
[0014]圖3是本實用新型一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器的電路板結構示意圖;
[0015]其中圖中序號如下:1-MCU微控制單元、2-MCU電源電路模塊、3-MCU外部輔助電路模塊、4-溫度測試模塊、5-濕度測試模塊、6-遠端溫度測試模塊、7-硬盤與服務器通訊互連電路模塊。
【具體實施方式】
[0016]下面結合附圖和具體實施例,進一步闡明本實用新型。
[0017]如圖1所示的一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器,包括MCU微控制單元1、及于MCU微控制單元I連接MCU電源電路模塊2、溫度測試模塊4、濕度測試模塊5、遠端溫度測試模塊6和硬盤與服務器通訊互連電路模塊7,其中MCU電源電路模塊2分別與溫度測試模塊4、濕度測試模塊5、遠端溫度測試模塊6進行供電;所述MCU微控制單元I接收本地溫度測試模塊4和濕度測試模塊5參數并利用與硬盤與服務器通訊互連電路模塊7連接的上位機顯示;同時所述MCU微控制單元I接收遠端溫度測試模塊6的參數并利用與硬盤與服務器通訊互連電路模塊7連接的上位機顯示。
[0018]進一步的用于超高速磁電硬盤的接口適配器還包括與MCU微控制單元I連接的MCU外部輔助電路模塊3,其中MCU外部輔助電路模塊3與MCU電源電路模塊2連接,MCU外部輔助電路模塊3對MCU微控制單元I進行輔助供電,保證MCU微控制單元I工作電壓狀態穩定;MCU微控制單元I為51單片機芯片,采購成本低且易于升級;溫度測試模塊4和遠端溫度測試模塊6為溫度傳感器或溫度測試儀,濕度測試模塊5為濕度傳感器或濕度測試儀。
[0019]其中,溫度測試儀優選杭州奮樂儀器廠生產的型號為FLA5000,工作狀態穩定、測試參數精準及安裝使用方便質量輕、適應范圍廣,溫度范圍:-30°C —100C /-30 0F- 199 °F°C,濕度范圍:0°C— 100% RH,測量精度:±0.5°C /0.9 °F,測量誤差:±0.5°C /0.9 T ;濕度測試儀優選深圳市恩慈電子有限公司生產的型號為DT-625采樣率50/秒,參數采集精準、穩定。
[0020]實施例
[0021 ] 進一步的如圖2所示本接口適配器通過硬盤與服務器通訊互連電路模塊7與上位機連接,開啟MCU電源電路模塊2對溫度測試模塊4、濕度測試模塊5、遠端溫度測試模塊6供電,MCU微控制單元I利用溫度測試模塊4、濕度測試模塊5、遠端溫度測試模塊6對各個參數進行收集并利用上位機顯示,若與上一檢測步驟溫度不一致進而對本檢測步驟環境進行調整,以實現各個檢測步驟環境一致,保證各個檢測步驟所檢測的數據參數相同或縮小檢測誤差,提高磁電硬盤整體檢測穩定性、精準性。
[0022]以上所述僅是本實用新型的優選實施方式,應當指出,對于本【技術領域】的普通技術人員來說,在不脫離本實用新型原理的前提下,還可以作出若干改進,這些改進也應視為本實用新型的保護范圍。
【權利要求】
1.一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器,其特征在于:包括MCU微控制單 元(1)、及于MCU微控制單元(1)連接MCU電源電路模塊(2 )、溫度測試模塊(4 )、濕度測試模塊(5 )、遠端溫度測試模塊(6 )和硬盤與服務器通訊互連電路模塊(7 ),其中MCU電源電路模塊(2)分別與穩定測試模塊(4)、濕度測試模塊(5)、遠端溫度測試模塊(6)進行供電;所述MCU微控制單元(1)接收本地溫度測試模塊(4)和濕度測試模塊(5)參數并利用與硬盤與服務器通訊互連電路模塊(7)連接的上位機顯示;同時所述MCU微控制單元(1)接收遠端溫度測試模塊(6)的參數并利用與硬盤與服務器通訊互連電路模塊(7)連接的上位機顯不。
2.根據權利要求1所述的一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器,其特征在于:所述用于超高速磁電硬盤的接口適配器還包括與MCU微控制單元(1)連接的MCU外部輔助電路模塊(3 ),其中MCU外部輔助電路模塊(3 )與MCU電源電路模塊(2 )連接。
3.根據權利要求1所述的一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器,其特征在于:所述MCU微控制單元(1)為51單片機芯片。
4.根據權利要求1所述的一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器,其特征在于:所述溫度測試模塊(4)和遠端溫度測試模塊(6)為溫度傳感器或溫度測試儀,濕度測試模塊(5)為濕度傳感器或濕度測試儀。
5.根據權利要求4所述的一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器,其特征在于:所述溫度測試儀優選杭州奮樂儀器廠生產的型號為FLA5000。
6.根據權利要求4所述的一種用于超高速磁電硬盤檢測的接口適配器,其特征在于:所述濕度測試儀優選深圳市恩慈電子有限公司生產的型號為DT-625。
【文檔編號】G01R1/04GK204241515SQ201420696218
【公開日】2015年4月1日 申請日期:2014年11月19日 優先權日:2014年11月19日
【發明者】鄭勇, 趙銘 申請人:蘇州市歐康諾電子科技有限公司