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一種檢測飛機下位鎖的裝置和方法
【專利摘要】本發明涉及一種檢測飛機下位鎖的裝置和方法。采用的技術方案是裝置由測高裝置、底座和平臺構成，測高裝置上設有手柄、測頭和控制裝置，平臺安裝在底座上，平臺上設有導入孔。方法如下：將環狀平臺置于底座上，將待測飛機下位鎖下端的圓柱體Ⅰ插入平臺上的導入孔內，待測飛機下位鎖圓柱體Ⅱ的下端面與平臺的工作面緊密配合；調整測高裝置上測頭的高度，使之與平臺的工作面接觸，通過控制裝置將此高度設置為“0”；垂直上移，測量下位鎖上端的固定孔的最高點和最低點的高度值，得到固定孔軸線的高度值。本發明結構簡單，操作方便，測量準確。
【專利說明】一種檢測飛機下位鎖的裝置和方法

【技術領域】
[0001]本發明主要涉及一種應用于對飛機下位鎖固定孔軸線與后端小平面距離的檢測裝置和方法。

【背景技術】
[0002]飛機下位鎖為飛機上的一個重要部件，如圖1所示為一種飛機下位鎖，圓柱形主體(4-1)的下端依次設有圓柱體III (4-5)和圓柱體I (4-2)，上端為設有固定孔(4-3)的圓柱體II (4-4)。在飛機下位鎖設計中，為了保證飛機下位鎖的安裝質量，保證固定孔軸線與后端小平面距離是關鍵。距離過大無法安裝，過小產生縫隙，影響安全性。因此固定孔軸線與后端小平面距離是否符合要求是檢測產品質量的關鍵。固定孔軸線與后端小平面距離也就是固定孔軸線與圓柱體III (4-5)和圓柱體I (4-2)連接面之間的距離。現有的方法是通過手扶將飛機下位鎖立住，然后手工操作測量固定孔軸線與后端小平面的距離，存在的問題是:眾所周知，通常圓柱體I (4-2)的直徑約為Φ40πιπι，構成的后端小平面端面較小、長度為60mm且飛機下位鎖的重量較重，因此飛機下位鎖站立不穩，定位不準造成測量不準；而且構成主體(4-1)、圓柱體I (4-2)、圓柱體II (4-4)和圓柱體III (4-5)的直徑不等，因此固定孔軸線和后端小平面所處的兩個平面難以引出，造成測量不準。


【發明內容】

[0003]為了解決以上問題，本發明提供一種結構簡單，操作方便，測量準確的檢測飛機下位鎖的裝置。
[0004]本發明的另一目的是提供一種通過上述的裝置準確測量飛機下位鎖固定孔軸線與后端小平面距離的方法。
[0005]本發明采用的技術方案是:一種檢測飛機下位鎖的裝置，由測高裝置、底座和平臺構成，測高裝置上設有手柄、測頭和控制裝置，平臺安裝在底座上，平臺上設有導入孔。
[0006]上述的一種檢測飛機下位鎖的裝置，所述的平臺為環狀。
[0007]上述的一種檢測飛機下位鎖的裝置，平臺的高度大于待檢測飛機下位鎖下端的圓柱體I的高度；平臺上導入孔的孔徑小于圓柱體III的直徑且大于圓柱體I的直徑，平臺上、下平面的平行度為0.005mm，平臺的工作面的平面度為0.005mm,表面粗糙度Ra值為
0.4 μ m0
[0008]上述的一種檢測飛機下位鎖的裝置，平臺的工作面硬度為60HRC，線膨脹系數小于±0.3Χ1(Γ6μπι。
[0009]一種檢測飛機下位鎖的方法，利用上述的裝置，方法如下:
[0010]I)將環狀平臺置于底座上，將待測飛機下位鎖下端的圓柱體I插入平臺上的導入孔內，待測飛機下位鎖圓柱體III的下端面與平臺的工作面緊密配合；
[0011]2)調整測高裝置上測頭的高度，使之與平臺的工作面接觸，通過控制裝置將此高度設置為“O”；
[0012]3)通過手柄帶動測頭垂直上移，測量設在待測飛機下位鎖上端的固定孔的最高點和最低點的高度值，計算得到固定孔軸線的高度值；
[0013]4)將固定孔軸線的高度值與設計值相比較，高度值在“設計值±0.5mm”范圍內，即為合格產品。
[0014]本發明的有益效果是:本發明由于設置了環狀平臺，測量時，將飛機下位鎖下端的圓柱體I插入導入孔中，使得圓柱體III的下端面坐在平臺上，由圓柱體I和圓柱體III之間的平面構成的飛機下位鎖后端小平面恰好與環狀平臺上的工作面緊密配合。因此利用環狀平臺的工作面將下位鎖后端小平面的標準平面引出，作為測量基準面。通過測頭采用接觸測量原理，即可準確測量。
[0015]本發明即可以將待測下位鎖穩定裝夾在平臺上，同時又可以將被測平面引出，實現準確測量。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1是一種飛機下位鎖的結構示意圖。
[0017]圖2是本發明檢測飛機下位鎖的裝置結構示意圖。

【具體實施方式】
[0018]實施例1 一種檢測飛機下位鎖的裝置
[0019]如圖2所示，一種檢測飛機下位鎖的裝置，由測高裝置(I)、底座(2)和環狀平臺
(3)構成。
[0020]測高裝置⑴上設有手柄(1-1)、測頭(1-2)和控制裝置(1-3)。
[0021]環狀平臺(3)安裝在底座(2)上，環狀平臺(3)上設有導入孔(3-1)。
[0022]環狀平臺(3)的高度大于待檢測飛機下位鎖下端的圓柱體I (4-2)的高度；平臺
(3)上導入孔(3-1)的孔徑小于圓柱體III (4-5)的直徑且大于圓柱體I (4-2)的直徑，環狀平臺上、下平面的平行度為0.005mm，平臺的工作面的平面度為0.005mm，表面粗糙度Ra值為 0.4 μ m。
[0023]由于下位鎖專用環狀平臺的精度較高，所以在選擇材料時應考慮表面硬度、線膨脹系數等因素，避免變形及測頭劃傷表面而影響測量精度。為避免測量過程中由于測力影響力下位鎖專用環狀平臺表面參數，環狀平臺表面硬度應達到60HRC，線膨脹系數小于±0.3 X Kr6 μ m，為此采用58%鎳鋼材料。
[0024]在加工時，加工環境應在(20± I) °C環境下，避免材料因熱膨脹系數影響而帶來測量結果修正的困難。
[0025]加工工藝包括:熱處理調質，冷冰處理，線切割，數控平面磨，鉗工研磨，內圓磨等。由于該環狀規對上下工作面幾何量參數要求較高，所以在最后精加工時，應在(20±1)°C環境下，用高精度的三坐標測量機和精密測長儀、粗糙度測量儀對厚度、上下工作面平行度、上表面平面度、上表面粗糙度進行檢測，直至符合設計要求。
[0026]實施例2 —種檢測飛機下位鎖的方法
[0027]如圖1所示為一種飛機下位鎖，圓柱形主體(4-1)的下端依次設有圓柱體III (4-5)和圓柱體I (4-2)，上端為設有固定孔(4-3)的圓柱體II (4-4)。主體(4-1)的直徑為120mm;圓柱體I (4-2)的直徑為Φ40mm,長度為60mm。在設計時,該下位鎖固定孔軸線與后端小平面(5)之間的距離為H = 304.8mm。
[0028]本實施例以檢測如圖1所示的飛機下位鎖為例，進行說明。
[0029]為此，設計環狀平臺的具體尺寸為:環狀平臺外徑Φ200πιπι，內徑Φ42πιπι，其公差均為±0.0lmm,環狀平臺的厚度應大于下位鎖圓柱體I的高度,設計厚度為70mm,公差為±0.005mm,上、下工作面平行度0.005mm,由于上表面將作為測量的基準面，上表面平面度設計為0.005mm,表面粗糙度Ra值為0.4 μ m。
[0030]測高裝置采用Mahr817型數字測高儀。
[0031]檢測方法如下:
[0032]I)將環狀平臺(3)置于底座(2)上，將待測飛機下位鎖下端的圓柱體I插入平臺
(3)上的導入孔(3-1)內，待測飛機下位鎖圓柱體III的下端面與平臺(3)的工作面緊密配合；
[0033]2)調整Mahr817型數字測高儀的測頭(1_2)高度，使之與環狀平臺(3)的工作面接觸，通過控制裝置(1-3)將此高度設置為“0”，即將此高度作為被測參數的基準面；
[0034]3)通過手柄(1-1)帶動測頭(1-2)垂直上移，利用Mahr817數字測高儀的孔軸線測量功能，利用測高儀的測頭找到固定孔的最高點和最低點，測量高度值，計算得到固定孔軸線的高度值；
[0035]4)將固定孔軸線的高度值與設計值相比較，高度值在“設計值±0.5mm”范圍內，即為合格產品。
【權利要求】
1.一種檢測飛機下位鎖的裝置，其特征在于:由測高裝置(I)、底座(2)和平臺(3)構成，測高裝置(I)上設有手柄(1-1)、測頭(1-2)和控制裝置(1-3)，平臺(3)安裝在底座(2)上，平臺(3)上設有導入孔(3-1)。
2.如權利要求1所述的一種檢測飛機下位鎖的裝置，其特征在于:所述的平臺(3)為環狀。
3.如權利要求2所述的一種檢測飛機下位鎖的裝置，其特征在于:平臺(3)的高度大于待檢測飛機下位鎖下端的圓柱體I的高度；平臺(3)上導入孔(3-1)的孔徑小于圓柱體III的直徑且大于圓柱體I的直徑，平臺(3)上下平面的平行度為0.005mm，平臺工作面的平面度為0.005mm,表面粗糙度Ra值為0.4 μ m。
4.如權利要求3所述的一種檢測飛機下位鎖的裝置，其特征在于:平臺的工作面硬度為60HRC，線膨脹系數小于±0.3X10_Vm。
5.一種檢測飛機下位鎖的方法，其特征在于利用權利要求1-4任一所述的裝置，方法如下: 1)將環狀平臺(3)置于底座(2)上，將待測飛機下位鎖下端的圓柱體I插入平臺(3)上的導入孔(3-1)內，待測飛機下位鎖圓柱體III的下端面與平臺(3)的工作面緊密配合； 2)調整測高裝置(I)上測頭(1-2)的高度，使之與平臺(3)的工作面接觸，通過控制裝置(1-3)將此高度設置為“O”； 3)通過手柄(1-1)帶動測頭(1-2)垂直上移，測量設在待測飛機下位鎖上端的固定孔的最高點和最低點的高度值，計算得到固定孔軸線的高度值； 4)將固定孔軸線的高度值與設計值相比較，高度值在“設計值±0.5mm”范圍內，即為合格產品。
【文檔編號】G01B21/16GK104197885SQ201410471068
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2014年9月16日 優先權日:2014年9月16日
【發明者】關月, 陳艷紅, 孫士祥, 劉東梅 申請人:沈陽飛機工業（集團）有限公司