一種氣體干燥裝置制造方法
【專利摘要】一種氣體干燥裝置。本實用新型的目的是提供一種氣體干燥裝置，所述的裝置包括脫氣系統、除塵系統、冷卻干燥系統、以及氣體分析系統；所述冷卻干燥系統包括一級冷卻室、二級冷卻室、三級冷卻室、四級冷卻室，以及制冷系統，其中所述一級冷卻室、所述二級冷卻室、所述三級冷卻室和所述四級冷卻室置于所述制冷系統的內部，所述一級冷卻室、所述二級冷卻室、所述三級冷卻室和所述四級冷卻室依次連接在一起。
【專利說明】一種氣體干燥裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種干燥裝置，尤其涉及一種氣體低溫干燥裝置。
【背景技術】
[0002]對氣體除濕干燥的傳統方法，多是采用過濾吸附，即讓潮濕的樣品氣體流過盛滿硅膠、無水氯化鈣、分子篩等吸附劑的干燥筒，利用這些吸附劑易吸附水分子的物理特性進行除濕，但吸附劑吸附深度有限，無法達到除濕標準，且頻繁更換吸附劑操作比較麻煩，產生材料消耗，更為嚴重的是某些吸附劑會吸附樣品中的一些組分。
[0003]低溫干燥方法是本領域經典的一種干燥技術，以往的低溫冷卻模式中，有利用循環冷卻水進行降溫的半導體制冷技術，但這種方式需要水資源，所以使用麻煩，結構上也比較龐大。利用壓縮制冷系統進行除濕，結構復雜，噪聲高，制冷劑易泄露，零部件損壞后維護困難等各種因素，且制冷劑(氟利昂)可能是一種對環境污染十分嚴重的物質。而應用氣體低溫干燥方法，其利用飽和水蒸氣與溫度存在對應關系，當潮濕的氣體被冷卻至其露點時，水蒸氣從氣體中凝結至氣室的內表面，形成液體，最終排除冷凝水蒸氣來減少壓縮空氣流中的水蒸汽含量。
[0004]現有技術中已知的一種氣體低溫干燥裝置，應用于對地震地下流體自動監測的一種地下流體脫氣裝置，與氣相色譜或其他氣體傳感器連接，脫氣后的氣樣進入氣相色譜或氣體傳感器進行分析，由于脫氣后的樣品氣與微量水蒸氣可能會共同存在，水蒸汽不但會腐蝕管道，且可能損壞傳感器或減短色譜柱的使用壽命，因而必須對脫氣后的樣品氣體進行干燥清潔，去除水蒸汽。
實用新型內容
[0005]針對現有技術的不足，本實用新型針對現有技術的不足，提出一種樣品氣體干燥的裝置，能夠精確消除氣體中的水分，便于后續檢測。
[0006]一種氣體干燥裝置，所述的裝置包括脫氣系統1、除塵系統2、冷卻干燥系統、以及氣體分析系統7 ;所述冷卻干燥系統包括一級冷卻室3、二級冷卻室4、三級冷卻室5、四級冷卻室6，以及制冷系統8，其中所述一級冷卻室3、所述二級冷卻室4、所述三級冷卻室5和所述四級冷卻室6置于所述制冷系統8的內部，所述一級冷卻室3、所述二級冷卻室4、所述三級冷卻室5和所述四級冷卻室6依次連接在一起；所述脫氣系統I進口連接來源氣體，所述脫氣系統I的出口連接所述除塵系統2，所述除塵系統2的出口連接所述一級冷卻室3，氣體順次通過所述一級冷卻室3、所述二級冷卻室4、所述三級冷卻室5和所述四級冷卻室6，所述四級冷卻室6的出口連接所述氣體分析系統7，所述的氣體分析系統7為氣相色譜儀；所述的除塵系統2為旋風除塵器；所述的一級冷卻室3、二級冷卻室4、三級冷卻室5和四級冷卻室6的內部容積的比例為(3-1):(1-0.8):(0.8-0.6):(0.2-0.1);所述的制冷系統8為帶溫控的半導體制冷干燥系統。
[0007]本實用新型提供一種結構簡單、小巧而又有效的裝置，為氣相色譜分析提供干燥清潔且不失真的氣體樣品。脫氣后的氣體樣品能夠有效的得到干燥、清潔，從而為氣相色譜或氣體傳感器提供了符合標準的氣樣。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0008]圖1為本實用新型的結構示意圖；
[0009]附圖1中:1.脫氣系統、2.除塵系統、3.—級冷卻室、4.二級冷卻室、5.三級冷卻室、6.四級冷卻室、7.氣體分析系統、8.制冷系統。
【具體實施方式】
[0010]實施例1，參見圖1，一種氣體干燥裝置，所述的裝置包括脫氣系統1、除塵系統2、冷卻干燥系統、以及氣體分析系統7 ;冷卻干燥系統包括一級冷卻室3、二級冷卻室4、三級冷卻室5和四級冷卻室6，以及制冷系統8，其中一級冷卻室3、二級冷卻室4、三級冷卻室5和四級冷卻室6置于制冷系統8的內部，一級冷卻室3、二級冷卻室4、三級冷卻室5和四級冷卻室6依次連接在一起；其中，脫氣系統I進口連接來源氣體，脫氣系統I的出口連接除塵系統2，除塵系統2的出口連接一級冷卻室3，氣體順次通過一級冷卻室3、二級冷卻室4、三級冷卻室5和四級冷卻室6，四級冷卻室6的出口連接氣體分析系統7，所述的氣體分析系統7為氣相色譜儀；所述的除塵系統2為旋風除塵器；所述的一級冷卻室3、二級冷卻室4、三級冷卻室5和四級冷卻室6的內部容積的比例為3:1:0.8:0.2 ;所述的制冷系統8為帶溫控的半導體制冷干燥系統。
[0011]實施例2，一種氣體干燥裝置，所述的裝置包括脫氣系統1、除塵系統2、冷卻干燥系統、以及氣體分析系統7 ;冷卻干燥系統包括一級冷卻室3、二級冷卻室4、三級冷卻室5和四級冷卻室6，以及制冷系統8，其中一級冷卻室3、二級冷卻室4、三級冷卻室5和四級冷卻室6置于制冷系統8的內部，一級冷卻室3、二級冷卻室4、三級冷卻室5和四級冷卻室6依次連接在一起；其中，脫氣系統I進口連接來源氣體，脫氣系統I的出口連接除塵系統2，除塵系統2的出口連接一級冷卻室3，氣體順次通過一級冷卻室3、二級冷卻室4、三級冷卻室5和四級冷卻室6，四級冷卻室6的出口連接氣體分析系統7，所述的氣體分析系統7為氣相色譜儀；所述的除塵系統2為旋風除塵器；所述的一級冷卻室3、二級冷卻室4、三級冷卻室5和四級冷卻室6的內部容積的比例為1:0.8:0.6:0.1 ;所述的制冷系統8為帶溫控的半導體制冷干燥系統。
[0012]實施例1-2的裝置結構簡單、小巧而又有效，為氣相色譜分析提供干燥清潔且不失真的氣體樣品。脫氣后的氣體樣品能夠有效的得到干燥、清潔，從而為氣相色譜或氣體傳感器提供了符合標準的氣樣。
【權利要求】
1.一種氣體干燥裝置，其特征在于，包括脫氣系統(I)、除塵系統(2)、冷卻干燥系統、以及氣體分析系統(7 );所述冷卻干燥系統包括一級冷卻室(3 )、二級冷卻室(4)、三級冷卻室(5 )、四級冷卻室(6 )，以及制冷系統(8 )，其中所述一級冷卻室(3 )、所述二級冷卻室(4)、所述三級冷卻室(5)和所述四級冷卻室(6)置于所述制冷系統(8)的內部，所述一級冷卻室(3)、所述二級冷卻室(4)、所述三級冷卻室(5)和所述四級冷卻室(6)依次連接在一起；所述脫氣系統(I)進口連接來源氣體，所述脫氣系統(I)的出口連接所述除塵系統(2)，所述除塵系統(2)的出口連接所述一級冷卻室(3)，氣體順次通過所述一級冷卻室(3)、所述二級冷卻室(4 )、所述三級冷卻室(5 )和所述四級冷卻室(6 )，所述四級冷卻室(6 )的出口連接所述氣體分析系統(7)，所述氣體分析系統(7)為氣相色譜儀；所述除塵系統(2)為旋風除塵器；所述一級冷卻室(3 )、所述二級冷卻室(4 )、所述三級冷卻室(5 )、所述四級冷卻室(6 )的內部容積的比例為(3-1):(1-0.8):(0.8-0.6):(0.2-0.1);所述的制冷系統(8)為帶溫控的半導體制冷干燥系統。
【文檔編號】G01N1/34GK203551361SQ201320679791
【公開日】2014年4月16日 申請日期:2013年10月31日 優先權日:2013年10月31日
【發明者】不公告發明人 申請人:王紀
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