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地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法和裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法和裝置。該地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法包括：獲取目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到目標(biāo)區(qū)域的剖面圖；以及獲取剖面圖中的地表介質(zhì)物數(shù)據(jù)。通過本發(fā)明，達(dá)到了提高礦區(qū)地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)分辨率的效果。
【專利說明】地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法和裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及勘測(cè)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法和裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]礦產(chǎn)資源的過度開采容易破壞礦區(qū)地下地質(zhì)結(jié)構(gòu)，引發(fā)地表塌陷、滑坡、崩塌、泥石流、地裂縫、地面沉降和地面積水等事故，甚至導(dǎo)致礦區(qū)透水事故，造成嚴(yán)重的安全隱患甚至人員傷亡。通過對(duì)礦區(qū)長期、動(dòng)態(tài)的地表介質(zhì)物監(jiān)測(cè)，對(duì)礦區(qū)地表介質(zhì)物進(jìn)行分析，可及時(shí)掌握礦區(qū)地質(zhì)環(huán)境的破壞程度，從而針對(duì)實(shí)際情況制定相應(yīng)應(yīng)急處理方案。同時(shí)，礦區(qū)的地表介質(zhì)物監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)可為礦區(qū)的規(guī)劃、治理和發(fā)展提供數(shù)據(jù)支撐，有利于促進(jìn)礦山地質(zhì)災(zāi)害環(huán)境的一體化管理。因此，礦區(qū)地表介質(zhì)物監(jiān)測(cè)是礦區(qū)開采和可持續(xù)發(fā)展的重要組成部分，對(duì)預(yù)防潛在的地質(zhì)災(zāi)害具有重要意義。
[0003]目前，針對(duì)礦區(qū)地表介質(zhì)物監(jiān)測(cè)的主要手段有傳統(tǒng)的實(shí)地踏勘目測(cè)、遙感影像和普通雷達(dá)儀等，這幾種監(jiān)測(cè)方法空間分辨率低、不適合用于對(duì)礦區(qū)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、大范圍的監(jiān)測(cè)；而且需要大量的人力、物力的支持，需要測(cè)量人員進(jìn)入監(jiān)測(cè)區(qū)進(jìn)行野外作業(yè)，不僅勘測(cè)難度大、效率低下，而且存在安全隱患；臺(tái)站分布和觀測(cè)周期受到地形和氣候等環(huán)境因素的影響大，檢測(cè)不準(zhǔn)確。
[0004]針對(duì)相關(guān)技術(shù)中礦區(qū)地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)分辨率低的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的主要目的在于提供一種地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法和裝置，以解決相關(guān)技術(shù)中礦區(qū)地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)分辨率低的問題。
[0006]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法。該地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法包括:獲取目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到目標(biāo)區(qū)域的剖面圖；以及獲取剖面圖中的地表介質(zhì)物數(shù)據(jù)。
[0007]進(jìn)一步地，對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)包括:對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在時(shí)間-空間域進(jìn)行二維濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；或者對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在頻率-波數(shù)域進(jìn)行二維濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
[0008]進(jìn)一步地，對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在時(shí)間-空間域進(jìn)行二維濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)包括:對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在時(shí)間-空間域進(jìn)行采樣以得到第一采樣信號(hào)；以及通過數(shù)字濾波器在時(shí)間-空間域?qū)Φ谝徊蓸有盘?hào)進(jìn)行二維濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
[0009]進(jìn)一步地，對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在頻率-波數(shù)域進(jìn)行濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)包括:對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在頻率-波數(shù)域進(jìn)行采樣以得到第二采樣信號(hào)；以及通過數(shù)字濾波器在頻率-波數(shù)域?qū)Φ诙蓸有盘?hào)進(jìn)行二維濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
[0010]進(jìn)一步地，對(duì)第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到所述目標(biāo)區(qū)域的剖面圖包括:對(duì)第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到第三地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；以及采用道內(nèi)技術(shù)調(diào)整第三地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)的振幅值以得到目標(biāo)區(qū)域的剖面圖。
[0011]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)裝置。該地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)裝置包括:第一獲取單元，用于獲取目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；濾波單元，用于對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；運(yùn)算單元，用于對(duì)第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到目標(biāo)區(qū)域的剖面圖；以及第二獲取單元，用于獲取剖面圖中的地表介質(zhì)物數(shù)據(jù)。
[0012]進(jìn)一步地，濾波單元包括:第一濾波模塊，用于對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在時(shí)間-空間域進(jìn)行二維濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；或者第二濾波模塊，用于對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在頻率-波數(shù)域進(jìn)行二維濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
[0013]進(jìn)一步地，第一濾波模塊包括:第一米集子模塊，用于對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在時(shí)間-空間域進(jìn)行采樣以得到第一采樣信號(hào)；以及第一數(shù)字濾波器，用于在時(shí)間-空間域?qū)Φ谝徊蓸有盘?hào)進(jìn)行二維濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
[0014]進(jìn)一步地，第二濾波模塊包括:第二采集子模塊，用于對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在頻率-波數(shù)域進(jìn)行采樣以得到第二采樣信號(hào)；以及第二數(shù)字濾波器，用于在頻率-波數(shù)域?qū)Φ诙蓸有盘?hào)進(jìn)行二維濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
[0015]進(jìn)一步地，運(yùn)算單元包括:運(yùn)算模塊，用于對(duì)第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到第三地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；以及調(diào)整模塊，用于采用道內(nèi)技術(shù)調(diào)整第三地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)的振幅值以得到目標(biāo)區(qū)域的剖面圖。
[0016]通過本發(fā)明，采用獲取目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；對(duì)第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到目標(biāo)區(qū)域的剖面圖；以及獲取剖面圖中的地表介質(zhì)物數(shù)據(jù)，解決了相關(guān)技術(shù)中礦區(qū)地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)分辨率低的問題的問題，進(jìn)而達(dá)到了提高礦區(qū)地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)分辨率的效果。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分的附圖用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0018]圖1是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法的流程圖；
[0019]圖2是根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法的流程圖；
[0020]圖3是根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法的流程圖；
[0021]圖4是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖5是根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；以及
[0023]圖6是根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0024]需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本發(fā)明。
[0025]為了使本領(lǐng)域的技術(shù)人員更好的理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分的實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，在本領(lǐng)域普通技術(shù)人員沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0026]需要說明的是，本發(fā)明的說明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對(duì)象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換，以便這里描述的本發(fā)明的實(shí)施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤４送猓g(shù)語“包括”和“具有”以及他們的任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含。
[0027]根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，提供了一種地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法，該地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法用于提高礦區(qū)地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)分辨率。該地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法可以運(yùn)行在計(jì)算機(jī)處理設(shè)備上。
[0028]圖1是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法的流程圖。
[0029]如圖1所示，該地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法包括如下的步驟SlOl至步驟S104:
[0030]步驟S101，獲取目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
[0031]在本發(fā)明實(shí)施例中，獲取目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)可以是獲取來自地質(zhì)雷達(dá)收集的影像和/或數(shù)據(jù)，或者可以是獲取來自地質(zhì)雷達(dá)收集的影像和/或數(shù)據(jù)經(jīng)過數(shù)據(jù)預(yù)處理后得到的雷達(dá)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)預(yù)處理即為數(shù)據(jù)編輯，其中，可以通過以下方式對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理:首先可以將獲取的目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行格式化，得到極坐標(biāo)格式的雷達(dá)數(shù)據(jù)，然后可以分析并判斷極坐標(biāo)格式的雷達(dá)數(shù)據(jù)的異常值比率是否大于預(yù)設(shè)值，其中，當(dāng)判斷出極坐標(biāo)格式的雷達(dá)數(shù)據(jù)的異常值比率大于預(yù)設(shè)值時(shí)，則確定雷達(dá)數(shù)據(jù)為無效數(shù)據(jù)并將該無效數(shù)據(jù)舍棄，否則當(dāng)判斷出極坐標(biāo)格式的雷達(dá)數(shù)據(jù)的異常值比率不大于預(yù)設(shè)值時(shí)，則確定雷達(dá)數(shù)據(jù)為有效數(shù)據(jù)并將該有效數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)修改，其中，數(shù)據(jù)修改可以包括數(shù)據(jù)合并、數(shù)據(jù)道極性轉(zhuǎn)換、數(shù)據(jù)道位置參數(shù)改變、數(shù)據(jù)復(fù)位、地形改正和信號(hào)幅值歸一化等。
[0032]步驟S102，對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
[0033]在本發(fā)明實(shí)施例中，在濾波維數(shù)方面，對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波可以是對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行一維濾波，優(yōu)選地，可以是對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行二維濾波，其中，對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行二維濾波可以是二維頻率-波數(shù)濾波，由于頻率域?yàn)V波時(shí)僅僅改變波剖面的形狀，而波數(shù)域?yàn)V波時(shí)僅僅改變振動(dòng)圖的形狀，而根據(jù)上述頻率域和波數(shù)域的內(nèi)在聯(lián)系進(jìn)行頻率-波數(shù)濾波時(shí)，不僅可以加強(qiáng)頻率間隔內(nèi)視速度在某一范圍的有效波，而且可以抑制這個(gè)頻率帶內(nèi)的干擾波，因此頻率-波數(shù)濾波效果更佳。需要說明的是，視速度是指在頻率-波數(shù)域平面上，通過原點(diǎn)的直線的斜率。
[0034]在本發(fā)明實(shí)施例中，濾波方式可以包括頻域?yàn)V波和時(shí)域?yàn)V波。其中，可以通過以下方式對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行頻域?yàn)V波:方式一，當(dāng)目標(biāo)區(qū)域存在較強(qiáng)的高頻干擾時(shí)，則通過低通濾波去除干擾；方式二，當(dāng)目標(biāo)區(qū)域存在較強(qiáng)的低頻干擾時(shí)，則通過高通濾波去除干擾；方式三，當(dāng)目標(biāo)區(qū)域同時(shí)存在較強(qiáng)的高頻干擾和低頻干擾時(shí)，則通過帶通濾波去除干擾；方式四，當(dāng)目標(biāo)區(qū)域存在較強(qiáng)的特殊頻率干擾時(shí)，則通過對(duì)特殊頻率進(jìn)行陷波去除干擾。另外，時(shí)域?yàn)V波可以為理想高通濾波、理想低通濾波和理想帶通濾波，由于理想帶通濾波可以同時(shí)濾除高頻噪聲和低頻噪聲，因此，優(yōu)選地可以選用理想帶通濾波在工程中進(jìn)行時(shí)域?yàn)V波。
[0035]具體地，對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行頻域?yàn)V波時(shí)，首先可以對(duì)第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行頻譜分析，以確定有效波干擾的頻率范圍，然后設(shè)計(jì)濾波器保留有效頻率成分，并去除干擾頻率成分。在本發(fā)明實(shí)施例中，在對(duì)目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波之后，可以進(jìn)行傅里葉逆變換以得到目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。需要說明的是，其中，可以根據(jù)地質(zhì)雷達(dá)的中心頻率確定濾波參考頻率，例如，如下表所示。
[0036]
【權(quán)利要求】
1.一種地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，包括: 獲取目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)； 對(duì)所述目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)； 對(duì)所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到所述目標(biāo)區(qū)域的剖面圖；以及 獲取所述剖面圖中的地表介質(zhì)物數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，對(duì)所述目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)包括: 對(duì)所述目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在時(shí)間-空間域進(jìn)行二維濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；或者 對(duì)所述第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在頻率-波數(shù)域進(jìn)行二維濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，對(duì)所述第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在時(shí)間-空間域進(jìn)行二維濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)包括: 對(duì)所述第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在時(shí)間-空間域進(jìn)行采樣以得到第一采樣信號(hào)；以及通過數(shù)字濾波器在時(shí)間-空間域?qū)λ龅谝徊蓸有盘?hào)進(jìn)行二維濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，對(duì)所述第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在頻率-波數(shù)域進(jìn)行濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)包括: 對(duì)所述第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在頻率-波數(shù)域進(jìn)行采樣以得到第二采樣信號(hào)；以及通過數(shù)字濾波器在頻率-波數(shù)域?qū)λ龅诙蓸有盘?hào)進(jìn)行二維濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，對(duì)所述第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到所述目標(biāo)區(qū)域的剖面圖包括: 對(duì)所述第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到第三地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；以及 采用道內(nèi)技術(shù)調(diào)整所述第三地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)的振幅值以得到所述目標(biāo)區(qū)域的剖面圖。
6.一種地表介質(zhì)物的監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，包括: 第一獲取單元，用于獲取目標(biāo)區(qū)域的第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)； 濾波單元，用于對(duì)所述第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)； 運(yùn)算單元，用于對(duì)所述第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到所述目標(biāo)區(qū)域的剖面圖；以及 第二獲取單元，用于獲取所述剖面圖中的地表介質(zhì)物數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述濾波單元包括: 第一濾波模塊，用于對(duì)所述第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在時(shí)間-空間域進(jìn)行二維濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；或者 第二濾波模塊，用于對(duì)所述第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在頻率-波數(shù)域進(jìn)行二維濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述第一濾波模塊包括: 第一采集子模塊，用于對(duì)所述第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在時(shí)間-空間域進(jìn)行采樣以得到第一米樣信號(hào)；以及 第一數(shù)字濾波器，用于在時(shí)間-空間域?qū)λ龅谝徊蓸有盘?hào)進(jìn)行二維濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述第二濾波模塊包括: 第二采集子模塊，用于對(duì)所述第一地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)在頻率-波數(shù)域進(jìn)行采樣以得到第二米樣信號(hào)；以及 第二數(shù)字濾波器，用于在頻率-波數(shù)域?qū)λ龅诙蓸有盘?hào)進(jìn)行二維濾波以得到所述目標(biāo)區(qū)域的第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述運(yùn)算單元包括: 運(yùn)算模塊，用于對(duì)所述第二地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反褶積運(yùn)算以得到第三地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)；以及 調(diào)整模塊，用于采用 道內(nèi)技術(shù)調(diào)整所述第三地質(zhì)雷達(dá)數(shù)據(jù)的振幅值以得到所述目標(biāo)區(qū)域的剖面圖。
【文檔編號(hào)】G01V3/38GK103605165SQ201310629727
【公開日】2014年2月26日 申請(qǐng)日期:2013年11月29日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月29日
【發(fā)明者】李程, 孟淑英, 白璐 申請(qǐng)人:中國神華能源股份有限公司, 神華地質(zhì)勘查有限責(zé)任公司