玻璃器壁的光學和幾何參數測量裝置及其測量方法
【專利摘要】一種玻璃器壁的光學和幾何參數測量裝置，在支架上一側設置待測量圓柱狀玻璃容器、另一側設上半導體激光器和下半導體激光器，在待測量圓柱狀玻璃容器器壁外表面局部設一層白色油漆或白色玻璃油墨構成的光散射成像層。測量方法為：在待測量圓柱狀玻璃容器中充入已知折射率的透明液體，上半導體激光器和下半導體激光器射出的激光束通過光散射成像層發生散射，散射光進入玻璃容器與容器內介質的界面時產生全反射，在光散射成像層上形成大橢圓暗斑和小橢圓暗斑，根據折射率和壁厚與小橢圓形暗斑長軸長度和大橢圓形暗斑長軸長度之間的關系，計算出待測玻璃器壁的光學和幾何參數。本發明具有結構和方法簡單、測量速度快、精度高、且易于實施等優點。
【專利說明】玻璃器壁的光學和幾何參數測量裝置及其測量方法
【技術領域】
[0001]本發明屬于光學測量【技術領域】，具體涉及到玻璃器壁光學、幾何參數的測量裝置與測量方法。
【背景技術】
[0002]玻璃容器與玻璃管使用的廣泛性人所共知，由于其優異穩定的化學、光學和機械性能，成為化學化工、食品衛生、電光源、太陽能等工業生產領域以及實驗室和科學研究中必不可少的器具和材料，因此玻璃器壁的光學、幾何參數的測量成為其制造和使用中不可缺少的環節。
[0003]傳統的玻璃容器和玻璃管壁厚的測量方法有超聲測量法和電容測量法，由于其測量過程復雜、設備操作難度大且測量精度差，影響了其推廣與應用。近年來采用光學方法測量玻璃器壁光學、幾何參數的技術受得了本專業領域技術人員的充分關注，專利
【發明者】張宗權, 苗潤才, 姚志, 王文成, 劉志存, 魯百佐, 楊宗立, 辛經緯, 杜毅鵬, 崔永貞, 劉雅琳 申請人:陜西師范大學
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