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Cd型非晶合金磁芯切口碟片處接觸電阻測量裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種CD型非晶合金磁芯切口碟片處接觸電阻的測量裝置，包括兩個測量針，通過導線與接觸電阻測量儀連接；其特征是，所述的兩個測量針為定、動測量針，針頭向上分別安裝在測量架上，其中定測量針相對測量架作上下位移，動測量針相對測量架作上下和橫向位移。適用于各種型號的CD型非晶合金磁芯碟片之間接觸電阻的測量，使測量時測量針接觸壓力一致，確保測量數據具有一致性。
【專利說明】CD型非晶合金磁芯切口碟片處接觸電阻測量裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種電阻測量裝置，具體說是一種用于⑶型非晶合金磁芯切口碟片處接觸電阻的測量裝置。提升了測量數據的可靠性和一致性。
【背景技術】
[0002]非晶合金材料具有優異的電磁性能，近年來得到迅速發展，其具有的高導磁率、低損耗的特點，在電力電子、計算機、通訊、航空航天等高新【技術領域】得到了廣泛的應用，特別是在太陽能發電領域，用于制造逆變器的電感磁芯，大量采用CD型非晶合金磁芯，因此其生產量在逐漸擴大，在⑶型非晶合金磁芯的制造環節中需要測量切口處碟片之間的接觸電阻，目前的具體方法是直接用歐姆表手工操作測量。操作者手持測量針觸壓切口表面，由于人為因素的影響，導致測量誤差，壓力大小不均，難以保證測量結果的可靠性和一致性。

【發明內容】

[0003]鑒于上述現狀，本實用新型提供了一種⑶型非晶合金磁芯切口碟片處接觸電阻的測量裝置，保證了測量結果的一致性。同時也提升了測量效率，滿足了大批量的生產需要。
[0004]本實用新型的技術解決方案是:一種CD型非晶合金磁芯切口碟片處接觸電阻測量裝置，包括兩個測量針，通過導線與接觸電阻測量儀連接；所述的兩個測量針為定、動測量針，針頭向上分別安裝在測量架上，其中定測量針相對測量架作上下位移，動測量針相對測量架作上下和橫向位移。因此，通過專門設計測量裝置，可以提高測量效率及可靠一致性，避免了人為測量時所產生的誤差及效率低的問題。同時可滿足各種型號的CD型非晶合金磁芯碟片之間接觸電阻的測量。
[0005]本新型中，所述的定、動測量針的本體上具有一個定、動擋圈，通過定、動擋圈限位在兩個測量架之間，所述的定、動測量針分別安裝在其中一測量架上的定位孔和調節孔內，定、動測量針與測量架之間安裝有定、動彈簧。利用彈簧彈力調節定、動測量針與被測CD型磁芯切口面之間的接觸。另外，通過可調節的動測量針，適應各種不同規格的⑶型磁芯的測量。
[0006]本新型中，所涉及的定、動測量針針頭頭部為球形。
[0007]本實用新型通過專門設置的定、動測量針，可以提升了測量數據的可靠性和一致性。因此，具有測量效率高，同時可適應各種不同規格的⑶型磁芯的測量。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1是本新型的示意圖。
【具體實施方式】
[0009]下面將結合附圖實施例，對本實用新型作進一步說明。[0010]參見附圖1所示的⑶型非晶合金磁芯切口碟片處接觸電阻測量裝置，本實施例的兩個測量針為定、動測量針5、8，針頭向上分別安裝在測量架3、12上，其中定測量針(5)相對測量架(3、12)作上下位移，動測量針(8)相對測量架(3、12)作上下和橫向位移。將定、動測量針5、8通過定、動導線2和13與接觸電阻測量儀I連接。本實施例的定、動測量針5、8與測量架3、12的安裝，所述的定、動測量針5、8的本體上具有一個定、動擋圈6、10，通過定、動擋圈6、10限位在兩個測量架3、12之間，所述的定、動測量針5、8分別安裝在其中一測量架上的定位孔4和調節孔9內，定、動測量針5、8與測量架3、12之間安裝有定、動彈簧7、11。因此，測量⑶型非晶合金磁芯切口處碟片之間的接觸電阻時，根據⑶型非晶合金磁芯的規格調整只需調節動測量針8的橫向位移，將被測CD型磁芯切口面向下放置在定、動測量針5、8針頭之上，定、動測量針5、8靠定、動彈簧7、11的彈力抵住切口面即可直接完成測量。本實施例的定、動測量針5、8針頭頭部為球形。避免測量時測量針扎入碟片。
【權利要求】
1.一種⑶型非晶合金磁芯切口碟片處接觸電阻測量裝置，包括兩個測量針，通過導線與接觸電阻測量儀連接；其特征是，所述的兩個測量針為定、動測量針(5、8)，針頭向上分別安裝在測量架(3、12)上，其中定測量針(5)相對測量架(3、12)作上下位移，動測量針(8)相對測量架(3、12)作上下和橫向位移。
2.根據權利I所述的CD型非晶合金磁芯切口碟片處接觸電阻測量裝置，其特征是，所述的定、動測量針(5、8)的本體上具有一個定、動擋圈(6、10)，通過定、動擋圈(6、10)限位在兩個測量架(3、12)之間，所述的定、動測量針(5、8)分別安裝在其中一測量架上的定位孔(4)和調節孔(9)內，定、動測量針(5、8)與測量架(3、12)之間安裝有定、動彈簧(7、11)。
3.根據權利I所述的⑶型非晶合金磁芯切口碟片處接觸電阻測量裝置，其特征是，定、動測量針(5、8)針頭頭部為球形。
【文檔編號】G01R27/02GK203606403SQ201320731149
【公開日】2014年5月21日 申請日期:2013年11月19日 優先權日:2013年11月19日
【發明者】李玉山, 張新勝, 孫澤松, 張文幫, 林志清, 李岳池 申請人:秦皇島市燕秦納米科技有限公司