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馬達的制作方法

時間:2023-06-10    作者: 管理員

馬達的制作方法
【專利摘要】本發明提供了一種馬達,該馬達包括:旋轉軸,該旋轉軸包括第一凹部和第二凹部,該第一凹部包括底表面和壁表面,該第二凹部形成在第一凹部的底表面中;轉子,該轉子圍繞旋轉軸并且與旋轉軸一起旋轉,并且該轉子包括第一磁體;以及檢測器,該檢測器包括安裝在第一凹部中的第二磁體并且該檢測器對轉子的旋轉進行檢測。
【專利說明】 馬達
[0001]相關申請的交叉引用
[0002]本申請要求2012年11月8日提交的韓國專利申請N0.2012-0126307的優先權和利益,其全部公開內容通過參引并入本文中。
【技術領域】
[0003]本發明涉及一種馬達,并且更具體地涉及一種馬達的組裝結構。
【背景技術】
[0004]圖1示出了馬達的示例。
[0005]參照圖1,馬達I包括旋轉軸10、圍繞旋轉軸10的轉子11以及對轉子11的旋轉角度進行檢測的檢測器12。轉子11包括圍繞旋轉軸10的轉子芯111以及聯接至旋轉芯111的驅動磁體112。轉子11通過與固定至外殼(未示出)的定子(未示出)的相互作用而與旋轉軸10 —起旋轉。
[0006]檢測器12對轉子11的位置一即驅動磁體112的位置——進行檢測。為此,檢測器12可以包括傳感器磁體121和編碼器集成芯片(IC) 122。傳感器磁體121根據旋轉軸10和轉子11的旋轉而發出磁通或極性,并且編碼器IC122對由傳感器磁體121所發出的磁通或極性進行檢測,從而對轉子11的旋轉進行檢測。
[0007]為此,傳感器磁體121可以安裝在旋轉軸10的一端中形成的凹部中。將參照圖2對傳感器磁體121和旋轉軸10的組裝結構進行描述,圖2是圖1的A部分的放大視圖。
[0008]參照圖2,傳感器磁體121的邊緣A’具有圓形形狀。因而,旋轉軸10的與傳感器磁體121的邊緣A’相接觸的組裝部分也具有圓形形狀。
[0009]隨著馬達I的使用時間增加,旋轉軸10上的安裝有傳感器磁體121的組裝部分可能磨損。如果旋轉軸10的組裝部分磨損,則在傳感器磁體121與旋轉軸10之間可能形成間隙。因而,傳感器磁體121不能堅固地固定至旋轉軸10,并且傳感器磁體121的磁泄露,使得檢測的精確程度可能降低。

【發明內容】

[0010]本發明針對馬達的對轉子的旋轉進行檢測的組裝結構。
[0011]根據本發明的一方面,設置有一種馬達,該馬達包括:旋轉軸,該旋轉軸包括第一凹部和第二凹部,該第一凹部包括底表面和壁表面,該第二凹部形成在第一凹部的底表面中;轉子,該轉子圍繞旋轉軸并且與旋轉軸一起旋轉,并且該轉子包括第一磁體;以及檢測器,該檢測器包括安裝在第一凹部中的第二磁體并且檢測轉子的旋轉。
[0012]第二凹部可以沿著第一凹部的底表面與壁表面之間的邊界形成。
[0013]第二凹部可以不連續地形成。
[0014]第二凹部可以形成在第二磁體的邊緣與第一凹部的底表面彼此接觸的區域中。
[0015]第二磁體可以是用于對轉子的旋轉進行檢測的傳感器磁體。[0016]傳感器還可以包括編碼器集成芯片(IC),該編碼器集成芯片(IC)根據由第二磁體發出的磁通或極性來檢測選自轉子的旋轉角度、轉子的旋轉速度和第一磁體的位置中的至少一個。
[0017]根據本發明的另一方面,設置有一種包括馬達的雙離合變速器(DCT),其中,該馬達包括:旋轉軸,該旋轉軸包括第一凹部和第二凹部,該第一凹部形成在旋轉軸的一端中并且包括底表面和壁表面,該第二凹部形成在第一凹部的底表面中;轉子,該轉子圍繞旋轉軸并且與旋轉軸一起旋轉,并且該轉子包括至少一個第一磁體;以及檢測器,該檢測器包括安裝在第一凹部中的第二磁體并且檢測轉子的旋轉。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0018]通過參照附圖對本發明的示例性實施方式進行詳細描述,對本領域的普通技術人員而言,本發明的以上目的、特征和優點以及其他的目的特征和優點將變得明顯,在附圖中:
[0019]圖1示出了馬達的示例;
[0020]圖2是圖1中所示的馬達的傳感器磁體和旋轉軸的組裝結構的放大視圖;
[0021]圖3示出了根據本發明的實施方式的馬達;
[0022]圖4是根據本發明的實施方式的旋轉軸和傳感器磁體的組裝結構的剖面圖;
[0023]圖5示出了旋轉軸的安裝有傳感器磁體的一端的俯視圖的示例;以及
[0024]圖6示出了旋轉軸的安裝有傳感器磁體的一端的俯視圖的另一示例。
【具體實施方式】
[0025]由于本發明允許不同的改變和許多實施方式,因此將在附圖中示出并在書面描述中詳細描述具體的實施方式。然而,這并不意在將本發明局限于具體的實施模式,而應理解的是,不背離本發明的精神和技術范圍的所有的改變、等同物和替代方案都包含在本發明中。
[0026]盡管會使用諸如“第一”、“第二”等術語來描述不同的部件,但是這種部件并不受以上術語的限制。以上術語僅用于對一個部件與另一個部件進行區分。例如,在本發明的范圍內,第二部件可以稱為第一部件,并且類似地,第一部件可以稱為第二部件。在本文中使用的術語“和/或”包括關聯列出的一個或多個物品中的任一者或所有組合。
[0027]將理解的是,當元件稱為“在另一元件上”、“連接至”或“聯接至”另一元件時,其可以是直接在另一元件上、直接連接至或聯接至另一元件,或可以存在介于其間的元件。相反,當元件稱為“直接地在另一元件上”、“直接地連接至”或“直接地聯接至”另一元件時,不存在介于其間的元件。
[0028]在本說明書中所使用的術語僅用于描述具體的實施方式,而不意在限制本發明。以單數使用的表述包含復數的表述,除非其在上下文中具有明確不同的意思。在本說明書中,應當理解,諸如“包括”或“具有”等術語意在表明存在本說明書中公開的特征、數量、步驟、操作、部件、部分及其組合,而并不意在排除可能存在或可能增加一個或更多個特征、數量、步驟、操作、部件、部分或其組合的可能性。
[0029]除非以其他方式進行限定,否則本文中所使用的所有術語(包括技術術語和科學術語)與示例性實施方式所屬的【技術領域】中的普通技術人員的通常理解具有相同的意思。還應當理解,一些術語,例如在常用詞典中限定的那些術語應當解釋為其含義與在相關技術背景中的含義一致,而不以理想化或過度形式化的方式進行解釋,除非在本文中明確那樣限定。
[0030]現在將參照附圖對本發明進行更充分地描述,在附圖中示出了本發明的示例性實施方式。相同或相應的部件在所有的圖中用相同的附圖標記來表示,并且省略了重復說明。[0031 ] 圖3示出了根據本發明的實施方式的馬達。
[0032]參照圖3,馬達3包括旋轉軸30、圍繞旋轉軸30的轉子31以及對轉子31的位置進行檢測的檢測器32。旋轉軸30由外殼(未示出)支撐。轉子31包括圍繞旋轉軸30的轉子芯311和聯接至轉子芯311的驅動磁體312。轉子芯311具有圓筒形形狀,并且驅動磁體312形成在轉子芯311的外周面上。可在轉子芯311處形成至少一個驅動磁體312。
[0033]同時,包括多個線圈的定子(未示出)固定至外殼(未示出)的內側。在轉子31與定子(未示出)之間形成有預定間隙,并且轉子31因與定子的相互作用而與旋轉軸30 —起旋轉。
[0034]檢測器32對轉子31的旋轉角度和旋轉速度以及驅動磁體312的位置進行檢測。為此,檢測器32可以包括傳感器磁體321和編碼器集成芯片(10322。傳感器磁體321根據旋轉軸30和轉子31的旋轉而發出磁通或極性。編碼器IC322對由傳感器磁體321所發出的磁通或極性進行檢測,從而對轉子31的旋轉角度或旋轉速度進行檢測。替代性地,編碼器IC322可以用霍爾IC來代替。
[0035]傳感器磁體321固定至旋轉軸30的一端以便根據旋轉軸30和轉子31的旋轉而發出磁通或極性。
[0036]根據本發明的實施方式,在旋轉軸30與傳感器磁體321的邊緣彼此接觸的部分處形成有凹槽。
[0037]圖4是圖3中所示的馬達的旋轉軸和傳感器磁體的組裝部分的剖面圖,以及圖5是旋轉軸的安裝有傳感器磁體的一端的俯視圖的示例。
[0038]參照圖4和圖5,在旋轉軸30的一端303中形成有凹部301,使得傳感器磁體321能夠安裝在凹部301中。凹部301包括底表面和壁表面。凹部301的底表面的高度低于旋轉軸30的一端303的高度。凹部301可以形成為圓柱形形狀。
[0039]在凹部301的底表面上形成有至少一個凹槽302。凹槽302指的是在凹部301的底表面的一部分中形成的不均勻部分,并且可以與凹部或溝槽一起混合使用。例如,凹槽302可以具有不均勻的形狀,例如V形形狀或圓形形狀。凹槽302可以形成在旋轉軸30與傳感器磁體321的邊緣B’彼此接觸的部分處,即,沿著凹部301的底表面與壁表面之間的邊界或沿著凹部301的底表面與傳感器磁體321的邊緣B’彼此接觸的區域。
[0040]因而,能夠減小旋轉軸30與傳感器磁體321的邊緣B’彼此接觸的面積。因而,能夠減小旋轉軸30中形成的凹部301的底表面的、與傳感器磁體321的邊緣B’的圓形形狀相對應區域的磨損。另外,能夠減小因與旋轉軸30的接觸而發生的磁泄露。因而,能夠改進檢測的精確程度。
[0041]此外,凹部301的壁表面的高度需要保持在預定的高度Hl或更高處,以便形成如圖2中所示的呈圓形形狀的、旋轉軸10與傳感器磁體121的邊緣A’彼此接觸的部分。然而,如果旋轉軸30的一端根據本發明的實施方式而形成,則凹部301的壁表面可以具有高度H2,該高度H2通過從高度Hl去除圓形形狀而被減小。因而,能夠減小傳感器磁體321的高度和旋轉軸30的高度,使得能夠減小材料成本。
[0042]同時,凹槽302也可以沿著凹部301的周緣——即,沿凹部301的底表面與壁表面之間的邊界——不連續地形成。圖6示出了旋轉軸的安裝有傳感器磁體的一端的俯視圖的
另一不例。
[0043]參照圖6,凹槽302也可以在旋轉軸30與傳感器磁體321的邊緣B’彼此接觸的部分處一即沿著凹部301的底表面與壁表面之間的邊界一不連續地形成。
[0044]根據本發明的實施方式的馬達可以是無刷直流(BLDC)馬達。BLDC馬達指的是這樣的DC馬達,其中安裝有電子整流器而無機械接觸部(如電刷或換向器)。
[0045]例如,根據本發明的實施方式的馬達可以應用于雙離合變速器(DCT)馬達。然而,本發明的實施方式并不限于雙離合變速器(DCT)馬達。
[0046]如以上所述,根據本發明的一個或更多個實施方式,減小了安裝有傳感器磁體的區域的磨損,使得能夠改善馬達的旋轉軸的耐用性并且改善檢測的精確程度。
[0047]此外,能夠減小傳感器磁體和旋轉軸彼此接觸的面積,使得能夠減小磁的泄露量。
[0048]此外,減小了傳感器磁體的高度和旋轉軸的高度,從而能夠降低材料成本。
[0049]對本領域的普通技術人員將明顯的是,在不背離本發明的精神或范圍的情況下,能夠對本發明的上述示例性實施方式做出不同的改型。因而,本發明應當覆蓋落入所附權利要求及其等同替代的范圍內的所有的這種改型。
【權利要求】
1.一種馬達,包括: 旋轉軸,所述旋轉軸包括第一凹部和第二凹部,所述第一凹部包括底表面和壁表面,所述第二凹部形成在所述第一凹部的所述底表面中; 轉子,所述轉子圍繞所述旋轉軸并且與所述旋轉軸一起旋轉,并且所述轉子包括第一磁體;以及 檢測器,所述檢測器包括安裝在所述第一凹部中的第二磁體并且檢測所述轉子的旋轉。
2.根據權利要求1所述的馬達,其中,所述第二凹部沿著所述第一凹部的所述底表面與所述壁表面之間的邊界形成。
3.根據權利要求2所述的馬達,其中,所述第二凹部不連續地形成。
4.根據權利要求1所述的馬達,其中,所述第二凹部形成在所述第二磁體的邊緣與所述第一凹部的所述底表面彼此接觸的區域中。
5.根據權利要求1所述的馬達,其中,所述第二磁體是用于檢測所述轉子的旋轉的傳感器磁體。
6.根據權利要求1所述的馬達,其中,所述檢測器還包括編碼器集成芯片(1C),所述編碼器集成芯片(IC)根據由所述第二磁體發出的磁通或極性來檢測選自所述轉子的旋轉角度、所述轉子的旋轉速度和所述第一磁體的位置中的至少一個。
7.一種包括馬達的雙離合變速器(DCT),其中,所述馬達包括: 旋轉軸,所述旋轉軸包括第一凹部和第二凹部,所述第一凹部形成在所述旋轉軸的一端中并且包括底表面和壁表面,所述第二凹部形成在所述第一凹部的所述底表面中; 轉子,所述轉子圍繞所述旋轉軸并且與所述旋轉軸一起旋轉,并且所述轉子包括至少一個第一磁體;以及 檢測器,所述檢測器包括安裝在所述第一凹部中的第二磁體并且檢測所述轉子的旋轉。
【文檔編號】G01D5/12GK103812277SQ201310553017
【公開日】2014年5月21日 申請日期:2013年11月8日 優先權日:2012年11月8日
【發明者】金群哲 申請人:Lg伊諾特有限公司

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