一種tdi紅外掃描成像調試裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種成像調試裝置，具體涉及一種用于TDI長波紅外焦平面陣列掃描成像的調試裝置。一種TDI紅外掃描成像調試裝置，包含掃描機構、鏡頭和探測器裝置，其中掃描機構位于TDI紅外掃描成像調試裝置的最前端，用于掃描信號，在掃描機構后面設置鏡頭，鏡頭的后面設置探測器裝置。本新型的有益效果是：本申請的調試裝置完成了基于對TDI長波紅外探測器的成像調試，裝置簡易、方便調試，并經過試驗驗證，可將探測器裝置部分的技術移值于到產品的設計當中，加快了設計的進度，保證了產品設計的可靠性。同時該裝置的設計可用于幾種TDI長波紅外焦平面探測及其成像電路，拓寬了其使用范圍。
【專利說明】一種TDI紅外掃描成像調試裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種成像調試裝置，具體涉及一種用于TDI長波紅外焦平面陣列掃描成像的調試裝置。
【背景技術】
[0002]TDI長波紅外焦平面陣列一般用于高分辨率紅外成像，該類型探測器鑒于其特點多數在系統集成裝配后才能開展深入的調試工作，而且若想成清晰的圖像需要距離景物幾百米或者更遠，系統體積重量大調試工作比較麻煩，不方便電路及探測器的調試工作，不利于早期發現電路或者是探測器的使用問題，也不利于深入掌握紅外TDI線陣探測器的特點，以便更好的發揮探測器的優勢得到更為理想的圖像。為滿足初期對成像電路各功能的調試及對探測器各指標的深刻理解，研制一適合多款TDI紅外焦平面陣列的調試裝置，在室內即可完成對電路及探測器的功能及性能的調測試。
【發明內容】
[0003]本實用新型的目的在于提供一種TDI長波紅外焦平面探測器成像調試裝置
[0004]本新型是這樣實現的:一種TDI紅外掃描成像調試裝置，包含掃描機構、鏡頭和探測器裝置，其中掃描機構位于TDI紅外掃描成像調試裝置的最前端，用于掃描信號，在掃描機構后面設置鏡頭，鏡頭的后面設置探測器裝置。
[0005]如上所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其中，掃描機構主要包含電機和擺鏡，其中擺鏡用于與電機連接，并受電機控制擺動。
[0006]如上所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其中，探測器裝置的電路部分含前端探測器、和成像電路，成像電路設置在前端探測器后部，成像電路用于控制前端探測器的探測，并接收前端探測器的探測信號。
[0007]如上所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其中，所述的成像電路包括兩路驅動電路和預處理電路，其中兩路驅動電路分別對應奇信號和偶信號，驅動電路用于驅動前端探測器。
[0008]如上所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其中，所述的預處理電路包括用于接收外部信號的信號調理，信號調理處理過的信號被發送給AD轉換，AD轉換的輸出信號被發送給外部的掃描控制電路，AD轉換的輸出信號還被發送給信號預處理模塊，信號預處理模塊將處理后的信號通過接口芯片發送給外部的紅外測試設備。
[0009]如上所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其中，所述的接口芯片包括LVDS接口芯片和RS422接口芯片。
[0010]本新型的有益效果是:本申請的調試裝置完成了基于對TDI長波紅外探測器的成像調試，裝置簡易、方便調試，并經過試驗驗證，可將探測器裝置部分的技術移值于到產品的設計當中，加快了設計的進度，保證了產品設計的可靠性。同時該裝置的設計可用于幾種TDI長波紅外焦平面探測及其成像電路，拓寬了其使用范圍。【專利附圖】
【附圖說明】
[0011]圖1為紅外掃描成像調試裝置示意圖；
[0012]圖2為紅外掃描成像系統調試裝置詳細組成框圖；
[0013]圖3為紅外掃描成像調試裝置UG圖(需修改為黑白線條圖)。
[0014]圖中:1.掃描機構、2.鏡頭、3.探測器裝置。
【具體實施方式】
[0015]如圖1所示，一種TDI紅外掃描成像調試裝置，包含掃描機構1、鏡頭2和探測器裝置3,其中掃描機構I位于TDI紅外掃描成像調試裝置的最前端,用于掃描信號,在掃描機構I后面設置鏡頭2，鏡頭2的后面設置探測器裝置3。
[0016]如附圖2所示，掃描機構I主要包含電機和擺鏡，其中擺鏡用于與電機連接，并受電機控制擺動。通過擺鏡的擺動完成對一定視場內目標的掃描，可通過測試設備對其速度進行控制已滿足匹配成像的要求，該裝置中掃描擺角可達到±15° ;鏡頭采用二次成像的方式將景物成像在探測器焦平面上，鏡頭的設計可滿足物距Im到Ikm左右的成像要求。如附圖2所示，探測器3裝置的電路部分含前端探測器、和成像電路，成像電路設置在前端探測器后部，成像電路用于控制前端探測器的探測，并接收前端探測器的探測信號。
[0017]所述的成像電路包括兩路驅動電路和預處理電路，其中兩路驅動電路分別對應奇信號和偶信號，驅動電路用于驅動前端探測器。
[0018]所述的預處理電路包括用于接收外部信號的信號調理，信號調理處理過的信號被發送給AD轉換，AD轉換的輸出信號被發送給外部的掃描控制電路，AD轉換的輸出信號還被發送給信號預處理模塊，信號預處理模塊將處理后的信號通過接口芯片發送給外部的紅外測試設備。
[0019]所述的接口芯片包括LVDS接口芯片和RS422接口芯片。
[0020]成像電路完成提供給探測器相應的偏壓和時序，對探測器輸出信號進行阻抗匹配及放大，對探測器多通道信號的采集及預處理，預處理包含奇偶合成排序、非均勻性校正及增益控制等，
[0021]探測器3還包括與外部安裝環境相適應的安裝支架，安裝支完成了該類型探測器(分立式斯特林制冷機)的支撐并且具備調焦功能，同時考慮到電路的復雜性，將幾種電路集成在支架上，方便了調試。
[0022]圖3是該裝置的UG圖。該實用新型紅外掃描成像調試裝置經過了試驗的驗證，滿足在成像電路及探測器初期的成像調試問題，取得了很好的效果，為產品的設計提供了基礎，并能將其中探測器及其電路部分直接應用到產品設計中。
[0023]本新型裝置的使用過程大致如下:采用擺鏡掃描的方式，將鏡頭的圖像依次掃描到探測器的焦平面上，通過對掃描機構的同步控制，保證TDI紅外探測器的駐留積分時間、信號讀出速率與系統掃描速率匹配，通過掃描覆蓋橫向視場，圖像信號經過探測器裝置成像電路預處理后傳輸給測試設備。
【權利要求】
1.一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其特征在于:包含掃描機構(I)、鏡頭(2)和探測器裝置(3)，其中掃描機構(I)位于TDI紅外掃描成像調試裝置的最前端，用于掃描信號，在掃描機構(I)后面設置鏡頭(2)，鏡頭(2)的后面設置探測器裝置(3)。
2.如權利要求1所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其特征在于:掃描機構(I)主要包含電機和擺鏡，其中擺鏡用于與電機連接，并受電機控制擺動。
3.如權利要求2所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其特征在于:探測器裝置(3)的電路部分含前端探測器、和成像電路，成像電路設置在前端探測器后部，成像電路用于控制前端探測器的探測，并接收前端探測器的探測信號。
4.如權利要求3所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其特征在于:所述的成像電路包括兩路驅動電路和預處理電路，其中兩路驅動電路分別對應奇信號和偶信號，驅動電路用于驅動前端探測器。
5.如權利要求4所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其特征在于:所述的預處理電路包括用于接收外部信號的信號調理，信號調理處理過的信號被發送給AD轉換，AD轉換的輸出信號被發送給外部的掃描控制電路，AD轉換的輸出信號還被發送給信號預處理模塊，信號預處理模塊將處理后的信號通過接口芯片發送給外部的紅外測試設備。
6.如權利要求5所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其特征在于:所述的接口芯片包括LVDS接口芯片和RS422接口芯片。
【文檔編號】G01J5/02GK203587223SQ201320347760
【公開日】2014年5月7日 申請日期:2013年6月17日 優先權日:2013年6月17日
【發明者】沈玉秀, 殷國平, 牟健, 范海清, 陶玉, 梁爽 申請人:中國航天科工集團第三研究院第八三五八研究所
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