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密封圈老化測試裝置制造方法

時間:2023-10-22    作者: 管理員

密封圈老化測試裝置制造方法
【專利摘要】本發明公開了一種密封圈老化測試裝置,其包括收容座、溫度探頭及溫度計。收容座包括本體和蓋體,密封圈放置于本體的內表面,蓋體安裝于本體上并遮蓋密封圈。溫度探頭安裝在蓋體的內表面,溫度計用于量測收容座內部的溫度。其中,測試時,將收容座放入高溫箱,溫度計放在高溫箱外,溫度探頭將探測到的收容座內部的溫度傳給溫度計,使收容座內部的溫度達到預定溫度并保持一定的時間,以對密封圈進行老化測試。本發明提供的密封圈老化測試裝置,通過將密封圈放入收容座內部,且通過溫度探頭探測收容座內部的溫度并傳給溫度計,從而可以保證收容座內部的溫度達到預定溫度,進而保證了密封圈老化測試的準確性。
【專利說明】密封圈老化測試裝置

【技術領域】
[0001]本發明涉及照明燈具領域,尤其涉及密封圈老化測試裝置。

【背景技術】
[0002]燈具外殼的各部件之間常通過密封圈來實現密封,以實現燈具的防水性能。但密封圈的材質為硅橡膠,而燈具的發熱量大,會導致密封圈在高溫下老化變脆最后成粉末狀,使燈具防水性能失效而進水,所以燈具的密封圈是衡量燈具外殼防水可靠性的重要指標,故有必要對密封圈進行老化測試。
[0003]發明內部
[0004]本發明的目的在于提供一種密封圈老化測試裝置。
[0005]為了解決上述技術問題,本發明提供了一種密封圈老化測試裝置,其包括收容座、溫度探頭及溫度計,所述收容座包括本體和蓋體,所述密封圈放置于所述本體的內表面,所述蓋體安裝于所述本體上并遮蓋所述密封圈,所述溫度探頭安裝在所述蓋體的內表面,所述溫度計用于量測所述收容座內部的溫度,其中,測試時,將所述收容座放入高溫箱,所述溫度計放在所述高溫箱外,所述溫度探頭將探測到的所述收容座內部的溫度傳給所述溫度計,使所述收容座內部的溫度達到預定溫度并保持一定的時間,以對所述密封圈進行老化測試。
[0006]其中,所述密封圈老化測試裝置還包括連接部,所述連接部安裝在所述蓋體的外表面并與所述溫度探頭連接。
[0007]其中,所述連接部為傳感線。
[0008]其中,所述溫度計與所述連接部連接,所述溫度探頭將探測到的所述收容座內部的溫度通過所述連接部傳給所述溫度計。
[0009]其中,所述溫度計為無線溫度計,所述溫度探頭將探測到的所述收容座內部的溫度直接傳給所述溫度計。
[0010]其中,所述溫度計包括發光源,用于觀察所述收容座的內表面是否有所述密封圈因為老化而釋放出的硅粉。
[0011]其中,所述收容座內表面包括六個內表平面,所述發光源發出的光線照射于所述收容座內且與其中一個內表平面平行。。
[0012]其中,所述本體為可耐高溫的鋼化玻璃板。
[0013]其中,所述蓋體為可耐高溫的鋼化玻璃罩。
[0014]本發明提供的密封圈老化測試裝置,通過將密封圈放入收容座內部,且通過溫度探頭探測收容座內部的溫度并傳給溫度計,從而可以保證收容座內部的溫度達到預定溫度,進而保證了密封圈老化測試的準確性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]為了更清楚地說明本發明的技術方案,下面將對實施方式中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施方式,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動性的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0016]圖1是本發明實施方式提供的密封圈老化測試裝置的示意圖。

【具體實施方式】
[0017]下面將結合本發明實施方式中的附圖,對本發明實施方式中的技術方案進行清楚、完整地描述。
[0018]請參考圖1,為本發明實施方式提供的一種密封圈老化測試裝置100,其包括收容座10、溫度探頭30、連接部40及溫度計50。
[0019]收容座10為一個密封的容器,并包括本體12和蓋體14。收容座10的內表面包括六個內表平面16。
[0020]本體12為一塊可耐高溫的鋼化玻璃板。在本實施方式中,本體12為一塊可耐溫500°C以上的鋼化玻璃板。密封圈放置于本體12的內表面。
[0021]蓋體14安裝于本體12上并遮蓋密封圈。蓋體14為可耐高溫的鋼化玻璃罩。在本實施方式中,蓋體14為可耐溫500°C以上的鋼化玻璃罩。
[0022]在本實施方式中,蓋體14包括5個平面。
[0023]溫度探頭30安裝在蓋體14的內表面,用于探測收容座10內部的溫度并傳給溫度計50。
[0024]連接部40安裝在蓋體14的外表面并與溫度探頭30連接,用于將溫度探頭30探測的溫度傳給溫度計50。在本實施方式中,連接部40為傳感線。
[0025]溫度計50用于測量溫度,并與連接部40連接,從而可以監控收容座10內部的溫度。
[0026]在本實施方式中,溫度計50為有線溫度計。溫度探頭30探測收容座10內部的溫度并通過連接部40傳給溫度計50,以監控收容座10內部的溫度是否達到預定溫度。
[0027]在其它實施方式中,溫度計50為無線溫度計。溫度探頭30將探測到的收容座10內部的溫度直接傳給溫度計50。
[0028]在本實施方式中,預定溫度為燈具在正常工作時密封圈的最高溫度,如100°C。
[0029]溫度計50包括發光源52,用于觀察收容座10的內表面是否有密封圈因為老化而釋放出的娃粉。在本實施方式中,發光源52為電筒。使用時,發光源52發出的光線照射于收容座10內且與其中一個內表平面16平行。
[0030]安裝時,密封圈放置于本體12的內表面,蓋體14安裝于本體12上并遮蓋密封圈,溫度探頭30安裝在蓋體14的內表面,連接部40安裝在蓋體14的外表面并與溫度探頭30連接,溫度計50與連接部40連接,從而收容座10、溫度探頭30、連接部40及溫度計50便組裝為密封圈老化測試裝置100。
[0031]測試時,將收容座10放入高溫箱,溫度計50放在高溫箱外,溫度探頭30將探測到的收容座10內部的溫度傳給溫度計50,使收容座10內部的溫度達到預定溫度并保持一定的時間,以對密封圈進行老化測試。
[0032]在本實施方式中,使收容座10內部的溫度達到100°C并保持4小時。收容座10內部的溫度通過溫度探頭30和連接部40傳給溫度計50。測試后,用溫度計50上的發光源52照射收容座10,以查看收容座10的內表面是否有硅粉釋放,以判斷密封圈的密封性能。如有硅粉釋放,則密封圈的老化測試不符合要求,即密封圈在高溫下易老化變脆,密封性能較差。否則,密封圈的老化測試符合要求,即密封圈在高溫下難老化變脆,具有良好的密封性能。
[0033]在其它實施方式中,收容座10內部的溫度通過溫度探頭30直接傳給溫度計50。
[0034]因本發明的密封圈放入收容座內部,且通過溫度探頭探測收容座內部的溫度并傳給溫度計,從而可以保證收容座內部的溫度達到預定溫度,進而保證了密封圈老化測試的準確性。
[0035]因密封圈在使用之前就做了老化測試,從而在使用過程中,不會因密封圈在高溫下老化變脆而失去密封性能,從而燈具的外殼具有較好的防水性能,即保證了燈具外殼防水性能的可靠性。
[0036]因收容座10為一個密封的容器,即密封圈置于一個密封的容器內,密封圈在老化過程所釋放出的硅粉全部粘在收容座10的內表面,從而保證了密封圈老化測試的準確性。而且發光源52發出的光線照射于所述收容座10內且與其中一個內表平面16平行,可以清楚的觀察出收容座10的內表面是否有密封圈釋放出的硅粉,進一步提高了密封圈老化測試的準確性。
[0037]因預定溫度為燈具在正常工作時密封圈的最高溫度,從而密封圈老化測試時的溫度與密封圈工作時的溫度一致,進而保證了密封圈老化測試的準確性。
[0038]以上所述是本發明的優選實施方式,應當指出,對于本【技術領域】的普通技術人員來說,在不脫離本發明原理的前提下,還可以做出若干改進和潤飾,這些改進和潤飾也視為本發明的保護范圍。
【權利要求】
1.一種密封圈老化測試裝置,其特征在于,所述密封圈老化測試裝置包括收容座、溫度探頭及溫度計,所述收容座包括本體和蓋體,所述密封圈放置于所述本體的內表面,所述蓋體安裝于所述本體上并遮蓋所述密封圈,所述溫度探頭安裝在所述蓋體的內表面,所述溫度計用于量測所述收容座內部的溫度,其中,測試時,將所述收容座放入高溫箱,所述溫度計放在所述高溫箱外,所述溫度探頭將探測到的所述收容座內部的溫度傳給所述溫度計,使所述收容座內部的溫度達到預定溫度并保持一定的時間,以對所述密封圈進行老化測試。
2.根據權利要求1所述的密封圈老化測試裝置,其特征在于,所述密封圈老化測試裝置還包括連接部,所述連接部安裝在所述蓋體的外表面并與所述溫度探頭連接。
3.根據權利要求2所述的密封圈老化測試裝置,其特征在于,所述連接部為傳感線。
4.根據權利要求2所述的密封圈老化測試裝置,其特征在于,所述溫度計與所述連接部連接,所述溫度探頭將探測到的所述收容座內部的溫度通過所述連接部傳給所述溫度計。
5.根據權利要求1所述的密封圈老化測試裝置,其特征在于,所述溫度計為無線溫度計,所述溫度探頭將探測到的所述收容座內部的溫度直接傳給所述溫度計。
6.根據權利要求4或5所述的密封圈老化測試裝置,其特征在于,所述溫度計包括發光源,用于觀察所述收容座的內表面是否有所述密封圈因為老化而釋放出的硅粉。
7.根據權利要求6所述的密封圈老化測試裝置,其特征在于,所述收容座內表面包括六個內表平面,所述發光源發出的光線照射于所述收容座內且與其中一個內表平面平行。
8.根據權利要求1所述的密封圈老化測試裝置,其特征在于,所述本體為可耐高溫的鋼化玻璃板。
9.根據權利要求8所述的密封圈老化測試裝置,其特征在于,所述蓋體為可耐高溫的鋼化玻璃罩。
【文檔編號】G01N17/00GK104048907SQ201310081055
【公開日】2014年9月17日 申請日期:2013年3月14日 優先權日:2013年3月14日
【發明者】周明杰, 汪輝 申請人:深圳市海洋王照明工程有限公司, 海洋王照明科技股份有限公司

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