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一種適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針,該測試探針能夠自由變換測量探針之間的間距，不僅可以對標(biāo)準(zhǔn)引腳間距的芯片進(jìn)行測量，而且可以對非標(biāo)引腳間距的芯片進(jìn)行測量；該測試探針還具有引腳定位功能，測量者只需要根據(jù)芯片引腳間距調(diào)整好金屬探針位置，即可根據(jù)引腳定位孔直接進(jìn)行測量，節(jié)省了時間，提高了效率，且結(jié)構(gòu)簡單，適于工業(yè)化實施。
【專利說明】-種適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明屬于硬件設(shè)計測試【技術(shù)領(lǐng)域】，具體是一種適用于多種引腳微小間距的芯片 測試探針。該探針能夠?qū)Χ喾N不同封裝、不同引腳間距的芯片進(jìn)行測試，并且具備了獨特的 可調(diào)節(jié)探針間距功能，可以有效地解決由于傳統(tǒng)示波器探針過粗無法測量引腳間距過小的 芯片問題。

【背景技術(shù)】
[0002] 隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展，芯片的尺寸越來越小，集成規(guī)模越來越大，實現(xiàn)的 功能也越來越復(fù)雜，廣泛的應(yīng)用于各個行業(yè)，成為人類生活中不可或缺的一部分。但是與芯 片產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展不同的是，芯片的測試手段和測量工具的發(fā)展并沒有隨著芯片的復(fù)雜度 的提升而得到應(yīng)有的進(jìn)步。面對功能不斷增加、引腳數(shù)目日益增多的芯片，如何針對芯片所 具有的功能進(jìn)行全面的、準(zhǔn)確的測試已經(jīng)成為業(yè)界日益關(guān)注的問題。
[0003] 在硬件電路的調(diào)試過程中，如果芯片出現(xiàn)異常，需要對芯片的某些信號進(jìn)行監(jiān)測 和故障定位，傳統(tǒng)的也是最常用的方法是采用示波器對芯片的引腳上的信號進(jìn)行采集，觀 察芯片引腳上的信號的波形，進(jìn)而對故障進(jìn)行定位排除。然而，隨著芯片的功能和復(fù)雜程度 的增加，芯片在面積不變的趨勢下引腳數(shù)目越來越多，導(dǎo)致了芯片引腳間的間距越來越小。 傳統(tǒng)的示波器的探針由于探針過粗而無法對芯片引腳進(jìn)行有效的測量，而且過密的引腳數(shù) 目使得測試人員在對故障區(qū)域引腳進(jìn)行定位也變得十分困難。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明擬解決的技術(shù)問題是：提供一種適用于多種引腳微 小間距的芯片測試探針。該測試探針能夠自由變換測量探針之間的間距，不僅可以對標(biāo)準(zhǔn) 引腳間距的芯片進(jìn)行測量，而且可以對非標(biāo)引腳間距的芯片進(jìn)行測量；該測試探針還具有 引腳定位功能，測量者只需要根據(jù)芯片引腳間距調(diào)整好金屬探針位置，即可根據(jù)引腳定位 孔直接進(jìn)行測量，節(jié)省了時間，提高了效率，且結(jié)構(gòu)簡單，適于工業(yè)化實施。
[0005] 本發(fā)明解決所述技術(shù)問題的技術(shù)方案是：設(shè)計一種適用于多種引腳微小間距的芯 片測試探針。其特征在于該測試探針由測量電路板、金屬探針、連接器、支架和測試端點組 成；所述測量電路板上一端有用于連接連接器的PAD點，另一端有用于測量信號的測試端 點，PAD點與測試端點以印制線的形式直接相連；所述金屬探針的根數(shù)根據(jù)應(yīng)用場合定制， 安裝在連接器上，間距固定，且呈一直線排列；金屬探針可以在連接器上伸縮，與連接器靠 二者之間的摩擦阻力連接，伸縮時，用手將金屬探針推至合適位置即可；所述連接器其金屬 探針連接端為一排孔槽，用于安裝金屬探針，孔槽的個數(shù)與金屬探針的根數(shù)相同；所述連接 器上的孔槽采用標(biāo)準(zhǔn)圓形孔槽結(jié)構(gòu)，金屬探針的根部與孔槽以可插拔的方式連接，在對非 標(biāo)準(zhǔn)間距的芯片引腳進(jìn)行測量時，可將多余的金屬探針拔出，不會影響測量效果；所述連接 器的電路連接端與測量電路板上的PAD點相連接，測量電路板上的測試端點的個數(shù)與連接 器上孔槽的個數(shù)相同，所述孔槽與測試端點經(jīng)過PAD點直線電連通，并與測試端點以相同 數(shù)字編號的形式一一對應(yīng)；所述測量電路板四角安裝有支架，用于對測試探針進(jìn)行支撐。
[0006] 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：
[0007] 1.本發(fā)明有效解決了芯片間距過小時，示波器探頭無法有效對芯片進(jìn)行測量的問 題，使得測量人員在不用更換示波器探頭的情況下，能夠?qū)π￠g距芯片進(jìn)行測量。
[0008] 2.本發(fā)明通過采用可插拔探針設(shè)計，使其在不用更換其他測量工具的情況下，就 可以測量不同引腳間距的芯片，具有極高的靈活性和通用性。
[0009] 3.本發(fā)明采用了 L型探針和測量板四周配有塑料支架設(shè)計，使得探針與芯片引腳 之間的接觸更加可靠，提高了測量的準(zhǔn)確性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010] 圖1為本發(fā)明適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針一種實施例的俯視示意 圖。
[0011] 圖2為本發(fā)明適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針一種實施例的仰視示意 圖。
[0012] 圖3為本發(fā)明適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針一種實施例的側(cè)視示意 圖。

【具體實施方式】
[0013] 下面結(jié)合具體實施例及附圖詳細(xì)敘述本發(fā)明。
[0014] 本發(fā)明設(shè)計的適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針（簡稱測試探針，參見圖 1-3)，其特征在于：該測試探針由測量電路板1、金屬探針2、連接器3、支架4和測試端點5 組成；所述測量電路板1上一端有用于安裝連接器3的PAD點11，另一端有用于測量信號 的測試端點5, PAD點11與測試端點5以印制線的形式直接相連；
[0015] 所述金屬探針2的根數(shù)根據(jù)應(yīng)用場合定制，安裝在連接器3上，間距固定，且呈一 直線排列；金屬探針2可以在連接器3上伸縮，與連接器3靠二者之間的摩擦阻力連接，伸 縮時，用手將金屬探針2推直合適位置即可；
[0016] 所述連接器3其金屬探針連接端為一排孔槽，用于安裝金屬探針2,孔槽的個數(shù)與 金屬探針2的根數(shù)相同；所述連接器3上的孔槽采用標(biāo)準(zhǔn)圓形孔槽結(jié)構(gòu)，金屬探針2的根部 與孔槽以可插拔的方式連接，在對非標(biāo)準(zhǔn)間距的芯片引腳進(jìn)行測量時，可將多余的金屬探 針2拔出，不會影響測量效果；
[0017] 所述連接器3的電路連接端與測量電路板1上的PAD點11相連接，測量電路板1 上的測試端點5的個數(shù)與連接器3上孔槽的個數(shù)相同，所述孔槽與測試端點5經(jīng)過PAD點 11直線電連通，并與測試端點5以相同數(shù)字編號的形式一一對應(yīng)；所述測量電路板1四角 安裝有支架4,用來對測試探針進(jìn)行支撐。
[0018] 本發(fā)明測試探針的使用方法是：在對芯片進(jìn)行測量時，首先確定芯片引腳的數(shù)量 η和間距s (mm)，根據(jù)間距s來推算出兩個引腳之間要拔出的金屬探針數(shù)目m，具體計算公式 為⑴式：
[0019] m = (s/0. 1) -1 (1)
[0020] 然后從第一個金屬探針開始，兩個金屬探針之間拔出m個金屬探針，保證金屬探 針2間距與芯片引腳間距一致。將裝有金屬探針2的一側(cè)與需要測量的芯片引腳對齊，且 保證可靠連接；測量時，根據(jù)芯片電路圖找出待測引腳的編號，根據(jù)編號在測量電路板1上 找出相應(yīng)的測試點，用示波器探頭進(jìn)行測量。
[0021] 下面給出具體的實施例。
[0022] 實施例1
[0023] 定制的測量電路板1整體呈長方形，尺寸為50mmX100mmXl· 6mm ;測量電路板1 中間具有76個測試端點5,配套的連接器3上有76個孔槽，兩孔之間間距0. 1mm，可安裝76 根金屬探針2 ;所述連接器3是根據(jù)貴州航天電器股份有限公司3412廠的J56-32ZK2進(jìn)行 定制的，整體大致呈倒U型，倒U的兩支腳一長一短，長支腳與測量電路板1相連，短支腳上 安裝有向外延伸的連接板，孔槽位于連接板的下端；選用的金屬探針2為L型金屬探針，直 徑為0. 1mm，共計76個，可以測量最大距離為15. 2cm，滿足一般芯片的要求；所述支架4為 可伸縮的塑料支架，采用螺旋機構(gòu)實現(xiàn)自身高度的調(diào)節(jié)，進(jìn)而調(diào)節(jié)測試探針的高度，以適應(yīng) 不同厚度的待測芯片。本實施例中支架4的高度可在20-60_范圍內(nèi)調(diào)節(jié)。
[0024] 工作原理與過程：根據(jù)待測芯片的引腳規(guī)格來確定測試探針的金屬探針2的根數(shù) 與間距，調(diào)整好測試探針后將其金屬探針2與待測芯片的引腳接觸。將外接示波器的探頭 與測量電路板1上的測試端點5相連，金屬探針2將測試到的信息信號通過電路傳送到測 試端點5后，示波器探頭讀取信號，最后根據(jù)示波器上的輸出信號來分析該芯片的故障狀 況。
[0025] 本發(fā)明未述及之處適用于現(xiàn)有技術(shù)。
【權(quán)利要求】
1. 一種適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針，其特征在于該測試探針由測量電路 板、金屬探針、連接器、支架和測試端點組成；所述測量電路板上一端有用于連接連接器的 PAD點，另一端有用于測量信號的測試端點，PAD點與測試端點以印制線的形式直接相連； 所述金屬探針的根數(shù)根據(jù)應(yīng)用場合定制，安裝在連接器上，間距固定，且呈一直線排列；金 屬探針可以在連接器上伸縮，與連接器靠二者之間的摩擦阻力連接；所述連接器其金屬探 針連接端為一排孔槽，用于安裝金屬探針，孔槽的個數(shù)與金屬探針的根數(shù)相同；所述連接器 上的孔槽采用標(biāo)準(zhǔn)圓形孔槽結(jié)構(gòu)，金屬探針的根部與孔槽以可插拔的方式連接；所述連接 器的電路連接端與測量電路板上的PAD點相連接；測量電路板上的測試端點的個數(shù)與連接 器上孔槽的個數(shù)相同，所述孔槽與測試端點經(jīng)過PAD點直線電連通，并與測試端點以相同 數(shù)字編號的形式一一對應(yīng)；所述測量電路板四角安裝有支架。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針，其特征在于： 所述支架為可伸縮的塑料支架，采用螺旋機構(gòu)實現(xiàn)自身高度的調(diào)節(jié)，高度調(diào)節(jié)范圍在 20-60mm〇
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針，其特征在于：所 述測量電路板整體呈長方形，尺寸為50mmX lOOmmX 1. 6mm ;測量電路板中間具有76個測試 端點，配套的連接器上有76個孔槽，兩孔之間間距0. 1mm ;所述連接器是根據(jù)貴州航天電 器股份有限公司3412廠的J56-32ZK2進(jìn)行定制的，整體大致呈倒U型，倒U的兩支腳一長 一短，長支腳與測量電路板相連，短支腳上安裝有向外延伸的連接板，孔槽位于連接板的下 端；選用的金屬探針為L型金屬探針，直徑為0. 1_，共計76個，測量最大距離為15.2cm。
【文檔編號】G01R1/073GK104090135SQ201410294352
【公開日】2014年10月8日 申請日期:2014年6月26日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月26日
【發(fā)明者】李鑫, 朱天成, 楊陽 申請人:中國航天科工集團(tuán)第三研究院第八三五七研究所