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絕緣壽命推定方法及絕緣壽命推定裝置制造方法
【專利摘要】一種絕緣壽命推定方法及絕緣壽命推定裝置。針對發生局部放電的待測試樣，能夠考慮施加電壓波形條件的影響來推定絕緣壽命，由此實現絕緣壽命推定的可靠性提高和高效率化等。對具備導體和絕緣體而構成的試樣的絕緣壽命進行推定的絕緣壽命推定方法具備：信息獲取步驟(S2)，其獲取試樣中的局部放電的放電電荷量與試樣的絕緣破壞的相關信息；電荷量檢測步驟(S3)，其在推定所述絕緣壽命的階段使所述試樣發生局部放電，檢測該局部放電的放電電荷量；以及壽命推定步驟(S4)，其基于信息獲取步驟(S2)中得到的相關信息，根據電荷量檢測步驟(S3)中檢測出的放電電荷量求出試樣到絕緣破壞為止的時間，作為絕緣壽命的推定結果。
【專利說明】絕緣壽命推定方法及絕緣壽命推定裝置

【技術領域】
[0001]本發明涉及一種推定絕緣壽命的絕緣壽命推定方法及絕緣壽命推定裝置。

【背景技術】
[0002]漆包線等電線，以在導體周圍包圍的方式設置絕緣體(絕緣皮膜)而構成。這樣具備導體和絕緣體而構成的電線根據其使用條件和使用環境等會發生局部放電。局部放電是指在絕緣體中或者導體和絕緣體之間的微小的空隙(void)產生微弱的電火花(放電現象)。電線當發生局部放電時，可能由此使絕緣體被破壞，導致無法保持絕緣狀態的絕緣破壞。因此，針對電線，普遍對設想的使用條件和使用環境等下絕緣體到絕緣破壞為止的時間(也就是絕緣壽命)進行推定。
[0003]作為推定電線的絕緣壽命的方法，一般是利用該電線的V_t(V:施加電壓、t:破壞時間)特性。但是近年來多使用逆變電源作為電動機用電源，因此需要考慮電線上被施加急劇的過電壓(逆變浪涌電壓)。由此，對于以往的絕緣壽命推定方法，有的例如與對應于交流電壓下的局部放電開始電壓(Partial Discharge Incept1n Voltage,以下稱為“roiv”)的逆變浪涌電壓下的roiv的增加量相應地，調整交流電壓下的v-t特性而作為逆變浪涌電壓下的V-t特性，由此，在施加逆變浪涌電壓時也能夠推定絕緣壽命(例如參照專利文獻I)。
[0004]可以認為電線的絕緣壽命受到局部放電支配(影響)。并且，這個局部放電受到施加電壓波形條件(上升時間、脈沖寬度等)的影響。例如，在逆變浪涌電壓下，PDIV受到施加電壓的波形的上升時間的影響。這樣，對絕緣壽命產生影響的局部放電根據施加電壓波形條件不同，發生形態可能不同。
[0005]然而，以往的利用V-t特性的絕緣壽命推定方法中，在預先進行的V-t實驗中將施加電壓波形條件為固定、峰值一定的電壓持續對電線加電，測定到絕緣破壞為止的時間，基于該結果推定實際使用中的電線的絕緣壽命。也就是說，盡管在實際使用中施加電壓波形條件各不相同、電壓值也時時刻刻變化，但對于該實際使用中的電線的絕緣壽命推定結果，并沒有考慮到該實際使用中的施加電壓波形條件的影響?？梢哉J為這種情況在逆變浪涌電壓下特別顯著。因此，以往的絕緣壽命推定方法中，對絕緣壽命推定結果的可靠性并不能說是充分的。
[0006]關于這一點，也考慮到例如配合預想的各種各樣施加電壓波形條件來實施V-t實驗，若實際使用中的施加電壓波形條件變化則每次實施V-t實驗。但是，這樣每次實施v-t實驗并不聞效。
[0007]另外，作為以往的絕緣壽命推定方法，也有如專利文獻I那樣考慮到施加逆變浪涌電壓的情況，但為此必須用roiv比換算v-t特性，需要v-t特性的換算，所以相應地并不聞效。
[0008]專利文獻1:日本特開平9-80006號公報


【發明內容】

[0009]因此，本發明的目的是提供一種絕緣壽命推定方法及絕緣壽命推定裝置，其能夠考慮施加電壓波形條件的影響來推定絕緣壽命，由此實現針對絕緣壽命推定結果的可靠性的提聞，并且在該情況下也能聞效地推定絕緣壽命。
[0010]本發明是為了達到上述目的而提出的。
[0011]根據本發明的第I方式，提供一種絕緣壽命推定方法，其對具備導體和絕緣體而構成的試樣的絕緣壽命進行推定，該絕緣壽命推定方法具備:
[0012]信息獲取步驟，其獲取所述試樣中的局部放電的放電電荷量與該試樣的絕緣破壞的相關彳目息;
[0013]電荷量檢測步驟，其在推定所述絕緣壽命的階段使所述試樣發生局部放電，檢測該局部放電的放電電荷量；以及
[0014]壽命推定步驟，其基于所述信息獲取步驟中得到的相關信息，根據所述電荷量檢測步驟中檢測出的放電電荷量求出所述試樣到絕緣破壞為止的時間，作為所述絕緣壽命的推定結果。
[0015]根據本發明的第2方式，提供第I方式的絕緣壽命推定方法，其中，
[0016]在所述信息獲取步驟中，獲取確定所述試樣到絕緣破壞為止的總放電電荷量的信息，作為所述相關信息；
[0017]在所述電荷量檢測步驟中，檢測所述試樣中發生的局部放電的每單位時間的放電電荷量；
[0018]在所述壽命推定步驟中，將所述總放電電荷量除以所述每單位時間的放電電荷量，求出從開始使用所述試樣到該試樣絕緣破壞為止的時間。
[0019]根據本發明的第3方式，提供第I方式的絕緣壽命推定方法，其中，
[0020]在所述信息獲取步驟中，獲取確定從開始使用所述試樣到該試樣絕緣破壞為止該試樣中的局部放電的放電電荷量的經時變化特性的信息，作為所述相關信息；
[0021]在所述電荷量檢測步驟中，檢測所述試樣中發生的局部放電的放電電荷量；
[0022]在所述壽命推定步驟中，將所述電荷量檢測步驟中的檢測結果與所述經時變化特性對照，求出所述試樣到絕緣破壞為止的殘余時間。
[0023]根據本發明的第4方式，提供第I至第3方式中任一方式的絕緣壽命推定方法，其中，
[0024]具備預先準備步驟，其在所述信息獲取步驟之前，從開始使用所述試樣到該試樣絕緣破壞為止,持續檢測該試樣中的局部放電的放電電荷量,根據其檢測結果生成所述相關信息并存儲保存，
[0025]在所述信息獲取步驟中，通過讀取所述預先準備步驟中存儲保存的所述相關信息，獲取該相關信息。
[0026]根據本發明的第5方式，提供一種絕緣壽命推定裝置，其對具備導體和絕緣體而構成的試樣的絕緣壽命進行推定，該絕緣壽命推定裝置具備:
[0027]信息獲取部，其獲取所述試樣中的局部放電的放電電荷量與該試樣的絕緣破壞的相關信息；
[0028]電荷量檢測部，其在推定所述絕緣壽命的階段使所述試樣發生局部放電，檢測該局部放電的放電電荷量；以及
[0029]壽命推定部，其基于所述信息獲取部得到的相關信息，根據所述電荷量檢測部檢測出的放電電荷量求出所述試樣到絕緣破壞為止的時間，作為所述絕緣壽命的推定結果。
[0030]根據本發明的第6方式，提供第5方式的絕緣壽命推定裝置，其中，具備:
[0031]數據庫部，其存儲保存所述相關信息；
[0032]所述信息獲取部通過讀取所述數據庫部存儲保存的所述相關信息來獲取該相關信息。
[0033]根據本發明的第7方式，提供第6方式的絕緣壽命推定裝置，其中，具備:
[0034]信息生成部，其從開始使用所述試樣到該試樣絕緣破壞為止,持續檢測該試樣中的局部放電的放電電荷量，根據其檢測結果生成所述相關信息，存儲保存在所述數據庫部中。
[0035]根據本發明，能夠考慮到施加電壓波形條件的影響來推定絕緣壽命，能夠提高針對絕緣壽命推定結果的可靠性，在該情況下也能高效地推定絕緣壽命。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0036]圖1是表示本發明的第I實施方式中的絕緣壽命推定裝置的概要結構例的框圖。
[0037]圖2是表示本發明的第I實施方式中的絕緣壽命推定方法的步驟的概要的流程圖。
[0038]圖3是表示本發明的第I實施方式中的絕緣壽命推定裝置的具體電路結構例的示意圖。
[0039]圖4是表示本發明的第I實施方式中的絕緣壽命推定裝置的數據記錄器中記錄的電壓數據(波形數據)的一個具體例的說明圖。
[0040]圖5是將本發明的第I實施方式中的絕緣壽命推定裝置的數據記錄器中記錄的電壓數據(波形數據)的一部分放大表示的說明圖。
[0041]圖6是表示本發明的第I實施方式中的預先準備步驟的處理順序的概要的流程圖。
[0042]圖7是表示本發明的第I實施方式中的相關信息的一個具體例的說明圖。
[0043]圖8是表示本發明的第I實施方式中的電荷量檢測步驟的處理順序的概要的流程圖。
[0044]圖9是表示本發明的第2實施方式中的相關信息的一個具體例的說明圖。
[0045]符號說明
[0046]I…試樣、2…加電部、3…局部放電電荷量檢測部、3a…電容器、3b...短路電路、4...控制部、4a、4b…數據記錄器、4c...計時器機構、4d...控制器、5…信息輸出部、41...局部放電波形記錄部、42…局部放電電荷量計算部、43…信息計算部、44...數據庫部、45…信息獲取部、46...壽命推定部

【具體實施方式】
[0047]以下參照附圖對本發明的實施方式進行說明。
[0048]這里，按照以下的順序分項進行說明。
[0049]1.概要
[0050]2.第I實施方式
[0051]2-1.絕緣壽命推定裝置的概要結構
[0052]2-2.絕緣壽命推定方法的步驟
[0053]3.第2實施方式
[0054]4.各實施方式的效果
[0055]5.變形例等
[0056]〈1.概要 >
[0057]首先，對本發明涉及的絕緣壽命推定方法及絕緣壽命推定裝置的概要進行說明。
[0058]本發明用于對發生局部放電的電線等推定絕緣壽命。這里所說的“電線等”除了漆包線等電線以外，也包含具備導體和絕緣體而構成的電線?！熬植糠烹姟敝傅氖鞘闺娋€等的絕緣體發生絕緣老化的微弱的放電現象?！敖^緣壽命”指的是從電線等開始使用到該電線等的絕緣體由于絕緣老化而被破壞、無法保持絕緣狀態為止的時間。
[0059]為了提出本發明，本申請的
【發明者】對局部放電和絕緣體的絕緣老化進行了深入研究。結果，本申請的
【發明者】得到了在局部放電和絕緣老化之間存在相關的知識。更詳細來說，得到了以下知識:在電線等上發生的局部放電的電荷量(以下稱為“放電電荷量”)和該局部放電所產生的絕緣老化所侵蝕的絕緣體的體積存在一定的關系性，而且即使對電線等的施加電壓波形條件變化(例如即使在逆變浪涌電壓下)該關系性仍然成立。基于該知識，本申請的
【發明者】進一步反復深入研究，終于得出了將放電電荷量作為指標來推定電線等的絕緣壽命這一開創先河的新型壽命推定方法的構想。本發明即是基于本申請的
【發明者】的這種新型構想而提出的。
[0060]根據本發明涉及的絕緣壽命推定方法及絕緣壽命推定裝置，按照以下敘述的步驟推定電線等的絕緣壽命。
[0061]具體來說，首先對于作為絕緣壽命的推定對象的電線等(以下簡稱為“試樣”)，預先確定在該試樣中局部放電的放電電荷量和該試樣的絕緣破壞之間的相關信息。這里所說的“相關信息”是確定放電電荷量和絕緣破壞的關系性的信息，例如關于細節將在后面敘述的、絕緣破壞需要的總放電電荷量Qb.d以及直到絕緣破壞的放電電荷量的經時變化特性等的信息即相當于該信息。這樣的相關信息，進行細節將同樣在后面敘述的放電電荷量測定來確定即可。另外，關于所確定的相關信息，可以考慮預先構建數據庫部來存儲保存。
[0062]其后，在推定絕緣壽命的階段，從數據庫部讀取并獲得關于試樣的相關信息，另一方面，使該試樣發生局部放電，檢測當前在該試樣發生的部分放電的放電電荷量。如細節將在后面敘述那樣，按照預先設定的預定時間，向試樣以超過roiv的電壓加電，使其發生局部放電，利用例如使用殘余電荷法的殘余電壓檢測電路來檢測該局部放電的放電電荷量，由此進行放電電荷量的檢測即可。也就是說，這里所說的“當前”，是在推定絕緣壽命的階段中實際檢測現實發生局部放電時的放電電荷量的意思。
[0063]檢測放電電荷量之后，將其檢測結果與獲取的相關信息對照，并基于該相關信息求出試樣到絕緣破壞為止的時間，作為針對該試樣的絕緣壽命的推定結果。由此，例如當相關信息是確定總放電電荷量QB.D的信息時，根據試樣的使用初始階段中的放電電荷量，推定該試樣到絕緣破壞為止的壽命時間，其細節將在后面敘述。另外，例如當相關信息是確定放電電荷量的經時變化特性的信息時，根據經過某加電時間后的試樣中的放電電荷量推定該試樣的殘余壽命時間，其細節將在后面敘述。
[0064]如上所述，本發明涉及的絕緣壽命推定方法及絕緣壽命推定裝置采用以試樣的局部放電的放電電荷量作為指標來推定該試樣的絕緣壽命的方法。也就是說，通過將與絕緣體的絕緣破壞相關的局部放電的放電電荷量作為絕緣壽命推定的指標，不是以施加電壓、而是以實際發生的放電電荷量為基準來推定絕緣壽命，因此能夠考慮到各種不同的施加電壓波形的上升時間的影響來進行絕緣壽命推定。所以，根據本發明涉及的絕緣壽命推定方法及絕緣壽命推定裝置，能夠考慮施加電壓波形條件的影響來推定絕緣壽命，因此能夠實現對于絕緣壽命推定結果的可信性的提高，同時在該情況下也能高效地推定絕緣壽命。
[0065]<2.第I實施方式>
[0066]以下，對本發明的第I實施方式進行說明。
[0067][2-1.絕緣壽命推定裝置的概要結構]
[0068]圖1是表示本發明的第I實施方式中的絕緣壽命推定裝置的概要結構例的框圖。
[0069]第I實施方式的絕緣壽命推定裝置是對待測的試樣I的絕緣壽命進行推定的裝置，被構成為將該試樣I配置在加電部2和大地(接地)之間。試樣I為具備導體和絕緣體的結構即可，例如漆包線、絞線、雙絞線(twist pair cable)等電線可供測試。
[0070]為了推定這樣的試樣I的絕緣壽命，第I實施方式的絕緣壽命推定裝置大體具備:加電部2、局部放電電荷量檢測部3、控制部4以及信息輸出部5。
[0071]加電部2對試樣I施加比該試樣I的roiv更高的電壓，使該試樣I發生局部放電。利用加電部2的電壓施加，可以考慮通過逆變浪涌脈沖進行，但也可以利用交流電壓或脈沖電壓。進行這樣的電壓施加的加電部2，用例如逆變脈沖發生器或者浪涌脈沖發生器等公知的電壓施加裝置構成即可。
[0072]局部放電電荷量檢測部3針對發生局部放電的試樣I,檢測其發生局部放電時的放電電荷量。放電電荷量的檢測可以考慮利用例如細節將在后面敘述的、使用串聯電容器的殘余電荷法來進行，但并不局限于此，也可以利用例如使用高頻CT的差動檢測法、使用檢測阻抗法等的放電電流/電壓波形測量來進行。
[0073]控制部4進行試樣I的絕緣壽命推定所需的處理。所需的處理大致分為用于絕緣壽命推定的預先準備處理、以及實際推定絕緣壽命的壽命推定處理。為了進行預先準備處理，控制部4具有作為局部放電波形記錄部41、局部放電電荷量計算部42、信息計算部43以及數據庫部44的功能。另外，為了進行壽命推定處理，控制部4具有作為信息獲取部45以及壽命推定部46的功能。
[0074]局部放電波形記錄部41針對與之后作為絕緣壽命推定的對象的試樣I種類相同的試樣1，在從使用開始到絕緣破壞為止的長時間內，將作為局部放電電荷量檢測部3的放電電荷量的檢測結果的波形數據無遺漏地連續記錄。
[0075]局部放電電荷量計算部42通過用預定的運算程序處理局部放電波形記錄部41記錄的波形數據，計算該波形數據的每I個脈沖的放電電荷量，同時累積從使用開始到絕緣破壞為止的放電電荷量。
[0076]信息計算部43基于局部放電電荷量計算部42中的計算結果，生成關于由局部放電波形記錄部41檢測放電電荷量的試樣I的相關信息。具體來說，信息計算部43將局部放電電荷量計算部42中的計算結果即放電電荷量的累積值、也就是從開始使用到絕緣破壞為止需要的總放電電荷量QB.D[單位:C]作為相關信息而生成，存儲保存在數據庫部44中。
[0077]數據庫部44將信息計算部43生成的相關信息與獲得該相關信息的試樣I的種類加以關聯并存儲保存。
[0078]信息獲取部45在對待測的試樣I的絕緣壽命進行推定時，針對與該試樣I種類相同的試樣I,從數據庫部44內讀出并獲取存儲保存在數據庫部44中的相關信息，也就是確定該試樣I到絕緣破壞為止的總放電電荷量Qb.D的信息。
[0079]壽命推定部46基于信息獲取部45獲得的相關信息,根據局部放電電荷量檢測部3中檢測出的放電電荷量求出試樣I到絕緣破壞為止的時間，作為關于該試樣I的絕緣壽命的推定結果。更具體地說，由信息獲取部45獲取確定總放電電荷量Qb.d的信息，因此如后面詳細敘述的那樣，壽命推定部46將總放電電荷量Qb.d除以局部放電電荷量檢測部3檢測的每單位時間的放電電荷量，由此求出從試樣I開始使用直到該試樣I絕緣破壞為止的時間。
[0080]具有作為這樣的各部分41?46的功能的控制部4可以考慮利用執行預定程序的計算機裝置來實現。也就是說，控制部4由CPU (Central Processing Unit、中央處理器)、RAM (Random Access Memory、隨機存取存儲器)、HDD (Hard disk drive、硬盤驅動器)等組合而成的計算機裝置構成。這時，計算機裝置可以為一臺，也可以為經由通信線路連接的多臺。另外，為多臺時，作為上述各部41?46的功能也可以分散配置在多臺上。
[0081]信息輸出部5由連接在控制部4上的顯示器等構成，用于進行關于控制部4的處理結果的信息輸出。作為信息輸出部5輸出的信息,可以舉出與針對試樣I的絕緣壽命的推定結果相關的信息。
[0082][2-2.絕緣壽命推定方法的步驟]
[0083]接著，對使用上述結構的絕緣壽命推定裝置進行的絕緣壽命推定方法的步驟進行說明。
[0084]圖2是表示本發明的第I實施方式中的絕緣壽命推定方法的步驟的概要的流程圖。
[0085]第I實施方式的絕緣壽命推定方法中，按照預先準備步驟(SI)、信息獲取步驟(S2)、電荷量檢測步驟(S3)、壽命推定步驟(S4)的順序進行針對待測的試樣I的絕緣壽命的推定。以下，對這些各步驟(SI?S4)按順序說明。
[0086](S1:預先準備步驟)
[0087]預先準備步驟(SI)是在信息獲取步驟(S2)之前，針對與待測的試樣I種類相同的試樣1，從開始使用到絕緣破壞為止持續檢測局部放電的放電電荷量，根據其檢測結果生成相關信息并存儲保存在數據庫部44中的步驟。
[0088](絕緣壽命推定裝置的電路結構)
[0089]這里，對于用于進行預先準備步驟(SI)的絕緣壽命推定裝置的具體電路結構，以使用殘余電荷法的情況為例進行說明。
[0090]圖3是表示本發明的第I實施方式中的絕緣壽命推定裝置的具體電路結構例的示意圖。另外，圖中對與圖1所示的相同的結構要素附加相同的符號。
[0091]圖例的絕緣壽命推定裝置中，從加電部2通過例如逆變浪涌脈沖對試樣I施加比該試樣I的roiv更高的電壓。這時，被施加逆變浪涌脈沖的試樣I與后面作為絕緣壽命推定的對象的試樣I種類相同。
[0092]另外，在試樣I和大地(接地)之間，構成局部放電電荷量檢測部3的一部分的電容器3a與該試樣I串聯連接。電容器3a用于將試樣I發生局部放電所產生的電荷儲存。因此，作為電容器3a，使用具有比試樣I的靜電容量更大的靜電容量的電容器，使得施加電壓的大部分施加在試樣I上。
[0093]在電容器3a的兩端連接有構成局部放電電荷量檢測部3的一部分的短路電路(刷新電路)3b。短路電路3b為了將電容器3a內過量積累的電荷定期刷新，將電容器3a的兩端短路來使其放電。因此，短路電路3b的結構為例如與加電部2的逆變脈沖輸出同步地，從脈沖上升開始一定時間后輸出驅動脈沖(例如Ims寬度)，使繼電器動作,將電容器3a的兩端短路。
[0094]另外，在電容器3a的兩端連接有構成局部放電波形記錄部41的一部分的多個(例如2個)數據記錄器4a、4b。數據記錄器4a、4b都測定電容器3a的端子電壓，并且例如通過波形數據等記錄測定到的電壓。由此，各數據記錄器4a、4b采用例如圖4和圖5所示的波形數據的形式記錄電容器3a的端子電壓。這里，圖4表示數據記錄器中記錄的電壓數據(波形數據)的一個具體例，圖5將數據記錄器中記錄的電壓數據(波形數據)的一部分放大表示。
[0095]并用多個數據記錄器4a、4b是為了即使在從開始使用到絕緣破壞為止的長時間內進行數據記錄時，也能讓多個數據記錄器重疊并且選擇性使其工作，由此能夠不產生數據遺漏地記錄全部數據。也就是說，通過并用多個數據記錄器4a、4b，例如即使一個數據記錄器4a在記錄數據的傳送輸出時需要時間，在此期間也能夠由另一個數據記錄器4b進行波形數據的記錄。
[0096]這樣，由于并用多個數據記錄器4a、4b，在各數據記錄器4a、4b上如圖3所示，連接有構成局部放電波形記錄部41的一部分的計時器機構4c。為了進行數據記錄器4a、4b工作的切換，計時器機構4c的結構為監視預定時間(例如10秒)，每隔預定時間切換針對數據記錄器4a、4b的工作指示。
[0097]另外，在數據記錄器4a、4b上，電連接有作為局部放電電荷量計算部42及信息計算部43來發揮功能的控制器4d。然后，記錄在各數據記錄器4a、4b中的電壓數據(波形數據)以預定定時被傳送給控制器4d。
[0098]控制器4d的結構為:當有來自數據記錄器4a、4b的數據傳送時，通過執行記載有計算放電電荷量的步驟和計算放電電荷量的累積值的步驟等的預定程序，進行放電電荷量的計算、放電電荷量的累積值的計算、基于放電電荷量和放電電荷量等的計算結果的相關信息的生成等。具體來說，控制器4d根據局部放電發生前后的檢測電容器端電壓的差計算局部放電造成的殘余電壓，將電容器容量與殘余電壓的積作為放電電荷量。另外，控制器4d針對每個脈沖計算電荷量，進行試樣I到絕緣破壞為止的電荷量的計算/累積?？刂破?d為了這些計算而執行的預定程序利用公知技術實現即可，例如計算放電電荷量可以考慮使用 VBA(Visual Basic for Applicat1ns)程序。
[0099](預先準備步驟的處理順序)
[0100]接著，對預先準備步驟(SI)的處理順序進行說明。
[0101]圖6是表示本發明的第I實施方式中的預先準備步驟的處理順序的概要的流程圖。
[0102]預先準備步驟(SI)依次經過局部放電發生工序(Sll)、電壓記錄工序(S12)、電荷量計算工序(S13)、累積電荷量計算工序(S14)以及相關信息生成工序(S15)。
[0103](局部放電發生工序)
[0104]局部放電發生工序(Sll)中，對于與后面作為絕緣壽命推定對象的試樣I種類相同的試樣1，加電部2利用例如逆變浪涌脈沖施加比該試樣I的roiv更高的電壓，使該試樣I發生局部放電。還有，加電部2對試樣I的電壓施加是持續進行的,直到能夠確認該試樣I已到達絕緣破壞為止。
[0105](電壓記錄工序)
[0106]電壓記錄工序(S12)中，由加電部2對試樣I開始施加電壓的同時，開始數據記錄器4a、4b的工作，開始測定并記錄電容器3a的端子電壓。然后，使數據記錄器4a、4b按照計時器機構4c的監視結果每隔預定時間交替工作，至少在試樣I絕緣破壞之前連續測定從該試樣I輸出的電壓，記錄電壓的數據。也就是說，在試樣I從開始使用到絕緣破壞為止，連續測定并記錄電容器3a的端子電壓。
[0107]在切換數據記錄器4a、4b的工作時，優選使各數據記錄器4a、4b在預定的時間內一起工作。也就是說，在工作切換時，優選具有多個數據記錄器4a、4b—起工作的時間。若這樣使數據記錄器4a、4b在預定的時間內重疊工作，則在連續記錄電容器3a的端子電壓的數據時，能夠抑制該記錄數據的遺漏。
[0108]記錄電容器3a的端子電壓的數據之后，數據記錄器4a、4b將記錄的數據以例如波形數據的形式向控制器4d傳送。具體來說，各數據記錄器4a、4b在從工作停止到下一次工作開始之間，將通過一次工作記錄的電壓數據例如作為I個文件傳送給控制器4d。這時，優選在傳送的數據中附加用于確定是數據記錄器4a、4b的哪一個記錄的數據的信息。另外，可以在傳送給控制器4d的數據中附加時間信息。
[0109]另外，當電容器3a中積蓄了過量電荷時，使連接在電容器3a兩端的短路電路3b工作，將電容器3a的兩端短路來進行放電。優選為例如從加電部2向試樣I開始施加電壓起每隔預定時間使短路電路3b工作。由此，能夠抑制電容器3a中積蓄過量電荷，因此可以準確地測定施加在電容器3a上的電壓。
[0110](電荷量計算工序)
[0111]電荷量計算工序(S13)中，控制器4d當接收來自數據記錄器4a、4b的傳送數據時，基于該傳送數據計算電容器3a內殘余的電荷量作為從試樣I放電的放電電荷量。具體來說，控制器4a基于接收到的傳送數據，識別試樣I中發生局部放電之前和之后電容器3a的端子電壓的差。然后，根據庫倫定律，通過將識別出的電容器3a的端子電壓的差乘以該電容器3a的靜電容量，計算該電容器3a內殘余的電荷量，將該計算結果作為從試樣I放電的放電電荷量。
[0112]這里，考慮例如將圖5所示的電壓數據傳送到控制器4d的情況。另外，圖5中的實線表示沒有發生局部放電時的電容器3a的端子電壓，圖5中的虛線表示發生局部放電時的電容器3a的端子電壓。這時，控制器4d使用下述的(I)式計算從試樣I放電的放電電荷量。
[0113]Q = CdX (|V2 — Vl | + |V3 — V2 |)......(I)
[0114]這里，(I)式中，Q是從試樣I放電的放電電荷量(電容器3a內的殘余電荷量)，Cd是電容器3a的靜電容量，V1、V2、V3分別是電容器3a發生局部放電時與沒有發生局部放電時的電容器3a的端子電壓的差的值。
[0115]這時，考慮控制器4d對數據記錄器4a、4b的每一次工作期間(也就是每次發生工作切換時)計算放電電荷量。也就是說，例如考慮控制器4d針對來自數據記錄器4a、4b的每個傳送文件，計算放電電荷量。
[0116]還有，在使數據記錄器4a、4b在預定時間內重疊工作的情況下，假定控制器4d在計算放電電荷量時，從該重疊部分中減去重疊工作期間的電壓。
[0117]這樣計算出放電電荷量后，控制器4d將其計算結果暫時保存在控制器4d可訪問的RAM等內。
[0118](累積電荷量計算工序)
[0119]累積電荷量計算工序(S14)中，控制器4d在試樣I從開始使用到絕緣破壞為止的時間，將電荷量計算工序(S13)中計算出的每個傳送文件的放電電荷量累積計算，由此計算累積放電電荷量。也就是說，控制器4d累積到試樣I發生絕緣破壞為止的所有文件中記載的放電電荷量。由此，能夠計算由局部放電的發生造成試樣I到絕緣破壞為止的放電電荷量的總和(以下稱為“總放電電荷量”)。
[0120](相關信息生成工序)
[0121]相關信息生成工序(S15)中，控制器4d基于電荷量計算工序(S13)中計算出的放電電荷量或累積電荷量計算工序(S14)中計算出的總放電電荷量，生成相關信息。具體來說，控制器4d生成作為累積電荷量計算工序(S14)中的計算結果的放電電荷量的累積值，作為相關信息的一個具體例、即總放電電荷量Qb.D。
[0122]圖7是表示本發明的第I實施方式中的相關信息的一個具體例的說明圖。
[0123]圖例表示試樣I從開始使用到絕緣破壞為止所需要的總放電電荷量Qb.d的一個例子。另外，總放電電荷量QB.D根據試樣I的種類而不同。
[0124]當生成總放電電荷量QB.D作為相關信息后，在相關信息生成工序(S15)中，控制器4d將其生成結果(即總放電電荷量Qb.d)與試樣I的種類加以關聯，存儲保存在數據庫部44
中。例如分別對應于絕緣體的材質、尺寸、形狀等不同的漆包線A、漆包線B、......、漆包線
Z等，將計算出的總放電電荷量Qb.d存儲保存在數據庫部44中。
[0125]經過如上的各工序(Sll?S15)進行預先準備步驟(SI)。另外，當與后面作為絕緣壽命推定的對象的試樣I種類相同的試樣I的總放電電荷量qb.d已經存儲保存在數據庫部44內時，沒有必要重新進行預先準備步驟(SI)。也就是說，如果數據庫部44內已經存在相關信息，則也可以省略執行預先準備步驟(SI)。
[0126](S2:信息獲取步驟)
[0127]預先準備步驟(SI)結束后，需要對待測的試樣I進行絕緣壽命的推定時，絕緣壽命推定裝置進行信息獲取步驟(S2)以后的各步驟。
[0128]信息獲取步驟(S2)是獲得關于待測的試樣I的相關信息的步驟。更詳細地說，是從數據庫部44內讀取并獲得針對與待測的試樣I種類相同的試樣I存儲保存在數據庫部44中的相關信息、即確定該試樣I到絕緣破壞為止的總放電電荷量Qb.d的信息的步驟。
[0129]信息獲取步驟(S2)中的總放電電荷量Qb.d的讀取是由作為信息獲取部45發揮功能的控制器4d進行的。
[0130]還有，信息獲取步驟(S2)在開始壽命推定步驟(S4)的時刻之前結束即可，也可以與電荷量檢測步驟(S3)并行執行。
[0131](S3:電荷量檢測步驟)
[0132]電荷量檢測步驟(S3)是在推定絕緣壽命的階段使待測的試樣I發生局部放電，檢測該試樣I當前發生的局部放電的每單位時間的放電電荷量的步驟。
[0133](絕緣壽命推定裝置的電路結構)
[0134]用于進行電荷量檢測步驟(S3)的絕緣壽命推定裝置的具體電路結構，使用與預先準備步驟(SI)中說明的結構(參照圖3)相同的結構即可。這時，控制器4d作為壽命推定部46發揮功能。
[0135]其中，電荷量檢測步驟(S3)中，檢測每單位時間的放電電荷量即可，不需要像預先準備步驟(SI)的情況那樣計算放電電荷量的累積值。因此，在電荷量檢測步驟(S3)中使用的電路結構中，數據記錄器4a、4b可以不是并用多個的結構，也可以只讓一個工作的結構。
[0136](電荷量檢測步驟的處理順序)
[0137]接著，對電荷量檢測步驟(S3)的處理順序進行說明。
[0138]圖8是表示本發明的第I實施方式中的電荷量檢測步驟的處理順序的概要的流程圖。
[0139]電荷量檢測步驟(S3)依次經過局部放電發生工序(S31)、電壓記錄工序(S32)以及電荷量計算工序(S33)。
[0140](局部放電發生工序)
[0141]局部放電發生工序(S31)中，對于待測的試樣1，加電部2利用例如逆變浪涌脈沖施加比該試樣I的roiv更高的電壓，使該試樣I發生局部放電。還有,加電部2對試樣I的電壓施加，在該試樣I的使用初期階段，在預先設定的預定測量期間進行即可。這里，“使用初期階段”是指例如從試樣I開始使用到經過預定測量期間為止。但并不一定局限于此，只要是可以與其同等地對待、從試樣I到絕緣破壞為止的整個時間來看可以看作初期的階段，即包含在這里所說的“使用初期階段”中。另外，“預定測量期間”是對每單位時間的放電電荷量的檢測來說充分的期間即可，具體來說，考慮例如設定為?ο秒。
[0142](電壓記錄工序)
[0143]電壓記錄工序(S32)中，由加電部2對試樣I開始施加電壓的同時，開始數據記錄器4a、4b的工作，開始測定并記錄電容器3a的端子電壓。然后，至少在預定測量期間經過之前使數據記錄器4a、4b工作，測定從該試樣I輸出的電壓，記錄電壓的數據。這時，只要在預定測量期間能夠記錄電壓數據即可，因此可以不進行數據記錄器4a、4b的工作切換。
[0144]記錄電容器3a的端子電壓之后，數據記錄器4a、4b將記錄的數據例如以波形數據的形式向控制器4d傳送。
[0145](電荷量計算工序)
[0146]電荷量計算工序(S33)中，控制器4d當接收到來自數據記錄器4a、4b的傳送數據時，基于該傳送數據計算電容器3a內殘余的電荷量，作為從試樣I放電的放電電荷量。放電電荷量的計算，與預先準備步驟(SI)的電荷量計算工序(S13)的情況相同地進行即可。
[0147]計算出預定測量期間的放電電荷量后，控制器4d將其計算結果除以預定測量期間的時間值，計算使用初期階段中每單位時間的放電電荷量AQs[單位:C/s]。然后，這樣計算出每單位時間的放電電荷量△ Qs后，控制器4d將其計算結果暫時保存在控制器4d可訪問的RAM等內。
[0148](S4:壽命推定步驟)
[0149]在信息獲取步驟(S2)和電荷量檢測步驟(S3)之后進行的壽命推定步驟(S4)是基于信息獲取步驟(S2)中獲得的相關信息，根據電荷量檢測步驟(S3)中檢測的每單位時間的放電電荷量AQs求出待測的試樣I到絕緣破壞為止的時間，作為針對該試樣I的絕緣壽命的推定結果的步驟。更詳細地說，壽命推定步驟(S4)中，將作為相關信息的總放電電荷量Qb.d除以每單位時間的放電電荷量AQs，求出從開始使用待測的試樣I到該試樣I絕緣破壞為止的時間。
[0150]具體來說，控制器4d使用下述的(2)式獲得絕緣壽命的推定結果。
[0151]Ts = Qb d/ Δ Qs......(2)
[0152]其中，在⑵式中，Ts是待測的試樣I從開始使用到絕緣破壞為止的時間[單位:s]，Qb.D是試樣I到絕緣破壞為止的總放電電荷量[單位:C]，Δ Qs是試樣I的使用初期階段中每單位時間的放電電荷量[單位:C/s]。
[0153]這樣獲得的時間Ts的計算結果作為針對待測的試樣I的絕緣壽命的推定結果，從信息輸出部5輸出信息。關于這時信息輸出部5中的信息輸出方式,并沒有特別限定,適當設定即可(例如利用圖表等)。
[0154]〈3.第2實施方式〉
[0155]以下對本發明的第2實施方式進行說明。但是，在這里僅對與上述第I實施方式的不同點進行說明，對相同的事項省略說明。
[0156]本發明的第2實施方式中，預先準備步驟(SI)中的相關信息生成工序(S15)、電荷量檢測步驟(S3)中的局部放電發生工序(S31)以及壽命推定步驟(S4)與上述第I實施方式的情況不同。
[0157](相關信息生成工序)
[0158]第2實施方式中的相關信息生成工序(S15)中，控制器4d基于電荷量計算工序(S13)中計算出的放電電荷量及累積電荷量計算工序(S14)中計算出的總放電電荷量，生成相關信息。具體來說，控制器4d生成關于到絕緣破壞為止的放電電荷量的經時變化特性的信息，作為相關信息的一個具體例。這里，“經時變化特性”指的是表示放電電荷量的檢測結果怎樣隨時間變化的特性。
[0159]圖9是表示本發明的第2實施方式中的相關信息的一個具體例的說明圖。
[0160]圖例表示將電荷量計算工序(S13)中計算出的到絕緣破壞為止的放電電荷量針對每預定單位時間(例如10秒)進行換算之后，針對試樣I直到絕緣破壞為止的期間(也就是達到總放電電荷量為止的期間)，將該每單位時間的各放電電荷量[單位:mC/10s]以時間序列[單位:min]排列表示的經時變化特性的一個例子。另外，放電電荷量的經時變化特性根據試樣I的種類而不同。
[0161]生成這樣的相關信息后，在相關信息生成工序(S15)中，控制器4d將其生成結果(也就是放電電荷量的經時變化特性)與試樣I的種類加以關聯，存儲保存在數據庫部44中。這時，假定數據庫部44以能夠確定放電電荷量和加電時間的時間經過的關系的形式(例如二維圖表形式或函數形式)進行信息存儲。另外，假定該存儲信息在信息獲取步驟
(S2)中，由控制器4d讀取。
[0162](局部放電發生工序)
[0163]第2實施方式的局部放電發生工序(S31)中，加電部2對于待測的試樣I施加電壓使其發生局部放電，但進行該電壓施加可以不是在試樣I的使用初期階段。也就是說，第2實施方式中，即使是經過了某加電時間的試樣1，也可以作為絕緣壽命推定的對象。
[0164]另外，第2實施方式的局部放電發生工序(S31)中，對試樣I的電壓施加進行預定測量期間，假定該預定測量期間與用于上述相關信息生成工序(S15)中的換算的預定單位時間對應。
[0165](壽命推定步驟)
[0166]第2實施方式中的壽命推定步驟(S4)中，控制器4d如以下那樣推定關于待測的試樣I的絕緣壽命。也就是說，控制器4d在壽命推定步驟(S4)之前的電荷量檢測步驟(S3)中，對經過了某加電時間后的試樣I中的放電電荷量Qn進行檢測，因此將該放電電荷量Qn與信息獲取步驟(S2)中讀取的相關信息(也就是放電電荷量的經時變化特性)對照，求出與該放電電荷量Qn對應的加電時間Τη。求出加電時間Tn后,控制器4d根據相關信息確定該試樣I到絕緣破壞為止需要的加電時間TB D，求出從加電時間Tn到加電時間Tb d為止的殘余時間。然后，控制器4d將求出的殘余時間作為關于該試樣I的絕緣壽命的推定結果。
[0167]具體來說，控制器4d使用下述的(3)式獲得絕緣壽命的推定結果。
[0168]Tr = Tb D-Tn......(3)
[0169]在(3)式中，Tr是待測的試樣I從電荷量檢測時刻起到絕緣破壞為止的殘余時間[單位:min]，TB.D是試樣I到絕緣破壞為止需要的加電時間[單位:min]，Tn是根據關于試樣I的放電電荷量的經時變化特性和該試樣I的檢測電荷量Qn推定的經過加電時間[單位:min]。
[0170]這樣得到的殘余時間Tr的計算結果作為關于待測的試樣I的絕緣壽命的推定結果，從信息輸出部5進行信息輸出。關于這時的信息輸出部5中的信息輸出方式,不特別進行限定，適當設定即可(例如利用圖表等)。
[0171]〈4.各實施方式的效果〉
[0172]根據上述的各實施方式，起到如下所示的一種或多種效果。
[0173](I)在各實施方式中，將與絕緣體的絕緣破壞相關的局部放電的放電電荷量作為絕緣壽命推定的指標來使用，并不是以施加電壓、而是以實際發生的放電電荷量為基準來推定絕緣壽命。也就是說，將絕緣破壞所需的放電能量作為指標來使用，由此推定關于待測的試樣I的絕緣壽命。因此，各實施方式中，能夠不取決于對于待測的試樣I的施加電壓波形條件，在考慮對該試樣I施加的各種不同施加電壓波形的上升時間的影響的同時，推定該試樣I的絕緣壽命。
[0174]由此，根據各實施方式，與以往利用V-t特性的絕緣壽命推定相比，能夠實現絕緣壽命推定結果的可靠性的提高。詳細來說，例如在逆變浪涌電壓下，roiv受到脈沖上升時間的影響，因此僅憑施加電壓峰值無法討論絕緣壽命，因此以往利用V-t特性的絕緣壽命推定并不一定能得到可靠性充分的結果，而如果是各實施方式中說明的絕緣壽命推定，則能夠在反映實際的施加電壓波形條件的同時進行絕緣壽命推定，因此可以說與以往相比能夠實現絕緣壽命推定結果的可靠性的提高。
[0175]進一步地，根據各實施方式，與以往利用v-t特性的情況相比，能夠高效地進行絕緣壽命的推定。詳細地說，例如以往利用V-t特性的絕緣壽命推定中，若實際使用中的施加電壓波形條件變化，則需要每次實施V-t實驗或者考慮逆變浪涌電壓的施加來用roiv比換算v-t特性，相應地不能算是高效的，而如果是各實施方式中說明的絕緣壽命推定，則能夠在反映實際的施加電壓波形條件的同時進行絕緣壽命推定，因此與以往相比，能夠高效地推定絕緣壽命。
[0176](2)各實施方式中，在推定絕緣壽命時，利用例如使用串聯電容器的殘余電荷法、使用高頻CT的差動檢測法、基于檢測阻抗法的放電電流/電壓波形測量等，直接檢測試樣I中發生的局部放電的放電電荷量。即，直接檢測由于試樣I中的局部放電而發生的放電能量。
[0177]在這一點上，各實施方式中也能夠在實現可靠性的提高的同時高效進行絕緣壽命的推定。
[0178]例如，放電電荷量也能夠根據由V-t實驗得到的放電電流波形計算。但是，為了根據由V-t實驗得到的放電電流波形(例如由示波器得到的原波形數據)計算電荷量，需要將急劇上升的放電電流波形以納秒(ns)級的采樣率積分。因此，為了計算電荷量需要數量龐大的數據。尤其是如果試樣I到絕緣破壞為止的時間變長，則計算電荷量所需的數據的數量相應地進一步變多。結果是數據處理需要時間而導致效率低下，同時還可能需要存儲龐大數據的存儲區域。關于這一點，在各實施方式中直接檢測放電電荷量，因此能夠高效地推定絕緣壽命。
[0179]進一步地，例如在計算試樣I到絕緣破壞為止的累積電荷量時，如果需要處理數量龐大的數據，則可能發生數據獲取遺漏。另外，在根據由示波器等得到的原波形數據計算電荷量時，可能由于例如示波器的性能等發生數據的遺漏。由此，針對試樣I的絕緣壽命推定的精度下降，結果是對于絕緣壽命推定結果的可靠性有可能遭到損害。關于這一點，在各實施方式中直接檢測放電電荷量，因此不會發生數據遺漏，能夠實現絕緣壽命推定的可靠性的提聞。
[0180](3)第I實施方式中,基于作為相關信息的總放電電荷量QB.D,檢測在試樣I的使用初期階段發生的局部放電的每單位時間的放電電荷量，進行針對該試樣I的絕緣壽命的推定。
[0181]所以，根據第I實施方式，即使是每單位時間的放電電荷量可能因施加電壓波形條件而變化時，也能夠考慮到對于試樣I產生的每單位時間的放電電荷量的影響來推定該試樣I的絕緣壽命。
[0182]而且，根據第I實施方式，根據試樣I的使用初期階段的放電電荷量推定該試樣I的絕緣壽命。因此，根據第I實施方式，可以進行能夠合適地評價電絕緣產品(例如線圈)的選擇和產品壽命的絕緣壽命推定，在該產品的開發設計時能夠高效地確定合適的方案。而且，該產品在開發方對絕緣設計的開展比以往的v-t特性更容易，因此關于絕緣壽命推定的可靠性也提高。
[0183](4)第2實施方式中，基于作為相關信息的放電電荷量的經時變化特性，檢測經過了某加電時間的試樣I中發生的局部放電的放電電荷量，推定該試樣I的殘余壽命時間，作為絕緣壽命推定結果。
[0184]所以，根據第2實施方式，即使是經過了某加電時間的試樣1、其加電時間不明時，也能夠將該試樣I作為絕緣壽命推定的對象。而且，即使在該情況下，也能夠與第I實施方式同樣地實現關于絕緣壽命推定結果的可靠性的提高，高效地推定絕緣壽命。
[0185](5)各實施方式中，在預先準備步驟(SI)中預先生成相關信息，將這個生成的相關信息存儲保存在數據庫部44內。也就是說，根據預先生成的相關信息在數據庫部44內構建數據庫。
[0186]所以，根據各實施方式，在相關信息已經存儲保存在數據庫部44內時，沒有必要重新進行預先準備步驟(Si)，所以由此實現絕緣壽命推定的高效率化。進一步地，如果數據庫部44內已經存在相關信息，則在關于試樣I的絕緣壽命推定時，從數據庫部44中讀取獲得相關信息即可，所以這一點上也實現絕緣壽命推定的高效率化。
[0187]〈5.變形例等〉
[0188]以上對本發明的實施方式進行了具體說明，但本發明的技術范圍不局限于上述各實施方式，在不脫離其宗旨的范圍內能夠進行各種變更。
[0189]上述的各實施方式中，以絕緣壽命推定裝置的控制部4具有作為數據庫部44的功能的情況為例，而本發明不局限于此，只要信息獲取部45能夠獲取相關信息，數據庫部44也可以設在外部的其他裝置(例如通過網絡線路連接的服務器裝置)上。這意味著本發明涉及的絕緣壽命推定裝置只要能夠獲取相關信息，并不一定具備數據庫部44。另外，本發明涉及的絕緣壽命推定方法意味著只要已經生成了相關信息并能夠從外部獲取該生成的相關信息，不一定要進行預先準備步驟(SI)。
[0190]另外，上述的各實施方式中，以考慮進行預先準備步驟(SI)，將多個數據記錄器4a、4b并用的情況為例，而本發明不局限于此，如果不需要預先準備步驟(SI)，也可以構成為只用一個數據記錄器工作。另外，進行預先準備步驟(SI)時，也可以具備3個以上的數據記錄器。這時，對于各數據記錄器的工作順序等沒有特別限定，只要能夠對施加在電容器3a上的電壓進行連續測定記錄，從哪一個數據記錄器的工作開始都可以。
【權利要求】
1.一種絕緣壽命推定方法，對具備導體和絕緣體而構成的試樣的絕緣壽命進行推定，該絕緣壽命推定方法的特征在于，具備: 信息獲取步驟，其獲取所述試樣中的局部放電的放電電荷量與該試樣的絕緣破壞的相關信息； 電荷量檢測步驟，其在推定所述絕緣壽命的階段使所述試樣發生局部放電，檢測該局部放電的放電電荷量；以及 壽命推定步驟，其基于所述信息獲取步驟中得到的相關信息，根據所述電荷量檢測步驟中檢測出的放電電荷量求出所述試樣到絕緣破壞為止的時間，作為所述絕緣壽命的推定結果。
2.根據權利要求1所述的絕緣壽命推定方法，其特征在于， 在所述信息獲取步驟中，獲取確定所述試樣到絕緣破壞為止的總放電電荷量的信息，作為所述相關信息； 在所述電荷量檢測步驟中，檢測所述試樣中發生的局部放電的每單位時間的放電電荷量; 在所述壽命推定步驟中，將所述總放電電荷量除以所述每單位時間的放電電荷量，求出從開始使用所述試樣到該試樣絕緣破壞為止的時間。
3.根據權利要求1所述的絕緣壽命推定方法，其特征在于， 在所述信息獲取步驟中，獲取確定從開始使用所述試樣到該試樣絕緣破壞為止該試樣中的局部放電的放電電荷量的經時變化特性的信息，作為所述相關信息； 在所述電荷量檢測步驟中，檢測所述試樣中發生的局部放電的放電電荷量； 在所述壽命推定步驟中，將所述電荷量檢測步驟中的檢測結果與所述經時變化特性對照，求出所述試樣到絕緣破壞為止的殘余時間。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的絕緣壽命推定方法，其特征在于， 具備預先準備步驟，其在所述信息獲取步驟之前，從開始使用所述試樣到該試樣絕緣破壞為止,持續檢測該試樣中的局部放電的放電電荷量,根據其檢測結果生成所述相關信息并存儲保存， 在所述信息獲取步驟中，通過讀取所述預先準備步驟中存儲保存的所述相關信息，獲取該相關信息。
5.一種絕緣壽命推定裝置，其對具備導體和絕緣體而構成的試樣的絕緣壽命進行推定，該絕緣壽命推定裝置的特征在于，具備: 信息獲取部，其獲取所述試樣中的局部放電的放電電荷量與該試樣的絕緣破壞的相關信息； 電荷量檢測部，其在推定所述絕緣壽命的階段使所述試樣發生局部放電，檢測該局部放電的放電電荷量；以及 壽命推定部，其基于所述信息獲取部得到的相關信息，根據所述電荷量檢測部檢測出的放電電荷量求出所述試樣到絕緣破壞為止的時間，作為所述絕緣壽命的推定結果。
6.根據權利要求5所述的絕緣壽命推定裝置，其特征在于，具備: 數據庫部，其存儲保存所述相關信息； 所述信息獲取部通過讀取所述數據庫部存儲保存的所述相關信息來獲取該相關信息。
7.根據權利要求6所述的絕緣壽命推定裝置，其特征在于，具備: 信息生成部，其從開始使用所述試樣到該試樣絕緣破壞為止，持續檢測該試樣中的局部放電的放電電荷量，根據其檢測結果生成所述相關信息，存儲保存在所述數據庫部中。
【文檔編號】G01R31/12GK104237747SQ201410188857
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2014年5月6日 優先權日:2013年6月17日
【發明者】角陽介 申請人:日立金屬株式會社