專利名稱:塑殼斷路器自動耐壓試驗(yàn)臺及控制方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明屬于一種塑殼斷路器檢測試驗(yàn)裝置,特別是涉及一種塑殼斷路器自動耐壓試驗(yàn)臺及控制方法。
背景技術(shù):
目前的試驗(yàn)臺控制核心是工 控機(jī)配合板卡,成本較高;而且合閘機(jī)構(gòu)是由氣缸推動的,工作時將合閘機(jī)構(gòu)部分推到斷路器上方位置,空閑時斷路器氣缸將合閘機(jī)構(gòu)部分推離斷路器上方位置,必須有氣缸導(dǎo)軌等一系列器件,試驗(yàn)臺占的面積和體積也比較大;采樣電路為全波整流電路需要的元器件多。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為解決公知技術(shù)中存在的技術(shù)問題而提供一種試驗(yàn)臺及其控制部分占的體積比較小,成本較低的塑殼斷路器自動耐壓試驗(yàn)臺及控制方法。本發(fā)明為解決公知技術(shù)中存在的技術(shù)問題,對于塑殼斷路器自動耐壓試驗(yàn)臺所采取的技術(shù)方案是:它包括有所述試驗(yàn)臺的框架、斷路器自動合閘機(jī)構(gòu)、控制電路的主電路、接觸器控制電路、繼電器控制電路、電機(jī)調(diào)節(jié)電路和采樣電路;所述斷路器自動合閘機(jī)構(gòu)固連在放置被檢測斷路器上方位置的所述試驗(yàn)臺框架上;所述的主電路是:220伏電源的兩端接第九接觸器(KM9)的常開觸點(diǎn)的一端,所述第九接觸器(KM9)常開觸點(diǎn)的另一端連接調(diào)壓器(T2 )輸入側(cè),所述調(diào)壓器(T2 )輸出側(cè)連接變壓器(TI)原邊,所述變壓器(TI) 3000V副邊的3000L —端連接到互相并聯(lián)的第一、二、三、四接觸器(KM1,KM2,KM3,KM4)的常開觸點(diǎn)的一端上,所述第一、二、三、四接觸器(KM1,KM2,KM3,KM4)的常開觸點(diǎn)的另一端分別接到待測斷路器的上口 N、C、B、A相,所述變壓器(Tl) 3000V副邊的3000N —端連接到互相并聯(lián)的第五、六、七、八接觸器(KM5,KM6,KM7,KM8)的常開觸點(diǎn)上,所述第五、六、七、八接觸器(KM5,KM6,KM7,KM8)的常開觸點(diǎn)的另一端分別接到所述待測斷路器的下口 N、C、B、A相,所述變壓器(Tl) 5V側(cè)副邊兩端分別接到所述采樣電路第一、二輸入端(1、2)上,信號經(jīng)過采樣電路的不失真半波整流后送到單片機(jī)的AD采樣口,用于調(diào)節(jié)電壓;所述變壓器(Tl)3000V副邊回路中接有電流互感器(CT),所述電流互感器(CT)的兩端(Cll、C12)接有采樣電阻(R2),所述電流互感器(CT)的兩端(Cll、C12)分別接到所述采樣電路第一、二輸入端(1、2)上,信號經(jīng)過采樣電路的不失真半波整流后送到單片機(jī)的AD采樣口 ;所述的接觸器控制電路是:220電源L端連接第一、二、三、四、五、六、七、八、九繼電器(KA1、KA2、KA3、KA4、KA5、KA6、KA7、KA8、KA9)常開觸點(diǎn)一端,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九繼電器(KA1、KA2、KA3、KA4、KA5、KA6、KA7、KA8、KA9)常開觸點(diǎn)另一端接所述第一、二、三、四、五、六、七、八及第九接觸器(KMl,KM2,KM3,KM4、KM5,KM6,KM7,KM8、KM9)線圈一端,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九接觸器(KM1,KM2,KM3,KM4、KM5,KM6,KM7,KM8、KM9)線圈另一端接 220電源N端;所述的繼電器控制電路是:24V直流電源連接第一、二、三、四、五、六、七、八、九及第十繼電器(KAl、KA2、KA3、KA4、KA5、KA6、KA7、KA8、KA9、KAlO)線圈的一端,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十繼電器(KA1、KA2、KA3、KA4、KA5、KA6、KA7、KA8、KA9、KAlO)線圈的另一端連接第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十三極管(VT1、VT2、VT3、VT4、VT5、VT6、VI7、VT8、VT9、VT10)的集電極,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十三極管(VT1、VT2、VT3、VT4、VT5、VT6、VI7、VT8、VT9、VT10)的集電極又連接了第i^一、十二、十三、十四、十五、十六、十七、十八、十九、二十二極管(011、012、013、014、015、016、017、018、019、020)的正極和第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十光耦(仍、似、仍、說、邪、邯、價、邯、現(xiàn)、譏0)輸出側(cè)的集電極,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十三極管(VT1、VT2、VT3、VT4、VT5、VT6、VI7、VT8、VT9、VT10)的發(fā)射極連接24V地,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十三極管(VT1、VT2、VT3、VT4、VT5、VT6、VI7、VT8、VT9、VT10)的基極連接所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十光耦(Ul、U2、U3、U4、U5、U6、U7、U8、U9、U10)輸出側(cè)的發(fā)射極,所述第一、二、
三、四、五、六、七、八、九、十光耦(仍、似、仍、說、邪、邯、價、邯、現(xiàn)、譏0)的輸入側(cè)正極接所述單片機(jī)的IO 口,負(fù)極接5V地;所述的電機(jī)調(diào)節(jié)電路是::12V電源連接所述第十繼電器(KAlO)的第一組常開觸點(diǎn)的一端,所述第一組常開觸點(diǎn)另一端同時連接了第一二極管(Dl)的負(fù)極、電機(jī)(M)第一限位開關(guān)(SI)的一端、電容(C)的一端、所述第十繼電器(KAlO)第一組常閉觸點(diǎn)的一端,所述第一二極管(Dl)的正極同時連接了電機(jī)(M)的所述第一限位開關(guān)
(SI)的另一端、所述電機(jī)(M)的一端,所述電機(jī)(M)的另一端同時連接了第二二極管(D2)的正極和所述電機(jī)(M)第二限位開關(guān)(S2)的一端,所述第二二極管(D2)的負(fù)極同時連接了電機(jī)(M)所述第二限位開關(guān)(S2)的另一端、所述電容(C)的另一端、所述第十繼電器(KAlO)第二組常開觸點(diǎn)一端、所述第十繼電器(KAlO)第二組常閉觸點(diǎn)一端,第十繼電器(KAlO)所述第二組常閉觸點(diǎn)的另一端連接了 12V電源,第十繼電器(KAlO)所述第二組常開觸點(diǎn)的另一端同時連接了第十繼電器(KAlO)所述第一組常閉觸點(diǎn)的另一端、場效應(yīng)管(Vl)漏極,所述場效應(yīng)管(Vl)源級接12V地,所述場效應(yīng)管(Vl)柵極同時連接了第一電阻(Rl)—端、第i 光稱(UlI)輸出側(cè)發(fā)射極,所述第一電阻(Rl)另一端連接12V地,所述第^ 光率禹(Ull)輸出側(cè)集電極連接12V電源,所述第十一光耦(Ull)輸入側(cè)二極管正極連接所述單片機(jī)IO 口,所述第十一光耦(UlI)輸入側(cè)二極管負(fù)極連接5V地;所述的采樣電路是:所述第一信號輸入端(I)連接肖特基二極管(DO)正極和5V地,所述5V地連接濾波電容(CO) —端,所述第二信號輸入端(2)連接第三電阻(R3)—端,所述第三電阻(R3)另一端同時連接所述肖特基二極管(DO)負(fù)極、所述濾波電容(CO)另一端和所述單片機(jī)采樣口 AD。本發(fā)明為解決公知技術(shù)中存在的技術(shù)問題,對于塑殼斷路器自動耐壓試驗(yàn)臺的控制方法所采取的技術(shù)方案是:若測試被檢測斷路器A、B相間耐壓情況時其控制過程如下:(I).搜索被檢測斷路器舉升后,斷路器手柄是否伸入合閘機(jī)構(gòu)內(nèi)的位置點(diǎn)一原點(diǎn),是即執(zhí)行步驟2;(2).試驗(yàn)臺托板氣缸和探針氣缸伸出,完成舉升動作,執(zhí)行步驟3 ;(3).合閘(若測試進(jìn)出線位置間耐壓的情況時分閘),執(zhí)行步驟4 ;(4).接通電路,第九接觸器(KM9)通電,采樣電壓,如實(shí)際電壓比試驗(yàn)電壓小,第十繼電器(KAlO)通電,單片機(jī)IO 口驅(qū)動光耦,使場效應(yīng)管(Vl)導(dǎo)通,電機(jī)(M)正向轉(zhuǎn)動,調(diào)壓器(T2)輸出電壓增加,變壓器(Tl)原邊電壓增加;如實(shí)際電壓大,所述第十繼電器(KAlO)斷電,單片機(jī)IO 口驅(qū)動光耦,使 場效應(yīng)管(Vl)導(dǎo)通,電機(jī)(M)反向轉(zhuǎn)動,調(diào)壓器(T2)輸出電壓減小,變壓器(Tl)原邊電壓減小,執(zhí)行步驟5 ;
(5).判斷電壓是否到位,即是否實(shí)際電壓與試驗(yàn)電壓相差±1%以內(nèi),如不到位重復(fù)步驟4,如到位執(zhí)行步驟6;(6).第四、第七接觸器(KM4、KM7)通電,開始計時;(7).采樣泄漏電流;(8).判斷泄漏電流是否超出合格范圍,如超出合格范圍,記錄當(dāng)前計時時間和“不合格”結(jié)果,執(zhí)行步驟10 ;如未超出合格范圍,執(zhí)行步驟9 ;(9).判斷是否到時,即當(dāng)前計時時間等于試驗(yàn)時間,如到時,記錄當(dāng)前計時時間和“合格”結(jié)果,執(zhí)行步驟10 ;如不到時,重復(fù)步驟7 ;(10).斷電,斷開第九接觸器(KM9)、第四接觸器KM4、第七接觸器KM7 ;(11).上位機(jī)顯示結(jié)果。本發(fā)明具有的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是:由于控制核心采用的是單片機(jī);將合閘機(jī)構(gòu)固定在試驗(yàn)臺的框架上;采樣電路為不失真半波采樣電路,從而整個試驗(yàn)臺的體積大大縮小了,電路簡單,需要的電器元件少;所以大幅降低了試驗(yàn)臺的成本。
圖1是本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)示意圖;;圖2是本發(fā)明合閘機(jī)構(gòu)示意圖;圖3是本發(fā)明主電路原理圖;圖4是本發(fā)明采樣電路原理圖;圖5是本發(fā)明控制步驟流程圖。
具體實(shí)施例方式為能進(jìn)一步了解本發(fā)明的內(nèi)容、特點(diǎn)及功效,茲例舉以下實(shí)施例,并配合附圖詳細(xì)說明如下:如圖1、2所示,斷路器自動合閘機(jī)構(gòu)K固定連接在放置被檢測斷路器上方位置的試驗(yàn)臺框架L上,即合閘機(jī)構(gòu)K的支撐架b上有圓孔bl,螺絲穿過圓孔bl將整個合閘機(jī)構(gòu)K固定在試驗(yàn)臺框架L上,機(jī)構(gòu)支撐架b共四個,其他三個與機(jī)構(gòu)支撐架b相同。如圖3所示,主電路是:220伏電源的兩端接接觸器KM9的常開觸點(diǎn)的一端,接觸器KM9常開觸點(diǎn)的另一端連接調(diào)壓器T2輸入側(cè),調(diào)壓器T2輸出側(cè)連接變壓器Tl原邊,變壓器T13000V副邊的3000L —端連接到互相并聯(lián)的接觸器KMl,KM2,KM3,KM4的常開觸點(diǎn)的一端上,接觸器KM1,KM2,KM3,KM4的常開觸點(diǎn)的另一端分別接到待測斷路器的上口 N、C、B、A相,變壓器T13000V副邊的3000N —端連接到互相并聯(lián)的接觸器KM5,KM6,KM7,KM8的常開觸點(diǎn)上,接觸器KM5,KM6,KM7, KM8的常開觸點(diǎn)的另一端分別接到待測斷路器的下口N、C、B、A相,變壓器T15V側(cè)副邊兩端分別接到采樣電路輸入端1、2上,信號經(jīng)過采樣電路的不失真半波整流后送到單片機(jī)的AD采樣口,用于調(diào)節(jié)電壓;變壓器T13000V副邊回路中接有電流互感器CT,電流互感器CT的兩端C11、C12接有采樣電阻R2,電流互感器CT的兩端CU、C12分別接到采樣電路輸入端1、2上,信號經(jīng)過采樣電路的不失真半波整流后送到單片機(jī)的AD采樣口 ;接觸器控制電路是:220電源L端連接繼電器KAl、KA2、KA3、KA4、KA5、KA6、KA7、KA8、KA9 常開觸點(diǎn)一端,繼電器 KA1、KA2、KA3、KA4、KA5、KA6、KA7、KA8、KA9 常開觸點(diǎn)另一端接接觸器 KMl,KM2, KM3, KM4、KM5,KM6, KM7, KM8、KM9 線圈一端,接觸器 KMl,KM2, KM3, KM4、KM5, KM6, KM7, KM8、KM9 線圈另一端接 220 電源 N 端;繼電器控制電路是:24V直流電源連接繼電器KA1、KA2、KA3、KA4、KA5、KA6、KA7、KA8、KA9、KAlO 線圈的一端,繼電器 KAl、KA2、KA3、KA4、KA5、KA6、KA7、KA8、KA9、KAlO 線圈的另一端連接三極管 VT1、VT2、VT3、VT4、VT5、VT6、VT7、VT8、VT9、VT10 的集電極,三極管 VT1、VT2、VT3、VT4、VT5、VT6、VT7、VT8、VT9、VTlO 的集電極又連接了二極管 Dll、D12、D13、D14、D15、D16、D17、D18、D19、D20 的正極和光耦 Ul、U2、U3、U4、U5、U6、U7、U8、U9、UlO 輸出側(cè)的集電極,三極管 VT1、VT2、VT3、VT4、VT5、VT6、VT7、VT8、VT9、VTlO 的發(fā)射極連接 24V 地,三極管 VT1、VT2、VT3、VT4、VT5、VT6、TH、VT8、VT9、VTlO 的基極連接光耦 Ul、U2、U3、U4、U5、U6、U7、U8、U9、UlO 輸出側(cè)的發(fā)射極,光耦 Ul、U2、U3、U4、U5、U6、U7、U8、U9、UlO 的輸入側(cè)正極接單片機(jī)的IO 口,負(fù)極接5V地;電機(jī)調(diào)節(jié)電路是:12V電源連接繼電器KAlO的第一組常開觸點(diǎn)的一端,第一組常開觸點(diǎn)另一端同時連接了二極 管Dl的負(fù)極、電機(jī)M第一限位開關(guān)SI的一端、電容C的一端、繼電器KAlO第一組常閉觸點(diǎn)的一端,二極管Dl的正極同時連接了電機(jī)M的限位開關(guān)SI的另一端、電機(jī)M的一端,電機(jī)M的另一端同時連接了二極管D2的正極和電機(jī)M限位開關(guān)S2的一端,二極管D2的負(fù)極同時連接了電機(jī)M限位開關(guān)S2的另一端、電容C的另一端、繼電器KAlO第二組常開觸點(diǎn)一端、繼電器KAlO第二組常閉觸點(diǎn)一端,繼電器KAlO第二組常閉觸點(diǎn)的另一端連接了 12V電源,繼電器KAlO第二組常開觸點(diǎn)的另一端同時連接了繼電器KAlO第一組常閉觸點(diǎn)的另一端、場效應(yīng)管Vl漏極,場效應(yīng)管Vl源級接12V地,場效應(yīng)管Vl柵極同時連接了電阻Rl —端、光耦Ul I輸出側(cè)發(fā)射極,電阻Rl另一端連接12V地,光耦Ul I輸出側(cè)集電極連接12V電源,光耦Ull輸入側(cè)二極管正極連接單片機(jī)IO 口,光耦Ull輸入側(cè)二極管負(fù)極連接5V地;如圖4所示,采樣電路是:信號輸入端I連接肖特基二極管DO正極和5V地,5V地連接濾波電容CO —端,信號輸入端2連接電阻R3 —端,電阻R3另一端同時連接肖特基二極管DO負(fù)極、濾波電容CO另一端和單片機(jī)采樣口 AD。本發(fā)明各個電路的原理如下:主電路:KM1、KM2、KM3、KM4、KM5、KM6、KM7、KM8八個接觸器的作用是分別接通待測斷路器的上下口來搭建不同的測試電路,例如選擇測試AB相間時,則接通接觸器KM4和接觸器KM7。變壓器Tl的5V側(cè)副邊兩端分別接到采樣電路輸入端上即1、2端,作為電壓的反饋信號送到單片機(jī),用于調(diào)節(jié)電壓。電流互感器CT的Cll和C12兩端采集泄漏電流信號送到單片機(jī),用于判斷結(jié)果。接觸器控制電路:當(dāng)繼電器KAl通電時,KAl常開觸點(diǎn)閉合,使接觸器KMl通電,實(shí)現(xiàn)繼電器KAl對接觸器KMl的控制。其他接觸器也是此工作原理。繼電器控制電路:三極管VTl作用是電流放大,二極管Dll為續(xù)流二極管。其他繼電器也是此工作原理。電機(jī)調(diào)節(jié)電路:與現(xiàn)有技術(shù)相同。采樣電路:為不失真半波整流電路,使用肖特基二極管DO,二極管DO并聯(lián)反接,正半波波形完全保留,負(fù)半波電平絕對值高于管壓降的部分被過濾掉。由于肖特基二極管管壓降很小,所以負(fù)半波波形保留的很少,不會損壞單片機(jī)。如圖5所示,本發(fā)明的控制工作步驟是:若測試被檢測斷路器A、B相間耐壓情況時其控制過程如下:(I).搜索被檢測斷路器舉升后,斷路器手柄是否伸入合閘機(jī)構(gòu)內(nèi)的位置點(diǎn)一原點(diǎn),是即執(zhí)行步驟2;(2).試驗(yàn)臺托板氣缸和探針氣缸伸出,完成舉升動作,執(zhí)行步驟3 ;(3).合閘(若測試進(jìn)出線位置間耐壓則情況時分閘),執(zhí)行步驟4 ;(4).接通電路,第九接觸器(KM9)通電,采樣電壓,如實(shí)際電壓比試驗(yàn)電壓小,第十繼電器(KAlO)通電,單片機(jī)IO 口驅(qū)動光耦,使場效應(yīng)管(Vl)導(dǎo)通,電機(jī)(M)正向轉(zhuǎn)動,調(diào)壓器(T2)輸出電壓增加,變壓器(Tl)原邊電壓增加;如實(shí)際電壓大,所述第十繼電器(KAlO)斷電,單片機(jī)IO 口驅(qū)動光耦,使場效應(yīng)管(Vl)導(dǎo)通,電機(jī)(M)反向轉(zhuǎn)動,調(diào)壓器(T2)輸出電壓減小,變壓器(Tl)原邊電壓減小,執(zhí)行步驟5 ;(5).判斷電壓是否到位,即是否實(shí)際電壓與試驗(yàn)電壓相差±1%以內(nèi),如不到位重復(fù)步驟4,如到位執(zhí)行步驟6;(6).第四、第七接觸器(KM4、KM7)通電,開始計時;(7) 采樣泄漏電流;(8).判斷泄漏電流是否超出合格范圍,如超出合格范圍,記錄當(dāng)前計時時間和“不合格”結(jié)果,執(zhí)行步驟10 ;如未超出合格范圍,執(zhí)行步驟9 ;(9).判斷是否到時,即當(dāng)前計時時間等于試驗(yàn)時間,如到時,記錄當(dāng)前計時時間和“合格”結(jié)果,執(zhí)行步驟10 ;如不到時,重復(fù)步驟7 ;(10).斷電,斷開第九接觸器(KM9)、第四接觸器KM4、第七接觸器KM7 ;
(11).上位機(jī)顯示結(jié)果。
權(quán)利要求
1.一種塑殼斷路器自動耐壓試驗(yàn)臺,它包括有所述試驗(yàn)臺的框架、斷路器自動合閘機(jī)構(gòu)、控制電路的主電路、接觸器控制電路、繼電器控制電路、電機(jī)調(diào)節(jié)電路和采樣電路,其特征是:所述斷路器自動合閘機(jī)構(gòu)固連在放置被檢測斷路器上方位置的所述試驗(yàn)臺框架上、所述的主電路是:220伏電源的兩端接第九接觸器(KM9)的常開觸點(diǎn)的一端,所述第九接觸器(KM9)常開觸點(diǎn)的另一端連接調(diào)壓器(T2)輸入側(cè),所述調(diào)壓器(T2)輸出側(cè)連接變壓器(Tl)原邊,所述變壓器(T1) 3000V副邊的3000L—端連接到互相并聯(lián)的第一、二、三、四接觸器(KMl,KM2,KM3,KM4)的常開觸點(diǎn)的一端上,所述第一、二、三、四接觸器(KMl,KM2,KM3,KM4)的常開觸點(diǎn)的另一端分別接到待測斷路器的上口 N、C、B、A相,所述變壓器(Tl) 3000V副邊的3000N —端連接到互相并聯(lián)的第五、六、七、八接觸器(KM5,KM6,KM7,KM8)的常開觸點(diǎn)上,所述第五、六、七、八接觸器(KM5,KM6,KM7,KM8 )的常開觸點(diǎn)的另一端分別接到所述待測斷路器的下口 N、C、B、A相,所述變壓器(Tl) 5V側(cè)副邊兩端分別接到所述采樣電路第一、二輸入端(1、2)上,信號經(jīng)過采樣電路的不失真半波整流后送到單片機(jī)的AD采樣口,用于調(diào)節(jié)電壓;所述變壓器(T1) 3000V副邊回路中接有電流互感器(CT),所述電流互感器(CT)的兩端(C11、C12)接有采樣電阻(R2),所述電流互感器(CT)的兩端(C11、C12)分別接到所述采樣電路第一、二輸入端(1、2)上,信號經(jīng)過采樣電路的不失真半波整流后送到單片機(jī)的AD采樣口 ;所述的接觸器控制電路是:220電源L端連接第一、二、三、四、五、六、七、八、九繼電器(KA1、KA2、KA3、KA4、KA5、KA6、KA7、KA8、KA9)常開觸點(diǎn)一端,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九繼電器(KA1、KA2、KA3、KA4、KA5、KA6、KA7、KA8、KA9 )常開觸點(diǎn)另一端接所述第一、二、三、四、五、六、七、八及第九接觸器(KM1,KM2,KM3,KM4、KM5,KM6,KM7,KM8、KM9)線圈一端,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九接觸器(KM1,KM2,KM3,KM4、KM5,KM6,KM7,KM8、KM9)線圈另一端接220電源N端;所述的繼電器控制電路是:24V直流電源連接第一、二、三、四、五、六、七、八、九及第十繼電器(KA1、KA2、KA3、KA4、KA5、KA6、KA7、KA8、KA9、KA10)線圈的一端,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十繼電器(KA1、KA2、KA3、KA4、KA5、KA6、KA7、KA8、KA9、KA10)線圈的另一端連接第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十三極管(VT1、VT2、VT3、VT4、VT5、VT6、VT7、VT8、VT9、VT10)的集電極,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十三極管(VT1、VT2、VT3、VT4、VT5、VT6、VT7、VT8、VT9、VT10)的集電極又連接了第十一、十二、十三、十四、十五、十六、十七、十八、十九、二十二極管(D11、D12、D13、D14、D15、D16、D17、D18、D19、D20)的正極和第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十光耦(U1、U2、U3、U4、U5、U6、U7、U8、U9、U10)輸出側(cè)的集電極,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十三極管(VT1、VT2、VT3、VT4、VT5、VT6、VI7、VT8、VT9、VT10 )的發(fā)射極連接 24V 地,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十三極管(VT1、VT2、VT3、VT4、VT5、VT6、VT7、VT8、VT9、VT10)的基極連接所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十光耦(仍、似、仍、說、邪、詘、價、邯、現(xiàn)、譏0)輸出側(cè)的發(fā)射極,所述第一、二、三、四、五、六、七、八、九、十光耦(仍、似、仍、說、邪、服、價、U8.U9.U10)的輸入側(cè)正極接所述單片機(jī)的IO 口,負(fù)極接5V地;所述的電機(jī)調(diào)節(jié)電路是::12V電源連接所述第十繼電器(KAlO)的第一組常開觸點(diǎn)的一端,所述第一組常開觸點(diǎn)另一端同時連接了第一二極管(Dl)的負(fù)極、電機(jī)(M)第一限位開關(guān)(SI)的一端、電容(C)的一端、所述第十繼電器( KAlO)第一組常閉觸點(diǎn)的一端,所述第一二極管(Dl)的正極同時連接了電機(jī)(M)的所述第一限位開關(guān)(SI)的另一端、所述電機(jī)(M)的一端,所述電機(jī)(M)的另一端同時連接了第二二極管(D2)的正極和所述電機(jī)(M)第二限位開關(guān)(S2)的一端,所述第二二極管(D2)的負(fù)極同時連接了電機(jī)(M)所述第二限位開關(guān)(S2)的另一端、所述電容(C)的另一端、所述第十繼電器(KAlO)第二組常開觸點(diǎn)一端、所述第十繼電器(KAlO)第二組常閉觸點(diǎn)一端,第十繼電器(KAlO)所述第二組常閉觸點(diǎn)的另一端連接了 12V電源,第十繼電器(KAlO)所述第二組常開觸點(diǎn)的另一端同時連接了第十繼電器(KAlO)所述第一組常閉觸點(diǎn)的另一端、場效應(yīng)管(Vl)漏極,所述場效應(yīng)管(Vl)源級接12V地,所述場效應(yīng)管(Vl)柵極同時連接了第一電阻(Rl) —端、第i 光稱(Ull)輸出側(cè)發(fā)射極,所述第一電阻(Rl)另一端連接12V地,所述第i^一光耦(Ull)輸出側(cè)集電極連接12V電源,所述第i^一光耦(Ull)輸入側(cè)二極管正極連接所述單片機(jī)IO 口,所述第十一光耦(Ull)輸入側(cè)二極管負(fù)極連接5V地;所述的采樣電路是:所述第一信號輸入端(I)連接肖特基二極管(DO)正極和5V地,所述5V地連接濾波電容(CO ) —端,所述第二信號輸入端(2 )連接第三電阻(R3 ) —端,所述第三電阻(R3)另一端同時連接所述肖特基二極管(DO)負(fù)極、所述濾波電容(CO)另一端和所述單片機(jī)采樣口 AD。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的塑殼斷路器自動耐壓試驗(yàn)臺的控制方法,其特征在于:若測試被檢測斷路器A、B相間耐壓情況時其控制過程如下: (1).搜索被檢測斷路器舉升后,斷路器手柄是否伸入合閘機(jī)構(gòu)內(nèi)的位置點(diǎn)一原點(diǎn),是即執(zhí)行步驟2 ; (2).試驗(yàn)臺托板氣缸和探針氣缸伸出,完成舉升動作,執(zhí)行步驟3; (3).合閘(若測試進(jìn)出線位置間耐壓的情況時分閘),執(zhí)行步驟4; (4).接通電路,第九接觸器(KM9)通電,采樣電壓,如實(shí)際電壓比試驗(yàn)電壓小,第十繼電器(KAlO)通電,單片機(jī)IO 口驅(qū)動光耦,使場效應(yīng)管(VI)導(dǎo)通,電機(jī)(M)正向轉(zhuǎn)動,調(diào)壓器(T2)輸出電壓增加,變壓器(Tl)原邊電壓增加;如實(shí)際電壓大,所述第十繼電器(KAlO)斷電,單片機(jī)IO 口驅(qū)動光耦,使場效應(yīng)管(Vl)導(dǎo)通,電機(jī)(M)反向轉(zhuǎn)動,調(diào)壓器(T2)輸出電壓減小,變壓器(Tl)原邊電壓減小,執(zhí)行`步驟5 ; (5).判斷電壓是否到位,即是否實(shí)際電壓與試驗(yàn)電壓相差±1%以內(nèi),如不到位重復(fù)步驟4,如到位執(zhí)行步驟6; (6).第四、第七接觸器(KM4、KM7)通電,開始計時; (7).采樣泄漏電流; (8).判斷泄漏電流是否超出合格范圍,如超出合格范圍,記錄當(dāng)前計時時間和“不合格”結(jié)果,執(zhí)行步驟10 ;如未超出合格范圍,執(zhí)行步驟9 ; (9).判斷是否到時,即當(dāng)前計時時間等于試驗(yàn)時間,如到時,記錄當(dāng)前計時時間和“合格”結(jié)果,執(zhí)行步驟10 ;如不到時,重復(fù)步驟7 ; (10).斷電,斷開第九接觸器(KM9)、第四接觸器KM4、第七接觸器KM7; (11).上位機(jī)顯示結(jié)果。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種塑殼斷路器自動耐壓試驗(yàn)臺及控制方法。其特點(diǎn)是它包括試驗(yàn)臺的框架、斷路器自動合閘機(jī)構(gòu)、控制電路的主電路、接觸器控制電路、繼電器控制電路、電機(jī)調(diào)節(jié)電路和采樣電路,斷路器自動合閘機(jī)構(gòu)固連在斷路器上方位置的框架上;主電路用八個接觸器分別接通待測斷路器的上下口搭建不同的測試電路,接觸器控制電路用繼電器對接觸器進(jìn)行控制,繼電器控制電路用三極管放大電流二極管作續(xù)流二極管;采樣電路為不失真半波整流電路,使用肖特基二極管D0并聯(lián)反接。由于控制核心采用的是單片機(jī);合閘機(jī)構(gòu)固定在試驗(yàn)臺框架上;采樣電路為不失真半波采樣電路,從而整個試驗(yàn)臺的體積縮小了,電路簡單需要的電器元件少;所以大幅降低了試驗(yàn)臺的成本。
文檔編號G01R31/327GK103235245SQ20131014796
公開日2013年8月7日 申請日期2013年4月25日 優(yōu)先權(quán)日2013年4月25日
發(fā)明者史祺, 王鐵鐮, 王巖 申請人:天津市百利電氣有限公司