比較細長織物測試材料的品質的制作方法
【專利摘要】在用于比較細長織物測試材料(9)的品質的方法中確定第一測試材料的至少一個參數值。從第一測試材料的參數值和它沿著縱向方向的延伸量確定在事件場(4)中的事件的密度。基本上遵循在第一測試材料(9)上確定的事件的恒定密度的第一密度線(51，51＇)表示在事件場(4)中。除了第一密度線，還表示出遵循與第一密度線(51，51＇)相同的事件密度但至少部分涉及不同于第一測試材料的參考測試材料的參考密度線(56，56＇)。這樣允許比較第一密度線(51，51＇)和參考密度線(56，56＇)的曲線。從密度線(51，51＇，56，56＇)的曲線的比較可以進行第一測試材料與參考測試材料的品質的比較。
【專利說明】比較細長織物測試材料的品質
【技術領域】
[0001] 本發明涉及織物品質控制領域。它根據獨立權利要求的前序涉及用于比較細長織 物測試材料的品質的一種方法及一種裝置。
【背景技術】
[0002] 大量各種裝置已知用于檢查或測試紗線。它們可以根據它們的應用歸類為兩種類 型，實驗室測試（離線）和生產過程期間測試（在線）。如2005年5月Uster Technologies AG 的應用手冊 " USTElf CLASSIMAT QUANTUM" 中描述， 申請人:的 USTElf CLASSIMAT QUANTUM系統被用于紗線缺陷例如較厚和較薄位置以及雜質的分類。根據其功能性，它是實 驗室設備，因為在織物實驗室中，它被用于樣品的詳細檢查。然而組成它的設備主要發生在 生產中。被檢查的紗線重新纏繞在手動繞線機的絡紗頭上并且利用清紗器測量頭掃描。在 控制單元中和/或由車間計算機統計學地評價由清紗器測量頭測量的紗線參數，例如在二 維分級圖表中分級。
[0003] 二維分級圖表，其也可以稱為事件場，通常由具有橫坐標和縱坐標的笛卡爾坐標 系生成。疵點長度沿著橫坐標輸入并且疵點幅度（每紗線長度的質量、紗線直徑、紗線反 射率等與目標值的偏差）沿著縱坐標輸入。這些軸的每個可以分成多個段，從而產生紗 線疵點的矩形分級系統。在USTliRuCLASSIMAT QUANTUM系統中，具有23或27等級。在 紗線測試期間確定的紗線缺陷被分類為相應的等級，并且單獨為每個等級顯示確定的紗 線缺陷的數量。因此完成的分級圖表一方面給出紗線品質的印象，并且另一方面提供用 于確定紗線的清紗極限的定量基礎。該分級圖表的示例可以在提及的應用手冊STHWe CLASSIMAT QUANTUM" 中和在專利說明書 US-5, 537, 811A 中找到。說明書 US-6, 374, 152B1 示出分級圖表，其附加地示出散繪圖，它的點代表確定的紗線缺陷，以及紗線缺陷的清紗極 限。US-6, 244, 030B1給出分級圖表的示例，紗線的反射率沿著它的縱坐標輸入。
[0004] 清紗器被用在紡紗機或繞線機中用于保證紗線品質。清紗的目的在于檢測疵點例 如較厚位置、較薄位置或在紗線中的雜質，以提供根據專用品質標準的評價，以及以可選地 消除所述疵點。為此清紗器測量頭包括測量狹縫，紗線沿著它的縱向方向從其穿過。用于 掃描運動紗線的至少一個傳感器沿著測量狹縫設置。經常使用的傳感器原理是電容性傳感 器（例如ΕΡ-(Γ 924 ^ 513A1)或光學傳感器（W0-93/13407A1)。清紗器測量頭還包括用 于評價傳感器信號以及用于將該信號與預定品質標準例如清紗極限進行比較的電子電路。 如果疵點位于清紗極限以下，那么它是可以容忍的。如果它位于清紗極限以上，那么它不可 以被容忍并且將被從紗線中去除，或者至少被記錄。
[0005] W0-2010/078665Α1描述了用于表征沿著它的縱向方向運動的織物測試材料的一 種方法和一種裝置。在該過程中，沿著它的縱向方向檢測測試材料的一個特性的測量值。從 測量值確定測試材料的參數值。從測試材料的參數值和它沿著縱向方向的延伸量確定在事 件場中的事件的密度。在事件場中將測試材料主體圖示地表示為一面積。該面積一方面由 橫坐標并且另一方面由縱坐標、以及還由在事件場中基本上遵循恒定事件密度的線限定邊 界。測試材料主體的圖示允許操作者快速地確定測試材料的特征特性以及理性地確定清紗 極限。
[0006] US-6, 343, 508B1是基于允許一眼就觀察到紗線的參數值并且根據它們的相關性 加權參數的目的的。為此，各種紗線參數顯示在段節圖表中，其中每個參數與段節相關。借 由單個段節的不同開度角發生加權。可以在段節圖表中輸入參數的相應參考值用于評價相 應紗線。參考值可以例如從USTER? statistics獲得。USTER? statistics是由本保護權 利的 申請人:簽發的織物品質數據的編輯物，其從織物原材料、中間產品和終端產品的世界 范圍產品確定（參見CD-ROM i'丨/STliR1' CLASSIMAT QUANTUM"，第4.0版，Uster Technologies AG，2011)〇
【發明內容】
[0007] 本發明的目的在于提供允許簡單比較細長織物測試材料的品質的一種方法和一 種裝置。在這種情況下，術語"品質"表示例如沿著縱向方向的質量的波動，沿著縱向方向 的直徑的波動、雜質含量、毛羽程度等的特征。
[0008] 這些和其他目的由獨立權利要求中限定的根據本發明的方法和根據本發明的裝 置實現。有利實施例提供在從屬權利要求中。
[0009] 在根據本發明用于比較細長織物測試材料的方法中，沿著第一測試材料的縱向方 向檢測第一測試材料的至少一個特性的測量值。從測量值確定第一測試材料的至少一個參 數值。提供事件場，其包括二維笛卡爾坐標系的一象限或一象限的一部分，它的橫坐標指示 參數值沿著縱向方向的延伸量并且它的縱坐標指示參數值與目標值的偏差，以便所確定的 參數值和它們沿著縱向方向的延伸量可以被輸入作為在事件場中的事件。確定在事件場中 的事件的密度。基本上遵循在第一測試材料上確定的事件的恒定密度的第一密度線表示在 事件場中。除了第一密度線以外，遵循與第一密度線相同的事件密度但至少部分涉及不同 于第一測試材料的參考測試材料的參考密度線圖示在事件場中。
[0010]測試材料的參數可以例如是測試材料的每單位長度的質量、橫向尺寸或雜質含 量。
[0011] 參考測試材料可以是不同于第一測試材料的第二真實測試材料。在這種情況下， 以與第一密度線相同的方式確定參考密度線。真實參考測試材料被沿著它的縱向方向測 量，從測量值確定至少一個參數值，從參數值確定事件密度，并且參考密度線基本上遵循在 參考測試材料上確定的事件的恒定含量。
[0012] 參考測試材料可以替代地是為了確定參考密度線之目的而形成的虛擬測試材料。 虛擬測試材料可以由一組至少兩個真實測試材料形成。所述組可以還包含除了至少一個其 他真實測試材料以外的第一測試材料。測量至少兩個真實測試材料，并且參考密度線限定 為所有確定的密度線或其子組的平均值。可以在平均計算中實施加權，例如在相應測試材 料的相應檢測長度的基礎上。在測量第一測試材料之前，不需要直接確定參考密度線。它 可以從品質參考文件例如本保護權利的 申請人:的USTT:K R'' STATISTICS獲得。
[0013] 在優選實施例中至少部分由第一密度線和參考密度線限定邊界的差分面積被在 事件場中圖示地著重強調。該著重強調可以以這樣的方式發生，差分面積與它的周圍面積 圖示地不同，特別是在于它具有與它的周圍面積不同的顏色、不同的灰度陰影和/或不同 的圖案。
[0014] 參考測試材料主體可以表示為在事件場中的一面積，該面積一方面由橫坐標（41) 或者與其平行延伸的直線、另一方面由縱坐標或者與其平行延伸的直線、并且還由參考密 度線限定邊界。表示參考測試材料主體的面積與它的周圍面積圖示地不同，特別是在于它 具有與它的周圍面積不同的顏色、不同的灰度陰影和/或不同的圖案。測試材料主體主要 從 TO-2010/078665A1 已知。
[0015] 如果恒定事件密度為在每IOOkm測試材料長度有500至2000個之間的事件，并且 優選地為每IOOkm測試材料長度有1000個事件是有利的。
[0016] 事件場的至少一部分可以由水平分級邊界和豎直分級邊界分割成事件的矩形等 級。
[0017] 本發明允許在事件場中，除了涉及參考測試材料的參考密度線和涉及第一測試材 料的第一密度線以外，還顯示涉及第二測試材料的至少一個第二密度線。第一密度線、參考 密度線以及可選地附加表示的至少一個第二密度線互相圖示地不同，特別是在于它們具有 不同的顏色、不同的灰度陰影、不同的厚度和/或不同的虛線符號。
[0018] 根據本發明的方法優選地在計算機上運行。
[0019] 本發明還包括一種計算機程序產品，具有存儲在機器可讀介質中、用于當計算機 程序產品在計算機上運行時實施根據本發明的方法的程序代碼。
[0020] 根據本發明一種用于比較細長織物測試材料的品質的裝置包含測量單元，其用于 檢測沿著第一測試材料的縱向方向檢測第一測試材料的至少一個特性的測量值。它還包含 連接到測量單元的評價單元，其設置用于從測量值確定第一測試材料的至少一個參數值， 用于提供事件場，其包括二維笛卡爾坐標系的一象限或一象限的一部分，它的橫坐標指示 參數值沿著縱向方向的延伸量并且它的縱坐標指示參數值與目標值的偏差，以便所確定的 參數值和它們沿著縱向方向的延伸量可以被輸入作為在事件場中的事件，以及用于確定在 事件場中的事件的密度。所述裝置還包含連接到評價單元的輸出單元，其用于顯示事件場 和在事件場中的第一密度線，第一密度線基本上遵循在第一測試材料上確定的事件的恒定 密度。評價單元設置用于存儲參考密度線，參考密度線遵循與第一密度線相同的事件密度 但至少部分涉及不同于第一測試材料的參考測試材料。輸出單元設置用于同時表示第一密 度線和參考密度線。可以在該表示的基礎上完成第一密度線和參考密度線的曲線的比較。
[0021] 術語"評價單元"在本說明書中表示功能性并且非必須性的物理單元。評價單元 可以包括執行所描述的評價能夠的一個、兩個或更多個物理設備。在優選實施例中，評價單 元包括用于測量單元的控制單元和連接到控制單元的車間計算機。評價可以至少部分已經 在測量單元中發生。
[0022] 輸出單元可以例如是屏幕、觸摸屏或打印機。
[0023] 測量單元包含用于檢測第一測試材料的質量的電容性傳感器和/或用于檢測第 一測試材料的橫向尺寸和/或雜質含量的光學傳感器。
[0024] 本發明允許比較第一密度線和參考密度線的曲線。從密度線的曲線的比較可以完 成第一測試材料與參考測試材料的品質的比較。
[0025] 本發明還包括用于提供使用在如上所描述根據本發明的方法中的至少一個參考 密度線的方法。收集一組代表世界范圍產品的相同類型參考測試材料。沿著參考測試材料 的縱向方向檢測每個參考測試材料的至少一個特性的測量值。從測量值確定相應參考測試 材料的至少一個參數值。提供事件場，其包括二維笛卡爾坐標系的一象限或一象限的一部 分，它的橫坐標指示參數值沿著縱向方向的延伸量并且它的縱坐標指示參數值與目標值的 偏差，以便所確定的參數值和它們沿著縱向方向的延伸量可以被輸入作為在事件場中的事 件。確定在事件場中的事件的密度。為每個參考測試材料在事件場中確定密度線，其基本 上遵循在第一測試材料上確定的事件的恒定密度，該密度對于相同類型的每個參考測試材 料來說是相同的。關于所述確定密度線的百分比的至少一個百分比密度線表示在事件場中 作為參考密度線。
[0026] 如果恒定事件密度為在每IOOkm測試材料長度有500至2000個之間的事件，并且 優選地為每IOOkm測試材料長度有1000個事件是有利的。
[0027] 對應于5%、25%、50%、75%和95%的5個百分比密度線表示為一種類型參考測 試材料的參考密度線。
[0028] 本發明還包括一種品質參考文件，包含用于細長織物測試材料的品質數據。品質 參考文件包含根據上面所描述的方法提供的至少一個參考密度線。該品質參考文件的至少 一個參考密度線然后可以使用在根據本發明的方法中以相對于相同類型測試材料的世界 范圍產品分類檢查的測試材料的品質。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0029] 下面將參考示意附圖更詳細地解釋本發明。
[0030] 圖1示意性表示根據本發明的裝置。
[0031] 圖2表示根據本發明具有兩個密度線的事件場。
[0032] 圖3表示根據本發明具有三個密度線的事件場以及另外測試材料主體。
[0033] 圖4表示具有測試材料相對于世界范圍紗線產品的品質分級的百分比的事件場。
【具體實施方式】
[0034] 圖1示意性地表示用于實施根據本發明的方法的裝置1。它包含用于檢測沿著它 的縱向方向X運動的細長織物測試材料9 (例如紗線）的至少一個特性的測量值的測量單 元2。該測量單元2是已知的并且在此不需要更詳細地解釋。測量單元2基本上被設計為 清紗器測量頭并且包含電容性傳感器、光學傳感器或其他傳感器。還可以布置多個相似或 不同的傳感器在測量單元2內。在電容性傳感器的情況下，測量值是例如傳感器或相應測 量電路的輸出電壓和/或輸出電流，該電量是測試材料的相對介電常數的測量值。測量單 元2可以裝備有用于初步評價測量數據的評價部件。它在第一數據線21上發出優選電輸 出信號，該輸出信號是測試材料9的質量、直徑或其他特性的測量值。
[0035] 第一數據線21進入評價單元3,其設置用來評價測量單元2的輸出信號。它為此 目的包含模擬和/或數字評價部件例如微處理器。它可以還包括另一個部件例如用于存儲 數據的存儲介質。評價單元3優選地是計算機。
[0036] 裝置1還包含用于測量數據和/或評價結果的輸出的輸出單元33。輸出單元33 借由第二數據線31連接到評價單元3。它可以例如設置為屏幕和/或打印機。裝置1優選 地還包含用于由用戶輸入數據的輸入單元34。輸入單元34借由第三數據線32連接到評價 單元3并且可以例如是鍵盤或計算機鼠標。輸出單元33和輸入單元34可以組合在觸摸屏 中。
[0037] 控制單元，其為了簡化未顯示在圖1中，可以設置在評價單元3于測量單元2之 間。該控制單元使用來設置和控制測量單元2。它還部分接管由測量單元2檢測的測量值 的評價。如下描述的評價可以發生在測量單元2中、在控制單元中和/或在評價單元3中。
[0038] 從檢測的測量值確定織物測試材料9的至少一個參數值。該參數可以例如是每單 位長度第一測試材料9的質量，其從電容性傳感器的輸出信號獲得。在第一測試材料9中 的事件91設計為在特定長度上與目標值偏離的參數值。該事件91的示例是較厚或較薄位 置，它每單位長度的質量與每單位長度的目標質量偏離。在紗線的情況下，每單位長度的目 標質量基本上對應于紗線支數。
[0039] 提供了如圖2所示的事件場4,其包含二維笛卡爾坐標系的一象限或一象限的一 部分。坐標系的橫坐標41指示參數值沿著縱向方向的延伸量，例如疵點長度。縱坐標42指 示參數與目標值的偏差，例如疵點幅度。在該示例中參數是每單位長度第一測試材料9的 質量。事件場4的至少一部分由水平分級邊界43和豎直分級邊界44分割成事件的矩形等 級。
[0040] 測量了足夠長度段的第一測試材料9。至少大約Ikm的測量長度稱為"足夠"。例 如IOkm或IOOkm的更長長度是優選的，因為它們統計學地提供更平均的結果。參數值和相 關疵點長度由測量單元2傳輸給評價單元3。在評價單元3中從它們確定在事件場4中事 件的密度，例如舉例而言在US-6, 374, 152B1中所描述。因此可以以明確的方式給事件場4 的每個點分配事件密度。通過內插、外插、平滑和/或其他數字方法可以避免在以這樣方式 確定的事件密度函數中可能由于測量誤差或其他加工導致的過度陡峭局部變化。
[0041] 例如選擇每IOOkm紗線長度有1000個事件的足夠高事件密度。在事件場4中事件 密度與之關聯的所有點的連接產生第一密度線51，51 '，其基本上遵循恒定事件密度。第 一密度線51，51 '表征檢查的第一測試材料9。在圖2上部中的第一密度線51對應于正疵 點幅度，即棉結、厚短位置和厚長位置，而在圖2下部中的第一密度線51 '對應于負疵點幅 度，即較薄位置。事件場可以替代地僅包含正疵點幅度或僅包含負疵點幅度。
[0042] 根據本發明的方法，除了第一密度線51，51 '以外，還表示出參考密度線56， 56'。雖然參考密度線56,56'遵循與第一密度線51，51'相同的事件密度，但是它至少 部分涉及不同于第一測試材料9的參考測試材料（未示出）。參考密度線56, 56'和第一 密度線51，51 '優選地用不同方式畫出，例如使用不同的虛線符號或使用不同的顏色。
[0043] 作為在事件場4中的同時表征的結果，可以比較第一密度線51，51 '和參考密度 線56,56'的曲線。在第一密度線51，51'和參考密度線56,56'的曲線之間的差值是 特別令人感興趣的。可以這樣著重強調該差值，圖示地強調例如畫上陰影或上色至少部分 由第一密度線51(或51')和參考密度線56(或56')限定邊界的差分面積53、54(或 55)。從來自第一密度線51，5P和參考密度線56,56 ^的曲線的已確定差值得出關于在 第一測試材料9與參考測試材料的品質之間的差值的結論。在圖2的示例中，在小疵點長 度即棉結和短疵點的區域中，第一密度線51基本上高于參考密度線56。另一方面在較大疵 點長度的區域中，第一密度線51位于參考密度線56下方。如果在圖2的示例中密度線51， 56涉及紗線，那么比較允許得出這樣的結論，第一紗線9比參考紗線產生更不穩定、模糊的 圖片，但是另一方面導致更少的帶條。在圖2的下部（負疵點幅度）中，第一紗線9涉及較 薄位置比參考紗線更糟糕。
[0044] 此外，圖2的事件場4表示參考測試材料主體，如從W0-2010/078665A1已知。參 考測試材料主體由面積6表示，面積6由橫坐標42和參考密度線56, 56'限定邊界。表示 參考測試材料主體的面積6的形狀表征相應參考測試材料。位于參考測試材料主體6中的 事件屬于參考測試材料并且不應該從參考測試材料去除。
[0045] 圖3表示與圖2的事件場4相似的事件場4。事件場4表示參考密度線56, 56 '。 在該實施例中代表參考測試材料的面積6用灰色陰影著重強調。替代的，可以設置由不同 于它的周圍面積的顏色或圖案。第一密度線51，51'表征檢查的第一測試材料9。除了第 一密度線51，51 '以外，圖3表示第二密度線52, 52'，其涉及不同于第一測試材料9的第 二測試材料。為了更好地差異化和識別，第二密度線52,52'優選地設置有與第一密度線 51，51<和參考密度線56,56<不同的虛線符號或不同的顏色。在第二密度線52,52<和 參考密度線56,56'之間的比較指示，第二測試材料的品質低于參考測試材料的品質。相 似地，涉及其他測試材料的其他測試材料線（第三、第四等）可以表示在事件場4中并且可 以與參考密度線56, 56'比較。
[0046] 可以以不同方式確定參考密度線56,56 '。下面將參考示例解釋其中的三種類 型：
[0047] ?可以以與第一密度線51，51 '相同的方式確定參考密度線56,56 ^。真實參考 測試材料被沿著它的縱向方向測量，從測量值確定至少一個參數值，從參數值確定事件密 度，并且參考密度線56, 56 '基本上遵循在參考測試材料中確定的事件的恒定密度。在這 種情況下參考測試材料可以例如是多種測試材料9的其中一種。這樣允許操作者經由輸入 單元34(圖1)輸入多種已確定密度線51，5P或52,52 ^的哪種準備使用作為參考密度 線 56,56 '。
[0048] ?如圖3的示例所示，如果測量多種測試材料，那么參考密度線56,56 '可以限定 為所有已確定密度線51，51/和52,52/的平均值或限定為其中的子集。在平均計算期間 可以執行加權，例如在相應測試材料的相應已檢測長度的基礎上。在這種情況下，參考密度 線56,56 '涉及由一組至少兩個真實測試材料形成的虛擬測試材料。
[0049] ?最后，參考密度線56, 56 '可以被輸入到評價單元3,之前沒有被直接確定。它 可以從品質參考文件例如USTliRw statistics獲得。替代地，可以自由地或至少改變地輸 入參考密度線56,56'。在這種情況下，參考密度線56,56'也涉及由一組至少兩個真實 測試材料形成或者不來源于真實測試材料的虛擬測試材料。
[0050] 參考密度線56, 56 '可以包括在品質參考文件例如USTHR* STATISTICS 中。為此，首先收集一組相同類型的、表示世界范圍測試材料產品的測試材料樣本，并 且計算它們的密度線。在相同類型的測試材料中，密度線將取決于相應測試材料的品 質以不同高度延伸，但將幾乎不互相交叉。結果，如圖4所示，可以確定百分比密度線 57. 1-57. 5,57. P -57. 5'。百分比密度線 57. 1-57. 5,57. P -57. 5'指示涉及世界范 圍測試材料產品的百分比5%、25%、50%、7% 5、95%。這表示：世界范圍的相應類型生產 的所有測試材料的5%具有5%以下（對于較薄位置為以上）的密度線57. 1，世界范圍的相 應類型生產的所有測試材料的25%具有25%以下（對于較薄位置為以上）的密度線57. 2， 等等。50%線57. 3,57. 3'表示世界中間值。
[0051] 示意圖例如圖4的事件場4允許相對于相同類型的測試材料的世界范 圍產品分類測試材料9的品質。為此，在根據本發明的方法中，百分比密度線 57. 1-57. 5,57. I ^ -57. 5 ^的一個或多個使用作為參考密度線56,56 ^ (參見圖2和圖 3)。第一密度線51，51 '也可以表示在事件場4中，其對應于真實已檢查的測試材料9。所 述第一密度線51，5P與百分比密度線57. 1-57. 5, 57. I' -57. 5 ^比較，其中在離散百分 比密度線57. 1-57. 5之間執行內插。在圖4的實施例中，該比較導致例如下列的表述：
[0052] 魯在棉結（非常厚短位置）的區域中，第一密度線51的位置對應于60%。
[0053] ?在厚短位置的區域中，第一密度線51的位置對應于50%，即中間值。
[0054] ?在厚長位置的區域中，第一密度線51的位置對應于40%。
[0055] ?在事件場的下部中，對于較薄位置的第一密度線51 '靠近50%。
[0056] ?總而言之，涉及平均品質的測試材料9,并且與世界范圍產品比較。
[0057] 換句話說，圖4的百分比密度線57. 1-57. 5, 57. I' -57. 5 ^的一個或多個可以表 示為在圖2或圖3中的事件場4中的參考密度線56, 56 ^并且可以與第一密度線51，5P (并且可選地還與第二密度線52, 52 ^ )比較。
[0058] 可以理解本發明不限于如上所描述的實施例。通過具有本發明的知識，本領域的 技術人員將能夠推導出其他變形，其也屬于如在獨立權利要求中限定的本發明的主題。
[0059] 1 裝置
[0060] 2 測量單元
[0061] 21 數據線
[0062] 3 評價單元
[0063] 31,32 數據線
[0064] 33 輸出單元
[0065] 34 輸入單元
[0066] 4 事件場
[0067] 41 橫坐標
[0068] 42 縱坐標
[0069] 43 水平分級邊界
[0070] 44 豎直分級邊界
[0071] 51,51 ;第一密度線
[0072] 52, 52 '第二密度線
[0073] 53-55 差分面積
[0074] 56, 56 '參考密度線
[0075] 57. 1-57. 5, 57. 1 ; -57. 5 ;百分比密度線
[0076] 6 測試材料主體，面積
[0077] 9 測試材料
[0078] 91 事件
[0079] χ 測試材料的縱向方向和運動方向
【權利要求】
1. 一種用于比較細長織物測試材料巧）的品質的方法，其中沿著第一測試材料巧）的 縱向方向（X)檢測所述第一測試材料巧）的至少一個特性的測量值， 從所述測量值確定所述第一測試材料巧）的至少一個參數值， 提供事件場（4)，其包括二維笛卡爾坐標系的一象限或一象限的一部分，它的橫坐標 (41)指示參數值沿著縱向方向的延伸量并且它的縱坐標（42)指示所述參數值與目標值的 偏差，W便所確定的參數值和它們沿著所述縱向方向（X)的延伸量可W被輸入作為在所述 事件場（4)中的事件， 確定在所述事件場（4)中的事件的密度，W及 基本上遵循在所述第一測試材料（9)上確定的所述事件的恒定密度的第一密度線 巧1，51 ^ )表示在所述事件場（4)中，其特征在于， 除了所述第一密度線巧1，51 ^ ) W外，遵循與所述第一密度線巧1，51 ^ )相同的事 件密度但至少部分設及不同于所述第一測試材料巧）的參考測試材料的參考密度線巧6， 56 ^ )表示在所述事件場（4)中。
2. 根據權利要求1所述的方法，其中所述參考測試材料是不同于第一測試材料巧）的 第二真實測試材料。
3. 根據權利要求1所述的方法，其中所述參考測試材料是為了確定所述參考密度線 巧6, 56 ^ )而形成的虛擬測試材料。
4. 根據權利要求3所述的方法，其中所述虛擬測試材料由一組至少兩個真實測試材料 形成。
5. 根據權利要求4所述的方法，其中所述組還包含除了至少一個其他真實測試材料W 外的所述第一測試材料巧）。
6. 根據權利要求1至4其中一項所述的方法，其中所述參考密度線從品質參考文件獲 得。
7. 根據前述權利要求其中一項所述的方法，其中至少部分由所述第一密度線巧1， 51 ^ )和所述參考密度線巧6, 56 ^ )限定邊界的差分面積巧3-55)被在所述事件場（4) 中圖示地著重強調。
8. 根據權利要求7所述的方法，其中所述差分面積巧3-55)與它的周圍面積圖示地不 同，特別是在于它具有與它的周圍面積不同的顏色、不同的灰度陰影和/或不同的圖案。
9. 根據前述權利要求其中一項所述的方法，其中參考測試材料主體表示為在所述事件 場（4)中的一面積化），該面積化） 一方面由橫坐標（41)或者與其平行延伸的直線、 另一方面由縱坐標（42)或者與其平行延伸的直線、并且 還由所述參考密度線巧6, 56 ^ ) 限定邊界。
10. 根據權利要求9所述的方法，其中表示所述參考測試材料主體的所述面積（6)與它 的周圍面積圖示地不同，特別是在于它具有與它的周圍面積不同的顏色、不同的灰度陰影 和/或不同的圖案。
11. 根據前述權利要求其中一項所述的方法，其中所述恒定事件密度為在每100km測 試材料長度有500至2000個之間的事件，并且優選地為每100km測試材料長度有1000個 事件。
12. 根據前述權利要求其中一項所述的方法，其中所述事件場（4)的至少一部分由水 平分級邊界（43)和豎直分級邊界（44)分割成事件的矩形等級。
13. 根據前述權利要求其中一項所述的方法，其中除了設及所述參考測試材料的所述 參考密度線巧6,56^ )和設及所述第一測試材料（9)的所述第一密度線巧1，51^ )W外， 設及第二測試材料的至少一個第二密度線巧2, 52 ^ )表示在所述事件場（4)中。
14. 根據前述權利要求其中一項所述的方法，其中所述第一密度線巧1，51 ^ )、所述參 考密度線巧6, 56 ^ ) W及可選地附加表示的至少一個第二密度線巧2, 52 ^ )互相圖示地 不同，特別是在于它們具有不同的顏色、不同的灰度陰影、不同的厚度和/或不同的虛線符 號。
15. 根據前述權利要求其中一項所述的方法，其中所述方法由計算機（3)實施。
16. -種計算機程序產品，具有存儲在機器可讀介質中、用于當計算機程序產品在計算 機（3)上運行時實施根據權利要求1至14其中一項所述的方法的程序代碼。
17. -種用于比較細長織物測試材料巧）的品質的裝置（1)，包含： 測量單元（2)，其用于檢測沿著第一測試材料（9)的縱向方向（X)檢測所述第一測試材 料（9)的至少一個特性的測量值，W及連接到所述測量單元（2)的評價單元（3)，其設置 用于從所述測量值確定所述第一測試材料巧）的至少一個參數值 用于提供事件場（4)，其包括二維笛卡爾坐標系的一象限或一象限的一部分，它的橫坐 標（41)指示參數值沿著縱向方向的延伸量并且它的縱坐標（42)指示所述參數值與目標值 的偏差，W便所確定的參數值和它們沿著所述縱向方向（X)的延伸量可W被輸入作為在所 述事件場（4)中的事件，W及 用于確定在所述事件場（4)中的事件的密度，W及 連接到所述評價單元的輸出單元（33)，其用于顯示所述事件場（4)和在所述事件場 (4)中的第一密度線巧1，51 ^ )，所述第一密度線巧1，51 ^ )基本上遵循在所述第一測試 材料（9)上確定的事件的恒定密度， 其特征在于 所述評價單元（3)設置用于存儲參考密度線巧6, 56 ^ )，所述參考密度線巧6, 56 ^ ) 遵循與所述第一密度線巧1，51 ^ )相同的事件密度但至少部分設及不同于所述第一測試 材料巧）的參考測試材料，W及 所述輸出單元（33)設置用于同時表示所述第一密度線巧1，51 ^ )和所述參考密度線 巧6,56')。
18. 根據權利要求17所述的裝置（1)，其中所述輸出單元（33)是屏幕、觸摸屏或打印 機。
19. 根據權利要求17或18所述的裝置（1)，其中所述測量單元（2)包含用于檢測所述 第一測試材料巧）的質量的電容性傳感器和/或用于檢測所述第一測試材料（9)的橫向尺 寸和/或雜質含量的光學傳感器。
20. -種用于提供使用在根據權利要求1 - 15其中一項所述的方法中的至少一個參考 密度線巧6, 56 ^ )的方法，其中 收集一組代表世界范圍產品的相同類型參考測試材料， 沿著參考測試材料的縱向方向檢測每個參考測試材料的至少一個特性的測量值， 從所述測量值確定所述相應參考測試材料的至少一個參數值， 提供事件場（4)，其包括二維笛卡爾坐標系的一象限或一象限的一部分，它的橫坐標 (41)指示參數值沿著縱向方向的延伸量并且它的縱坐標（42)指示所述參數值與目標值的 偏差，W便所確定的參數值和它們沿著所述縱向方向的延伸量可W被輸入作為在所述事件 場（4)中的事件， 確定在所述事件場（4)中的事件的密度， 為每個參考測試材料在所述事件場（4)中確定密度線，其基本上遵循在所述第一測試 材料（9)上確定的事件的恒定密度，該密度對于相同類型的每個參考測試材料來說是相同 的，W及 關于所述確定密度線的百分比的至少一個百分比密度線 巧7. 1-57. 5, 57. 1 ^ -57. 5 ^ )表示在所述事件場（4)中作為參考密度線巧6, 56 ^ )。
21. 根據權利要求20所述的方法，其中所述恒定事件密度為在每100km測試材料長度 有500至2000個之間的事件，并且優選地為每100km測試材料長度有1000個事件。
22. 根據權利要求20和21所述的方法，其中對應于5%、25%、50%、75%和95%的5 個百分比密度線巧7. 1-57. 5, 57. 1 ^ -57. 5 ^ )表示為一種類型參考測試材料的參考密度 線巧6,56 ')。
23. -種品質參考文件，包含用于細長織物測試材料的品質數據，其特征在于 所述品質參考文件包含根據權利要求20至22所述的方法提供的至少一個參考密度線 巧6,56')。
【文檔編號】G01N33/36GK104471388SQ201380030948
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2013年6月7日 優先權日:2012年6月11日
【發明者】斯瓦古瑪·納拉揚那, P·施密特 申請人:烏斯特技術股份公司
專業數控銑床產品供應商
20年生產經驗，實力工廠，精工品質，質量有保障
