一種測量物體密度的方法
【專利摘要】本發明涉及一種測量物體密度的方法，通過將物體溫度置于測量密度所需的溫度，測量物體的質量后，對物體所在的環境施加兩次負壓，并測量兩次負壓時氣體的溫度、體積、壓力，再通過公式計算物體的密度值。本發明原理科學，過程合理，工藝簡單，易于操作，結果精度高，經實際應用，取得了理想的效果。
【專利說明】一種測量物體密度的方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種測量方法，尤其是一種測量物體密度的方法。
【背景技術】
[0002]在科學研究和工程實踐中，密度參數是工程計算仿真過程和科學研究實驗過程中的重要參數。它作為重要的材料物性參數，對于傳熱、傳質和動量傳輸等物理和化學過程影響很大。在現有的密度參數的測量方法中，絕大多數利用液體排出法，得到被測物體的體積，然后對被測物體稱重，從而得到被測物體平均密度的方法，如發明名稱為“ 一種固體密度測量方法”的專利，
【發明者】張永, 夏峰, 董麗波, 張爽, 韓永華, 于忠軍, 劉洪匯, 解維生 申請人:哈爾濱東安發動機（集團）有限公司
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