檢測分析oled器件缺陷的方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發明公開了一種檢測分析OLED器件缺陷的方法，將OLED器件點亮，然后通過測試設備對點亮的OLED器件進行測試；測試數據上報分析，確定缺陷現象及缺陷的具體位置；根據缺陷具體位置，對OLED器件進行微觀結構觀察；將微觀缺陷信息進行上報和記錄。檢測分析OLED器件缺陷的裝置，至少一條傳送帶設置在平臺的上面，點亮測試區設置在平臺的左側，觀察測試區設置在平臺的右側，成像測試儀設置在點亮測試區的上方，顯微鏡設置在觀察測試區的上方，計算機安放在平臺外，同時與成像測試儀、顯微鏡、點亮測試區和觀察測試區相連。本發明具有避免了肉眼觀察缺陷的主觀性，使缺陷檢測分析更加客觀全面；且可以自動檢測缺陷，提高了缺陷檢測分析的效率的優點。
【專利說明】檢測分析OLED器件缺陷的方法及裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及OLED生產工藝，特別是一種檢測分析OLED器件缺陷的方法及裝置。【背景技術】
[0002]對于OLED的一些缺陷檢測分析，如陽極-陽極短路(AA)，陽極-陰極短路(AC)，陽極開路(A0)，陰極-陰極短路(CC)等，對這些缺陷的檢測分析方法，通常是在OLED器件做好后，先將OLED器件進行點亮，然后用人眼進行現象觀察，發現AA、AC、AO、CC等缺陷的現象后，用顯微鏡對這些缺陷的微觀圖像進行觀察，進而才能分析缺陷發生的具體原因。上面描述的OLED器件的缺陷檢測分析方法有2個缺點:一是人眼在觀察缺陷現象的時候，由于光強、色彩和空間會對人眼的視覺分辨造成影響，造成缺陷現象的漏檢，進而使器件的缺陷檢測分析不全面；二是用顯微鏡對缺陷現象進行觀察的時候，顯微鏡通常不能對缺陷的位置進行自動定位，人手移動載物臺尋找缺陷通常會花費很長時間，造成缺陷檢測分析的效率低。本發明可以提高缺陷檢測分析的效率，并避免缺陷檢測分析的不全面問題。
【發明內容】
[0003]本發明是解決上述問題，提供一種避免了肉眼觀察缺陷的主觀性，使缺陷檢測分析更加客觀全面；且可以自動檢測缺陷，提高了缺陷檢測分析的效率的一種檢測分析OLED器件缺陷的方法及裝置。
[0004]本發明的檢測分析OLED器件缺陷的方法，包括如下步驟:
[0005]第一步、將OLED器件點亮，然后通過測試設備對點亮的OLED器件進行測試；
[0006]第二步、將測試數據進行上報，然后進行分析，確定缺陷現象及缺陷的具體位置；
[0007]第三步、根據得出的缺陷具體位置，對OLED器件進行微觀結構觀察；
[0008]第四步、將微觀結構觀察得到的微觀缺陷信息進行上報和記錄。
[0009]所述第一步中的測試設備為成像測試儀。
[0010]所述第一步中進行的測試為灰階掃描。
[0011]所述第二步中測試數據上報給計算機。
[0012]所述第三步中使用顯微鏡對OLED器件進行微觀結構觀察。
[0013]所述第四步中計算機對得到的微觀缺陷信息進行上報和記錄。
[0014]本發明的檢測分析OLED器件缺陷的裝置，包括平臺、傳送帶、成像測試儀、顯微鏡、計算機、點亮測試區和觀察測試區；至少一條傳送帶設置在平臺的上面，點亮測試區設置在平臺的左側，觀察測試區設置在平臺的右側，成像測試儀設置在點亮測試區的上方，顯微鏡設置在觀察測試區的上方，計算機安放在平臺外，同時與成像測試儀、顯微鏡、點亮測試區和觀察測試區相連。
[0015]所述點亮測試區里設置有與計算機相連的點亮裝置。
[0016]所述觀察測試區里設置有與計算機相連的定位裝置。
[0017]綜上所述，本發明的檢測分析OLED器件缺陷的方法和裝置具有避免了肉眼觀察缺陷的主觀性，使缺陷檢測分析更加客觀全面；且可以自動檢測缺陷，提高了缺陷檢測分析的效率的優點。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0018]圖1為檢測分析OLED器件缺陷的裝置的結構圖。
[0019]其中，1、傳送帶；2、成像測試儀；3、顯微鏡；4、計算機；5、點亮測試區；6、觀察測試區。
【具體實施方式】
[0020]下面結合附圖和具體的實施例對本發明作進一步的闡述。
[0021]本發明的檢測分析OLED器件缺陷的方法，包括如下步驟:第一步、將OLED器件點亮，然后通過測試設備對點亮的OLED器件進行測試；第二步、將測試數據進行上報，然后進行分析，確定缺陷現象及缺陷的具體位置；第三步、根據得出的缺陷具體位置，對OLED器件進行微觀結構觀察；第四步、將微觀結構觀察得到的微觀缺陷信息進行上報和記錄。所述第一步中的測試設備為成像測試儀。所述第一步中進行的測試為灰階掃描。所述第二步中測試數據上報給計算機。所述第三步中使用顯微鏡對OLED器件進行微觀結構觀察。所述第四步中計算機對得到的微觀缺陷信息進行上報和記錄。本發明的檢測分析OLED器件缺陷的裝置，包括平臺、傳送帶1、成像測試儀2、顯微鏡3、計算機4、點亮測試區5和觀察測試區6 ;至少一條傳送帶I設置在平臺的上面，點亮測試區5設置在平臺的左側，觀察測試區6設置在平臺的右側，成像測試儀2設置在點亮測試區5的上方，顯微鏡3設置在觀察測試區6的上方，計算機4安放在平臺外，同時與成像測試儀2、顯微鏡3、點亮測試區5和觀察測試區6相連。所述點亮測試區5里設置有與計算機4相連的點亮裝置。所述觀察測試區6里設置有與計算機4相連的定位裝置。
[0022]測試時，將待測OLED器件放在傳送帶I上，傳送帶I將待測OLED器件運送到點亮測試區5，然后計算機4通過點亮裝置點亮待測OLED器件，然后計算機4控制成像測試儀2對待測OLED器件進行灰階掃描，計算機將灰階掃描的測試數據上報，然后進行分析，確定缺陷現象和缺陷的具體位置，然后傳送帶將待測OLED器件運送到觀察測試區6，計算機4通過得到的缺陷的具體位置控制定位裝置將顯微鏡3對著待測OLED器件缺陷位置的行與列，使用顯微鏡3對待測OLED的缺陷位置進行微觀結構觀察，然后將微觀缺陷信息上報給計算機4，計算機4對上報的微觀缺陷信息進行記錄。如果計算機4通過灰階掃描數據得出多個缺陷位置時，則計算機4會同時給出全部缺陷位置，在顯微鏡3觀察完一個缺陷后，計算機4控制定位裝置將待測OLED器件定位到下一個缺陷位置進行微觀結構觀察，知道全部缺陷都進行過微觀結構觀察。
[0023]本領域的普通技術人員將會意識到，這里所述的實施例是為了幫助讀者理解本發明的原理，應被理解為本發明的保護范圍并不局限于這樣的特別陳述和實施例。本領域的普通技術人員可以根據本發明公開的這些技術啟示做出各種不脫離本發明實質的其它各種具體變形和組合，這些變形和組合仍然在本發明的保護范圍內。
【權利要求】
1.一種檢測分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于，包括如下步驟: 第一步、將OLED器件點亮，然后通過測試設備對點亮的OLED器件進行測試； 第二步、將測試數據進行上報，然后進行分析，確定缺陷現象及缺陷的具體位置； 第三步、根據得出的缺陷具體位置，對OLED器件進行微觀結構觀察； 第四步、將微觀結構觀察得到的微觀缺陷信息進行上報和記錄。
2.如權利要求1所述的檢測分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于:所述第一步中的測試設備為成像測試儀。
3.如權利要求1所述的檢測分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于:所述第一步中進行的測試為灰階掃描。
4.如權利要求1所述的檢測分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于:所述第二步中測試數據上報給計算機。
5.如權利要求1所述的檢測分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于:所述第三步中使用顯微鏡對OLED器件進行微觀結構觀察。
6.如權利要求1所述的檢測分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于:所述第四步中計算機對得到的微觀缺陷信息進行上報和記錄。
7.—種檢測分析OLED器件缺陷的裝置，其特征在于:包括平臺、傳送帶(I)、成像測試儀(2)、顯微鏡(3)、計算機(4)、點亮測試區(5)和觀察測試區(6);至少一條傳送帶(I)設置在平臺的上面，點亮測試區(5)設置在平臺的左側，觀察測試區(6)設置在平臺的右側，成像測試儀(2)設置在點亮測試區(5)的上方，顯微鏡(3)設置在觀察測試區(6)的上方，計算機(4)安放在平臺外，同時與成像測試儀(2)、顯微鏡(3)、點亮測試區(5)和觀察測試區(6)相連。
8.如權利要求7所述的檢測分析OLED器件缺陷的裝置，其特征在于:所述點亮測試區(5)里設置有與計算機(4)相連的點亮裝置。
9.如權利要求7所述的檢測分析OLED器件缺陷的裝置，其特征在于:所述觀察測試區(6)里設置有與計算機(4)相連的定位裝置。
【文檔編號】G01N21/88GK103969567SQ201410160915
【公開日】2014年8月6日 申請日期:2014年4月22日 優先權日:2014年4月22日
【發明者】楊培, 夏維高, 李建 申請人:四川虹視顯示技術有限公司
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