一種感應單元的自動測試裝置及其測試方法
【專利摘要】本發明揭示了一種感應單元的自動測試裝置，所述感應單元的X軸導電體網格和Y軸導電體網格分別接入一感應信號采集控制集成電路，并通過所述感應信號采集控制集成電路上的X軸接口和Y軸接口接出，包括一中央處理器CPU，所述中央處理器CPU分別與一發送通道模擬開關和一接收通道模擬開關相連接，所述發送通道模擬開關與所述接收通道模擬開關之間依次通過同步電路、A/D轉換器和交流調理電路連接，所述A/D轉換器與所述中央處理器CPU連接，所述X軸接口與Y軸接口分別連接到所述發送通道模擬開關與接收通道模擬開關。本發明實現了感應單元的自動測試，節約了人力成本，節省了測試時間，提高了測試效率，保證了測試結果的準確性。
【專利說明】一種感應單元的自動測試裝置及其測試方法
【技術領域】
[0001]本發明屬于觸控【技術領域】，尤其涉及一種感應單元的自動測試裝置及其測試方法。
【背景技術】
[0002]觸控面板是感應單元的一種表現形式，其實現技術主要分為薄膜式(film type)及玻璃式(glass type)兩種。如圖1所示，為目前應用于薄膜式(film type)及玻璃式(glass type)的一種較為主流的內部導電體網格結構示意圖，是由X軸、Y軸縱橫交錯的導電體網格組成的網格矩陣層。隨著感應單元應用越來越廣泛，感應單元的需求越來越大，所以提聞感應單兀的良品率對于制造商來說勢在必打。
[0003]目前，對于玻璃式(glass type)感應單元主要測試方法為:通過測試導電體網格電路之間的阻抗值來判斷導電體網格線路的完整性。所測試的不良情況包括一處或多處導電體網格間的短路、導電體網格線路間的短路、線路間的漏電和約束阻抗的偏差等，判斷方法多處涉及到人工操作，當未出現上述情景，則判斷該感應單元為良品。效率不高，且易造成判斷出錯。
[0004]另有的一種薄膜式(film type)感應單元制造過程中，薄膜式(film type)感應單元的合格與否均依靠人工測試，具體的測試方法是:將薄膜式(film type)感應單元連接在帶有顯示裝置的測試設備上，然后通過人工在薄膜式(fi Im type )感應單元上進行測試，通過觀測顯示裝置上的驅動波形是否產生變化，來判斷成品是否合格。
[0005]上述薄膜式(film type)及玻璃式(glass type)感應單元的測試方法勞動強度大，且測試效率非常低，僅測試一片感應單元就需要數分鐘的時間；隨著感應單元中導電體網格的增多，測試導電體網格產生的驅動波形變化不明顯，造成精確度降低；另外，如果斷點在測試位置的邊緣部分，將很可能產生漏檢，無法測試到這個故障點，造成整片感應單元被誤作為質量合格的成品。
【發明內容】
[0006]鑒于上述現有技術存在的缺陷，本發明的目的是提出一種感應單元的自動測試裝置及其測試方法，可以精確地對感應單元的成品質量進行測試。
[0007]本發明的目的將通過以下技術方案得以實現:
一種感應單元的自動測試裝置，所述感應單元的X軸導電體網格和Y軸導電體網格分別接入一感應信號采集控制集成電路，并通過所述感應信號采集控制集成電路上的X軸接口和Y軸接口接出，包括一中央處理器CPU，所述中央處理器CPU分別與一發送通道模擬開關和一接收通道模擬開關相連接，所述發送通道模擬開關與所述接收通道模擬開關之間依次通過同步電路、A/D轉換器和交流調理電路連接，所述A/D轉換器與所述中央處理器CPU連接，所述X軸接口與Y軸接口分別連接到所述發送通道模擬開關與接收通道模擬開關。
[0008]優選的，上述的一種感應單元的自動測試裝置，其中:所述發送通道模擬開關與一交流信號發生器連接。
[0009]優選的，上述的一種感應單元的自動測試裝置，其中:所述中央處理器CPU與一計算控制單元之間通過通信接口連接，所述計算控制單元包括顯示裝置，所述通訊接口采用無線或有線的通訊方式。
[0010]優選的，上述的一種感應單元的自動測試裝置，其中:所述感應單元包括由X軸導電體網格和Y軸導電體網格排布而成的網格電磁感應層，以及內嵌有所述網格電磁感應層的兩層表面基層。
[0011 ] 優選的，上述的一種感應單元的自動測試裝置，其中:所述X軸導電體網格和Y軸導電體網格為納米導電體網格和/或金屬導電體網格；所述表面基層為薄膜，墻紙或地毯，玻璃或亞克力板。
[0012]一種感應單元的自動測試裝置的測試方法，用于測試包括縱橫交錯的m根X軸導電體網格和η根Y軸導電體網格，包括以下步驟:
第一步:通過中央處理器CPU控制發送通道模擬開關，將激勵信號通過X軸接口發送至
X軸導電體網格中的導電體網格Xni，其中m為正整數，m=l,2,......，m ；
第二步:如與導電體網格Xni相交叉的Y軸導電體網格中的第一根導電體網格Y1至第η根導電體網格Yn分別感應到交流信號，則導電體網格Xm上不存在斷點，如斷點之前的Y軸導電體網格感應到交流信號，而斷點上或斷點之后的Y軸導電體網格感應不到交流信號，則導電體網格Xm上存在斷點；其中η為正整數，η=1，2，……，η ;
第三步:第二步中Y軸導電體網格感應到的交流信號通過Y軸接口，經由接收通道模擬開關分別傳入交流調理電路，并通過交流調理電路將交流信號調理成直流信號；
第四步:第三步得到的直流信號通過A/D轉換器轉換成數字信號傳送回中央處理器(PU進行數據分析；
第五步:重復第一步~第四步，直至測試完成所有的m根X軸導電體網格；
第六步:中央處理器CPU將得到的數據傳送至計算控制單元，計算控制單元將結果通過顯示裝置將測試結果顯示出來。
[0013]本發明的突出效果為:本發明的一種感應單元的自動測試裝置及其測試方法，實現了感應單元的自動測試，節約了人力成本，節省了測試時間，提高了測試效率，可以全面覆蓋地對整個感應單元的網格電磁感應層進行故障點測試，并能確定故障點的位置，保證了測試結果的準確性。
[0014]以下便結合實施例附圖，對本發明的【具體實施方式】作進一步的詳述，以使本發明技術方案更易于理解、掌握。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0015]圖1是現有技術中感應單元的結構示意圖；
圖2是本發明實施例的結構示意圖；
圖3是本發明實施例的測試流程圖；
圖4是本發明實施例的感應單元的導電體網格分布圖。
【具體實施方式】[0016]實施例:
如圖1所示，感應單元的X軸導電體網格和Y軸導電體網格按一定規則排布而成的網格電磁感應層，X軸導電體網格和Y軸的導電體網格分別匯集于一側接入感應信號采集控制集成電路，并通過感應信號采集控制集成電路上的X軸接口和Y軸接口接出。
[0017]本實施例的一種感應單元的自動測試裝置，如圖2所示，包括中央處理器CPU，中央處理器CPU分別與發送通道模擬開關和接收通道模擬開關相連接，發送通道模擬開關與接收通道模擬開關之間依次通過同步電路、A/D轉換器和交流調理電路連接，A/D轉換器與中央處理器CPU連接，X軸接口與Y軸接口分別連接到發送通道模擬開關與接收通道模擬開關。發送通道模擬開關與交流信號發生器連接。
[0018]其中，中央處理器CPU與計算控制單元之間通過通信接口連接，計算控制單元包括顯示裝置，通訊接口采用無線或有線的通訊方式。感應單元包括由X軸導電體網格和Y軸導電體網格排布而成的網格電磁感應層，以及內嵌有所述網格電磁感應層的兩層表面基層。X軸導電體網格和Y軸導電體網格為納米導電體網格和/或金屬導電體網格；表面基層為薄膜，墻紙或地毯，玻璃或亞克力板。
[0019]一種感應單元的自動測試裝置的測試方法，用于測試包括縱橫交錯的m根X軸導電體網格和η根Y軸導電體網格，如圖3所示，包括以下步驟:
第一步:通過中央處理器CPU控制發送通道模擬開關，將激勵信號通過X軸接口發送至X軸導電體網 格Xm，其中m為正整數，m=l，2，……，m;
第二步:如與導電體網格Xni相交叉的Y軸導電體網格中的第一根導電體網格Y1至第η根導電體網格Yn分別感應到交流信號(其中η為正整數，η=1，2，……，η;)，則導電體網格Xffl上不存在斷點，如斷點之前的Y軸導電體網格感應到交流信號，而斷點上或斷點之后的Y軸導電體網格感應不到交流信號，則導電體網格Xm上存在斷點；
第三步:第二步中Y軸導電體網格感應到的交流信號通過Y軸接口，經由接收通道模擬開關分別傳入交流調理電路，并通過交流調理電路將交流信號調理成直流信號；
第四步:第三步得到的直流信號通過A/D轉換器轉換成數字信號傳送回中央處理器(PU進行數據分析；
第五步:重復第一步~第四步，直至測試完成所有的m根X軸導電體網格；
第六步:中央處理器CPU將得到的數據傳送至計算控制單元，計算控制單元將結果通過顯示裝置將測試結果顯示出來。例如，一種感應單元的導電體網格分布如圖4所示，X軸和Y軸方向均有6根導電體網格，分別為Xl~X6和Yl~Y6，則這12跟導電體網格可構成36個交叉點,這36個點之間就形成了 36個稱合電容,每個導電體網格為稱合電容的一個極。根據耦合電容原理，在一個極上加上一個激勵信號，則在另一個極上可以感應到一個頻率相同，幅度成比例的感應信號。根據這個原理，假設在X2上的X2Y2和X2Y3之間有斷點，則當給X2上加入激勵信號，則只能在Y1、Y2上有感應信號，而在Υ3~Υ6之間的導電體網格均無感應信號，由此確定了導電體網格的斷點位置。如圖3所示，還可以進一步將測試到的數據通過中央處理器CPU對數據進行數據分析，判斷導電體網格是否存在斷線及斷點位置，之后將調理轉換后數據傳送到計算控制單元上，在計算控制單元的顯示裝置上顯示出導電體網格的布局圖像，并將測試結果結合布局圖顯示出來，使測量結果一目了然。
[0020]本實施例的一種感應單元的自動測試裝置及其測試方法，實現了感應單元的自動測試，節約了人力成本，節省了測試時間，提高了測試效率，可以全面覆蓋地對整個感應單元的網格電磁感應層進行故障點測試，并能確定故障點的位置，保證了測試結果的準確性。
[0021]本發明尚有多種實施方式，凡采用等同變換或者等效變換而形成的所有技術方案，均落在本發明的保護范圍之內。
【權利要求】
1.一種感應單元的自動測試裝置，所述感應單元的X軸導電體網格和Y軸導電體網格分別接入一感應信號采集控制集成電路，并通過所述感應信號采集控制集成電路上的X軸接口和Y軸接口接出，其特征在于:包括一中央處理器CPU，所述中央處理器CPU分別與一發送通道模擬開關和一接收通道模擬開關相連接，所述發送通道模擬開關與所述接收通道模擬開關之間依次通過同步電路、A/D轉換器和交流調理電路連接，所述A/D轉換器與所述中央處理器CPU連接，所述X軸接口與Y軸接口分別連接到所述發送通道模擬開關與接收通道模擬開關。
2.根據權利要求1所述的一種感應單元的自動測試裝置，其特征在于:所述發送通道模擬開關與一交流信號發生器連接。
3.根據權利要求1所述的一種感應單元的自動測試裝置，其特征在于:所述中央處理器CPU與一計算控制單元之間通過通信接口連接，所述計算控制單元包括顯示裝置，所述通訊接口采用無線或有線的通訊方式。
4.根據權利要求1所述的一種感應單元的自動測試裝置，其特征在于:所述感應單元包括由X軸導電體網格和Y軸導電體網格排布而成的網格電磁感應層，以及內嵌有所述網格電磁感應層的兩層表面基層。
5.根據權利要求4所述的一種感應單元的自動測試裝置，其特征在于:所述X軸導電體網格和Y軸導電體網格為納米導電體網格和/或金屬導電體網格；所述表面基層為薄膜，墻紙或地毯，玻璃或亞克力板。
6.一種根據權利要求1~5所述的任一感應單元的自動測試裝置的測試方法，用于測試包括縱橫交錯的m根X軸導電體網格和η根Y軸導電體網格，其特征在于包括以下步驟: 第一步:通過中央處理器CPU控制發送通道模擬開關，將激勵信號通過X軸接口發送至X軸導電體網格中的導電體網格Xni,其中m為正整數，m=l,2,......，m ； 第二步:如與導電體網格Xni相交叉的Y軸導電體網格中的第一根導電體網格Y1至第η根導電體網格Yn分別感應到交流信號，則導電體網格Xm上不存在斷點，如斷點之前的Y軸導電體網格感應到交流信號，而斷點上或斷點之后的Y軸導電體網格感應不到交流信號，則導電體網格Xm上存在斷點；其中η為正整數，η=1，2，……，η ; 第三步:第二步中Y軸導電體網格感應到的交流信號通過Y軸接口，經由接收通道模擬開關分別傳入交流調理電路，并通過交流調理電路將交流信號調理成直流信號； 第四步:第三步得到的直流信號通過A/D轉換器轉換成數字信號傳送回中央處理器(PU進行數據分析； 第五步:重復第一步~第四步，直至測試完成所有的m根X軸導電體網格； 第六步:中央處理器CPU將得到的數據傳送至計算控制單元，計算控制單元將結果通過顯示裝置將測試結果顯示出來。
【文檔編號】G01R31/08GK103543385SQ201310482285
【公開日】2014年1月29日 申請日期:2013年10月15日 優先權日:2013年10月15日
【發明者】張軍, 劉澤江 申請人:蘇州泛普納米科技有限公司
專業數控銑床產品供應商
20年生產經驗，實力工廠，精工品質，質量有保障
