一種用于固定導磁性工件的工作臺及其光學計的制作方法
【專利摘要】本發明公開了一種用于固定導磁性工件的工作臺及其光學計，目的在于解決工件在測量過程中，手動控制方式對零件進行控制，被測工件運動過程的穩定控制難度較大，采用光學計測量時，測量準確度達不到儀器設計的測量精度，測量人員無法準確的讀出測量點數據等問題。該裝置包括固定基座、可控磁性裝置、定位裝置。本發明的固定導磁性工件的工作臺能夠起到對導磁性工件的固定作用，使被測工件在移動、測量的過程中，始終與工作面保持相對靜止，通過配合運動機構，能夠實現被測零件的緩慢、平穩運行。本發明還提供基于固定導磁性工件的工作臺的光學計，其測量精度高、操作方便。通過本發明改進可使光學計到達設計測量精度，測定結果準確、穩定、可靠。
【專利說明】—種用于固定導磁性工件的工作臺及其光學計
【技術領域】
[0001]本發明涉及機械領域，尤其測量儀器領域，具體為一種用于固定導磁性工件的工作臺及其光學計。
【背景技術】
[0002]近年來，伴隨著現代制造業的快速發展，對于計量儀器的測量精度和測量效率提出了更高的要求。光學計是一種準確度較高的光學機械式儀器，是一種高精度的接觸式測量儀器，目前已廣泛應用于企業質量檢測部門與高校實驗室。
[0003]目前，光學計大多采用接觸式測量。在光學計的測量過程中，對被測零件的測量過程主要依靠手動控制方式完成。常見的光學計的分度值:1 μ m，示值變動量:0.1 μ m,讀數范圍:± 100 μ m，采用手動控制方式對被測零件運動過程的穩定控制難度較大。在測量過程中，采用手動方式控制零件會出現以下問題:
1)手動控制難以保證在整個測量過程中被測零件始終與工作臺保持緊密接觸，獲得的測量結果與零件的真值相差較遠，測量準確度達不到儀器設計的測量精度；
2)在測量過程中，需要通過手控制零件，使零件在工作臺上與測帽接觸，從而對零件進行測量，而手對被測零件的運動無法做到穩定控制，導致在光學計顯示窗口中的數據波動較大，測量人員無法準確的讀出測量點數據，甚至由于手對零件控制不平穩，出現多個最大值點的情況；
3)由于采用手動控制方式，測量過程難以控制，所導致的數據不穩定等現象給測量過程帶來重復和不必要的操作，降低了測量效率，同時也極大影響了測量中儀器操作的方便性。
[0004]鑒于此， 申請人:希望提供一種新的用于固定導磁性工件的工作臺及采用其的光學計，以解決前述問題。
【發明內容】
[0005]本發明的目的在于:針對工件在測量過程中，手動控制方式對零件進行控制，被測工件運動過程的穩定控制難度較大，采用光學計測量時，測量準確度達不到儀器設計的測量精度，測量人員無法準確的讀出測量點數據，存在重復操作次數多、測量效率低、方便性差的問題，提供一種用于固定導磁性工件的工作臺及其光學計。本發明的工作臺通過組成部件之間的相互配合，能夠起到對導磁性工件的固定作用，使被測工件在移動、測量的過程中，始終與工作面間保持相對靜止，通過配合運動機構，能夠實現被測零件的平穩、緩慢運行，從而滿足光學計等儀器的需求。同時，本發明還提供基于固定導磁性工件的工作臺的光學計，該光學計不僅能夠穩定測量數據點的視窗數據顯示，提高測量數據的準確度，而且能夠方便對實驗數據的觀測與記錄，改善儀器可操作性能。本發明測量精度高，能夠滿足光學計的設計要求，可重復性好，測定結果穩定、準確、可靠，具有較好的應用前景。
[0006]為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案: 一種用于固定導磁性工件的工作臺，包括固定基座、能產生磁性與消除磁性的可控磁性裝置、設置在可控磁性裝置上用于固定導磁性工件的定位裝置，所述定位裝置包括水平擋片、與水平擋片相連的豎直擋片，所述固定基座由非導磁材料制備而成，所述定位裝置由導磁材料制備而成，所述可控磁性裝置設置在固定基座上，所述可控磁性裝置的上端面為工作面，所述水平擋片設置在工作面上。
[0007]所述可控磁性裝置打開產生的磁力線穿過定位裝置，使磁性工件與定位裝置緊靠在一起。
[0008]所述水平擋片與豎直擋片之間采用一體成型，且水平擋片與豎直擋片之間相互垂直。
[0009]所述定位裝置為L型。
[0010]所述水平擋片與可控磁性裝置之間采用活動或固定連接。
[0011]所述可控磁性裝置為永磁式可控磁性裝置或電控式可控磁性裝置。
[0012]所述可控磁性裝置為磁性表座、永磁吸盤、電磁鐵中的一種。
[0013]所述固定基座由鋁合金或不銹鋼非導磁性材料制備而成，所述定位裝置由硅鋼片制成。
[0014]還包括能使可控磁性裝置相對固定基座移動的滑動機構。
[0015]所述滑動機構包括設置在固定基座上的滑動導軌、設置在可控磁性裝置下端面的凹槽，所述滑動導軌與凹槽相配合；
或所述滑動機構包括設置在固定基座上的凹槽、設置在可控磁性裝置下端面且與凹槽相配合的滑動導軌。
[0016]所述滑動導軌為直線滑軌、燕尾槽導軌、T形槽導軌的一種。
[0017]所述滑動導軌為燕尾槽導軌，所述燕尾槽導軌與凹槽之間設置有簧片。
[0018]還包括運動控制機構，所述運動控制機構為絲杠傳動機構或齒輪齒條傳動機構。
[0019]所述運動控制機構為直線運動控制機構。
[0020]所述絲杠傳動機構為螺紋絲杠傳動機構、T型絲杠傳動機構、滾珠絲杠傳動機構中的一種。
[0021]所述絲杠傳動機構為螺紋絲杠傳動機構，所述螺紋絲杠傳動機構包括螺紋絲杠、與螺紋絲杠相配合的螺母，還包括支撐架、驅動件，所述支撐架設置在固定基座上，所述螺紋絲杠設置在支撐架上，所述驅動件與螺紋絲杠相連且能帶動螺紋絲杠相對支撐架轉動，所述螺母與可控磁性裝置相連構成螺紋副，且通過螺紋副能帶動可控磁性裝置相對固定基座移動。
[0022]所述驅動件為圓柱型驅動手輪或L型驅動手輪。
[0023]采用前述工作臺的光學計，包括工作臺、設置在固定基座下端面的調平錐臺，所述工作臺通過調平錐臺設置在光學計基座上；
或包括工作臺、水平移動機構、調平錐臺，所述工作臺中的固定基座設置在水平移動機構上且固定基座能相對水平移動機構移動，所述水平移動機構通過調平錐臺設置在光學計基座上。
[0024]還包括調平機構，通過調平機構能使工作面保持水平。調平機構可以為螺釘。
[0025] 申請人:在長期實踐的基礎上，進行深入研究后發現，現有手工方式對工件進行測量時，首先將標準量塊放置在光學計的工作臺上，對光學計進行校準后，再用手將工件放置在標準量塊的位置上，對被測零件進行測量。由于大多被測零件為圓柱形、多邊形等，其在測量過程中被測零件軸線與工作面的平行狀態容易被破壞，而光學計的視窗范圍僅為±0.1mm,因而輕微的移動，即可使工件偏離測量范圍，從而出現無法讀取數據的問題；而且測量過程中，通常需要用手對工件進行控制，而手輕微的偏離也會出現前述問題，同時手無法保持絕對的平衡，因而在重復測量過程中，可能出現多個最大值的情況；因此，對于工件的固定是解決前述問題的關鍵。對此， 申請人:提供一種用于固定導磁性工件的工作臺(以下簡稱工作臺)。
[0026]本發明的工作臺包括固定基座、可控磁性裝置、定位裝置；其中，定位裝置設置在可控磁性裝置上，其包括水平擋片、與水平擋片相連的豎直擋片，用于固定導磁性工件；固定基座由非導磁材料制備而成，定位裝置由導磁材料制備而成，可控磁性裝置設置在固定基座上，可控磁性裝置的上端面為工作面，水平擋片設置在工作面上。可控磁性裝置能夠產生磁性與消除磁性，進而表現出逆磁性與順磁性。本發明中，可控磁性裝置位于固定基座與定位裝置之間，固定基座由非導磁材料制備而成，定位裝置由導磁材料制備而成，從而自下而上形成非導磁層、可控導磁層、導磁層類似“三明治”的結構，而定位裝置包括水平擋片、豎直擋片；通常情況下，可控磁性裝置處于關閉狀態，在工作面上沒有磁力，導磁性工件能夠輕易的從工作面裝卸，當可控磁性裝置處于打開狀態，可控磁性裝置對外表現出磁力，此時，非導磁層不能傳遞磁場，磁力線穿過定位裝置，定位裝置起到收集磁力線的作用，在定位裝置上產生最強的磁力，從而將被測零件緊緊吸附在定位裝置上。本發明中，定位裝置包括水平擋片、豎直擋片，其對被測零件起到定位、防止被測工件偏轉的作用，最重要的是起到吸附作用，使被測零件緊緊地吸附在定位裝置上。由于定位裝置對被測零件的吸附力較大，因而即使在裝置移動的過程中，被測零件依然能很好的固定在可控磁性裝置的工作面上，輕微的移動也難以發生。
[0027]在實驗過程中， 申請人:將固定基座去掉后，將可控磁性裝置直接固定在光學計基座上，而光學計基座為導磁性材料，經過實驗測定，在該狀態下，定位裝置的磁力最弱，被測零件無法有效的固定在工作面上，在被測零件與測帽接觸的過程中，被測零件頻繁發生移動，與手動方式的測定結果相似。同時， 申請人:采用固定基座、可控磁性裝置，不采用定位裝置，進行測試，實驗發現:當可控磁性裝置處于打開狀態時，被測零件會在工作面上發生自動轉動，并在某個位置靜止，這就使得被測零件處于非測量位置。同時，沒有定位裝置，對圓柱形工件進行測量時，甚至出現圓柱形被測零件在工作面上不停旋轉的情況，僅有當圓柱形剛好處于可控磁性裝置的N極或S極時，其才能保持靜止狀態。當定位裝置采用非導磁材料制成時，其無法起到聚集磁力線的目的，用于測定零件時，被測零件位置依然不確定，測定結果沒有意義。可見，固定基座、可控磁性裝置、定位裝置組成的“三明治結構”，以及本發明中固定基座、定位裝置的材料是實現本發明的必須部分，正是通過各部分之間的相互配合，最終實現了本申請的發明目的。如果本發明中的配合被破壞，就會出現多個最大值，那樣的測量結果就沒有意義了。
[0028]本發明中的可控磁性裝置是一種能產生和失去磁性的裝置，可以為磁性表座、永磁吸盤、電磁鐵中的一種。以磁力表座為例，其外殼為兩塊導磁體，中間用不導磁的銅板隔開，其內部有一個可以旋轉的磁體，此磁體沿直徑方向為N、S極。當磁體旋轉到中間位置，磁力線分別在兩塊導磁體中形成開路，此時工件可以輕易取走；旋轉90度后，NS極分別對著兩塊導磁體，此時從N極到導磁體到導軌到另一塊導磁體到S極，形成磁力線閉合，可以牢牢的將工件吸附在工作面上。
[0029]水平擋片與豎直擋片之間采用一體成型，且水平擋片與豎直擋片之間相互垂直。固定基座由鋁合金或不銹鋼非導磁性材料制備而成，定位裝置由硅鋼片制備而成。定位裝置可以采用L型硅鋼片制成。水平擋片與可控磁性裝置之間采用活動或固定連接，本實施例中，即使固定裝置放置在工作面上，也能起到對被測零件的定位作用，采用螺釘將定位裝置固定在可控磁性裝置上，能夠使定位裝置始終保持在同一位置，從而使測定結果具有可重復性好、測量結果準確的特點。作為優選，水平擋片位于工作面上可控磁性裝置的N級至S極的中心線上。
[0030]可控磁性裝置為永磁式可控磁性裝置或電控式可控磁性裝置。可控磁性裝置為磁性表座、永磁吸盤、電磁鐵中的一種。還包括能使可控磁性裝置相對固定基座移動的滑動機構。滑動機構包括設置在固定基座上的滑動導軌、設置在可控磁性裝置下端面的凹槽，滑動導軌與凹槽相配合；或滑動機構包括設置在固定基座上的凹槽、設置在可控磁性裝置下端面且與凹槽相配合的滑動導軌。通過兩者的配合，能夠使可控磁性裝置相對固定基座移動。滑動導軌為直線滑軌、燕尾槽導軌、T形槽導軌的一種。其中一種，滑動導軌為燕尾槽導軌，燕尾槽導軌與凹槽之間設置有簧片。燕尾槽導軌結構簡單，且其能夠保證本發明的穩定性，兩者之間的簧片能夠調整配合間隙使本發明運行更加平穩。
[0031]還包括運動控制機構，運動控制機構為絲杠傳動機構或齒輪齒條傳動機構。運動控制機構為直線運動控制機構。絲杠傳動機構為螺紋絲杠傳動機構、T型絲杠傳動機構、滾珠絲杠傳動機構中的一種。運動控制機構能夠使可控磁性裝置相對固定基座移動。其中一種實例如下:絲杠傳動機構為螺紋絲杠傳動機構，螺紋絲杠傳動機構包括螺紋絲杠、與螺紋絲杠相配合的螺母，還包括支撐架、驅動件。支撐架設置在固定基座上，螺紋絲杠設置在支撐架上，驅動件與螺紋絲杠相連且驅動件能帶動螺紋絲杠相對支撐架轉動，螺母與可控磁性裝置相連，且通過螺紋絲杠與螺母的配合帶動可控磁性裝置相對固定基座移動。驅動件為圓柱型驅動手輪或L型驅動手輪。
[0032]同時，本發明還將前述工作臺用于光學計上，其包括工作臺、設置在固定基座下端面的調平錐臺，工作臺通過調平錐臺設置在光學計基座上；或包括工作臺、水平移動機構、調平錐臺，工作臺中的固定基座設置在水平移動機構上且固定基座能相對水平移動機構移動，水平移動機構通過調平錐臺設置在光學計基座上。本發明中的調平機構則能調整工作面與光學計測頭的垂直狀態。
[0033]以采用本發明用于固定導磁性工件的工作臺的光學計為例，其工作過程如下。測量前，先采用標準量塊“調零”。測量時，打開可控磁性裝置，使其產生磁性，被測零件吸附到可控磁性裝置的工作面上，并且與定位裝置緊靠在一起，調節運動控制機構，使被測零件和可控磁性裝置緩慢通過測帽，從視窗中讀出被測零件的微動差值，計算出被測零件的實際尺寸。可控磁性裝置與固定基座組成的工作臺的運動代替被測零件的運動，運動控制機構代替手動控制，通過各部分的配合，將導磁性的被測零件緊緊的吸附到工作臺表面，避免人直接對測量零件的控制，將較大的人為誤差轉換為機械結構帶來的微小系統誤差，提高測量的精度、測量結果的準確性和可重復性。通過運動控制機構，實現緩慢和穩定的控制，以滿足對數據穩定性的要求。本方案的設計，改善了儀器的可操作性能，即非專業測量人員也能完成測量，達到測量精度。
[0034]本發明中的光學計在確保光學計原有結構設計不變的條件下，確保測量過程中被測零件軸線與工作面緊密接觸并保持平行，使測量結果接近真值，具有操作簡單方便、數據穩定的特點。除此之外，還可將工作臺結合光學計用于對直線度、平面度、圓度和圓柱度等零件幾何形狀公差的檢測。
[0035] 申請人:分別采用原有設備(即采用手動方式對零件進行控制，然后采用光學計進行測量)、改進設備(即本發明的裝置，通過該裝置與光學計進行配合，然后進行測量)、三坐標測量機對兩種導磁性零件(分別記為導磁性零件一、導磁性零件二)進行測量。導磁性零件一的測試效果對照圖如圖6所示，導磁性零件二的測試效果對照圖如圖7所示。通過對t匕，能夠發現，采用本發明能顯著提高光學計的測量精度，提高測定結果的準確性。同時，實驗結果也進一步證明，采用本發明的光學計，其測量結果穩定性優于三坐標測量機的測量結果，說明本發明具有顯著的進步。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0036]本發明將通過例子并參照附圖的方式說明，其中:
圖1是本發明光學計中工作臺與光學計底座結合的結構示意主視圖。
[0037]圖2是本發明光學計中工作臺與光學計底座結合的機構示意側視圖。
[0038]圖3是工作臺基座與可控磁性裝置配合的滑動導軌示意圖。
[0039]圖4是光學計原始測量方案圖。
[0040]圖5是圖4中I的局部放大示意圖。
[0041 ] 圖6是導磁性零件一的測試效果對照圖。
[0042]圖7是導磁性零件二的測試效果對照圖。
[0043]圖中標記:1為固定基座,2為可控磁性裝置,3為定位裝置,4為水平擋片,5為豎直擋片，6為工作面，7為滑動導軌，8為凹槽，9為螺紋絲杠，10為支撐架，11為驅動件，12為調平錐臺，13為光學計基座，14為調平機構，15為磁性開關，16為被測零件，17為測帽。
【具體實施方式】
[0044]本說明書中公開的所有特征，或公開的所有方法或過程中的步驟，除了互相排斥的特征或步驟以外，均可以以任何方式組合。
[0045]本說明書中公開的任一特征，除非特別敘述，均可被其他等效或具有類似目的的替代特征加以替換，即，除非特別敘述，每個特征只是一系列等效或類似特征中的一個例子而已。
[0046]實施例1
本發明的光學計是光學計測量光滑極限量規以及圓柱體直徑等軸類零件的重要環節。下面結合附圖，對本發明進行說明。
[0047]一種光學計，包括用于固定被測零件的工作臺、調平錐臺、調平機構，工作臺通過調平錐臺設置在光學計基座上。調平機構采用螺釘，通過螺釘與光學計基座的配合，調節工作臺。其中，工作臺包括固定基座、可控磁性裝置、定位裝置、滑動機構、運動控制機構、設置在固定基座的上支撐架、驅動件，定位裝置包括水平擋片、與水平擋片相連的豎直擋片，固定基座由非導磁材料制備而成，定位裝置由導磁材料制備而成，可控磁性裝置設置在固定基座上，可控磁性裝置的上端面為工作面，水平擋片設置在工作面上。
[0048]本實施例中，可控磁性裝置采用磁性表座，通過旋轉磁性表座的磁性開關，使磁性表座產生磁性與消除磁性。本實施例中，固定基座采用鋁合金制成，定位裝置采用L型硅鋼片，水平擋片與豎直擋片相互垂直，其設置在可控磁性裝置上能用于固定磁性工件(即被測零件)。可控磁性裝置打開時，由于固定基座由非導磁材料制備而成，因而固定基座為非導磁層，可控磁性裝置產生的磁力線穿過定位裝置，定位裝置產生強大的磁力，使磁性工件與定位裝置緊靠在一起。水平擋片位于工作面上可控磁性裝置的N級至S極的線上，且水平擋片通過螺釘固定在可控磁性裝置上。
[0049]滑動機構包括設置在固定基座上的滑動導軌、設置在可控磁性裝置下端面的凹槽，滑動導軌與凹槽相配合，從而使得可控磁性裝置能相對固定基座滑動。運動控制機構采用螺紋絲杠傳動機構，其包括螺紋絲杠、螺母，螺紋絲杠與螺母相配合，通過旋轉螺紋絲杠，能夠使螺母相對螺紋絲杠移動。螺紋絲杠設置在支撐架上，驅動件與螺紋絲杠相連且驅動件能帶動螺紋絲杠相對支撐架轉動，螺母與可控磁性裝置相連，且通過螺紋絲杠與螺母的配合能帶動可控磁性裝置相對固定基座移動。使用時，通過旋轉驅動件帶動螺紋絲杠轉動，在螺紋絲杠與螺母的配合下，螺母帶動固定基座移動，從而實現被測零件在水平方向的運動。本實施例中，驅動件為L型驅動手輪，滑動導軌為燕尾槽導軌，燕尾槽導軌與凹槽之間設置有簧片，簧片能夠調節滑動導軌與凹槽之間的配合間隙，使兩者能夠更好配合，從而保證被測零件運行的平穩性。
[0050]本實施例中，定位裝置采用的L型硅鋼片磁導率高，可約束可控磁性裝置上表面的磁力線，通過收集的磁力線將被測零件緊緊的吸附于工作面上。當可控磁性裝置在螺紋絲杠的控制下沿滑動導軌運動時，被測零件與可控磁性裝置一起運動。可控磁性裝置與固定基座之間連接所采用的燕尾槽結構如圖3所示，滑動導軌還可采用直線滑軌、T形槽等滑動導軌。
[0051]結合圖1-3，對本發明的工作過程說明如下。
[0052]測量前，使用標準量塊對測帽與工作面之間的高度完成“調零”。然后將被測零件安裝到可控磁性裝置的工作面上，打開磁性開關，被測零件吸附到工作面上并緊緊的與定位裝置的豎直擋片靠在一起。轉動驅動件，控制可控磁性裝置和被測零件一起穩定的通過測帽，完成對被測零件微動差值的測量。
[0053]經多次實驗測定，結果表明:采用本發明的光學計進行測量時，測量結果重復性好，測試結果準確可靠，測定精度高。
[0054]本發明通過提供一種新的裝置，其能完全避免常規光學計測量軸類零件過程中的方法誤差和隨機誤差、避免粗大誤差、提高測量精度，同時可改善操作性能，確保測定結果的可重復性和準確性。
[0055]對比實驗一
圖4是光學計原始測量方案圖，圖5是圖4中I的局部放大示意圖。通過圖4、圖5的比較，能夠清楚的看出，采用手動方式控制被測零件，通過光學計進行測量時，零件往往難以保持固定，從而出現圖5的情況。在測量過程中，常出現多個最大值。
[0056]對比實驗二
對比實驗二采用的工作臺中不包含固定基座，其他與實施例1相同。
[0057]經測定，將被測零件置于對比實驗二中的工作面上時，被測零件與工作面之間的磁力較弱，在移動的過程中會發生偏轉。被測零件接觸測帽，發生較大的移動，無法滿足測定要求。
[0058]對比實驗三
對比實驗三采用的工作臺中不包含定位裝置，其他與實施例1相同。
[0059]經測定，將被測零件置于對比實驗三中的工作面上時，被測零件發生偏轉，根據被測零件大小、尺寸的不同，靜止的位置不同。在被測零件接觸測帽及固定基座移動的過程中，被測零件發生較大的移動，無法滿足測定要求。
[0060]對比實驗四
對比實驗四采用的工作臺中定位裝置采用鋁合金材料制成，其他與實施例1相同。
[0061]對比實驗四的測定結果與對比實驗三相似，也無法滿足準確測定的要求。
[0062]通過對比發明，本發明的各部分之間具有相互配合作用，一旦配合被破壞，就會出現磁力較弱、工件偏轉、出現多個最大值的情況，進而使得測定結果失去意義。本發明的“三明治結構”、各部分的材料，以及擋片結構，是實現本發明的關鍵。其中擋片的作用，首先是位置的固定，其次是防止被測工件移動，最重要的是根據磁場走最近線的特性來收集磁力線，同時零件會向定位裝置自動靠近。在實際測試中，當測定圓柱形工件時，當圓柱形工件置于工作面后，圓柱形工件會自動向定位裝置移動，并緊緊地與定位裝置靠在一起，用手使勁也很難將兩者分離，在被測零件與測帽接觸的過程中，其也不會發生偏轉。多次測定表明，其測定結果準確可靠。
[0063]本發明并不局限于前述的【具體實施方式】。本發明擴展到任何在本說明書中披露的新特征或任何新的組合，以及披露的任一新的方法或過程的步驟或任何新的組合。
【權利要求】
1.一種用于固定導磁性工件的工作臺，其特征在于，包括固定基座、能產生磁性與消除磁性的可控磁性裝置、設置在可控磁性裝置上用于固定導磁性工件的定位裝置，所述定位裝置包括水平擋片、與水平擋片相連的豎直擋片，所述固定基座由非導磁材料制備而成，所述定位裝置由導磁材料制備而成，所述可控磁性裝置設置在固定基座上，所述可控磁性裝置的上端面為工作面，所述水平擋片設置在工作面上。
2.根據權利要求1所述的用于固定導磁性工件的工作臺，其特征在于，所述水平擋片與豎直擋片之間采用一體成型，且水平擋片與豎直擋片之間相互垂直。
3.根據權利要求1-2任一項所述的用于固定導磁性工件的工作臺，其特征在于，所述可控磁性裝置為永磁式可控磁性裝置或電控式可控磁性裝置。
4.根據權利要求3所述的用于固定導磁性工件的工作臺，其特征在于，所述可控磁性裝置為磁性表座、永磁吸盤、電磁鐵中的一種。
5.根據權利要求1-4任一項所述的用于固定導磁性工件的工作臺，其特征在于，所述固定基座由鋁合金或不銹鋼非導磁性材料制備而成，所述定位裝置由硅鋼片制成。
6.根據權利要求1-5任一項所述的用于固定導磁性工件的工作臺，其特征在于，還包括能使可控磁性裝置相對固定基座移動的滑動機構。
7.根據權利要求6所述的用于固定導磁性工件的工作臺，其特征在于，所述滑動機構包括設置在固定基座上的滑動導軌、設置在可控磁性裝置下端面的凹槽，所述滑動導軌與凹槽相配合； 或所述滑動機構包括設置在固定基座上的凹槽、設置在可控磁性裝置下端面且與凹槽相配合的滑動導軌。
8.根據權利要求1-7任一項所述的用于固定導磁性工件的工作臺，其特征在于，還包括運動控制機構，所述運動控制機構為絲杠傳動機構或齒輪齒條傳動機構。
9.根據權利要求8所述的用于固定導磁性工件的工作臺，其特征在于，所述絲杠傳動機構為螺紋絲杠傳動機構，所述螺紋絲杠傳動機構包括螺紋絲杠、與螺紋絲杠相配合的螺母，還包括支撐架、驅動件，所述支撐架設置在固定基座上，所述螺紋絲杠設置在支撐架上，所述驅動件與螺紋絲杠相連且能帶動螺紋絲杠相對支撐架轉動，所述螺母與可控磁性裝置相連構成螺紋副，且通過螺紋副能帶動可控磁性裝置相對固定基座移動。
10.采用前述權利要求1-9任一項所述工作臺的光學計，其特征在于，包括工作臺、設置在固定基座下端面的調平錐臺，所述工作臺通過調平錐臺設置在光學計基座上； 或包括工作臺、水平移動機構、調平錐臺，所述工作臺中的固定基座設置在水平移動機構上且固定基座能相對水平移動機構移動，所述水平移動機構通過調平錐臺設置在光學計基座上。
【文檔編號】G01B11/00GK104075660SQ201410345894
【公開日】2014年10月1日 申請日期:2014年7月21日 優先權日:2014年7月21日
【發明者】金玉萍, 古忠濤, 鄧涵 申請人:西南科技大學
專業數控銑床產品供應商
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