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太陽模擬器輻照不均勻度輔助測試裝置制造方法
【專利摘要】太陽模擬器輻照不均勻度輔助測試裝置，它包括由橫支架和豎支架垂直相連構成的L形支架和光源，橫支架和豎支架上分別設有9個以上的沿橫支架軸向延伸的或沿豎支架軸向延伸的長條形槽，每個長條形槽內均設有一個光纖頭，所述光纖頭通過光纜與光源相連，所述光纖頭的前端設有外螺紋、后端設有限位板，所述光纖頭的前端經相應的長條形槽伸入由橫支架和豎支架圍合成的半封閉區域內，所述光纖頭可沿相應的長條形槽移動并通過與其外螺紋相配合的螺母緊定。使用時，光纖頭發射出具有較好可視性的彩色激光束，這些激光束相互垂直相交形成無接觸式的二維正交單元格，因此本裝置具有操作方便、適用于多種規格尺寸的太陽模擬器的優點。
【專利說明】太陽模擬器輻照不均勻度輔助測試裝置

【技術領域】
[0001]本發明涉及一種太陽模擬器輻照不均勻度輔助測試裝置，用以輔助檢測太陽模擬器的輻照不均勻度。

【背景技術】
[0002]輻照不均勻度是太陽模擬器的一項重要技術指標，它反映了太陽模擬器輻照面上各點的輻照度相對于整個輻照面上輻照度平均值的偏差，表征了輻照面均勻輻照的程度。輻照不均勻度對被測太陽能電池組件性能的測試準確度影響很大。太陽能電池組件是由若干片單體電池經過串聯、并聯組成的，每一個串聯電路輸出的電流大小取決于輻照最弱的那一片單體電池，這意味著可能存在的小區域弱光將間接影響一串電路的功率輸出，不均勻的輻照將會導致太陽能電池組件上的各個電池片接收到的光輻射不同，從而使太陽能電池效率和功率評定廣生偏差。
[0003]根據IEC60904.9:2007對太陽模擬器性能的要求，測試太陽模擬器輻照不均勻度的方法為:將太陽模擬器的有效輻照面均等劃分為若干個區域，每個區域的有效受光面積不得大于400cm2，區域的個數由模擬器有效輻照面積所決定且總數不能少于64。
[0004]申請號為200920255238.3的中國專利公開了一種太陽模擬器的測試架，它包括支架、直角連接器和連接線，所述支架和直角連接器均為4個，支架與直角連接器配合圍成與太陽模擬器配合的矩形；所述各支架上都均勻設有復數個穿孔，且對邊支架上的穿孔對稱布置，所述連接線連接于對邊支架的對稱的穿孔內，形成兩組相互垂直的平行線，將支架與直角連接器配合圍成的矩形分隔成復數個網格。這種太陽模擬器的測試架雖避免了以往劃線操作帶來的費時費力、危險等一系列問題，但卻只能適用于單一規格尺寸的太陽模擬器；另外測試架中間布有魚線網格，帶有測試光纜的檢測輻照度的檢測器需要依次從一個網狀單元格拿出后再放置到下一單元格，故存在操作不方便及易損壞檢測器的問題。


【發明內容】

[0005]本發明所要解決的技術問題是提供一種操作方便、能同時適用于多種規格尺寸的太陽模擬器的太陽模擬器輻照不均勻度輔助測試裝置。
[0006]為了解決上述技術問題，本發明采用如下技術方案:太陽模擬器輻照不均勻度輔助測試裝置，它包括由橫支架和豎支架垂直相連構成的L形支架，它還包括光源，橫支架和豎支架上分別設有9個以上的沿橫支架軸向延伸的或沿豎支架軸向延伸的長條形槽，每個長條形槽內均設有一個光纖頭，所述光纖頭通過光纜與光源相連，所述光纖頭的前端設有外螺紋、后端設有限位板，所述光纖頭的前端經相應的長條形槽伸入由橫支架和豎支架圍合成的半封閉區域內，限位板位于橫支架或豎支架的外側，橫支架上的光纖頭的軸線平行于豎支架的軸線，豎支架上的光纖頭的軸線平行于橫支架的軸線，所述光纖頭可沿相應的長條形槽移動并通過與其外螺紋相配合的螺母緊定。
[0007]為簡潔說明起見，以下本發明所述的太陽模擬器輻照不均勻度輔助測試裝置簡稱為本裝置。
[0008]本裝置在使用時，先通過光源控制橫支架和豎支架上的光纖頭發射出激光束，這些激光束相互垂直相交形成無接觸式的二維正交單元格，這些二維正交單元格將太陽模擬器的檢測臺面均分為相應要求的單元格，然后將檢測輻照度的檢測器直接放置在單元格內進行測試即可。當需要改變單元格的尺寸時，先松退螺母，將光纖頭在相應的長條形槽內調整到合適的位置，再旋緊螺母，因此本裝置能夠基本滿足所有規格尺寸的太陽模擬器的輻照不均勻度測試；由于激光束不會阻擋檢測器，在當前單元格測試完畢后可很方便地將檢測器平移推至下一個單元格，而不需要拿出檢測器再放置到下一個單元格，降低了操作者的工作強度并且消除了檢測器被損傷的隱患。綜上，本裝置具有操作方便、能同時適用于多種規格尺寸的優點。
[0009]作為本發明的改進，所述光源發出的光為彩色光。所述彩色光為紅色、綠色、紫色或藍色等具有較好的可視性的彩色光，這樣更容易觀測。
[0010]作為本發明的改進，所述光纖頭發射出的激光束的功率小于0.4mW。在此功率范圍內的激光束不會對人類造成傷害。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1是本發明一實施例的結構示意圖。
[0012]圖2是圖1的A向視圖。
[0013]圖3是圖1的B向視圖。
[0014]圖4是圖2的C一C向剖視圖。
[0015]圖5是圖3的D— D向剖視圖。

【具體實施方式】
[0016]下面結合附圖對本發明作進一步描述:
參見圖1、圖2、圖3、圖4和圖5。
[0017]本發明一實施例提供的太陽模擬器輻照不均勻度輔助測試裝置，它包括由橫支架11和豎支架12垂直相連構成的L形支架I和光源2，橫支架11和豎支架12上分別設有9個沿橫支架11軸向延伸的或沿豎支架12軸向延伸的長條形槽13，每個長條形槽13內均設有一個光纖頭3，所述光纖頭3通過光纜4與光源2相連，所述光纖頭3的前端設有外螺紋、后端設有限位板31，所述光纖頭3的前端經相應的長條形槽13伸入由橫支架11和豎支架12圍合成的半封閉區域內，限位板31位于橫支架11或豎支架12的外側，橫支架11上的光纖頭3的軸線平行于豎支架12的軸線，豎支架12上的光纖頭3的軸線平行于橫支架11的軸線，所述光纖頭3可沿相應的長條形槽13移動并通過與其外螺紋相配合的螺母5緊定。
[0018]在本實施例中，橫支架11的長度為2m，豎支架12的長度為lm，能滿足目前所有規格尺寸的太陽模擬器檢測要求，L形支架I可采用長X寬X厚為3000mmX20 mmXl mm的狹長鋼板折彎制作，橫支架11上每隔50mm銑出10mmX 3mm的狹縫，豎支架12上每隔50mm統出50mm X 3mm的狹縫。
[0019]光源2發出的光為彩色光，所述彩色光為紅色、綠色、紫色或藍色等具有較好的可視性的彩色光。
[0020]光纖頭3發射出的激光束的功率優選為小于0.4mff,光纖頭3為金屬鎧裝接頭，圖1中虛線部分表不的是光纖頭3發射出的激光束。
[0021]以上只是本發明的一種較佳實施方式。應當指出，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明原理的前提下，還可以做出若干變形和改進，都屬于本發明的保護范圍。
【權利要求】
1.太陽模擬器輻照不均勻度輔助測試裝置，它包括由橫支架和豎支架垂直相連構成的L形支架，其特征在于:它還包括光源，橫支架和豎支架上分別設有9個以上的沿橫支架軸向延伸的或沿豎支架軸向延伸的長條形槽，每個長條形槽內均設有一個光纖頭，所述光纖頭通過光纜與光源相連，所述光纖頭的前端設有外螺紋、后端設有限位板，所述光纖頭的前端經相應的長條形槽伸入由橫支架和豎支架圍合成的半封閉區域內，限位板位于橫支架或豎支架的外側，橫支架上的光纖頭的軸線平行于豎支架的軸線，豎支架上的光纖頭的軸線平行于橫支架的軸線，所述光纖頭可沿相應的長條形槽移動并通過與其外螺紋相配合的螺母緊定。
2.如權利要求1所述的太陽模擬器輻照不均勻度輔助測試裝置，其特征在于:所述光源發出的光為彩色光。
3.如權利要求1或2所述的太陽模擬器輻照不均勻度輔助測試裝置，其特征在于:所述光纖頭發射出的激光束的功率小于0.4mW。
【文檔編號】G01M11/02GK104198161SQ201410466268
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2014年9月13日 優先權日:2014年9月13日
【發明者】韓國華, 朱文星, 朱炬, 毛翌春, 王傳才, 任曉楠, 王偉 申請人:中國電子科技集團公司第四十一研究所