專利名稱:一種可調(diào)角度塊輔助測量裝置及測量方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種測量裝置,尤其涉及一種可調(diào)角度塊輔助測量裝置及測量方法,專用于測量手表表殼的足面到耳孔之間距離。
背景技術(shù):
在手表加工領(lǐng)域中,需要對表殼足頭上的足面到耳孔的距離進行測量,以便表帶能夠精確的安裝在足頭上。但由于表殼屬于精密器械,且整體尺寸較小,足面到耳孔的距離難以測量,此外,足面與表殼主體之間并非平行或垂直的關(guān)系,這種情況加劇了精確測量的困難。實際生產(chǎn)過程中,如果采用人工夾持表殼進行測量,會出現(xiàn)夾持不穩(wěn)的問題,以至于操作人員在測量中無法找平,難以保證測量尺寸的精確。即使研發(fā)一種專門測量足面到耳孔的距離的裝置,也只能對一種固定尺寸的表殼進行測量,對于其他尺寸的表殼無法使用;如果根據(jù)每一種表殼尺寸而制作一個測量裝置,需要制作的測量裝置的數(shù)量非常多,占用空間大且不易保管,增加了制作成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決上述技術(shù)問題,提供一種可調(diào)角度塊輔助測量裝置及測量方法,它具有使用簡便、節(jié)省成本等優(yōu)點。為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案。—種可調(diào)角度塊輔助測量裝置,包括基座、可調(diào)塊、銷軸、滑槽和刻度盤,所述基座包括依次固定連接的第一底塊、第一中塊和上塊;所述可調(diào)塊包括固定連接的第二底塊和第二中塊,所述第二中塊與上塊通過銷軸鉸接;所述第一中塊的側(cè)面固定有刻度盤,所述刻度盤上刻有角度,所述第二中塊的側(cè)面上刻有對齊線,對齊線能夠?qū)士潭缺P上的刻度;所述第二中塊與滑槽的一端固定,滑槽能夠通過調(diào)節(jié)螺釘固定在第一中塊的側(cè)面。所述刻度盤上的角度為0-90°。作為本發(fā)明的進一步改進,所述可調(diào)角度塊輔助測量裝置還包括墊塊,墊塊放置在第二底塊和第二中塊的交界處,并靠在第二中塊上,表殼通過墊塊放置在可調(diào)塊上。進一步地,可調(diào)角度塊輔助測量裝置還包括第一磁鐵,所述墊塊為第二磁鐵,表殼固定在第一磁鐵和第二磁鐵之間,通過第一磁鐵和第二磁鐵的引力加強固定。所述第二磁鐵的重量為表殼重量的7-20倍,便于第二磁鐵穩(wěn)定放置,進而防止表殼移動。本發(fā)明還提供了一種可調(diào)角度塊輔助測量裝置的測量方法,工作過程為:步驟(I ),根據(jù)被測表殼足面與表殼的角度,調(diào)整可調(diào)塊的位置,調(diào)節(jié)對齊線對齊的刻度盤上的刻度,使足面與水平方向平行,旋緊調(diào)節(jié)螺釘固定可調(diào)塊;步驟(2),選擇合適圓棒穿入被測表殼的耳孔,并把被測表殼放于可調(diào)塊上;步驟(3),把量表表針放于圓棒頂端,并旋轉(zhuǎn)量表表圈,使其歸零;
步驟(4),將量表放于被測表殼的足面上,讀出量表數(shù)值,減去耳孔半徑,即是要測量值。作為進一步改進,所述步驟(I)之前,還包括:將墊塊放置在可調(diào)塊上;進一步地,所述步驟(2)中,在把被測表殼放于可調(diào)塊上后,還包括將第一磁鐵與第二磁鐵吸合的步驟。本發(fā)明的有益效果:通過找平足面,能夠準確地測量足面至耳孔中心的精確距離,表帶能夠精確的安裝在足頭上;另外,本發(fā)明能夠適用于多種尺寸表殼的測量,占用空間小且容易保存,節(jié)省了制造成本。
圖1是本發(fā)明實施例1的整體結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本發(fā)明實施例1的側(cè)面結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是本發(fā)明實施例2的側(cè)面結(jié)構(gòu)示意圖。其中,1、基座;2、可調(diào)塊;3、銷軸;4、滑槽;5、刻度盤;6、第一底塊;7、第一中塊;
8、上塊;9、第二底塊;10、第二中塊;11、對齊線;12、調(diào)節(jié)螺釘;13、墊塊;14、表殼;15、圓棒,16、足面;17、第一磁鐵;18、第二磁鐵。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖與實施例對本發(fā)明作進一步說明。實施例1:如圖1-圖2所示,一種可調(diào)角度塊輔助測量裝置,包括基座1、可調(diào)塊2、銷軸3、滑槽4和刻度盤5,所述基座I包括依次固定連接的第一底塊6、第一中塊7和上塊8 ;所述可調(diào)塊2包括固定連接的第二底塊9和第二中塊10,所述第二中塊10與上塊8通過銷軸3鉸接;所述第一中塊7的側(cè)面固定有刻度盤5,所述刻度盤5上刻有0-90°的角度,所述第二中塊10的側(cè)面上刻有對齊線11,對齊線11能夠?qū)士潭缺P5上的刻度;所述第二中塊10與滑槽4的一端固定,滑槽4能夠通過調(diào)節(jié)螺釘12固定在第一中塊7的側(cè)面。所述可調(diào)角度塊輔助測量裝置還包括墊塊13,墊塊13放置在第二底塊9和第二中塊10的交界處,并靠在第二中塊10上,表殼14通過墊塊13放置在可調(diào)塊2上。本實施例的工作過程為:步驟(I ),將墊塊13放置在可調(diào)塊2上;步驟(2),根據(jù)足面16與表殼14的角度,調(diào)整可調(diào)塊2的位置,調(diào)節(jié)對齊線11對齊的刻度盤5上的刻度,使足面16與水平方向平行,旋緊調(diào)節(jié)螺釘12固定可調(diào)塊2 ;步驟(3),選擇合適圓棒15穿入表殼14的耳孔,并把表殼14放于可調(diào)塊2上;步驟(4),把量表表針放于圓棒15頂端,并旋轉(zhuǎn)量表表圈,使其歸零;步驟(5),將量表放于表殼14的足面16上,讀出量表數(shù)值,減去耳孔半徑,即是要測量值。實施例2:如圖3所示,與實施例1不同的是,所述第二磁鐵18代替了墊塊13,不但起到了墊塊13的作用,而且與第一磁鐵17吸合,將表殼14牢固固定在第一磁鐵17和第二磁鐵18之間。本實施例的工作過程為:步驟(I ),將第二磁鐵18放置在可調(diào)塊2上;步驟(2),根據(jù)足面16與表殼14的角度,調(diào)整可調(diào)塊2的位置,調(diào)節(jié)對齊線11對齊的刻度盤5上的刻度,使足面16與水平方向平行,旋緊調(diào)節(jié)螺釘12固定可調(diào)塊2 ;步驟(3),選擇合適圓棒15穿入表殼14的耳孔,并把表殼14放于可調(diào)塊2上,將第一磁鐵17與第二磁鐵18吸合;步驟(4),把量表表針放于圓棒15頂端,并旋轉(zhuǎn)量表表圈,使其歸零;步驟(5),將量表放于表殼14的足面16上,讀出量表數(shù)值,減去耳孔半徑,即是要測量值。上述雖然結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施方式
進行了描述,但并非對本發(fā)明保護范圍的限制,所屬領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該明白,在本發(fā)明的技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,本領(lǐng)域技術(shù)人員不需要付出創(chuàng)造性勞動即可做出的各種修改或變形仍在本發(fā)明的保護范圍以內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種可調(diào)角度塊輔助測量裝置,其特征是,包括基座、可調(diào)塊、銷軸、滑槽和刻度盤,所述基座包括依次固定連接的第一底塊、第一中塊和上塊;所述可調(diào)塊包括固定連接的第二底塊和第二中塊,所述第二中塊與上塊通過銷軸鉸接;所述第一中塊的側(cè)面固定有刻度盤,所述刻度盤上刻有角度,所述第二中塊的側(cè)面上刻有對齊線,對齊線能夠?qū)士潭缺P上的刻度;所述第二中塊與滑槽的一端固定,滑槽能夠通過調(diào)節(jié)螺釘固定在第一中塊的側(cè)面。
2.如權(quán)利要求1所述的可調(diào)角度塊輔助測量裝置,其特征是,所述刻度盤上的角度為0-90。。
3.如權(quán)利要求1所述的可調(diào)角度塊輔助測量裝置,其特征是,所述可調(diào)角度塊輔助測量裝置還包括墊塊,墊塊放置在第二底塊和第二中塊的交界處,并靠在第二中塊上,表殼通過墊塊放置在可調(diào)塊上。
4.如權(quán)利要求3所述的可調(diào)角度塊輔助測量裝置,其特征是,可調(diào)角度塊輔助測量裝置還包括第一磁鐵,所述墊塊為第二磁鐵,表殼固定在第一磁鐵和第二磁鐵之間。
5.如權(quán)利要求4所述的可調(diào)角度塊輔助測量裝置,其特征是,所述第二磁鐵的重量為表殼重量的7-20倍。
6.如權(quán)利要求1所述的可調(diào)角度塊輔助測量裝置的測量方法,其特征是,工作過程為: 步驟(I ),根據(jù)被測表殼足頭與表殼的角度,調(diào)整可調(diào)塊的位置,調(diào)節(jié)對齊線對齊的刻度盤上的刻度,使足面與水平方向平行,旋緊調(diào)節(jié)螺釘固定可調(diào)塊; 步驟(2),選擇合適圓棒穿入被測表殼的耳孔,并把被測表殼放于可調(diào)塊上; 步驟(3 ),把量表表針放于圓棒頂端,并旋轉(zhuǎn)量表表圈,使其歸零; 步驟(4),將量表放于被測表殼的足面上,讀出量表數(shù)值,減去耳孔半徑,即是要測量值。
7.如權(quán)利要求6所述的可調(diào)角度塊輔助測量裝置的測量方法,其特征是,所述步驟(I)之前,還包括:將墊塊放置在可調(diào)塊上。
8.如權(quán)利要求7所述的可調(diào)角度塊輔助測量裝置的測量方法,其特征是,可調(diào)角度塊輔助測量裝置還包括第一磁鐵,所述墊塊為第二磁鐵,所述步驟(2)中,在把被測表殼放于可調(diào)塊上后,還包括將第一磁鐵與第二磁鐵吸合的步驟。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種可調(diào)角度塊輔助測量裝置,包括基座、可調(diào)塊、銷軸、滑槽和刻度盤,所述基座包括依次固定連接的第一底塊、第一中塊和上塊;所述可調(diào)塊包括固定連接的第二底塊和第二中塊,所述第二中塊與上塊通過銷軸鉸接;所述第一中塊的側(cè)面固定有刻度盤,所述刻度盤上刻有角度,所述第二中塊的側(cè)面上刻有對齊線,對齊線能夠?qū)士潭缺P上的刻度;所述第二中塊與滑槽的一端固定,滑槽能夠通過調(diào)節(jié)螺釘固定在第一中塊的側(cè)面。本發(fā)明還公開了一種可調(diào)角度塊輔助測量裝置的測量方法。本發(fā)明通過找平足面,能夠準確地測量足面至耳孔中心的精確距離,表帶能夠精確的安裝在足頭上,適用于多種尺寸表殼的測量,占用空間小且容易保存,節(jié)省制造成本。
文檔編號G01B5/14GK103162595SQ201310087159
公開日2013年6月19日 申請日期2013年3月18日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月18日
發(fā)明者楊冰, 孫建光, 朱波, 彭濤, 高倩 申請人:山東東星表業(yè)有限公司