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漏電檢測(cè)電路的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種漏電檢測(cè)電路，包括：直流電源，處理器，第一隔離開(kāi)關(guān)，第二隔離開(kāi)關(guān)，第三隔離開(kāi)關(guān)，隔離運(yùn)算放大器和電阻；直流電源的輸出正端連接電阻的一端，輸出負(fù)端通過(guò)第一隔離開(kāi)關(guān)連接待測(cè)設(shè)備機(jī)殼，同時(shí)還連接隔離運(yùn)算放大器的反相輸入端，電阻的另一端連接隔離運(yùn)算放大器的同相輸入端，同時(shí)還通過(guò)第二隔離開(kāi)關(guān)連接待測(cè)設(shè)備電源的輸出正端，以及通過(guò)第三隔離開(kāi)關(guān)連接待測(cè)設(shè)備電源的輸出負(fù)端，第一隔離開(kāi)關(guān)、第二隔離開(kāi)關(guān)、第三隔離開(kāi)關(guān)的控制端和隔離運(yùn)算放大器的輸出端均連接處理器，處理器連接待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路。該漏電檢測(cè)電路可在待測(cè)設(shè)備上電后、待測(cè)設(shè)備啟動(dòng)前預(yù)先檢測(cè)判斷是否漏電，安全性高，可靠性高。
【專(zhuān)利說(shuō)明】漏電檢測(cè)電路
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于漏電檢測(cè)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種漏電檢測(cè)電路。
【背景技術(shù)】
[0002]在開(kāi)關(guān)電源領(lǐng)域中，尤其是輸出高壓的電源，出于保證設(shè)備與使用人員的安全等原因，對(duì)漏電流有嚴(yán)格限制，有些設(shè)備要求在設(shè)備每次開(kāi)機(jī)前應(yīng)進(jìn)行漏電檢測(cè)。
[0003]目前漏電流檢測(cè)主要采用兩種方法:第一種是依靠漏電流傳感器，將輸出正、負(fù)兩根母線(xiàn)穿過(guò)漏電流傳感器，若流過(guò)兩母線(xiàn)上的電流不相等，則認(rèn)為存在漏電。此方法存在如下缺陷:(1)受溫度影響較大，在高、低溫條件下，檢測(cè)誤差較大；(2)只能在設(shè)備開(kāi)機(jī)后在線(xiàn)檢測(cè)，無(wú)法在設(shè)備開(kāi)機(jī)之前預(yù)先測(cè)試并判斷；(3)設(shè)備體積較大，安裝不便。
[0004]第二種是采用兆歐表，測(cè)絕緣電阻。測(cè)試時(shí)需要隨時(shí)攜帶儀表且需人工手動(dòng)調(diào)節(jié)儀表，一般只適用于產(chǎn)品出廠檢驗(yàn)，不能滿(mǎn)足電源每次開(kāi)機(jī)之前自動(dòng)檢測(cè)漏電流的要求。
[0005]另外，目前還有一些漏電檢測(cè)電路，但均沒(méi)有與被測(cè)電源有效隔離，因開(kāi)關(guān)電源設(shè)備在檢驗(yàn)、試驗(yàn)過(guò)程中均要求測(cè)試絕緣強(qiáng)度，其測(cè)試電壓較高，未隔離時(shí)會(huì)導(dǎo)致漏電檢測(cè)電路在測(cè)試絕緣強(qiáng)度時(shí)損壞失效，同時(shí)由于其不隔離，該部分電路一旦失效，可能導(dǎo)致整個(gè)電源無(wú)法正常工作。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進(jìn)需求，本實(shí)用新型提供了一種漏電檢測(cè)電路，可在待測(cè)設(shè)備上電后、待測(cè)設(shè)備啟動(dòng)前預(yù)先檢測(cè)并判斷是否漏電，且電路單元體積小，安全性高，與待測(cè)設(shè)備電源電路隔離，可靠性高，受溫度影響小。
[0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的，按照本實(shí)用新型的一個(gè)方面，提供了一種漏電檢測(cè)電路，其特征在于，包括:直流電源，處理器，第一隔離開(kāi)關(guān)，第二隔離開(kāi)關(guān)，第三隔離開(kāi)關(guān)，隔離運(yùn)算放大器和電阻；所述直流電源的輸出正端連接所述電阻的一端，輸出負(fù)端通過(guò)所述第一隔離開(kāi)關(guān)連接待測(cè)設(shè)備機(jī)殼，同時(shí)還連接所述隔離運(yùn)算放大器的反相輸入端，所述電阻的另一端連接所述隔離運(yùn)算放大器的同相輸入端，同時(shí)還通過(guò)所述第二隔離開(kāi)關(guān)連接待測(cè)設(shè)備電源的輸出正端，以及通過(guò)所述第三隔離開(kāi)關(guān)連接待測(cè)設(shè)備電源的輸出負(fù)端，所述第一隔離開(kāi)關(guān)、所述第二隔離開(kāi)關(guān)、所述第三隔離開(kāi)關(guān)的控制端和所述隔離運(yùn)算放大器的輸出端均連接所述處理器，所述處理器連接待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路。
[0008]優(yōu)選地，所述漏電檢測(cè)電路還包括第一二極管和第二二極管，所述第一二極管的陽(yáng)極連接所述電阻，陰極連接所述第二隔離開(kāi)關(guān)，所述第二二極管的陽(yáng)極連接所述電阻，陰極連接所述第三隔離開(kāi)關(guān)。
[0009]優(yōu)選地，所述處理器包括控制單元、比較單元和計(jì)算單元；所述計(jì)算單元連接所述比較單元，用于將預(yù)定的閾值絕緣電阻轉(zhuǎn)換為閾值電壓送入所述比較單元；所述比較單元分別連接所述控制單元、所述計(jì)算單元以及所述隔離運(yùn)算放大器的輸出端，用于將所述隔離運(yùn)算放大器輸出的檢測(cè)電壓與閾值電壓比較，判定待測(cè)設(shè)備是否漏電；所述控制單元連接所述第一隔離開(kāi)關(guān)、所述第二隔離開(kāi)關(guān)和所述第三隔離開(kāi)關(guān)的控制端、所述比較單元以及待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)機(jī)控制電路，用于在待測(cè)設(shè)備上電時(shí)，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備，在漏電檢測(cè)時(shí)，控制所述第一隔離開(kāi)關(guān)、所述第二隔離開(kāi)關(guān)和所述第三隔離開(kāi)關(guān)的導(dǎo)通和截止，根據(jù)所述比較單元的漏電檢測(cè)結(jié)果，控制待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備并發(fā)出報(bào)警信號(hào)或允許待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備。
[0010]優(yōu)選地，所述處理器還包括控制單元、比較單元和計(jì)算單元；所述計(jì)算單元連接所述隔離運(yùn)算放大器的輸出端和所述比較單元，根據(jù)所述隔離運(yùn)算放大器輸出的檢測(cè)電壓計(jì)算得到對(duì)應(yīng)的檢測(cè)電阻，將檢測(cè)電阻送至所述比較單元；所述比較單元連接所述計(jì)算單元和所述控制單元，將所述計(jì)算單元計(jì)算的檢測(cè)電阻與預(yù)定的閾值絕緣電阻比較，判定待測(cè)設(shè)備是否漏電；所述控制單元連接所述第一隔離開(kāi)關(guān)、所述第二隔離開(kāi)關(guān)和所述第三隔離開(kāi)關(guān)的控制端、所述比較單元以及待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)機(jī)控制電路，用于在待測(cè)設(shè)備上電時(shí)，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備，在漏電檢測(cè)時(shí)，控制所述第一隔離開(kāi)關(guān)、所述第二隔離開(kāi)關(guān)和所述第三隔離開(kāi)關(guān)的導(dǎo)通和截止，根據(jù)所述比較單元的漏電檢測(cè)結(jié)果，控制待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備并發(fā)出報(bào)警信號(hào)或允許待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備。
[0011 ] 優(yōu)選地，所述直流電源為AC-DC電源模塊或電池。
[0012]優(yōu)選地，所述處理器為單片機(jī)。
[0013]總體而言，通過(guò)本實(shí)用新型所構(gòu)思的以上技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型主要利用與待測(cè)設(shè)備電源獨(dú)立的低壓直流電源，基于電阻分壓原理，將待測(cè)設(shè)備電源輸出正端或輸出負(fù)端與待測(cè)設(shè)備機(jī)殼之間的絕緣電阻與已知電阻串聯(lián)分壓，當(dāng)絕緣電阻為無(wú)窮大時(shí)，檢測(cè)電壓即為直流電源輸出電壓，當(dāng)絕緣電阻不為無(wú)窮大時(shí)，檢測(cè)電壓值就會(huì)下降，根據(jù)檢測(cè)電壓計(jì)算出絕緣電阻，與預(yù)定的閾值絕緣電阻比較，判定待測(cè)設(shè)備是否漏電，或?qū)z測(cè)電壓與由預(yù)定的閾值絕緣電阻轉(zhuǎn)換得到的閾值電壓比較，判定待測(cè)設(shè)備是否漏電。
[0014]具體地說(shuō)，本實(shí)用新型的漏電檢測(cè)電路具有以下有益效果:
[0015]1、使用與待測(cè)設(shè)備電源獨(dú)立的直流電源，在待測(cè)設(shè)備上電后，待測(cè)設(shè)備啟動(dòng)前即進(jìn)行漏電檢測(cè)，預(yù)先判斷啟動(dòng)后漏電流是否滿(mǎn)足要求以決定是否允許待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備。
[0016]2、使用直流電源提供不漏電時(shí)的基準(zhǔn)電壓，為低電壓檢測(cè)，與傳統(tǒng)漏電流傳感器相比，對(duì)人員與設(shè)備的安全性更高。
[0017]3、使用了隔離開(kāi)關(guān)、隔離運(yùn)算放大器等，使完成檢測(cè)后本漏電檢測(cè)電路與待測(cè)設(shè)備電源及待測(cè)設(shè)備完全隔離，不影響待測(cè)設(shè)備的正常工作，可靠性高。
[0018]4、使用了二極管，利用二極管的單向?qū)щ娦?，防止漏電檢測(cè)電路因待測(cè)設(shè)備電源關(guān)機(jī)后立即重新上電形成瞬間短路被損壞，提高可靠性。
[0019]5、電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，單元體積小，所使用器件中無(wú)溫度敏感器件，檢測(cè)結(jié)果受溫度變化影響小。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0020]圖1是本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例的漏電檢測(cè)電路示意圖；
[0021]圖2是本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例的漏電檢測(cè)電路示意圖；[0022]圖3是本實(shí)用新型的又一個(gè)實(shí)施例的漏電檢測(cè)電路示意圖；
[0023]圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例的隔離開(kāi)關(guān)動(dòng)作時(shí)序圖；
[0024]圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例的判斷漏電和不漏電時(shí)的檢測(cè)電壓波形圖。
【具體實(shí)施方式】
[0025]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。此外，下面所描述的本發(fā)明各個(gè)實(shí)施方式中所涉及到的技術(shù)特征只要彼此之間未構(gòu)成沖突就可以相互組合。
[0026]如圖1所示，本實(shí)用新型一個(gè)實(shí)施例的漏電檢測(cè)電路包括:直流電源Al，處理器D1，第一隔離開(kāi)關(guān)SI，第二隔離開(kāi)關(guān)S2，第三隔離開(kāi)關(guān)S3，隔離運(yùn)算放大器NI和電阻R1。
[0027]直流電源Al的輸出正端VCC連接電阻Rl的一端，輸出負(fù)端GND通過(guò)第一隔離開(kāi)關(guān)SI連接至待測(cè)設(shè)備機(jī)殼，同時(shí)還連接隔離運(yùn)算放大器NI的反相輸入端，漏電檢測(cè)時(shí)，處理器Dl控制第一隔離開(kāi)關(guān)SI導(dǎo)通，使本實(shí)用新型的漏電檢測(cè)電路以待測(cè)設(shè)備機(jī)殼為參考地。電阻Rl的另一端連接隔離運(yùn)算放大器NI的同相輸入端，同時(shí)還通過(guò)第二隔離開(kāi)關(guān)S2連接待測(cè)設(shè)備電源的輸出正端，以及通過(guò)第三隔離開(kāi)關(guān)S3連接待測(cè)設(shè)備電源的輸出負(fù)端，第一隔離開(kāi)關(guān)S1、第二隔離開(kāi)關(guān)S2、第三隔離開(kāi)關(guān)S3的控制端和隔離運(yùn)算放大器NI的輸出端均連接處理器D1，處理器Dl連接待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路。
[0028]直流電源Al與待測(cè)設(shè)備電源相互獨(dú)立，用于提供不漏電時(shí)的基準(zhǔn)電壓，隔離運(yùn)算放大器NI用于將檢測(cè)信號(hào)隔離，將以機(jī)殼為參考地的檢測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換成以待測(cè)設(shè)備電源控制地為參考地的等幅電平信號(hào)并送處理器Dl檢測(cè)判斷，處理器Dl用于在待測(cè)設(shè)備上電時(shí)，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備，在漏電檢測(cè)時(shí)，控制第一隔離開(kāi)關(guān)S1、第二隔離開(kāi)關(guān)S2和第三隔離開(kāi)關(guān)S3的導(dǎo)通或截止，檢測(cè)判斷漏電是否滿(mǎn)足安全要求，并根據(jù)漏電檢測(cè)結(jié)果控制待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)機(jī)控制電路，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備并發(fā)出報(bào)警信號(hào)或允許待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備。
[0029]如圖2所示，本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例的漏電檢測(cè)電路還包括第一二極管Vl和第二二極管V2，處理器Dl進(jìn)一步包括控制單元C0N、比較單元Tl和計(jì)算單元Cl。
[0030]第一二極管Vl的陽(yáng)極連接電阻R1，陰極連接第二隔離開(kāi)關(guān)S2，第二二極管V2的陽(yáng)極連接電阻R1，陰極連接第三隔離開(kāi)關(guān)S3。由于開(kāi)關(guān)電源輸出有較大的電容，空載關(guān)機(jī)后，輸出電壓不會(huì)立即下降至0V，待測(cè)設(shè)備電源關(guān)機(jī)后立即重新上電時(shí)，待測(cè)設(shè)備電源輸出正端和輸出負(fù)端存在電壓，而上電瞬間漏電檢測(cè)電路處理器Dl復(fù)位，第一隔離開(kāi)關(guān)S1、第二隔離開(kāi)關(guān)S2和第三隔離開(kāi)關(guān)S3在處理器Dl復(fù)位期間會(huì)全部導(dǎo)通，待測(cè)設(shè)備電源輸出正端和輸出負(fù)端分別通過(guò)第二隔離開(kāi)關(guān)S2和第三隔離開(kāi)關(guān)S3形成瞬間短路，可能造成漏電檢測(cè)電路損壞失效，故使用第一二極管Vl和第二二極管V2，利用二極管的單向?qū)щ娦?，以避免上述?wèn)題，提高可靠性，同時(shí)該二極管的反向耐壓值必需大于電源啟動(dòng)后可能的最高輸出電壓。
[0031]計(jì)算單元Cl連接比較單元Tl，用于將預(yù)定的閾值絕緣電阻轉(zhuǎn)換為閾值電壓送入比較單元Tl。比較單元Tl分別連接控制單元C0N、計(jì)算單元Cl以及隔離運(yùn)算放大器NI的輸出端，用于將隔離運(yùn)算放大器NI輸出的檢測(cè)電壓與閾值電壓比較，判定待測(cè)設(shè)備是否漏電?？刂茊卧狢ON連接第一隔離開(kāi)關(guān)S1、第二隔離開(kāi)關(guān)S2和第三隔離開(kāi)關(guān)S3的控制端、比較單元Tl以及待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)機(jī)控制電路，用于在待測(cè)設(shè)備上電時(shí)，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備，在漏電檢測(cè)時(shí)，控制第一隔離開(kāi)關(guān)S1、第二隔離開(kāi)關(guān)S2和第三隔離開(kāi)關(guān)S3的導(dǎo)通和截止，根據(jù)比較單元Tl的漏電檢測(cè)結(jié)果，控制待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備并發(fā)出報(bào)警信號(hào)或允許待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備。
[0032]圖3是本實(shí)用新型的又一個(gè)實(shí)施例的漏電檢測(cè)電路示意圖，處理器DI進(jìn)一步包括控制單元C0N，比較單元T2和計(jì)算單元C2。計(jì)算單元C2連接隔離運(yùn)算放大器NI的輸出端，根據(jù)隔離運(yùn)算放大器NI輸出的檢測(cè)電壓計(jì)算得到對(duì)應(yīng)的檢測(cè)電阻，將檢測(cè)電阻送至比較單元T2。比較單元T2將計(jì)算單元C2計(jì)算的檢測(cè)電阻與預(yù)定的閾值絕緣電阻比較，判定待測(cè)設(shè)備是否漏電。
[0033]直流電源可以是AC-DC電源模塊、電池或其它可以穩(wěn)定提供低壓(如5V)直流電源的裝置，處理器可以是單片機(jī)或其它可編程邏輯器件。
[0034]為使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本實(shí)用新型，下面將結(jié)合圖2-5對(duì)本實(shí)用新型的漏電檢測(cè)電路的工作原理進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
[0035]待測(cè)設(shè)備上電時(shí)，處理器Dl控制單元控制待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)機(jī)控制電路，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備，并控制第一隔離開(kāi)關(guān)SI和第二隔離開(kāi)關(guān)S2導(dǎo)通，直流電源Al的輸出電壓Vo經(jīng)過(guò)Rl與待測(cè)設(shè)備電源輸出正端與待測(cè)設(shè)備機(jī)殼之間的絕緣電阻RXl分壓后送至隔離運(yùn)算放大器NI的同相輸入端隔離，然后送至處理器Dl檢測(cè)，檢測(cè)到的電壓記為Vtestl0
[0036]完成Vtestl的檢測(cè)后，處理器Dl的控制單元控制第二隔離開(kāi)關(guān)S2斷開(kāi)，第三隔離開(kāi)關(guān)S3導(dǎo)通，直流電源Al輸出電壓No經(jīng)過(guò)Rl與待測(cè)設(shè)備電源輸出負(fù)端與待測(cè)設(shè)備機(jī)殼之間的絕緣電阻RX2分壓后送至隔離運(yùn)算放大器NI的同相輸入端隔離，然后送至處理器Dl檢測(cè)，檢測(cè)到的電壓記為Vtest2。
[0037]第一隔離開(kāi)關(guān)S1、第二隔離開(kāi)關(guān)S2和第三隔離開(kāi)關(guān)S3在處理器Dl的控制單元CON控制下的動(dòng)作時(shí)序圖如圖3所示。預(yù)定閾值絕緣電阻Rth。
[0038]根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例，處理器Dl的計(jì)算單元將Rth轉(zhuǎn)換為閾值電壓Vth，計(jì)算得到Vth=VoXRth/ (Rl+Rth)。比較單元根據(jù)Vtestl、Vtest2及Vth,判斷待測(cè)設(shè)備是否漏電。具體地，Vtestl、Vtest2均大于Vth時(shí)，判斷待測(cè)設(shè)備不漏電，處理器Dl控制待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路，允許待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備。Vtestl、Vtest2中任意一個(gè)小于Vth時(shí)，判斷待測(cè)設(shè)備漏電，處理器Dl控制待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。判斷漏電和不漏電時(shí)的檢測(cè)電壓波形如圖4所示。
[0039]根據(jù)本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例,計(jì)算單元根據(jù)Vtestl、Vtest2計(jì)算得到對(duì)應(yīng)的檢測(cè)電阻 RXl=Vtestl X Rl/ (Vo-Vtestl), RX2=Vtest2 X Rl/ (Vo_Vtest2)。比較單元根據(jù)RX1、RX2及Rth，判斷待測(cè)設(shè)備是否漏電。具體地，RX1、RX2均大于Rth時(shí)，判斷待測(cè)設(shè)備不漏電，處理器Dl控制待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路，允許待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備。RX1、RX2中任意一個(gè)小于Rth時(shí)，判斷待測(cè)設(shè)備漏電，處理器Dl控制待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
[0040]由于使用了與待測(cè)設(shè)備電源獨(dú)立的直流電源，本實(shí)用新型的漏電檢測(cè)電路可以在待測(cè)設(shè)備上電后、待測(cè)設(shè)備啟動(dòng)輸出之前進(jìn)行漏電檢測(cè)，且使用低電壓(安全電壓)來(lái)檢測(cè)，與傳統(tǒng)漏電流傳感器相比，對(duì)人員與設(shè)備的安全性更高。此外，本實(shí)用新型的漏電檢測(cè)電路還使用了隔離開(kāi)關(guān)、隔離運(yùn)算放大器等，使完成檢測(cè)后本漏電檢測(cè)電路與待測(cè)設(shè)備電源及待測(cè)設(shè)備完全隔離，不影響待測(cè)設(shè)備電源檢驗(yàn)、試驗(yàn)過(guò)程中必須進(jìn)行的絕緣強(qiáng)度測(cè)試，不影響待測(cè)設(shè)備的正常工作，可靠性高，且使用了二極管，利用二極管的單向?qū)щ娦裕乐孤╇姍z測(cè)電路因待測(cè)設(shè)備電源關(guān)機(jī)后立即重新上電形成瞬間短路被損壞，提高可靠性。
[0041]本領(lǐng)域的技術(shù)人員容易理解，以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種漏電檢測(cè)電路，其特征在于，包括:直流電源，處理器，第一隔離開(kāi)關(guān)，第二隔離開(kāi)關(guān)，第三隔離開(kāi)關(guān)，隔離運(yùn)算放大器和電阻； 所述直流電源的輸出正端連接所述電阻的一端，輸出負(fù)端通過(guò)所述第一隔離開(kāi)關(guān)連接待測(cè)設(shè)備機(jī)殼，同時(shí)還連接所述隔離運(yùn)算放大器的反相輸入端，所述電阻的另一端連接所述隔離運(yùn)算放大器的同相輸入端，同時(shí)還通過(guò)所述第二隔離開(kāi)關(guān)連接待測(cè)設(shè)備電源的輸出正端，以及通過(guò)所述第三隔離開(kāi)關(guān)連接待測(cè)設(shè)備電源的輸出負(fù)端，所述第一隔離開(kāi)關(guān)、所述第二隔離開(kāi)關(guān)、所述第三隔離開(kāi)關(guān)的控制端和所述隔離運(yùn)算放大器的輸出端均連接所述處理器，所述處理器連接待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路。
2.如權(quán)利要求1所述的漏電檢測(cè)電路，其特征在于，還包括第一二極管和第二二極管，所述第一二極管的陽(yáng)極連接所述電阻，陰極連接所述第二隔離開(kāi)關(guān)，所述第二二極管的陽(yáng)極連接所述電阻，陰極連接所述第三隔離開(kāi)關(guān)。
3.如權(quán)利要求1或2所述的漏電檢測(cè)電路，其特征在于，所述處理器包括控制單元、比較單元和計(jì)算單元；所述計(jì)算單元連接所述比較單元，用于將預(yù)定的閾值絕緣電阻轉(zhuǎn)換為閾值電壓送入所述比較單元；所述比較單元分別連接所述控制單元、所述計(jì)算單元以及所述隔離運(yùn)算放大器的輸出端，用于將所述隔離運(yùn)算放大器輸出的檢測(cè)電壓與閾值電壓比較，判定待測(cè)設(shè)備是否漏電；所述控制單元連接所述第一隔離開(kāi)關(guān)、所述第二隔離開(kāi)關(guān)和所述第三隔離開(kāi)關(guān)的控制端、所述比較單元以及待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)機(jī)控制電路，用于在待測(cè)設(shè)備上電時(shí)，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備，在漏電檢測(cè)時(shí)，控制所述第一隔離開(kāi)關(guān)、所述第二隔離開(kāi)關(guān)和所述第三隔離開(kāi)關(guān)的導(dǎo)通和截止，根據(jù)所述比較單元的漏電檢測(cè)結(jié)果，控制待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備并發(fā)出報(bào)警信號(hào)或允許待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備。
4.如權(quán)利要求1或2所述的漏電檢測(cè)電路，其特征在于，所述處理器還包括控制單元、比較單元和計(jì)算單元；所述計(jì)算單元連接所述隔離運(yùn)算放大器的輸出端和所述比較單元，根據(jù)所述隔離運(yùn)算放大器輸出的檢測(cè)電壓計(jì)算得到對(duì)應(yīng)的檢測(cè)電阻，將檢測(cè)電阻送至所述比較單元；所述比較單元連接所述計(jì)算單元和所述控制單元，將所述計(jì)算單元計(jì)算的檢測(cè)電阻與預(yù)定的閾值絕緣電阻比較，判定待測(cè)設(shè)備是否漏電；所述控制單元連接所述第一隔離開(kāi)關(guān)、所述第二隔離開(kāi)關(guān)和所述第三隔離開(kāi)關(guān)的控制端、所述比較單元以及待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)機(jī)控制電路，用于在待測(cè)設(shè)備上電時(shí)，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備，在漏電檢測(cè)時(shí)，控制所述第一隔離開(kāi)關(guān)、所述第二隔離開(kāi)關(guān)和所述第三隔離開(kāi)關(guān)的導(dǎo)通和截止，根據(jù)所述比較單元的漏電檢測(cè)結(jié)果，控制待測(cè)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)控制電路，禁止待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備并發(fā)出報(bào)警信號(hào)或允許待測(cè)設(shè)備電源啟動(dòng)待測(cè)設(shè)備。
5.如權(quán)利要求1或2所述的漏電檢測(cè)電路，其特征在于，所述直流電源為AC-DC電源模塊或電池。
6.如權(quán)利要求1或2所述的漏電檢測(cè)電路，其特征在于，所述處理器為單片機(jī)。
【文檔編號(hào)】G01R31/02GK203376433SQ201320517588
【公開(kāi)日】2014年1月1日 申請(qǐng)日期:2013年8月22日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月22日
【發(fā)明者】劉克力, 張一凡, 張惠軍, 龍道志, 謝波, 王飛龍 申請(qǐng)人:武漢永力電源技術(shù)有限公司