專利名稱：用以檢測光學元件品質的檢測方法及裝置的制作方法
技術領域：
本發明關于一種用以檢測光學元件品質的檢測方法及裝置，尤指一種用以檢測一光學元件中是否留存有阻擋光程路徑的阻礙物的光學元件品質的檢測方法及裝置。
背景技術：
隨著消費性數字電子產品的流行，于所述產品上附加照相功能，已是目前的主要發展趨勢之一。但是，因數字電子產品的整體體積，通常會基于成本與便利性的考慮而有所限制，如此一來，與其搭配的相機模塊的整體體積當然更加受限。這樣，應用其中的光學鏡頭組的整體體積，亦需跟著一起變小。
此等結果，對于遂行判斷所述小型光學鏡頭組的光學鏡面是否存有瑕疵或受到污染(例如，留有灰塵、受到刮傷、材質不均等等)的檢測工作，即形成一大挑戰。
公知針對所述小型光學鏡頭組的光學鏡面是否存有瑕疵或受到污染的品質檢測方法，通常是以高倍顯微鏡與強光，配合目視方式為之。對于留存于光學鏡面表面的污點雖然可以此方式得知，但對于光學鏡頭組內部阻礙光程路徑的阻礙物，抑或屬于較不易直接以肉眼目視察覺的瑕疵，則顯不易由此方式發現。如此一來，一旦此等具有瑕疵的光學鏡頭組被組裝于產品中，顯將引發后續品管與維修問題，甚或造成消費糾紛。
發明內容
本發明的目的之一，是希望提供一種能輕易發現光學鏡頭組內部阻礙光程路徑的阻礙物的光學元件品質檢測方法。
本發明的另一目的，是希望提供一種能輕易發現光學鏡頭組內部阻礙光程路徑的阻礙物的光學元件品質檢測裝置。
為了達到上述目的，本發明提供一種用以檢測光學元件品質的檢測方法，包含下列步驟提供一點狀光源；輸出該點狀光源，并使其穿經一光學元件，以于一光學影像處理裝置處形成一第一光學影像；于該第一光學影像中具有一陰影區塊時，調整該光學元件的位置狀態，以使該點狀光源于穿經遂行調整動作的該光學元件后，而于該光學影像處理裝置處形成一第二光學影像；以及比較該第一與第二光學影像，以判斷該陰影區塊是否因應該光學元件的調整動作而同步移動，決定該光學元件的品質。
依據本發明上述的構想，其中該點狀光源可為一激光光源。
依據本發明上述的構想，其中該光學元件可包含一供該點狀光源穿經其中的光學鏡頭組，與一用以握持該光學鏡頭組的鏡頭組夾具。
依據本發明上述的構想，其中該鏡頭組夾具具有一位置調整元件，以調整該光學鏡頭組可處于不同的位置狀態。
依據本發明上述的構想，其中可為以旋轉方式，抑或以傾斜方式改變該光學鏡頭組的位置狀態。
依據本發明上述的構想，其中該陰影區塊為由一留存于該光學元件中的阻礙物阻擋該點狀光源的光程路徑而形成。
依據本發明上述的構想，其中該光學影像處理裝置可為一具有二維坐標標記的屏幕，以供該第一與第二光學影像投射于其上。
依據本發明上述的構想，其中該陰影區塊的二維坐標值于因應該光學元件的位置調整動作而同步改變時，即表示該光學元件的品質不佳。
依據本發明上述的構想，其中該光學影像處理裝置可為一設有光學感測元件的計算機處理裝置，以輸入該第一與第二光學影像。
依據本發明上述的構想，其中該計算機處理裝置判斷該陰影區塊的感測影像坐標值于因應該光學元件的位置調整動作而同步改變時，即表示該光學元件的品質不佳。
本發明的另一較佳做法，關于一種用以檢測光學元件品質的檢測方法，包含下列步驟提供一點狀光源；輸出該點狀光源，并使其穿經可處于不同位置狀態的一光學元件，以于一光學影像處理裝置中留存不同的光學影像；以及判斷該些不同光學影像中是否皆具有形式相同的陰影區塊，決定該光學元件的品質。
本發明的又一較佳做法，關于一種用以檢測光學元件品質的檢測裝置，包含一光源產生裝置，其用以產生一點狀光源；一握持裝置，設于該光源產生裝置的后方，其用以握持一可供該點狀光源穿經其中的光學鏡頭組，且可調整該光學鏡頭組的位置狀態；以及一光學影像處理裝置，設于該光學鏡頭組的后方，以輸入該點狀光源于穿經處于不同位置狀態的光學鏡頭組后而所產生的不同光學影像，且可依據該些不同光學影像中的陰影區塊是否因應該光學鏡頭組的調整動作而同步移動，決定該光學元件的品質。
依據本發明的上述構想，該點狀光源可為一激光光源，且該握持裝置可為一用以握持該光學鏡頭組的鏡頭組夾具，該鏡頭組夾具具有一位置調整元件，以旋轉或以傾斜方式，調整該光學鏡頭組處于不同的位置狀態。
依據本發明的上述構想，該陰影區塊為由一留存于該光學鏡頭組中的阻礙物阻擋該點狀光源的光程路徑而形成。
依據本發明的上述構想，該光學影像處理裝置可為一具有二維坐標標記的屏幕，以供該第一與第二光學影像投射于其上，且該陰影區塊的二維坐標值于因應該光學元件的位置調整動作而同步改變時，即表示該光學元件的品質不佳。
依據本發明的上述構想，該光學影像處理裝置可為一設有光學感測元件的計算機處理裝置，以輸入該第一與第二光學影像，且該計算機處理裝置判斷該陰影區塊的感測影像坐標值于因應該光學元件的位置調整動作而同步改變時，即表示該光學元件的品質不佳。
本發明的用以檢測光學元件品質的檢測方法和裝置，能夠在不大幅增加成本的前提下，輕易地檢驗出光學元件品質。
圖1其為本發明的一較佳實施流程的步驟示例圖。
圖2(a)、圖2(b)其皆為本發明的一第一較佳實施裝置的結構與運作示例圖。
圖3(a)、圖3(b)其皆為本發明的一第二較佳實施裝置的結構與運作示例圖。
其中，附圖標記說明如下
1—檢測裝置；11—光源產生裝置；110—點狀光源；111—第一光學影像；112—第一光學影像；12—握持裝置；121—位置調整元件；13—光學影像處理裝置；14—光學鏡頭組；141—陰影區塊；2—檢測裝置；21—光源產生裝置；210—點狀光源；211—第二光學影像；212—第二光學影像；22—握持裝置；221—位置調整元件；23—光學影像處理裝置；231—光學感測元件；232—微處理器；233—輸出裝置；2321—位置調整信號；24—光學鏡頭組；241—陰影區塊；R—旋轉動作；X—二維坐標軸；Y—二維坐標軸。
具體實施例方式
以下茲列舉較佳實施例以說明本發明，然熟悉此項技術者皆知此僅為一舉例，而并非用以限定發明本身。
首先，茲提出本發明的一較佳實施方法。請參閱圖1，其為本發明的一較佳實施方法的流程示例圖，其詳細步驟如下所述步驟(a)開始；步驟(b)提供一屬于點狀光源的激光光源；步驟(c)輸出該激光光源，并使其穿經一光學元件，以于一光學影像處理裝置處形成一第一光學影像；較佳者，其中該光學元件可包含一供該激光光源穿經其中的光學鏡頭組，與一用以握持該光學鏡頭組的鏡頭組夾具；至于該鏡頭組夾具，則可具有一位置調整元件，以旋轉方式抑或以傾斜方式，調整該光學鏡頭組處于不同的位置狀態；步驟(d)于該第一光學影像中具有一陰影區塊時，向左或向右旋轉調整該光學鏡頭組的位置狀態，以使該激光光源于穿經遂行調整動作的該光學鏡頭組后，而于該光學影像處理裝置處形成一第二光學影像；其中，該陰影區塊為由一留存于該光學鏡頭組中的阻礙物阻擋該激光光源的光程路徑而形成；步驟(e)比較該第一與第二光學影像，以判斷該陰影區塊是否因應該光學鏡頭組的調整動作而同步移動，決定該光學鏡頭組的品質；
其中，于該光學影像處理裝置為一具有二維坐標標記的屏幕以供該第一與第二光學影像投射于其上，且，該陰影區塊的二維坐標值于因應該光學鏡頭組的位置調整動作而同步改變時，即表示該光學鏡頭組的品質不佳；抑或，該光學影像處理裝置亦可為一設有光學感測元件的計算機處理裝置以輸入該第一與第二光學影像，且，該計算機處理裝置判斷該陰影區塊的感測影像坐標值于因應該光學元件的位置調整動作而同步改變時，即表示該光學元件的品質不佳；以及步驟(f)結束。
至于有關本發明的較佳實施裝置，則請參閱圖2(a)、圖2(b)，其皆為本發明的一第一較佳實施裝置的結構與運作示例圖。于其中，檢測裝置1可包含一光源產生裝置11、一設于該光源產生裝置11的后方的握持裝置12，以及一設于該握持裝置12后方的光學影像處理裝置13。以此一較佳實施例為例，該握持裝置12可為一具有位置調整元件121的鏡頭組夾具，且該光學影像處理裝置13可為一具有二維坐標標記的屏幕。
一等待檢測其鏡頭品質的光學鏡頭組14可由該鏡頭組夾具12所握持住，以供該光源產生裝置11所產生輸出的一點狀光源110(例如，為一激光光源)穿經其中，并投射至該具有二維坐標標記的屏幕13上。假設，于該光學鏡頭組14處于一第一位置時，發現該激光光源110穿經該光學鏡頭組14后所投射出的光學影像111(可視為一第一光學影像)內包含有一陰影區塊141，則可利用該位置調整元件121(例如，為一可遂行左右旋轉動作R的手動旋轉元件)，以手動調整方式改變被該鏡頭組夾具12所握持的該光學鏡頭組14的位置狀態至一第二位置，并使得該激光光源110穿經該光學鏡頭組14后，投射出另一光學影像111(可視為一第二光學影像)至該屏幕13處。
由于該屏幕13上方已標記有X軸與Y軸的二維坐標，因此該光學鏡頭組14處于該第一位置而所投射出的該第一光學影像，其中該陰影區塊141顯將具有一第一坐標值。一旦，當該光學鏡頭組14因應該鏡頭組夾具12的轉動而被帶動旋轉，以致使該陰影區塊141亦跟著該光學鏡頭組14的轉動而一起旋轉并形成于該第二光學影像112中時，該陰影區塊141顯將改為具有一第二坐標值。之后，再行比較位于該第一或第二光學影像111、112中的該陰影區塊141的外觀形式是否相同，即可確認該陰影區塊141是否由位于該光學鏡頭組14內的阻礙物所形成。亦即，該陰影區塊141如確實由位于該光學鏡頭組14內的阻礙物所形成，則其顯將會隨著該光學鏡頭組14的轉動而一起旋轉，當然，連帶亦會使得被投射至該屏幕13處的該陰影區塊141亦會跟著移動其所坐落的坐標位置。如此一來，測試者即可輕易得知該光學鏡頭組14的鏡頭品質。
再請參閱圖3(a)、圖3(b)，其皆為本發明的一第二較佳實施裝置的結構與運作示例圖。于其中，檢測裝置2可包含一光源產生裝置21、一設于該光源產生裝置21的后方的握持裝置22，以及一設于該握持裝置22后方的光學影像處理裝置23。以此一較佳實施例為例，該握持裝置22可為一具有位置調整元件221的鏡頭組夾具，且該光學影像處理裝置23可為一設有光學感測元件231的計算機處理裝置。當然，該計算機處理裝置23更包含一電連接于該光學感測元件231與該鏡頭組夾具22的微處理器232，以及一電連接于該微處理器232的輸出裝置233。至于該光學感測元件231(例如，可為一CCD光學感測元件)的詳細工作原理因僅為一公知技術，在此即不再予以贅述。
再則，一等待檢測其鏡頭品質的光學鏡頭組24可由該鏡頭組夾具22所握持住，以供該光源產生裝置21所產生輸出的一點狀光源210(例如，為一激光光源)穿經其中，并投射至該光學感測元件231處以供其遂行感測輸入動作。假設，于該光學鏡頭組24處于一第一位置時，發現該激光光源210穿經該光學鏡頭組24后所投射出的光學影像211(可視為一第一光學影像)內包含有一陰影區塊241，則可利用該位置調整元件221(例如，其受到由該微處理器232所產生的一位置調整信號2321的控制而可遂行一左右旋轉動作R的自動旋轉元件)，以自動調整方式改變被該鏡頭組夾具22所握持的該光學鏡頭組24的位置狀態至一第二位置，并使得該激光光源210穿經該光學鏡頭組24后，投射出另一光學影像212(可視為一第二光學影像)至該光學感測元件231處。
由于該微處理器232輸入并處理來自該光學感測元件231所感測得致的感測影像信號(即前述的該第一及第二光學影像211、212)具有感測影像坐標值，因此該光學鏡頭組14處于該第一位置而所投射出的該第一光學影像211，其中該陰影區塊241顯將具有一第一感測影像坐標值。一旦，當該光學鏡頭組24因應該鏡頭組夾具22的轉動而被帶動旋轉，以致使該陰影區塊241亦跟著該光學鏡頭組24的轉動而一起旋轉并形成于該第二光學影像212中時，該陰影區塊241顯將改為具有一第二感測影像坐標值。之后，再行由該微處理器232比較位于該第一或第二光學影像211、212中的該陰影區塊241的外觀形式是否相同，即可確認該陰影區塊241是否由位于該光學鏡頭組24內的阻礙物所形成。亦即，該陰影區塊241如確實是由位于該光學鏡頭組24內的阻礙物所形成，則其顯將會隨著該光學鏡頭組24的轉動而一起旋轉，當然，連帶亦會使得被投射至該光學感測元件231處的該陰影區塊241亦會跟著移動其所坐落的坐標位置。如此一來，測試者即可輕易透過該輸出裝置233得知該光學鏡頭組24的鏡頭品質。
綜上所述，本發明確實能于不大幅增加成本的前提下，提供一種能輕易發現光學鏡頭組內部阻礙光程路徑的阻礙物的光學元件品質檢測方法與裝置，故本發明實為一極具產業價值之作。
本發明得由熟習此技術的人士任施匠思而為諸般修飾，然皆不脫所附權利要求書所欲保護的范圍。
權利要求
1.一種用以檢測光學元件品質的檢測方法，其中包含下列步驟提供一點狀光源；輸出該點狀光源，并使其穿經一光學元件，以于一光學影像處理裝置處形成一第一光學影像；于該第一光學影像中具有一陰影區塊時，調整該光學元件的位置狀態，以使該點狀光源于穿經遂行調整動作的該光學元件后，而于該光學影像處理裝置處形成一第二光學影像；以及比較該第一與第二光學影像，以判斷該陰影區塊是否因應該光學元件的調整動作而同步移動，決定該光學元件的品質。
2.如權利要求1所述的用以檢測光學元件品質的檢測方法，其特征是該點狀光源可為一激光光源，而該光學元件則可包含一供該激光光源穿經其中的光學鏡頭組，與一用以握持該光學鏡頭組的鏡頭組夾具；其中，該鏡頭組夾具具有一位置調整元件，以旋轉抑或以傾斜方式，調整該光學鏡頭組處于不同的位置狀態。
3.如權利要求1所述的用以檢測光學元件品質的檢測方法，其特征是該光學影像處理裝置可為一具有二維坐標標記的屏幕，以供該第一與第二光學影像投射于其上，且該陰影區塊的二維坐標值于因應該光學元件的位置調整動作而同步改變時，即表示該光學元件的品質不佳。
4.如權利要求1所述的用以檢測光學元件品質的檢測方法，其特征是該光學影像處理裝置可為一設有光學感測元件的計算機處理裝置，以輸入該第一與第二光學影像，且該計算機處理裝置判斷該陰影區塊的感測影像坐標值于因應該光學元件的位置調整動作而同步改變時，即表示該光學元件的品質不佳。
5.一種用以檢測光學元件品質的檢測方法，其中包含下列步驟提供一點狀光源；輸出該點狀光源，并使其穿經可處于不同位置狀態的一光學元件，以于一光學影像處理裝置中留存不同的光學影像；以及判斷該些不同光學影像中是否皆具有形式相同的陰影區塊，決定該光學元件的品質。
6.一種用以檢測光學元件品質的檢測裝置，其中包含一光源產生裝置，其用以產生一點狀光源；一握持裝置，設于該光源產生裝置的后方，其用以握持一可供該點狀光源穿經其中的光學鏡頭組，且可調整該光學鏡頭組的位置狀態；以及一光學影像處理裝置，設于該光學鏡頭組的后方，以輸入該點狀光源于穿經處于不同位置狀態的光學鏡頭組后而所產生的不同光學影像，且可依據該些不同光學影像中的陰影區塊是否因應該光學鏡頭組的調整動作而同步移動，決定該光學元件的品質。
7.如權利要求6所述的用以檢測光學元件品質的檢測裝置，其特征是該點狀光源可為一激光光源，且該握持裝置可為一用以握持該光學鏡頭組的鏡頭組夾具，該鏡頭組夾具具有一位置調整元件，以旋轉或以傾斜方式，調整該光學鏡頭組處于不同的位置狀態。
8.如權利要求6所述的用以檢測光學元件品質的檢測裝置，其特征是該陰影區塊為由一留存于該光學鏡頭組中的阻礙物阻擋該點狀光源的光程路徑而形成。
9.如權利要求6所述的用以檢測光學元件品質的檢測裝置，其特征是該光學影像處理裝置可為一具有二維坐標標記的屏幕，以供該第一與第二光學影像投射于其上，且該陰影區塊的二維坐標值于因應該光學元件的位置調整動作而同步改變時，即表示該光學元件的品質不佳。
10.如權利要求6所述的用以檢測光學元件品質的檢測裝置，其特征是該光學影像處理裝置可為一設有光學感測元件的計算機處理裝置，以輸入該第一與第二光學影像，且該計算機處理裝置判斷該陰影區塊的感測影像坐標值于因應該光學元件的位置調整動作而同步改變時，即表示該光學元件的品質不佳。
全文摘要
本發明關于一種用以檢測光學元件品質的檢測方法及裝置，該方法包含下列步驟利用一光源產生裝置以提供一點狀光源；輸出該點狀光源，并使其穿經由一握持裝置所握持的光學鏡頭組，以于一光學影像處理裝置處形成一第一光學影像；于該第一光學影像中具有一陰影區塊時，調整該光學鏡頭組的位置狀態，以使該點狀光源于穿經遂行調整動作的該光學鏡頭組后，而于該光學影像處理裝置處形成一第二光學影像；以及比較該第一與第二光學影像，以判斷該陰影區塊是否因應該光學鏡頭組的調整動作而同步移動，決定該光學元件的品質。
文檔編號G01N21/958GK1869668SQ20051007430
公開日2006年11月29日 申請日期2005年5月25日 優先權日2005年5月25日
發明者秦厚敬, 陳祥男 申請人:致伸科技股份有限公司
專業數控銑床產品供應商
20年生產經驗，實力工廠，精工品質，質量有保障
