一種火工品電阻時序的測試電路的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種火工品電阻時序的測試電路,包括切換電路、驅(qū)動電路、電阻測試電路和光電隔離檢測電路;切換電路的輸入端用于連接被測電路,所述切換電路的控制端連接所述驅(qū)動電路,所述切換電路的第一輸出端連接所述光電隔離檢測電路,所述切換電路的第二輸出端連接至所述電阻測試電路的第一輸入端,所述切換電路的第三輸出端連接至所述電阻測試電路的第二輸入端。本實用新型采用繼電器切換的方式,在電阻輸出和時序輸出共用測試節(jié)點的情況下,通過電橋電阻測試和時序檢測電路共同完成了火工品電阻及時序電路的檢測,該測試電路接口簡單,工作可靠。
【專利說明】—種火工品電阻時序的測試電路【技術領域】
[0001]本實用新型屬于測試技術應用領域,具體涉及一種火工品電阻時序的測試電路。【背景技術】
[0002]火工品電阻和時序電路測試電路一直廣泛應用于測試設備,通常火工品電阻和時序進行分開測試,各自引出測試節(jié)點,針對電阻測試一般采用精度較高的電橋法測試,時序檢測使用光耦隔離后進行信號上升/下降沿的測試方式進行檢測,針對電阻和時序的測試需求,以上兩種電路能夠較好地滿足測試需求,但是在電阻測試與時序測試共用測試節(jié)點的情況下,就不能夠采用以上電路直接實現(xiàn)電阻和時序的測試需求了。
實用新型內(nèi)容
[0003]針對現(xiàn)有技術的以上缺陷或改進需求,本實用新型提供了一種火工品電阻時序的測試電路,其目的在于提高測試精度、使得電路接口簡單和工作可靠,由此解決當火工品電阻電路和時序電路共用測試節(jié)點時,現(xiàn)有技術不能滿足測試需求的技術問題。
[0004]本實用新型提供了一種火工品電阻時序的測試電路,包括切換電路、驅(qū)動電路、電阻測試電路和光電隔離檢測電路;所述切換電路的輸入端用于連接被測電路,所述切換電路的控制端連接所述驅(qū)動電路,所述切換電路的第一輸出端連接所述光電隔離檢測電路,所述切換電路的第二輸出端連接至所述電阻測試電路的第一輸入端,所述切換電路的第三輸出端連接至所述電阻測試電路的第二輸入端。
[0005]更進一步地,所述切換電路包括繼電器第一觸點Kl和繼電器第二觸點K2 ;所述繼電器第一觸點Kl的公共端 和所述繼電器第二觸點K2的公共端作為所述切換電路的輸入端分別用于連接被測電路的第一測試節(jié)點和第二測試節(jié)點;所述繼電器第一觸點Kl的常閉端作為所述切換電路的第一輸出端連接至所述光電隔離檢測電路;所述繼電器第一觸點Kl的常開端作為所述切換電路的第二輸出端與所述電阻測試電路的第一輸入端連接,所述繼電器第二觸點K2的常開端作為所述切換電路的第三輸出端與所述電阻測試電路的第二輸入端連接,所述繼電器第二觸點K2的常閉端懸空不接。
[0006]更進一步地,所述電阻測試電路包括AD芯片及其外圍電路;AD芯片的反相輸入端通過依次串聯(lián)連接的電容C3和電阻R3連接至所述切換電路的第二輸出端;AD芯片的正相輸入端連接至所述電容C3和電阻Rl的串聯(lián)連接端;AD芯片的輸出端作為所述電阻測試電路的輸出端;電阻Rl連接在1.25V電壓與所述AD芯片的正相輸入端之間;電阻R2和電阻R4依次串聯(lián)連接在1.25V電壓和地之間,所述電阻R2和所述電阻R4的串聯(lián)連接端與所述AD芯片的反相輸入端連接。
[0007]更進一步地,所述光電隔離檢測電路包括:光電耦合器、電阻R6、電阻R7和電阻R8;所述光電耦合器中二極管的陽極通過電阻R6連接至所述切換電路的第一輸出端,所述光電耦合器中二極管的陰極接地;所述電阻R7連接在二極管的陽極與陰極之間;所述光電耦合器中三極管的集電極連接+5V電壓,所述光電耦合器中三極管的發(fā)射極通過電阻R8接地,所述光電耦合器中三極管的發(fā)射極還作為所述光電隔離檢測電路的輸出端。
[0008]本實用新型采用繼電器切換的方式,在電阻輸出和時序輸出共用測試節(jié)點的情況下,通過電橋電阻測試和時序檢測電路共同完成了火工品電阻及時序電路的檢測,該測試電路接口簡單,工作可靠。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0009]圖1是本實用新型提供的火工品電阻及時序的測試電路的原理框圖;
[0010]圖2是本實用新型提供的火工品電阻及時序的測試電路的具體電路圖。
【具體實施方式】
[0011]為了使本實用新型的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白,以下結合附圖及實施例,對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解,此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型,并不用于限定本實用新型。此外,下面所描述的本實用新型各個實施方式中所涉及到的技術特征只要彼此之間未構成沖突就可以相互組合。
[0012]火工品電阻和時序電路作為控制系統(tǒng)的重要信號,一直以來對電路測試都有著較高的精度要求和可靠性要求,在本實用新型采用繼電器切換的方式,在電阻輸出和時序輸出共用測試節(jié)點的情況下,通過電橋電阻測試和時序檢測電路共同完成了火工品電阻及時序電路的檢測,該測試電路接口簡單,工作可靠。
[0013]本實用新型可以直接應用于火工品電阻及時序電路測試的設計中,使用方便,應用范圍廣,測試精度高。測試原理框圖如圖1所示,一種火工品電阻時序的測試電路,包括切換電路、驅(qū)動電路、電阻測試電路和光電隔離檢測電路;切換電路的輸入端用于連接被測電路,切換電路的控制端連接驅(qū)動電路,切換電路的第一輸出端連接所述光電隔離檢測電路,切換電路的第二輸出端連接至電阻測試電路的第一輸入端,切換電路的第三輸出端連接至所述電阻測試電路的第二輸入端。
[0014]本實用新型中,當時序開關閉合時,火工品電阻及時序電路輸出+28V時序信號,時序信號流經(jīng)切換電路的第一輸出端進入光電隔離檢測電路,檢測電路進行時序信號測試;當時序開關斷開時,火工品電阻及時序電路變成了電阻Rl和R2的串聯(lián)電阻回路,此時給測試電路中Kl繼電器線包加驅(qū)動電流,繼電器Kl觸點閉合,電阻回路的兩個端口分別經(jīng)過切換電路的第二輸出端和第三輸出端接入電阻測試電路的第一輸入端和第二輸入端,電阻測試電路完成對電阻回路的阻值測試。
[0015]本實用新型可以直接應用于各種火工品電阻及時序測試電路中,能夠完成電阻和時序的集成測試或單項測試,通過應用該技術,可以簡化火工品電阻及時序測試電路接口,在電阻和時序共用測試節(jié)點的情況下,能夠同時完成電阻和時序電路的指標測試。
[0016]在本實用新型中,切換電路包括繼電器第一觸點Kl和繼電器第二觸點K2 ;繼電器第一觸點Kl的公共端和繼電器第二觸點K2的公共端作為切換電路的輸入端分別用于連接被測電路的第一測試節(jié)點和第二測試節(jié)點;繼電器第一觸點Kl的常閉端作為切換電路的第一輸出端連接至所述光電隔離檢測電路;繼電器第一觸點Kl的常開端作為切換電路的第二輸出端與電阻測試電路的第一輸入端連接,繼電器第二觸點K2的常開端作為切換電路的第三輸出端與電阻測試電路的第二輸入端連接,繼電器第二觸點K2的常閉端懸空不接。
[0017]本實用新型采用繼電器切換的方式,在電阻輸出和時序輸出共用測試節(jié)點的情況下,通過電橋法電阻測試電路和時序檢測電路共同完成了火工品電阻及時序電路的檢測,該電路接口簡單,工作可靠。
[0018]圖2示出了本實用新型提供的火工品電阻及時序的測試電路的具體電路,其中,電阻測試電路包括AD芯片及其外圍電路;AD芯片的反相輸入端通過依次串聯(lián)連接的電容C3和電阻R3連接至切換電路的第二輸出端;AD芯片的正相輸入端連接至所述電容C3和電阻Rl的串聯(lián)連接端;AD芯片的輸出端作為電阻測試電路的輸出端;電阻Rl連接在1.25V電壓與所述AD芯片的正相輸入端之間;電阻R2和電阻R4依次串聯(lián)連接在1.25V電壓和地之間,電阻R2和電阻R4的串聯(lián)連接端與AD芯片的反相輸入端連接。
[0019]光電隔離檢測電路包括:光電耦合器、電阻R6、電阻R7和電阻R8 ;所述光電耦合器中二極管的陽極通過電阻R6連接至所述切換電路的第一輸出端,所述光電耦合器中二極管的陰極接地;所述電阻R7連接在二極管的陽極與陰極之間;所述光電耦合器中三極管的集電極連接+5V電壓,所述光電耦合器中三極管的發(fā)射極通過電阻R8接地,所述光電耦合器中三極管的發(fā)射極還作為所述光電隔離檢測電路的輸出端。
[0020]當時序開關斷開、繼電器第一觸點Kl和繼電器第二觸點K2閉合時,電路Rl和R2回路與電阻測試電路中的R3串聯(lián),與其它三只電阻(Rl、R2和R4)組成了橋電路,如果串聯(lián)后橋電路電阻阻值不對稱,則經(jīng)過電阻分壓后電容C3的兩端會產(chǎn)生電壓差,該電壓差直接接入AD芯片的輸入端,經(jīng)過電壓采集后可以得出電壓差值,電阻測試電路中的R1、R2、R3和R4阻值已知,就可以根據(jù)電壓差算出火工品電阻回路的電阻值,該電路設計時需要選取高精度電阻和數(shù)據(jù)采集精度高的AD芯片,以提高測試精度。當時序開關閉合,繼電器第一觸點Kl和繼電器第二觸點K2斷開時,+28V時序信號進入光電隔離檢測電路,時序信號流經(jīng)限流電阻R6,進入光電耦合器,驅(qū)動發(fā)光二極管工作(此時電阻R7起到分流作用),光電耦合器的輸出端三極管檢測到光電流后使三極管處于飽和導通狀態(tài),電平輸出端輸出高電平,證明時序信號輸出有效,同理,當時序開關閉合時,+28V時序信號無效,此時發(fā)光二極管不工作,光電I禹合器的輸出端三極管處于截止斷開狀態(tài),電平輸出端被電阻R8下拉輸出低電平,證明時序信號輸出無效,完成時序信號采集。
[0021]本實用新型在于火工品電阻測試通路和時序測試通路共用測試節(jié)點的情況下能夠通過繼電器常開和常閉觸點完成對電阻測試和時序測試通路的切換,利用電橋法和光電隔離檢測的方法完成對火工品電阻及時序的測試,測試電路工作可靠,在共用測試節(jié)點的情況下實現(xiàn)了高精度電阻檢測和200ms時序測試。
[0022]為了更進一步的說明本實用新型提供的火工品電阻時序的測試電路,現(xiàn)結合具體實例并參照附圖詳述如下:
[0023]本實用新型所使用的測試電路包括繼電器驅(qū)動電路、電阻測試電路和光電隔離檢測電路;被測電路為火工品電阻、時序電路,該電路的電阻通路和+28V點火時序輸出信號共用了測試節(jié)點,所以不能采用以往電阻和時序單獨測試的電路完成測試。
[0024]被測電路包括28V點火時序和火工品電阻Rl、R2串聯(lián)的電阻阻值,電阻通路和時序通路共用測試節(jié)點SXDZl和SXDZ2,被測電路節(jié)點通過測試電纜引入測試電路,連接到繼電器Kl的輸入觸點一端,該測試節(jié)點通過常閉觸點連接至電阻測試電路,常開觸點連接至光電隔離檢測電路。
[0025]測試火工品電阻Rl、R2串聯(lián)的電阻阻值時,被測電路的時序開關斷開,測試電路繼電器Kl斷開,此時被測電路的節(jié)點SXDZl和SXDZ2輸出等同于電阻Rl、R2串聯(lián)阻值的引出端,通過電橋電阻測試法完成火工品電阻測試;當被測電路的時序開關吸合,測試電路繼電器Kl吸合,此時被測電路的節(jié)點輸出等同于+28V時序信號輸出端,通過繼電器Kl后進入光電隔離檢測電路,完成對+28V時序信號的測試,測試完畢后斷開時序開關和繼電器K1,恢復初始狀態(tài)。通過以上方式可以完成在火工品電阻和時序共用測試節(jié)點情況下的電阻和時序測試功能,操作簡便,工作可靠。
[0026]本領域的技術人員容易理解,以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已,并不用以限制本實用新型,凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等,均應包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
【權利要求】
1.一種火工品電阻時序的測試電路,其特征在于,包括切換電路、驅(qū)動電路、電阻測試電路和光電隔離檢測電路; 所述切換電路的輸入端用于連接被測電路,所述切換電路的控制端連接所述驅(qū)動電路,所述切換電路的第一輸出端連接所述光電隔離檢測電路,所述切換電路的第二輸出端連接至所述電阻測試電路的第一輸入端,所述切換電路的第三輸出端連接至所述電阻測試電路的第二輸入端。
2.如權利要求1所述的測試電路,其特征在于,所述切換電路包括繼電器第一觸點Kl和繼電器第二觸點K2 ; 所述繼電器第一觸點Kl的公共端和所述繼電器第二觸點K2的公共端作為所述切換電路的輸入端分別用于連接被測電路的第一測試節(jié)點和第二測試節(jié)點;所述繼電器第一觸點Kl的常閉端作為所述切換電路的第一輸出端連接至所述光電隔離檢測電路;所述繼電器第一觸點Kl的常開端作為所述切換電路的第二輸出端與所述電阻測試電路的第一輸入端連接,所述繼電器第二觸點K2的常開端作為所述切換電路的第三輸出端與所述電阻測試電路的第二輸入端連接,所述繼電器第二觸點K2的常閉端懸空不接。
3.如權利要求1所述的測試電路,其特征在于,所述電阻測試電路包括AD芯片及其外圍電路; AD芯片的反相輸入端通過依次串聯(lián)連接的電容C3和電阻R3連接至所述切換電路的第二輸出端;AD芯片的正相輸入端連接至所述電容C3和電阻Rl的串聯(lián)連接端;AD芯片的輸出端作為所述電阻測試電路的輸出端; 電阻Rl連接在1.25V電壓與所述AD芯片的正相輸入端之間;電阻R2和電阻R4依次串聯(lián)連接在1.25V電壓和地之間,所述電阻R2和所述電阻R4的串聯(lián)連接端與所述AD芯片的反相輸入端連接。
4.如權利要求1所述的測試電路,其特征在于,所述光電隔離檢測電路包括:光電耦合器、電阻R6、電阻R7和電阻R8 ; 所述光電耦合器中二極管的陽極通過電阻R6連接至所述切換電路的第一輸出端,所述光電耦合器中二極管的陰極接地; 所述電阻R7連接在二極管的陽極與陰極之間; 所述光電耦合器中三極管的集電極連接+5V電壓,所述光電耦合器中三極管的發(fā)射極通過電阻R8接地,所述光電耦合器中三極管的發(fā)射極還作為所述光電隔離檢測電路的輸出端。
【文檔編號】G01R31/28GK203587694SQ201320723328
【公開日】2014年5月7日 申請日期:2013年11月15日 優(yōu)先權日:2013年11月15日
【發(fā)明者】劉成強, 屈汝祥, 胡喬朋, 張豪兵 申請人:湖北三江航天紅峰控制有限公司