測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置制造方法
【專利摘要】一種測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置,屬于實驗觀測儀器【技術領域】,是涉及一種測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置。本發明消除了影響物料質量和溫度測量的因素,實現對各種真空干燥過程工藝參數的高精度實時測量。本發明包括真空干燥箱、質量測量機構、制冷加熱機構、溫度測量機構、物料取樣機構、抽氣除濕機構、制冷機和計算機控制及記錄系統,質量測量機構由連接架和電子秤組成,制冷加熱機構由支柱、固定托盤及上、中、下層溫控板組成,溫度測量機構由懸吊托盤、溫度探頭、信號轉換器及溫度數據發射器組成,物料取樣機構由撥叉、轉移托盤、傳送桿、閘閥及取樣箱組成,抽氣除濕機構由真空泵和冷阱組成。
【專利說明】測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置
【技術領域】
[0001] 本發明屬于實驗觀測儀器【技術領域】,是涉及一種測量真空干燥和真空冷凍干燥過 程工藝參數的實驗裝置。
【背景技術】
[0002] 干燥泛指從濕物料中除去水分或其他濕分的各種操作,是廣泛應用于社會各行各 業的最基本單元操作工藝方法之一。出于優化工藝、提高效率、節省時間、降低能耗的需求, 研究人員已經擺脫了單純依賴實際經驗制訂干燥工藝流程和工藝參數的傳統習慣,開始更 多地關注被干燥物料的內在傳熱傳質過程與機制。隨著對干燥技術的深入研究,對干燥過 程機理的分析和干燥過程工藝參數的監控顯得越來越重要,其中在干燥過程中實時變化的 物料質量、物料溫度和物料樣品圖像是研究人員最為關注的干燥過程工藝數據,這些數據 的實時測量技術、方法和設備,對于干燥技術的深入研究和發展具有重要的支撐作用。
[0003] 但是,現有的干燥實驗測試裝置和實驗測試方法,尚不能同時高精度測量上述研 究人員最為關注的干燥過程工藝數據。以物料質量的測量為例,目前已有的絕大多數實驗 裝置都是將物料及其承載托盤直接放置在電子秤上完成干燥實驗,這樣不僅電子秤干擾了 干燥實驗的正常傳熱傳質過程,而且機械設備的振動和干燥的傳熱過程會使電子秤出現質 量測量誤差。最為常見又不可避免的質量測量誤差來自于物料溫度測量過程,安插在物料 上的測溫元件引出線會因內部應力給電子秤帶來不可預測的作用力的,從而限制了物料質 量變化的高精度測量。而對于需要在真空條件下完成的真空干燥和真空冷凍干燥實驗,又 在物料的直接提取和干燥過程的持續進行之間帶來困難,通常的做法是中斷實驗并對真空 干燥箱放氣,將物料從真空干燥箱取出,做稱重或樣品圖像觀察等中間檢測,然后再將物料 放回真空干燥箱,重新抽真空繼續進行干燥實驗。很明顯,這種做法破壞了真空干燥的連續 性,所獲得的數據缺乏足夠的精度可靠性,且操作繁瑣,無法適應當前對干燥過程精密檢測 的需求。總之,目前尚沒有一種實驗裝置能夠同時進行多項干燥工藝參數的高精度在線測 量。因此,開發出能夠更為精確、可靠和適用不同條件下的在線測量干燥過程工藝參數的實 驗裝置,對于干燥技術的深入研究具有很高的實用價值。
【發明內容】
[0004] 針對現有技術存在的問題,本發明提供一種測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工 藝參數的實驗裝置,與現有的干燥實驗設備相比,本發明將從根源上消除機械振動、測溫元 件引線等因素對物料質量和溫度測量的影響,實現對各種真空干燥過程工藝參數的高精度 實時測量,從而為干燥技術的深入研究提供有力的實驗工具和手段。
[0005] 為了實現上述目的,本發明采用如下技術方案:一種測量真空干燥和真空冷凍干 燥過程工藝參數的實驗裝置,包括真空干燥箱、質量測量機構、制冷加熱機構、溫度測量機 構、物料取樣機構、抽氣除濕機構、制冷機和計算機控制及記錄系統,所述質量測量機構由 連接架和電子秤組成,電子秤通過連接架設置在真空干燥箱內;所述制冷加熱機構由支柱、 固定托盤及上、中、下層溫控板組成,上、中、下層溫控板通過支柱設置在真空干燥箱內,固 定托盤固定在中層溫控板和下層溫控板之間,固定托盤上載有第一物料;所述溫度測量機 構由懸吊托盤、溫度探頭、信號轉換器及溫度數據發射器組成,懸吊托盤位于上層溫控板和 中層溫控板之間,懸吊托盤與電子秤的稱重掛鉤相連接,懸吊托盤上載有第二物料,溫度探 頭設置在第二物料處;所述物料取樣機構由撥叉、轉移托盤、傳送桿、閘閥及取樣箱組成,撥 叉設置在真空干燥箱上,取樣箱與真空干燥箱相接通,在取樣箱與真空干燥箱之間設置有 閘閥,轉移托盤設置在取樣箱內,轉移托盤與傳送桿相連接;所述抽氣除濕機構由真空泵和 冷阱組成,冷阱的進氣口與真空干燥箱相連通,冷阱的出氣口與真空泵相連通,真空泵與取 樣箱相連通,所述制冷機與冷阱內的冷凝盤管相連通;所述計算機控制及記錄系統由計算 機、控制器和溫度數據接收器組成,溫度探頭通過信號轉換器與溫度數據發射器相連,溫度 數據發射器與溫度數據接收器相配合,溫度數據接收器、電子秤分別通過控制器與計算機 相連。
[0006] 在所述真空干燥箱上設置有干燥箱真空計和干燥箱放氣閥;在所述取樣箱上設置 有取樣箱真空計和取樣箱放氣閥。
[0007] 所述取樣箱通過取樣連接管道與真空干燥箱相接通,所述閘閥設置在取樣連接管 道上,所述轉移托盤與取樣連接管道的通孔相對應。
[0008] 所述連接架設置在真空干燥箱的頂板上,電子秤的底座與連接架之間通過減震彈 簧相連接。
[0009] 所述懸吊托盤通過懸吊板與電子秤的稱重掛鉤相連接,懸吊托盤與懸吊板之間通 過懸吊絲相連接,信號轉換器和溫度數據發射器固定在懸吊板上。
[0010] 在所述真空干燥箱和取樣箱的前部分別設置有干燥箱室門和取樣箱室門。
[0011] 所述上層溫控板與中層溫控板之間的間距和中層溫控板與下層溫控板之間的間 距相同。
[0012] 所述支柱的底端通過固定板設置在真空干燥箱的底板上;在固定板上固定有若干 個托盤定位桿,若干個托盤定位桿的頂端與固定托盤的底部固定連接。
[0013] 在所述上層溫控板、中層溫控板和下層溫控板的內部均設置有制冷劑盤管和鎧裝 電加熱絲,制冷機分別與上層溫控板、中層溫控板和下層溫控板的制冷劑盤管相連通。
[0014] 本發明的有益效果:
[0015] 1、本發明的溫度數據發射器、溫度數據接收器采用無線技術,從根本上消除了由 于溫度探頭引出線內部應力所帶來的質量測量誤差,從而提高了電子秤的實際測量精度, 使測量第二物料質量的微小變化可以實現,同時所得到的各項數據具有一定的連續性;
[0016] 2、由于本發明采用了懸掛彈簧,從而充分隔絕了真空干燥箱外部設備所產生的振 動,保護電子稱不受機械振動的影響,提高測量精度,降低測量誤差;準確體現出第二物料 的質量變化;
[0017] 3、由于本發明采用了物料取樣機構,能夠在不中斷實驗的情況下獲得第一物料, 實現對實驗過程的全面觀測;
[0018] 4、由于本發明采用了溫度探頭,實現了測量第一物料內部某一點的溫度,對于研 究物料內郃傳熱情況有利;
[0019] 5、由于本發明能夠隨實驗要求而改變干燥條件,并不僅限于單一的實驗模式,以 獲得多種干燥條件下的數據,特別是對于真空干燥和真空冷凍干燥實驗具有重要意義。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0020] 圖1為本發明的測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置的結構 示意圖;
[0021] 圖2為本發明的測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置的電路 原理框圖;
[0022] 圖中,1一真空干燥箱機構,11一真空干燥箱,12-干燥箱真空計,13-干燥箱放 氣閥,14一干燥箱室門,2-質量測量機構,21-電子秤,22 -電子秤托板,23-減震彈簧, 24一稱重掛鉤,25-連接架,3-制冷加熱機構,30-通槽,31-上層溫控板,32 -中層溫控 板,33-下層溫控板,34-支柱,35 -固定托盤,36-托盤定位桿,37 -固定板,38-柔性管 路,39-第一物料,4一溫度測量機構,41-懸吊板,42-懸吊絲,43-懸吊托盤,44一溫度探 頭,45-信號轉換器,46-溫度數據發射器,47-第二物料,5-抽氣除濕機構,51-真空泵, 52-第一抽氣管道,53-第一真空閥,54-冷阱,55-第三真空閥,56-冷凝盤管,57-第二 真空閥,58-第二抽氣管道,59-第三抽氣管道,6-制冷機構,61-第一制冷管路,62-第 一制冷閥,63-第二制冷閥,64-第二制冷管路,65-制冷機,7-物料取樣機構,71-撥叉, 72-轉移托盤,73-傳送桿,74-取樣箱,75 -閘閥,76-取樣連接管道,77-取樣箱真空 計,78-取樣箱放氣閥,79-取樣箱室門,8-計算機控制及記錄系統,81-計算機,82-控 制器(PLC),83-溫度數據接收器。
【具體實施方式】
[0023] 下面結合附圖和具體實施例對本發明做進一步的詳細說明。
[0024] 如圖1、圖2所示,一種測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置, 包括真空干燥機構1、質量測量機構2、制冷加熱機構3、溫度測量機構4、抽氣除濕機構5、 制冷機構6、物料取樣機構7及計算機控制及記錄系統8 ;所述真空干燥箱機構1由立方體 形的真空干燥箱11和設置在真空干燥箱11的頂部的干燥箱真空計12和干燥箱放氣閥13 組成,所述質量測量機構2設置在真空干燥箱11內,由連接架25、減震彈簧23、電子秤托板 22和設置在電子秤托板22上的電子秤21組成,電子秤托板22通過連接架25固定在真空 干燥箱11的頂板上,連接架25與電子秤托板22通過螺栓和減震彈簧23相連接,減震彈簧 23套裝在連接架25頂部的螺栓上,在電子秤托板22的中心設置有通孔,電子秤21底部的 稱重掛鉤穿過通孔設置在電子秤托板22的下方;所述制冷加熱機構3由上層溫控板31、中 層溫控板32、下層溫控板33、四個支柱34及固定托盤35組成;上層溫控板31、中層溫控板 32和下層溫控板33均為矩形平板,在上層溫控板31、中層溫控板32和下層溫控板33的內 部均設置有制冷劑盤管和鎧裝電加熱絲,四個支柱34設置在真空干燥箱11的底板上,上層 溫控板31、中層溫控板32和下層溫控板33沿堅直方向依次固定在支柱34上,且三者之間 具有間距;固定托盤35固定在中層溫控板32和下層溫控板33之間,在固定托盤35上放置 有第一物料39 ;所述溫度測量機構4由懸吊板41、懸吊托盤43、溫度數據發射器46、四個溫 度探頭44、四根懸吊絲42及自帶電源的信號轉換器45組成;在懸吊板41的中心設置有掛 鉤,懸吊板41通過掛鉤與電子秤21的稱重掛鉤24相連接,懸吊絲42頂端與懸吊板41相 連接,在上層溫控板31上設置有通槽30,懸吊絲42底端穿過通槽30與懸吊托盤43相連 接,懸吊板41與懸吊托盤43通過懸吊絲42相連接,懸吊托盤43位于上層溫控板31和中 層溫控板32之間;在懸吊托盤43上放置有第二物料47,信號轉換器45和溫度數據發射器 46均固定在懸吊板41上,溫度探頭44設置在第二物料47處;
[0025] 所述物料取樣機構7由撥叉71、轉移托盤72、取樣箱放氣閥78、取樣箱真空計77、 磁力傳送桿73、閘閥75、取樣連接管道76及取樣箱74組成;撥叉71通過支撐座設置在真 空干燥箱11上,撥叉71能夠繞支撐座擺動,且撥叉71與支撐座通過真空動密封的方式相 連接,撥叉71的內端設置在固定托盤35的上方,用來撥動固定托盤35上的第一物料39,撥 叉71的外端穿過真空干燥箱11的側壁設置在真空干燥箱11的外部;取樣箱74通過水平 設置的取樣連接管道76與真空干燥箱11的底部相接通,取樣連接管道76的通孔與第一物 料39相對應,在取樣連接管道76上設置有閘閥75,在取樣箱74上分別設置有取樣箱放氣 閥78及取樣箱真空計77,在取樣箱74的遠離真空干燥箱11的側壁上設置有通孔,磁力傳 送桿73的內端穿過通孔設置在取樣箱74內,磁力傳送桿73的外端設置在取樣箱74外,磁 力傳送桿73的中心線與取樣連接管道76的中心線設置在同一直線上,磁力傳送桿73能夠 沿著取樣連接管道76的軸線方向移動,且在移動過程中磁力傳送桿73的外側壁與取樣箱 74通孔的內側壁之間密封設置,在磁力傳送桿73的內端固定有轉移托盤72 ;轉移托盤72 與取樣連接管道76的通孔相對應,且能夠在磁力傳送桿73的帶動下通過取樣連接管道76 進入到真空干燥箱11內;
[0026] 所述抽氣除濕機構5由真空泵51、第一抽氣管道52、第一真空閥53、冷阱54、第二 真空閥57、第二抽氣管道58、第三抽氣管道59及第三真空閥55組成,冷阱54的進氣口與 真空干燥箱11通過第三抽氣管道59相連通,在第三抽氣管道59上設置有第三真空閥55, 冷阱54的出氣口與真空泵51通過第一抽氣管道52相連通,在第一抽氣管道52上設置有 第一真空閥53,真空泵51通過第二抽氣管道58與取樣箱74的內部相連通,在第二抽氣管 道58上設置有第二真空閥57 ;所述制冷機構6由制冷機65、第一制冷管路61、第一制冷閥 62、第二制冷閥63、第二制冷管路64組成,制冷機65的輸出口通過第一制冷管路61與冷阱 54內的冷凝盤管56相連,在第一制冷管路61上設置有第一制冷閥62 ;制冷機65的輸出口 通過第二制冷管路64與真空干燥箱11的內部相連通,在第二制冷管路64上設置有第二制 冷閥63,第二制冷管路64與真空干燥箱11相連通的一端分別與上層溫控板31、中層溫控 板32和下層溫控板33的制冷劑盤管通過柔性管路38相連通;制冷機構6分別為抽氣除濕 機構5中的冷阱54和制冷加熱機構3中的上、中、下層溫控板提供低溫制冷劑;所述計算機 控制及記錄系統8由計算機81、控制器(PLC)82和溫度數據接收器83組成;溫度數據接收 器83設置在真空干燥箱11的外部,控制器(PLC)82分別與溫度數據接收器83、電子秤21、 干燥箱真空計12、取樣箱真空計77通過導線相連接,并讀取測量數據;
[0027] 溫度探頭44的輸出端與信號轉換器45的輸入端通過導線相連,信號轉換器45的 輸出端與溫度數據發射器46通過導線相連,溫度數據發射器46的發射端與溫度數據接收 器83的接收端相配合;溫度數據接收器83、電子秤21、干燥箱真空計12及取樣箱真空計77 的輸出端與控制器(PLC)82的輸入端通過導線相連,控制器(PLC)82的輸出端分別與真空 泵51、第一真空閥53、第二真空閥57、第三真空閥55、第一制冷閥62及第二制冷閥63通過 導線相連,控制器(PLC) 82與計算機81通過導線相連;溫度探頭44將測得的第二物料47 的溫度數據傳遞給信號轉換器45,信號轉換器45將收到的溫度數據做模數轉換后由溫度 數據發射器46發出,被溫度數據接收器83接收后經控制器(PLC) 82傳遞給計算機81做記 錄、保存;電子秤21將測得的第二物料47的質量數據經控制器(PLC) 82傳遞給計算機81 做記錄、保存;控制器(PLC) 82從計算機81接收指令控制真空泵51、第一真空閥53、第二真 空閥57、第三真空閥55、第一制冷閥62及第二制冷閥63作業。
[0028] 在所述真空干燥箱11和取樣箱74的前部分別設置有干燥箱室門14和取樣箱室 門79。
[0029] 所述上層溫控板31與中層溫控板32之間的間距和中層溫控板32與下層溫控板 33之間的間距相同,且間距可以根據需要進行調節。
[0030] 所述支柱34的底端通過固定板37設置在真空干燥箱11的底板上;在固定板37 上固定有四個托盤定位桿36,在下層溫控板33上設置有四個通孔,四個托盤定位桿36的頂 端分別穿過四個通孔與固定托盤35的底部固定連接。
[0031] 所述干燥箱真空計12和取樣箱真空計77均采用型號為ZDZ-52T的電阻真空計; 所述溫度數據發射器46采用的是型號為RF24L01的低電壓無線模塊;所述溫度數據接收器 83采用具有型號為PIC16F877A芯片的無線接收器,具有電壓和功耗低的特點;所述計算機 51采用安裝有控制及記錄軟件的個人筆記本電腦;
[0032] 所述控制器(PLC) 52的型號為LR7055 ;所述溫度探頭22采用的是型號為 IS-K15100的一針多點式同步快速測溫探針;所述第一、第二、第三真空閥均采用型號 為GID-40的電動真空蝶閥,所述冷阱7的型號為TLR6XI150QF,所述制冷機8的型號為 CS-208L,所述真空泵31采用型號為2X-4的旋片式真空泵31。
[0033] 下面結合【專利附圖】
【附圖說明】本實施例的使用過程:
[0034] 如圖1、圖2所示,實驗準備階段:打開干燥箱室門14,取出溫度測量機構4,將第 二物料47裝入懸吊托盤43中,將溫度探頭44插入第二物料47處;然后將溫度測量機構4 放入真空干燥箱11內,使四根懸吊絲42沿著上層溫控板31上的通槽30向后移動,最終使 懸吊板41的掛環套在電子秤上的稱重掛鉤24上,從而使懸吊托盤43和第二物料47位于上 層溫控板31和中層溫控板32之間;在固定托盤35中放置等量的第一物料47,以備取樣觀 察使用,接通溫度數據接收器83、電子秤21、溫度數據發射器46和信號轉換器45的電源, 使它們處于正常工作狀態,待懸吊托盤43平穩后關閉真空干燥箱11的干燥箱室門14 ;
[0035] 確認冷阱54內部已清潔干凈,閘閥75、冷阱54的放水閥處于關閉狀態,開啟計算 機81、控制器(PLC) 82、干燥箱真空計12及取樣箱真空計77,使計算機51的控制及記錄軟 件處于正常工作狀態;
[0036] 真空干燥過程:計算機81通過控制器(PLC)82啟動真空泵51,打開第一真空閥 53,對冷阱54抽真空,再打開第三真空閥55,通過冷阱54對真空干燥箱11抽真空,啟動制 冷機65,開啟第一制冷閥62,對冷阱54中的冷凝盤管56提供制冷劑,使冷凝盤管56的表 面溫度降低,從而收集從第一物料39和第二物料47中蒸發或升華出來的水蒸汽,使第一物 料39和第二物料47脫水。在對真空干燥箱11抽真空之前使冷阱54內的溫度降低,以避 免從第一物料39和第二物料47中蒸發或升華出來的水蒸氣進入真空泵51 ;
[0037] 然后為上、中、下層溫控板內的鎧裝電加熱絲供電,當鎧裝電加熱絲通電發熱時, 上、中、下層溫控板的溫度升高,對第一、第二物料進行加熱,加熱過程始終為輻射加熱方 式,通過調節供電功率和時間,對第一、第二物料實現升溫速率可控的加熱作業;
[0038] 在實驗過程中,溫度探頭44測得第二物料47的溫度信號數據,然后將溫度信號數 據傳遞給信號轉換器45,信號轉換器45將收到的溫度信號數據做模數轉換后由溫度數據 發射器46發出,被溫度數據接收器83接收后傳遞給控制器(PLC)82 ;同時由干燥箱真空計 12讀取真空干燥箱11內的真空度,并將真空度信號數據傳遞給控制器(PLC)82 ;由電子稱 21讀取第二物料47的質量,并將質量信號數據傳遞給控制器(PLC) 82,最后控制器(PLC) 82 將獲得的溫度、真空度及質量信號數據均傳遞給計算機81進行實時記錄、存儲。
[0039] 真空冷凍干燥過程,即在真空干燥實驗的過程中對第一、第二物料進行冷凍降溫 作業,啟動制冷機65,計算機81通過控制器(PLC)82打開第二制冷閥63向上、中、下層溫 控板提供低溫制冷劑;在冷凍降溫過程中,上、中、下層溫控板與第一物料39和第二物料47 之間始終為輻射換熱方式。通過調節制冷機65的制冷溫度以及制冷劑的流量,對第一、第 二物料實現速率可控的降溫作業。
[0040] 在真空干燥和真空冷凍干燥過程中需要進行取樣觀察時,關閉取樣箱室門79和 取樣箱放氣閥78,計算機81通過控制器(PLC) 82關閉第一真空閥53,打開第二真空閥38, 通過真空泵51對取樣箱74的內部抽真空,開啟取樣箱真空計77,當計算機81顯示的取樣 箱真空計77測得的真空度達到預定值(與干燥箱真空計12的預定值相同)時,打開閘閥 75,推動磁力傳送桿73,將轉移托盤72穿過取樣連接管道76移動至固定托盤35的側方,撥 動撥叉71將需取出的第一物料39撥至轉移托盤72上,然后拉動磁力傳送桿73將轉移托 盤72移至取樣箱74內,關閉閘閥75、第二真空閥38,打開取樣箱放氣閥78,破空放氣,打開 取樣箱室門79,將取出的第一取料39樣品進行顯微鏡切片觀察,以上操作可依據實驗所需 重復操作。
[0041] 當完成真空干燥或真空冷凍干燥實驗并在計算機81上記錄、保存完畢實驗數據 后,計算機81通過控制器(PLC)82關閉所有真空閥和制冷閥、真空泵51,然后關閉制冷機 65、計算機81、控制器(PLC)82、干燥箱真空計12和取樣箱真空計77,打開干燥箱放氣閥 15,破空放氣;打開干燥箱室門14,斷開溫度數據接收器83、電子秤21、溫度數據發射器46 和信號轉換器45的電源,移除溫度探頭44,取出剩余的第一、第二物料,最后打開冷阱54的 放水閥,對冷阱54進行除霜、放水、晾干作業。
[0042] 最后,根據用戶需要,將計算機81中記錄、存儲的觀測數據(包括隨時間變化的溫 度、真空度和折算后第二物料47的凈質量數值)以數據表格或曲線圖的形式整理成文件, 并保存。
【權利要求】
1. 一種測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置,其特征在于包括真 空干燥箱、質量測量機構、制冷加熱機構、溫度測量機構、物料取樣機構、抽氣除濕機構、制 冷機和計算機控制及記錄系統,所述質量測量機構由連接架和電子秤組成,電子秤通過連 接架設置在真空干燥箱內;所述制冷加熱機構由支柱、固定托盤及上、中、下層溫控板組成, 上、中、下層溫控板通過支柱設置在真空干燥箱內,固定托盤固定在中層溫控板和下層溫控 板之間,固定托盤上載有第一物料;所述溫度測量機構由懸吊托盤、溫度探頭、信號轉換器 及溫度數據發射器組成,懸吊托盤位于上層溫控板和中層溫控板之間,懸吊托盤與電子秤 的稱重掛鉤相連接,懸吊托盤上載有第二物料,溫度探頭設置在第二物料處;所述物料取樣 機構由撥叉、轉移托盤、傳送桿、閘閥及取樣箱組成,撥叉設置在真空干燥箱上,取樣箱與真 空干燥箱相接通,在取樣箱與真空干燥箱之間設置有閘閥,轉移托盤設置在取樣箱內,轉移 托盤與傳送桿相連接;所述抽氣除濕機構由真空泵和冷阱組成,冷阱的進氣口與真空干燥 箱相連通,冷阱的出氣口與真空泵相連通,真空泵與取樣箱相連通,所述制冷機與冷阱內的 冷凝盤管相連通;所述計算機控制及記錄系統由計算機、控制器和溫度數據接收器組成, 溫度探頭通過信號轉換器與溫度數據發射器相連,溫度數據發射器與溫度數據接收器相配 合,溫度數據接收器、電子秤分別通過控制器與計算機相連。
2. 根據權利要求1所述的測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置,其 特征在于在所述真空干燥箱上設置有干燥箱真空計和干燥箱放氣閥;在所述取樣箱上設置 有取樣箱真空計和取樣箱放氣閥。
3. 根據權利要求1所述的測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置,其 特征在于所述取樣箱通過取樣連接管道與真空干燥箱相接通,所述閘閥設置在取樣連接管 道上,所述轉移托盤與取樣連接管道的通孔相對應。
4. 根據權利要求1所述的測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置,其 特征在于所述連接架設置在真空干燥箱的頂板上,電子秤的底座與連接架之間通過減震彈 簧相連接。
5. 根據權利要求1所述的測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置,其 特征在于所述懸吊托盤通過懸吊板與電子秤的稱重掛鉤相連接,懸吊托盤與懸吊板之間通 過懸吊絲相連接,信號轉換器和溫度數據發射器固定在懸吊板上。
6. 根據權利要求1所述的測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置,其 特征在于在所述真空干燥箱和取樣箱的前部分別設置有干燥箱室門和取樣箱室門。
7. 根據權利要求1所述的測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置,其 特征在于所述上層溫控板與中層溫控板之間的間距和中層溫控板與下層溫控板之間的間 距相同。
8. 根據權利要求1所述的測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置,其 特征在于所述支柱的底端通過固定板設置在真空干燥箱的底板上;在固定板上固定有若干 個托盤定位桿,若干個托盤定位桿的頂端與固定托盤的底部固定連接。
9. 根據權利要求1所述的測量真空干燥和真空冷凍干燥過程工藝參數的實驗裝置,其 特征在于在所述上層溫控板、中層溫控板和下層溫控板的內部均設置有制冷劑盤管和鎧裝 電加熱絲,制冷機分別與上層溫控板、中層溫控板和下層溫控板的制冷劑盤管相連通。
【文檔編號】G01N5/04GK104062201SQ201410300777
【公開日】2014年9月24日 申請日期:2014年6月27日 優先權日:2014年6月27日
【發明者】張志軍, 金長宇, 張世偉 申請人:東北大學